《03902计量值管制图的制作与解析.ppt》由会员分享，可在线阅读，更多相关《03902计量值管制图的制作与解析.ppt（46页珍藏版）》请在三一办公上搜索。
1、计量值管制图的制作与解析,制作人:王晓微2002/4/9,X-R(平均数-全距)管制图的 制作与解析一 收集数据:选择管制特性X,决定样本大小n及抽样间隔,样本组数k.1.选择管制特性x 能测定的产品或制程特性.与客户使用及生产关系重大的特性.对下工程影响较大的特性.经常出问题的特性.关键制程的特性.,2.决定样本大小n及抽样间隔 n约在2-5个之间,不宜太大.同一组之数据最好在同一生产条件及同一短时间内取样.初期解析之制程最好在较小的间隔连续取样,管制状态下之制程可加长其间个.每组样本可识别日期,时间,作业员,机台,原材料或零件批.不影响生产及可接受的成本下.,3.决定样本组数k 足够的样本
2、组数以保证制程的主要变异有机会出现.25组以上的样本及100个以上的数据以检定制程的稳定及估计制程特性的平均数及标准偏差.,二 记录数据及计算各组平均数xi,及全距Ri,总平均数x及R.将数据记录于空白的计量值管制图上.计算各组平均数xi 及全距Ri,总平均数x及R.xi=xij/n,Ri=maxxij-minxij x=xi/k,R=Ri/k,三 计算管制界线 UCLx=X+A2 R UCLR=D4 R CLx=X CLR=R LCLx=X-A2 RLCLR=D3 R,四 绘制管制界线及描点 1.决定管制图之坐标尺寸 两管制图之坐标尺寸分开制订.中心线置于从坐标之中心位置上.管制上下界线约置
3、于从坐标之2/3-3/4位置上.决定一格的大小及从坐标之尺寸.,2.依管制界线及各组Xi及Ri之大小描绘于管制图上 中心线以实线描绘,管制界线以红色虚线描绘.依各组之统计量大小描点于管制图上.将各点以实线连接.,五 解析制作.1.解析R管制图:组内样本之间的变异估计值,决定各组及平均数之间的变异程度,因此,R管制图的稳定性必须先解析.,1.1有点超过或低于管制界限:如下图:,UCL,R,LCL,有点超过管制上限 计算错误或描点错误.组内变异或实际制程变异,在某时变大或趋势性变大.量测系统曾经改变.,有点低于管制下限(样本大小n=7)计算错误或描点错误.实际制程变异变小.量测系统曾经改变,1.2
4、 有连串的点出现:如下图 a.连续7点出现在全距平均数R的一侧,UCL,R,LCL,b.连续7点出现持续上升或下降,UCL,R,LCL,连串出现在上侧或上升 不规则的原因造成较大的数据变异;如设备的故障,或单一制程条件的改变;如一新的或不均匀的原材料批,这些问题必须实时矫正.量测系统的改变如新的检验人员或量侧设备.,连串出现在下侧或下降制程条件造成较小的数据变异，应该调查而推广。量测系统的改变，可能掩饰真时的改变。当样本大小n5点出现在R以下的可能增加，因此连串的点必须以点以上来代表制程变异的减小。,1.3明显的非机遇现象;如下图 超过2/3的点集中在中间的1/3区域中,UCL,R,LCL,计
5、算错误或描点错误.制程或抽样方法有分层;即每组数据系统性地包含不同的制程平均,如多线或多机生产各取一个为一组样本.数据成曾经修改.,少于2/3的点集中在中间的1/3区域中.,UCL,R,LCL,计算错误或描点错误.制程或抽样方法因连续的组包含不同变异来源的数据,如进料混批.,1.4 发掘及矫正特殊原因 对全距管制图上显示的特殊原因,进行制程的作业分析来发掘正制程条件并防止再发.管制图在建议问题在何时开始及持续多久,应该是非常有用的指引.在分析问题中,时间性是很重要的,藉以即早对不良采取对策,同时藉以对诊断的时机有明显的证据.,1.5计算管制界限 当进行初期制程解析或重估制程能力时,管制界限应该
6、重新计算,以除去制程在不稳定期间已经发掘及矫正的特殊原因,对管制界限估算的影响.再确认R管制图的点是否在管制状态下,重复确认,矫正及再计算.,因特殊原因而除去的点,同时也在X管制图中除去,再以现有的数据重新计算管制界线.因特殊原因而除去的数据,主要目的是希望尽量在制程只有共同原因存在时估计制程变异.,2.解析X管制图:当R管制图在管制状态下,组内变异可认为是稳定的.各组平均数可以分析以识别制程中心是否依时间有显著的改变.假如平均数在管制状态下,即表示制程只有共同原因的变异.假如制程不在管制状态下,即表示有特殊原因的变异使制程中心不稳定.,2.1有点超过或低于管制界线,如下图 有点超过管制界限,
7、UCL,X,LCL,计算错误或描点错误.制程中心已经移动,可能是突发的或趋势性的改变.量测系统曾经改变.,2.2 有连串的点出现,如下图$连续7点出现在中心线的同一侧,UCL,X,LCL,$连续7点出现持续上升或下降,UCL,X,LCL,一般连串出现对制程平均显示.制程中心已经改变,而且可能正在改变.量测系统的改变.,2.3 明显的非机遇现象,如下图$超过2/3的点集中在中间的1/3区域中,UCL,X,LCL,计算错误或描点错误 制程或抽样方法有分层;即每组数据系统性地包含不同的制程平均,如多线或多机生产各取一个为一组样本.数据曾经修改.,$少于2/3的点集中在中间的1/3区域中,UCL,X,
8、LCL,计算错误或描点错误.制程或抽样方法因连续的组包含不同来源的数据;制程的变异是因制程数据分组造成的.,2.4 发掘及矫正特殊原因$对平均数管制图上显示的特殊原因,进行制程的作业作业分析来发掘原因,矫正制程条件并防止再发.管制图在建议问题在何时开始及持续多久,应该是非常有用的指引.$在分析问题中,时间性是很重要的,藉以即早对不良采取对策,同时藉以对诊断的时机有明显的证据.,2.5 计算管制界线$当进行初期制程解析或重估制程能力时,管制界限应该重新计算,以除去制程在不稳定期间已经发掘及矫正的特殊原因,对管制界线估算的影响.再确认管制图的点是否在管制状态下,重复确认,矫正及再计算.,六 制程能
9、力研究$当管制图显示制程在管制状态下,产品或制程质量是否符合客户的要求,制程能力是一个表示制程质量的重要指针.以制程共同原因的变异与规格比较,来估计制程不良率.而制程能力的改善是需要靠管理当局在系统上着手.,$有许多估计制程能力方法,但首先要确认制程特性分配是常态,通常以直方圆或常态机率纸分析可以初步鉴定.假如制程特性的分配与常态分配有显著的差异,则以下的计算及分析与事实会有较大的出入.,$制程能力的分析方法,无论多精密,也只能提供近似的结果.因为:抽样变异的存在.不存在完全在管制状态下的制程.制程特性的分配没有正好是常态分配.,$以X-R管制图分析制程能力的步骤如下:1.估计制程平均及标准偏
10、差=X,=R/d2,2.计算制程能力 无规格界线无法计算 单边上限USL Cp=*CPU=(USL-X)/3 ZUSL=(USL-X)/CPL=*k=Ca=*CPK=CPU,单边下限LSL Cp=*CPL=(X-LSL)/3 ZLSL=(X-LSL)/CPU=*k=Ca=*CPK=CPL,双边规格 Cp=(USL LSL)/6 CPU=(USL X)/3 ZUSL=(USL X)/CPL=(X LSL)/3 ZLSL=(X LSL)/k=Ca=CPK=MIN(CPU,CPL)=(1-Ca)Cp,X(USL+LSL)/2,(USL LSL)/2,3 估计制程不良率:制程特性分配为常态时,可用下式估计 双边规格 PUSL=PZ ZUSL PLS L=PZ ZLSL P=PUSL+PLS L,4.若依客户要求的质量水平,显示制程能力不足,则进行改善活动计划,短期内可用下列方式进行.以全检挑选不良品 取得客户的同意修改规格,七 延长管制界限开始管制 若制程在管制状态下且制程能力足够则延长管制界限开始管制.其管制界线以过去解析的数据来估计,估计方法如下:1.估计制程平均及标准偏差=X,=R/d2,2.重新计算管制界限 UCLX=+3/n,UCLR=d2+3d3 CLX=,CLR=d2 LCLX=-3/n,LCLR=d2-3d3 3.以此管制界限监控制程之变化.,
