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1、自动控制理论实验指导书目 录一自动控制理论实验指导概 述2实验一 典型环节的电路模拟与软件仿真研究 5实验二 典型系统动态性能和稳定性分析11实验三 典型环节（或系统）的频率特性测量15实验四 线性系统串联校正19实验五 典型非线性环节的静态特性23实验六 非线性系统相平面法28实验七 非线性系统描述函数法34实验八 极点配置全状态反馈控制38实验九 采样控制系统动态性能和稳定性分析的混合仿真研究44实验十 采样控制系统串联校正的混合仿真研究48二自动控制理论对象实验指导实验一 直流电机转速控制实验52实验二 温度控制实验55实验三 水箱液位控制实验57三自动控制理论软件说明概 述 59安装指
2、南及系统要求63功能使用说明64使用实例72概 述一实验系统功能特点 1系统可以按教学需要组合，满足“自动控制原理”课程初级与高级实验的需要。配备ACCC-I实验台、上位机（包含相应软件）及USB2.0通讯线就能完成与软件仿真、混合仿真有关的实验必须配备。2ACCC-I实验台内含有实验必要的电源、非线性与高阶电模拟单元以及几物理对象，可根据教学实验需要进行灵活组合，构成各种典型环节与系统。此外，ACCT-01A面板内还可含有数据处理单元，用于数据采集、输出以及和上位机的通讯。3配备PC微机作操作台时，将高效率支持“自动控制原理”的教学实验。系统提供界面友好、功能丰富的上位机软件。PC微机在实验
3、中，除了满足软件仿真需要外，又可成为测试所需的虚拟仪器、测试信号发生器以及具有很强柔性的数字控制器。4系统的硬件、软件设计，充分考虑了开放型、研究型实验的需要。除了指导书所提供的13个实验外，还可自行设计实验。二系统构成实验系统由上位PC微机（含实验系统上位机软件）、ACCC-I实验台、USB2.0通讯线等组成。ACCC-I实验台内装有以C8051F060芯片（含数据处理系统软件）为核心构成的数据处理卡，通过USB口与PC微机连接。1ACCC-I实验台简介ACCC-I控制理论实验台主要由ACCT-01A自动控制理论和计算机控制技术、ACCT-02物理对象电机转速与温度控制、ACCT-03物理对
4、象液位控制等3个部分组成。 其中ACCT-01A自动控制理论和计算机控制技术由电源部分U1单元、元器件单元U2、数据处理单元U3、非线性单元U5U7以及模拟电路单元U8U16等共15个单元组成。(1) 电源单元U1包括电源开关、保险丝、5V、5V、15V、15V、0V以及1.3V15V可调电压的输出，它们提供了实验设备所需的所有工作电源。（2）元器件单元U2单元提供了实验所需的电容、电阻与电位器，另提供插接电路供放置自己选定大小的元器件。（3）数据处理单元U3内含以C8051F060为核心组成的数据处理卡（含软件），通过USB口与上位PC进行通讯。内部包含八路A/D采集输入通道和两路D/A输出
5、通道。与上位机一起使用时，可同时使用其中两个输入和两个输出通道。结合上位机软件，用以实现虚拟示波器、测试信号发生器以及数字控制器功能。（4）非线性环节单元U5、U6和U7U5，U6，U7分别用于构成不同的典型非线性环节。单元U5可通过拨键S4选择具有死区特性或间隙特性的非线性环节模拟电路。单元U6为具有继电特性的非线性环节模拟电路。单元U7为具有饱和特性的非线性环节模拟电路。（5）模拟电路单元U8U16U8U16为由运算放大器与电阻，电容等器件组成的模拟电路单元。其中U8为倒相电路，实验时通常用作反号器。U9U16的每个单元内，都有用场效应管组成的锁零电路和运放调零电位器。2系统上位机软件的功
6、能与使用方法，详见ACCC-IIB自动控制理论实验上位机程序使用说明书。三自动控制理论实验系统实验内容1 典型环节的电路模拟与软件仿真研究；2 典型系统动态性能和稳定性分析；3 典型环节（或系统）的频率特性测量；4 线性系统串联校正；5 典型非线性环节的静态特性；6 非线性系统相平面法；7 非线性系统描述函数法；8 极点配置线性系统全状态反馈控制；9 采样控制系统动态性能和稳定性分析的混合仿真研究；10采样控制系统串联校正的混合仿真研究。要完成上列全部实验，必须配备上位计算机。物理对象实验1直流电机转速控制实验2温度控制实验3液位控制实验四实验注意事项1实验前U9U16单元内的运放需要调零。2
7、运算放大器边上的锁零点G接线要正确。不需要锁零时（运放构成环节中不含电容或输入信号为正弦波时），必须把G与-15V相连；在需要锁零时，必须与其输入信号同步的锁零信号相连。如在采用PC产生的经D/A通道输出的信号O1作为该环节或系统的输入时，运放的锁零信号G应连U3单元中锁零信号G1；类似地，如采用PC产生的信号O2作输入，则锁零信号G应连U3单元中锁零信号G2。锁零主要用于对电容充电后需要放电的场合，一般不需要锁零。3在设计和连接被控对象或系统的模拟电路时，要特别注意，实验台上的运放都是反相输入的，因此对于整个系统以及反馈的正负引出点是否正确都需要仔细考虑，必要时接入反号器。4作频率特性实验和
8、采样控制实验时，必须注意只用到其中1路A/D输入和1路D/A输出,具体采用“I1I8”中哪一个通道，决定于控制箱上的实际连线。5上位机软件提供线性系统软件仿真功能。在作软件仿真时，无论是一个环节、或是几个环节组成的被控对象、或是闭环系统，在利用上位机界面作实验时，都必须将开环或闭环的传递函数都转化成下面形式，以便填入参数ai, bj其中 ， 。如出现 的情况，软件仿真就会出错，必须设法避免。如实验一，在作理想比例微分（PD）环节的软件仿真实验时就会遇到此问题，因为此时可见该W(s)分子中s的阶高于分母的，直接填入参数仿真，即出现“非法操作”的提示。具体避免方法请参阅该实验附录。6受数据处理单元
9、的数据处理速率限制，作频率特性实验和采样控制实验时，在上位机界面上操作“实验参数设置”必须注意频率点和采样控制频率的选择。对于频率特性实验，应满足200/sec，以免引起过大误差。类似地，对于采样控制实验，采样控制周期应不小于5 ms。7本采集设备的上位机软件，A/D和D/A输出部分，需要注意的一些事项。本数据采集系统有8路A/D输入，2路D/A输出，对于8路A/D输入将其分为四组，因为一般我们用到两路同时输出或同时输入。I1、I2为一组A/D输入，I3、I4为一组A/D输入，I5、I6为一组A/D输入，I7、I8为一组A/D输入。在这四组A/D输入中，I1、I3、I5、I7为每组A/D输入中
10、的第一路，I2、I4、I6、I8为每组A/D输入中的第二路。这个在实验三中，做频率特性实验要求比较严格，在每个实验当中，我们可以随意选择任一组A/D输入，和任一路D/A输出。实验一 典型环节的电路模拟与软件仿真研究一实验目的1通过实验熟悉并掌握实验装置和上位机软件的使用方法。2通过实验熟悉各种典型环节的传递函数及其特性，掌握电路模拟和软件仿真研究方法。二实验内容1设计各种典型环节的模拟电路。2完成各种典型环节模拟电路的阶跃特性测试，并研究参数变化对典型环节阶跃特性的影响。3在上位机界面上，填入各个环节的实际（非理想）传递函数参数，完成典型环节阶跃特性的软件仿真研究，并与电路模拟研究的结果作比较
11、。三实验步骤1熟悉实验设备，利用实验台上的模拟电路单元，参考本实验附录设计并连接各种典型环节（包括比例、积分、比例积分、比例微分、比例积分微分以及惯性环节）的模拟电路。注意实验接线前必须先将实验台上电，以对运放仔细调零。然后断电，再接线。接线时要注意不同环节、不同测试信号对运放锁零的要求。在输入阶跃信号时，除比例环节运放可不锁零（G可接-15V）也可锁零外，其余环节都需要考虑运放锁零。2利用实验设备完成各典型环节模拟电路的阶跃特性测试，并研究参数变化对典型环节阶跃特性的影响。在熟悉上位机界面操作的基础上，充分利用上位机提供的虚拟示波器与信号发生器功能。为了利用上位机提供的虚拟示波器与信号发生器
12、功能，以比例环节为例，此时将Ui连到实验台数据处理单元U3中的D/A输出通道O1，将Uo连到实验台数据处理单元U3中A/D输入通道I1，将运放的锁零G连数据处理单元U3的锁零信号G1，并连好数据处理单元U3至上位机的USB2.0通信线。接线完成，经检查无误，再上电，启动上位机程序，进入主界面。界面上的操作步骤如下：按通道接线情况完成通道设置，通过上位机界面中“通道选择” 选择A/D输入通道I1作为环节的输出,选择D/A输出通道O1作为环节的输入.再将D/A输出通道O1直接连接A/D输入通道I2(显示信号源发出信号的波形)。不同的通道,图形显示控件中波形的颜色将不同。硬件接线完毕后,检查USB口
13、通讯连线和实验台电源后，运行上位机软件程序,如果有问题请求指导教师帮助。进入实验模式后，先对显示模式进行设置：选择“X-t模式”；选择“T/DIV”为1s/1HZ。完成上述实验设置，然后设置实验参数，在界面的右边可以设置系统测试信号参数，选择“测试信号”为“周期阶跃信号”，选择“占空比”为50%，选择“T/DIV”为“1000ms”， 选择“幅值”为“3V”，可以根据实验需要调整幅值，以得到较好的实验曲线，将“偏移”设为“0”。以上除必须选择“周期阶跃信号”外，其余的选择都不是唯一的。要特别注意，除单个比例环节外，对其它环节和系统都必须考虑环节或系统的时间常数，如仍选择“输入波形占空比”为50
14、%，那么“T/DIV”至少是环节或系统中最大时间常数的68倍。这样，实验中才能观测到阶跃响应的整个过程。以上设置完成后，按LabVIEW上位机软件中的“RUN”运行图标来运行实验程序，然后点击右边的“Start”按钮来启动实验，动态波形得到显示，直至周期响应过程结束，如上述参数设置合理就可以在主界面图形显示控件中间得到环节的“阶跃响应”。利用LabVIEW软件中的图形显示控件中光标“Cursor”功能（详见软件使用说明书）观测实验结果；改变实验环节参数，重复的操作；如发现实验参数设置不当，看不到“阶跃响应”全过程，可重复、的操作。按实验报告需要，将图形结果保存为位图文件，操作方法参阅软件使用说
15、明书。3分析实验结果，完成实验报告。四附录1比例(P)环节的传递函数、方块图、模拟电路和阶跃响应比例环节的传递函数为：其方块图、模拟电路和阶跃响应，分别如图1.1.1、图1.1.2和图1.1.3所示，于是，实验参数取R0100k，R1200k，R=10k。2积分(I)环节的传递函数、方块图、模拟电路和阶跃响应积分环节的传递函数为： 其方块图、模拟电路和阶跃响应，分别如图1.2.1、图1.2.2和图1.2.3所示，于是，实验参数取R0100k，C1uF，R=10k。3比例积分(PI)环节的传递函数、方块图、模拟电路和阶跃响应比例积分环节的传递函数为：其方块图、模拟电路和阶跃响应，分别如图1.3.
16、1、图1.3.2和图1.3.3所示，于是，实验参数取R0200k，R1200k，C1uF，R=10k。4比例微分(PD)环节的传递函数、方块图、模拟电路和阶跃响应比例微分环节的传递函数为： 其方块图和模拟电路分别如图1.4.1、图1.4.2所示。其模拟电路是近似的（即实际PD环节），取，则有，实验参数取R010k，R110k，R210k，R31K，C10uF，R=10k。对应理想的和实际的比例微分(PD)环节的阶跃响应分别如图1.4.3a、图1.4.3b所示。实际PD环节的传递函数为： （供软件仿真参考）5惯性环节的传递函数、方块图、模拟电路和阶跃响应惯性环节的传递函数为： 其方块图、模拟电路
17、和阶跃响应，分别如图1.5.1、图1.5.2和图1.5.3所示，其中，实验参数取R0200k，R1200k，C1uF，R=10k。6比例积分微分(PID)环节的传递函数、方块图、模拟电路和阶跃响应比例积分微分环节的传递函数为： 其方块图和模拟电路分别如图1.6.1、图1.6.2所示。其模拟电路是近似的（即实际PID环节），取，将近似上述理想PID环节有，实验参数取R0200k，R1100k，R210k，R31k，C11uF，C210uF，R=10k。对应理想的和实际的比例积分微分(PID)环节的阶跃响应分别如图1.6.3 a、图1.6.3 b所示。实际PID环节的传递函数为：（供软件仿真参考）
18、实验二 典型系统动态性能和稳定性分析一实验目的1学习和掌握动态性能指标的测试方法。2研究典型系统参数对系统动态性能和稳定性的影响。二实验内容1观测二阶系统的阶跃响应，测出其超调量和调节时间，并研究其参数变化对动态性能和稳定性的影响。2观测三阶系统的阶跃响应，测出其超调量和调节时间，并研究其参数变化对动态性能和稳定性的影响。三实验步骤1熟悉实验台，利用实验台上的模拟电路单元，参考本实验附录中的图2.1.1和图2.1.2，设计并连接由一个积分环节和一个惯性环节组成的二阶闭环系统的模拟电路（如用U9、U15、U11和U8连成）。注意实验接线前必须对运放仔细调零。接线时要注意对运放锁零的要求。2利用实
19、验设备观测该二阶系统模拟电路的阶跃特性，并测出其超调量和调节时间。3改变该二阶系统模拟电路的参数，观测参数对系统动态性能的影响。4利用实验备观上的模拟电路单元，参考本实验附录中的图2.2.1和图2.2.2，设计并连接由一个积分环节和两个惯性环节组成的三阶闭环系统的模拟电路（如用U9、U15、U11、U10和U8连成）。5利用实验设备观测该三阶系统模拟电路的阶跃特性，并测出其超调量和调节时间。6改变该三阶系统模拟电路的参数，观测参数对系统稳定性与动态指标的影响。7分析实验结果，完成实验报告。注意：以上实验步骤中的2、3与5、6的具体操作方法，请参阅“实验一”的实验步骤2；实验步骤7的具体操作方法
20、，请参阅“实验一”的实验步骤3，这里不再赘述。四附录1典型二阶系统典型二阶系统的方块结构图如图2.1.1所示：其开环传递函数为， 其闭环传递函数为，其中， 取二阶系统的模拟电路如图2.1.2所示：该系统的阶跃响应如图2.1.3所示：Rx接U4单元的220K电位器，改变元件参数Rx大小，研究不同参数特征下的时域响应。2.1.3a，2.1.3b，2.1.3c分别对应二阶系统在过阻尼，临界阻尼，欠阻尼三种情况下的阶跃响应曲线：2典型三阶系统典型三阶系统的方块结构图如图2.2.1所示：其开环传递函数为，其中，取三阶系统的模拟电路如图2.2.2所示：该系统开环传递函数为，,Rx的单位为KW。系统特征方程
21、为，根据劳斯判据得到：系统稳定0K12根据K求取Rx。这里的Rx可利用模拟电路单元的220K电位器，改变Rx即可改变K2，从而改变K，得到三种不同情况下的实验结果。该系统的阶跃响应如图2.2.3 a、2.2.3b 和2.2.3c所示，它们分别对应系统处于不稳定、临界稳定和稳定的三种情况。实验三 典型环节（或系统）的频率特性测量一实验目的1学习和掌握测量典型环节（或系统）频率特性曲线的方法和技能。2学习根据实验所得频率特性曲线求取传递函数的方法。二实验内容1用实验方法完成一阶惯性环节的频率特性曲线测试。2用实验方法完成典型二阶系统开环频率特性曲线的测试。3根据测得的频率特性曲线求取各自的传递函数
22、。4用软件仿真方法求取一阶惯性环节频率特性和典型二阶系统开环频率特性，并与实验所得结果比较。三实验步骤1熟悉实验设备上的信号源，掌握改变正弦波信号幅值和频率的方法。利用实验设备上的模拟电路单元，参考本实验附录设计并连接“一阶惯性环节”模拟电路（如用U9+U8连成）或“两个一阶惯性环节串联”的模拟电路（如用U9+U11连成）。2利用实验设备完成一阶惯性环节的频率特性曲线测试。在熟悉上位机界面操作的基础上，充分利用上位机提供的虚拟示波器与信号发生器功能。为了利用上位机提供的虚拟示波器与信号发生器功能，以一阶惯性环节为例，此时将Ui连到实验台数据处理单元U3的D/A输出通道O1或O2，将Uo连到实验
23、台的数据处理单元U3的A/D输入端通道I1I8中的任一通道（假设选择I1），然后再将你选择的D/A输出通道测试信号O1(如果选择的是O1)连接到A/D输入端I2(显示信号源发出的环节输入波形)，然后连接设备与上位机的USB通信线。接线完成，经检查无误，再给实验设备上电后，启动上位机程序，进入主界面。界面上的操作步骤如下：完成上面的硬件接线后，检查USB连线和实验设备电源，然后打开LabVIEW软件上位机界面程序。进入LabVIEW实验界面后，根据上面的实验接线选择通道，选择I1、I2通道作为输入通道，测试信号O1作为输出信号。测试信号01的设置，“幅值”为5（可以根据实验结果波形来调整），“测
24、试信号”为正弦波。“偏移”为零完成实验设置后，点击“下载数据”按钮，将设置的测试信号发送到数据采集系统。然后点击实验界面右下角的“Start”按钮来启动频率特性测试。测试程序将会从低频率计算到高频，界面右下角有个测试进度条，它将显示测试的进度。最后测试出来频率特性的Bode Plot、Nyquist Plot将在相应的图形控件中显示出来,在同一界面中我们可以同时看到频率特性的两种显示模式:一种是伯德图“Bode Plot”，它包括幅频特性和相频特性；另一种模式就是乃奎斯特图“Nyquist Plot”，又称极坐标图。按实验报告需要，将图形结果保存为位图文件，操作方法参阅软件使用说明书3利用实验
25、设备完成典型二阶系统开环频率特性曲线的测试。具体操作方法参阅步骤2。4参考附录的提示，根据测得的频率特性曲线（或数据）求取各自的传递函数。6分析实验结果，完成实验报告。四附录1实验用一阶惯性环节传递函数参数、电路设计及其幅相频率特性曲线：对于的一阶惯性环节，其幅相频率特性曲线是一个半圆，见图3.1。取代入，得在实验所得特性曲线上，从半园的直径，可得到环节的放大倍数K，K。在特性曲线上取一点，可以确定环节的时间常数T，。实验用一阶惯性环节传递函数为，其中参数为R0=200，R1200，C0.1uF，其模拟电路设计参阅图1.5.2。2实验用典型二阶系统开环传递函数参数、电路设计及其幅相频率特性曲线
26、：对于由两个惯性环节组成的二阶系统，其开环传递函数为 令上式中 ，可以得到对应的频率特性二阶系统开环传递函数的幅相频率特性曲线，如图3.2.1所示。根据上述幅相频率特性表达式，有 （31） 其中 故有 （32） （33）如已测得二阶环节的幅相频率特性，则、和均可从实验曲线得到，于是可按式（31）、（32）和（33）计算K、T、，并可根据计算所得T、 求取T1和T2实验用典型二阶系统开环传递函数为:其电路设计参阅图3.2.2。3对数幅频特性和对数相频特性上述幅相频率特性也可表达为对数幅频特性和对数相频特性，图3.3.1和图3.3.2分别给出上述一阶惯性环节和二阶环节的对数幅频特性和对数相频特性：
27、图3.3.1图3.3.2注意：此时横轴w采用了以10为底的对数坐标，纵轴则分别以分贝和度为单位。实验四 线性系统串联校正一实验目的1熟悉串联校正装置对线性系统稳定性和动态特性的影响。2掌握串联校正装置的设计方法和参数调试技术。二实验内容1观测未校正系统的稳定性和动态特性。2按动态特性要求设计串联校正装置。3观测加串联校正装置后系统的稳定性和动态特性，并观测校正装置参数改变对系统性能的影响。4对线性系统串联校正进行计算机仿真研究，并对电路模拟与数字仿真结果进行比较研究。三实验步骤1利用实验设备，设计并连接一未加校正的二阶闭环系统的模拟电路，完成该系统的稳定性和动态特性观测。提示：设计并连接一未加
28、校正的二阶闭环系统的模拟电路，可参阅本实验附录的图4.1.1和图4.1.2，利用实验台上的U9、U11、U15和U8单元连成。通过对该系统阶跃响应的观察，来完成对其稳定性和动态特性的研究，如何利用实验设备观测阶跃特性的具体操作方法，可参阅实验一的实验步骤2。2参阅本实验的附录，按校正目标要求设计串联校正装置传递函数和模拟电路。3利用实验设备，设计并连接一加串联校正后的二阶闭环系统的模拟电路，完成该系统的稳定性和动态特性观测。提示：设计并连接一加串联校正后的二阶闭环系统的模拟电路，可参阅本实验附录的图4.4.4，利用实验台上的U9、U14、U11、U15和U8单元连成通过对该系统阶跃响应的观察，
29、来完成对其稳定性和动态特性的研究，如何利用实验设备观测阶跃特性的具体操作方法，可参阅“实验一”的实验步骤2。4改变串联校正装置的参数，对加校正后的二阶闭环系统进行调试，使其性能指标满足预定要求。提示：5分析实验结果，完成实验报告。四附录1方块图和模拟电路实验用未加校正二阶闭环系统的方块图和模拟电路，分别如图4.1.1和图4.1.2所示：其开环传递函数为：其闭环传递函数为：式中 ，故未加校正时系统超调量为 ，调节时间为 s，静态速度误差系数KV等于该I型系统的开环增益 1/s，2串联校正的目标要求加串联校正装置后系统满足以下性能指标：（1）超调量（2）调节时间（过渡过程时间）s（3）校正后系统开
30、环增益（静态速度误差系数） 1/s3串联校正装置的时域设计从对超调量要求可以得到 % ，于是有 。由 s 可以得到 。因为要求 1/s，故令校正后开环传递函数仍包含一个积分环节，且放大系数为25。设串联校正装置的传递函数为D(s),则加串联校正后系统的开环传递函数为采用相消法，令 （其中T为待确定参数），可以得到加串联校正后的开环传递函数 这样，加校正后系统的闭环传递函数为 对校正后二阶系统进行分析，可以得到 综合考虑校正后的要求，取 T=0.05s ,此时 1/s,，它们都能满足校正目标要求。最后得到校正环节的传递函数为 从串联校正装置的传递函数可以设计其模拟电路。有关电路设计与校正效果请参
31、见后面的频域设计。4串联校正装置的频域设计根据对校正后系统的要求，可以得到期望的系统开环传递函数的对数频率特性。根据未加校正系统的开环传递函数，可以得其相应的对数频率特性。从期望的系统开环传递函数的对数幅频特性，减去未加校正系统开环传递函数的对数幅频特性，可以得到串联校正装置的对数幅频特性。从串联校正装置的对数幅频特性，可以得到它的传递函数：从串联校正装置的传递函数可以设计其模拟电路。图4.4.4给出已加入串联校正装置的系统模拟电路。在图4.4.4中，串联校正装置电路的参数可取R1390，R2R3200，R410，C4.7uF。（2）传递函数法期望的系统开环传递函数除以未加校正二阶闭环系统开环
32、传递函数，可以得到串联校正装置的传递函数。同样地，可从串联校正装置的传递函数设计其模拟电路，如图4.4.4所示。实验五 典型非线性环节的静态特性一实验目的1了解并掌握典型非线性环节的静态特性。2了解并掌握典型非线性环节的电路模拟研究方法。二实验内容1完成继电型非线性环节静特性的电路模拟研究。2完成饱和型非线性环节静特性的电路模拟研究。3完成具有死区特性的非线性环节静特性的电路模拟研究。4完成具有间隙特性的非线性环节静特性的电路模拟研究。三实验步骤1利用实验设备，设计并连接继电型非线性环节的模拟电路，完成该环节的静态特性测试；并改变参数，观测参数对静态特性的影响。参阅本实验附录1,从图5.1.1
33、和图5.1.2可知，利用实验台上的单元U6即可获得实验所需继电型非线性环节的模拟电路。单元电路中双向稳压管的稳压值为5.1V，改变U6中的电位器的电阻接入值，即可改变继电特性参数M，M随阻值减小而减小。可利用周期斜坡或正弦信号测试非线性环节的静态特性，下面分两种情况说明测试方法。在熟悉上位机界面操作的基础上，充分利用上位机提供的虚拟示波器与信号发生器功能。为了利用上位机提供的虚拟示波器与信号发生器功能，接线方式将不同于上述无上位机情况。此时将Ui连到实验台U3单元的D/A输出通道O1或O2（假设选择O1），将Uo连到实验台的U3单元的A/D输入端通道I1I8中的任一通道（假设选择CH1），再将
34、你选择的D/A输出通道O1连接到A/D输入端I2，然后连接设备与上位机的USB通信线。接线完成，经检查无误，再给实验设备上电后，启动上位机程序，进入主界面。界面上的操作步骤如下：完成上面的硬件接线后，检查USB连线和实验台电源，然后打开LabVIEW软件上位机界面程序。进入LabVIEW实验界面后，先对显示进行设置：选择显示模式（在LabVIEW图形控件的右边），可先选择“X-t模式”，或选择“X-Y模式”，或同时显示两种模式.在两种不同显示方式下都观察一下非线性的特性；选择“T/DIV量程”（在实验界面的右边框里）为1HZ/1S。在选择显示模式为“X-t模式”时。测试信号01的设置，先选择“
35、测试信号”为正弦波，然后设置信号的幅值5（不是唯一的，可根据实验曲线调整大小），“测试信号”也可以为周期斜坡信号，显示模式可以同时用两种显示模式显示非线性静特性，也可以按照需要选择任一种显示模式，如“X-T 模式”或者是“X-Y 模式”。对“正弦波”：选择“幅值”为“5V”，选择“偏移”为0V，选择“T/DIV”为“1HZ/1S”。对“周期斜坡信号”：选择“幅值”为“10V”，选择“偏移”为5V，选择“T/DIV”为“1HZ/1S”。以上设置完成后，按照上面的步骤设置好信号后，点击“下载数据”按钮，将设置的测试信号发送到数据采集系统。按“Start”按钮启动实验，动态波形得到显示，直至周期反应
36、过程结束，实验也自动结束，如设置合理就可以在主界面中间得到反映该非线性环节静态特性的波形。注意，采用不同测试信号看到的波形或曲线是不同的。改变环节参数，按“Start”启动实验，动态波形得到显示，直至周期反应过程结束，实验也自动结束，如设置合理就可以在主界面中间得到反映参数改变对该非线性环节静态特性影响的波形。，按实验报告需要，将图形结果保存为位图文件，操作方法参阅软件使用说明书。2利用实验设备，设计并连接饱和型非线性环节的模拟电路，完成该环节的静态特性测试；并改变参数，观测参数对静态特性的影响。参阅本实验附录2,从图5.2.1和图5.2.2可知，利用实验台上的单元U7即可获得实验所需饱和型非
37、线性环节的模拟电路。单元电路中双向稳压管的稳压值为2.4V，改变U7中的电位器的电阻接入值，即可改变饱和特性参数K与M，K与M随阻值减小而减小。可利用周期斜坡或正弦信号测试非线性环节的静态特性，具体操作方法请参阅本实验步骤1，这里不再赘述。3利用实验设备，设计并连接具有死区特性的非线性环节的模拟电路，完成该环节的静态特性测试；并改变参数，观测参数对静态特性的影响。参阅本实验附录3,从图5.3.1和图5.3.2可知，利用实验台上的单元U5，将该单元中的拨键S4拨向上方即可获得实验所需具有死区特性的非线性环节的模拟电路。改变U5中的电阻Rf的阻值，即可改变死区特性线性部分斜率K，K随Rf增大而增大
38、。改变U5中的电阻R1（R2）的阻值，即可改变死区特性死区的宽度，随R1增大而增大。可利用周期斜坡或正弦信号测试非线性环节的静态特性，具体操作方法请参阅本实验步骤1，这里不再赘述。4利用实验设备，设计并连接具有间隙特性的非线性环节的模拟电路，完成该环节的静态特性测试；并改变参数，观测参数对静态特性的影响。参阅本实验附录4,从图5.4.1和图5.4.2可知，利用实验台上的单元U5，将该单元中的拨键S4拨向下方即可获得实验所需具有间隙特性的非线性环节的模拟电路。改变U5中的电容Cf的阻值，即可改变间隙特性线性部分斜率K，K随Cf增大而减小。改变U5中的电阻R1（R2）的阻值，即可改变死区特性死区的
39、宽度，随R1增大而增大。可利用周期斜坡或正弦信号测试非线性环节的静态特性，具体操作方法请参阅本实验步骤1，这里不再赘述。请注意，单元U5不含运放锁零电路，为避免电容上电荷累积影响实验结果，在每次实验启动前，务必对电容进行短接放电。5分析实验结果，完成实验报告。四附录1具有继电特性的非线性环节具有继电特性非线性环节的静态特性，即理想继电特性如图5.1.1所示。该环节的模拟电路如图5.1.2所示。继电特性参数M，由双向稳压管的稳压值与后一级运放放大倍数之积决定。故改变图5.1.2中电位器接入电阻的数值即可改变M。当阻值减小时，M也随之减小。实验时，可以用周期斜坡或正弦信号作为测试信号进行静态特性观
40、测。注意信号频率的选择应足够低，如1Hz。通常选用周期斜坡信号作为测试信号时，选择在X-Y显示模式下观测；选用正弦信号作为测试信号时，选择在X-t显示模式下观测。2具有饱和特性的非线性环节具有饱和特性非线性环节的静态特性，即理想饱和特性如图5.2.1所示：该环节的模拟电路如图5.2.2所示：特性饱和部分的饱和值M等于稳压管的稳压值与后一级放大倍数的积，特性线性部分的斜率K等于两级运放放大倍数之积。故改变图5.2.2中的电位器接入电阻值时将同时改变M和K，它们随阻值增大而增大。实验时，可以用周期斜坡或正弦信号作为测试信号进行静态特性观测。注意信号频率的选择应足够低，如1Hz。选用周期斜坡信号作为
41、测试信号时，可在X-Y显示模式下观测；选用正弦信号作为测试信号时，可在X-t显示模式下观测。3具有死区特性的非线性环节具有死区特性非线性环节的静态特性，即理想死区特性如图5.3.1所示：该环节的模拟电路如图5.3.2所示：斜率K为：死区，式中R2的单位为，且R2R1（实际死区还要考虑二极管的压降值）。实验时，可以用周期斜坡或正弦信号作为测试信号进行静态特性观测。注意信号频率的选择应足够低，如1Hz。选用周期斜坡信号作为测试信号时，可在X-Y显示模式下观测；选用正弦信号作为测试信号时，可在X-t显示模式下观测。4具有间隙特性的非线性环节具有间隙特性非线性环节的静态特性，即理想间隙特性如图5.4.
42、1所示：该环节的模拟电路如图5.4.2所示：图中间隙特性的宽度,（实际死区还要考虑二极管的压降值），特性斜率，因此改变R1与R2可改变间隙特性的宽度，改变可以调节特性斜率。实验时，可以用正弦信号作为测试信号进行静态特性观测。注意信号频率的选择应足够低，如1Hz。选用正弦信号作为测试信号时，可在X-t显示模式下观测。注意由于元件（二极管、电阻等）参数数值的分散性，造成电路不对称，因而引起电容上电荷累积，影响实验结果，故每次实验启动前，需对电容进行短接放电。实验六 非线性系统相平面法一实验目的1学习用相平面法分析非线性系统。2熟悉研究非线性系统的电路模拟研究方法。二实验内容1用相平面法分析继电型非线性系统的阶跃响应和稳态误差。2用相平面法分析带速度负反馈的继电型非线性系统的阶跃响应和稳态误差。3用相平面法分析饱和型非线性系统的阶跃响应和稳态误差。三实验步骤1利用实验设备，设计并连接一未加校正的继电型非线性闭环系统的模拟电路，利用阶跃输入作测试信号，观测和记录系统在（,）相平面上的相轨迹，利用该相轨迹分析系统的阶跃响应和稳态误差，并与测得的系
