数字电路测试系统介绍.docx

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1、台湾德律TR-6010 逻辑器件测试机概述:专为10MHz逻辑IC测试机, 具有Function Pattern测试, Dc参数量测等功能硬件结构:特性:2M的向量存储器深度可4组并行测试完整的功能Pattwen和DC参数测试驱动电压:+-8V,比较电压:6V具有Shmoo Plot工具, 用于器件特性分析测试程序调试工具完善的测试诊断报告和柱状图TTL和GPIB接口, 可直接连接至prober和handler紧凑小型,易安装 资源配置:测试控制器:奔腾III以上PC系统软件:MS-DOS 电源要求:(1)单相交流,AC 110V 10A /50-60Hz (2)单相交流,AC 220V 6A

2、 /50-60Hz性能参数:测试频率: 10MHz周期速率: 100nS-1.31mS周期分辨率: 20nS测试通道: 最大128个多组测试: 2/4组并行测试定时器: 4Pins/TG定时器分辨率: 10nS 闸门模式: 边沿式测试向量深度: 2M驱动器: VIH: +-8V 分辨率:5mVVIL: +-8V 分辨率:5mV比较器:VOH: +-8V 分辨率:5mVVOL: +-8V 分辨率:5mV PMU:1组/板卡,最大8组施加电压/ 测量电流范围:级别 电压 精确度分辨率0 10V+%+-5mV2.5mV1 10V+%+-5mV 2.5mV210V+%+-5mV2.5mV310V+%+

3、-5mV2.5mV施加电流/ 测量电压范围:HVPMU:2组/板卡,最大16组施加电压/ 测量电流范围:施加电流/ 测量电压范围: 日本VTT公司V777大规模集成电路逻辑测试系统(一) 概 述 10MHz的测试频率,128个测试通道,4M字节向量深度的大规模LSI测试系统 系统尺寸主框架 :580(W),750(D),1200(H)或1850(H)毫米 测试头 :580(W),340(D),250(H)毫米 电缆长度 :4 米 测试器控制器 处理器 AMD-K6-500 操作系统 MS/DOSV 内存 32MB 硬盘 4.0GB 软盘 3.5英寸 1.44MB 接口板 标准接口板 针 对探针

4、机和机械手GPIB 接口板 选项PIN电子性能标准 64 PIN 全系统 128 PIN 或 64PIN*2DUTS 软件包 语言 C (库: TURBO C) 工具软件 SCHMOO HISTOGRAM WAFERMAP 测试程序转换器 ANDO-SUMMIT 至 V7100 (主程序和波形程序) SENTRY 至 V7100 (波形程序) CREDENCE-SC212 至 V7100 (波形程序) ADVANTEST-MOSPL 至 V-7100 (波形程序) 驱动器 输出电压 VIH 0V 至 +11V VIL -2V 至 +8V 电压摆幅 100mVp-p 至 11Vp-p 精度 0.

5、5% + 5mV 分辨率 2.7mV 最大 DC 电流输出=H20mA 输出 = L20mA 阻抗 50 5%ohm 升 / 降 时间 驱动器模式 5ns/5Vp-p(20% 至 80%) I/O 模式 5ns/5Vp-p 总时钟精度 (NRZ 格式 ) 5ns ( 最大 ) 时滞 (NRZ 格式 ) 有关 PINS 5ns ( 最大 ) 有关 TGS 4ns ( 最大 ) 上突波 / 下突波 3%+50mV VIH/VIL 级别 4 级别 驱动器模式 FIX-HI, FIX-LO, NRZ, /NRZ, RZ, /RZ, R1, EXOR, /EXOR, 无调制 时钟的限制 参照图 1 条件

6、: 10Mohm 和 15pF 载荷安捷伦 83000 数字电路测试系统描述:特性和用途:用于Credence的Electra MSR 100MHz机台上,根据客户器件封装尺寸设计制作专用的定制型测试接口板,有效解决高速信号干扰之问题。规格: 长(L) * 宽 (W) * 厚 (H) 安捷伦 93000 SOC 测试系统 概述 测试系统具有数字、模拟、存储器、射频(RF)模块(可 选件)的功能测试和参数测试支持扫描测试支持IDDQ测试测试系统具有可升级性和可扩展性参数:(1)系统控制平台 HP C3750 UNIX工作站 内存 2GB 硬盘 36GB HP p1130 21”高分辨率纯平彩色显

7、示器 配备DVD光盘驱动器 配备磁带机 配备10M100M Ethernet接口 操作系统 HP-UX B11.11(2)数字功能指标 数字通道 : 256 数据速率 :660Mb/s 向量存储深度 :14M 扫描存储器深度 :56M 边沿定位精度 土150 ps(3)模拟部分 任意波形发生器(AWG),精度12-bit, 频率:500MHz采样/s; 数字化仪,精度:12-bit, 采样速率:320MHz采样/s; 时间间隔分析仪(TIA),输入频率:400MHz。(4)DC测试性能 通用器件电源,参数:7V/8A 低噪声电源,参数:8V/4A 精密测量单元,最大电压量程: -5V +8V,

8、电压分辨率: 250uV,最大电流量程: 200mA,电流分辨率: 250pA 参数测量单元 PMU,量程: -2V +7V, 40mA IDDQ电流测量,精度100nA,分辨率10nA5)测试软件 SmarTest Rev. 4.1.6/4.2.5 SmarTest Program Generator Rev. 1.2.0 VCDTO93K Edition 2.0 安捷伦93000 SOC系列模块配置表模块描述数量位置主要指标详情数字通道P600660Mbit/s数字通道161010110116最高数据速率:660Mbit/s最大时钟频率:625MHz? 扫描深度:56MC400400Mbi

9、t/s数字通道2401020111616最高数据速率:400Mbit/s最大时钟频率:400MHz? 扫描深度:14M模拟模块WGD500M任意波形发生器1230分辨率:12bit采样速率:8ksps到500MspsWDD1GHz数字化仪1227分辨率:12bit采样速率:1Msps到320Msps最大带宽:1GHz(采样仪模式)TIA400MHz时隙分析仪1225最高输入频率:400MHz分辨率:0.8ps电源GPDPS通用器件电源4DPS1114驱动能力:7V/+8A,-4A ? 8V/4AVbump, IDDQ功能LNDPS超低噪声电源2DPS8182驱动能力:8V/4A,-8V/-2A输出噪声: -80dBmVbump, IDDQ, 交流调制功能

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