物相分析及点阵参数精确测定教学PPT(1).ppt

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1、1,第五章 物相分析及点阵参数精确测定,2,第一节 物相定性分析,3,引 言,常规化学成分分析:(如光谱、X荧光、电子探针分析等)是对材料的元素组成定性和定量分析。如:Fe:96.5;C:0.4;Ni:1.8;Cr:0.8;它不能说明各元素存在的状态。化学分析:如:两种晶体物质混合物,分析有Ca+2、Na+、Cl、S042,但不能确定究竟是哪两种晶体。金属材料:碳钢:为Fe-C合金,更要了解在各种条件下,究竟是由哪些物相组成。如:铁素体、渗碳体、奥氏体或其他物相?,4,引 言,如:Al-Ti复合材料:化学分析:Ti和Al元素;但可形成不同化合物(物相),X射线衍射分析:可知TiAl,Ti3A1

2、,TiAl3等中哪一化合物。对物质同素异构体:其他方法不能区分;如:Al203各种结构已测定出就有14种以上。可见:材料成分相同,在不同条件下,可由不同“相”组成,呈现出不同性能。“相”:由材料中各元素作用形成的,具有同一聚集状态、同一结构和性质的均匀组成部分。,5,物相分析目的,1、物相定性分析:可鉴定材料是由那些“相”组成。“相”:有单质相、化合物和固溶体等类别。2、物相定量分析:确定各组成相含量,以体积分数或质量分数表示。物相:决定或影响材料性能重要因素,因而,物相分析在材料、冶金、化工、地质、医药等行业应用十分广泛。,6,一、物相分析基本原理,X射线衍射分析:以晶体结构为基础,各结晶物

3、质均有特定晶体结构及参数,如:点阵类型、晶胞大小、单胞原子(分子、离子)数及其在晶胞中的位置等。这些参数均反映在X射线衍射花样(或衍射数据、I)中。尽管物质种类千万种,却没有完全相同衍射花样,某物质的多晶体衍射花样是该物质的特征,成为鉴别物相的标志。混合物或多相物质:各相物质衍射花样机械叠加、互不干扰;分析时,将其衍射花样区分开就行了。衍射花样:反映物相中元素化学结合态,是物相的“指纹”。由衍射角():确定是什么物相,即定性分析;由衍射强度(I):确定各物相含量,即定量分析。,7,一、物相分析基本原理,物相定性分析:1、先制备各种标准单相物质,经X射线衍射得到标准衍射花样(数据),并使之数字化

4、并存档;2、分析时,将待测物质衍射花样(数据)与标准衍射花样(数据)对比,从中选出相同者,就可确定其相和相组成。定性分析实质:衍射花样(数据)采集、处理和查找、核对标准花样(数据)。,8,二、粉末衍射卡片PDF卡片(1),衍射花样:不便保存和交流,且条件不同,花样形态各异,因此,要有一个国际通用的标准衍射花样(数据)。标准衍射花样(数据):应具有:1、能反映晶体物质的结构特征的;2、不因试验条件而变化。标准衍射数据:即衍射晶面间距 d 值(2)和衍射强度 I。因此,将各标准物质的各衍射花样数据(d 值和强度 I),注明物相名称,制成一张卡片或数据存入计算机,就是各标准物质的衍射卡片。,9,粉末

5、衍射卡片PDF卡片(2),1936年,哈纳瓦特(J.D.Hanawalt)首创将各标准物质衍射花样特征数字化,制成卡片,并提出了检索索引方法。,哈纳瓦特(J.D.Hanawalt),1938年,首先提出d-I数据卡片,他和林恩(H.W.Rinn)等人收集了1000多种物质的衍射图,整理出d值、强度I/I1等数据,制成相应物相衍射数据卡片。,10,粉末衍射卡片PDF卡片(3),1941年,由美国材料试验协会(ASTM)整理出版。1969年,改由粉末衍射标准联合委员会(JCPDS)着手出版约1000个化合物卡片,并逐年增加,称为ASTM卡片。后来,由美、英一些机构组成“粉末衍射法化学分析联合委员会

6、”主持编辑,称为X射线衍射数据卡片及卡片索引。1957年,从第七组卡片始,改称X射线粉末数据文件及文件索引,并分为有机物和无机物卡片,且每年增加一组卡片。1963年,从第13组起,改名为粉末衍射文件(Powder Diffraction File),简称PDF。,11,粉末衍射卡片PDF卡片(4),1964年,从第14组始,由新成立的国际粉末衍射标准联合委员会(Joint Committee on Powder Diffraction Standards 即JCPDS)主持编辑和出版PDF卡片及其索引。1978年,JCPDS进一步与国际衍射数据中心(International Centre f

7、or Diffraction Data,ICDD)联合出版(JCPDS/ICDD)。1992年,卡片统一由ICDD出版,1997年,已有47组卡片,含有机、无机物相约有67000张,并不断补充和更新。,12,粉末衍射卡片PDF卡片(5),粉末衍射文件(PDF)数据库:PDF-1:存贮在硬盘上,内容为d 值,I/I1 以及物相名称化学式等数据。PDF-2:贮存在光盘(CD-ROM),以表格形式提供化合物分子式、英文名称、晶系、空间群、d 值、相对强度、晶胞参数和Miller指数等内容。2003版,共有157,048种物相,其中无机物133,370个,有机物25609个,实验谱92011个,计算谱

8、56614个,每年不断扩充。目前,共有163,835种物相,无机物138,933个,有机物26,884个,,13,PDF-3和PDF-4,PDF-3:是一个数字粉末衍射谱库。它不是以d 和 I/I1值存储的,而是以小2步长(如2 0.020)扫描的完整数字粉末衍射谱。此库不大,至2003年只包含500个物相。PDF-4:是ICDD近年新推出的一种新式的关系数据库。PDF-2:是把数据按物相形成记录的(即把有关物相的所有数据都集中在一起,形成一个数据单位)。PDF-4:是把所有数据按其类型(如衍射数据、分子式、d值、空间群等)存于不同的数据表中。有32类种,在每类型下可有数百子类。此数据库具有非

9、常强的数据发掘能力,为物相鉴定的第三代检索/匹配的基础。,14,PDF-3和PDF-4,PDF-4 也有多种不同的分类版本:PDF-4/全文件2003:共有157,048个物相,与PDF-2相同。PDF-4/矿物2003:共有17,535个物相。其中7647个有参比强度 I/I1,这有利于做物相定量分析。PDF-4/有机物2003:共有218,194个有机和金属有机物相。其中24,385个是实验谱,191,468个由剑桥晶体学数据中心(CCDC)的单晶数据计算得的粉末谱;其中大于124,900个具有参比强度I/I1,有利于做定量物相分析。PDF-4/金属和合金2002:共有36,109个金属或

10、合金物相。其中20,985个有参比强度I/I1。PDF-4各分库所含物相总数已超过350,000个。,15,1996年出版的PDF新卡片形式,1、卡片号:表示第46组394号卡片。,46-394,1、卡片序号,16,新PDF卡片的形式,2、物质化学式和英文名称。,46-394,2、物质化学式和英文名称,有时右边列出“点”式或结构式,17,新PDF卡片的形式,3、获得衍射数据的试验条件。,46-394,3、获得衍射数据的试验条件。,18,新PDF卡片的形式,3、获得衍射数据的试验条件:其中Rad.:辐射种类(CuK);:辐射波长();Filter:滤波片名称,如:Ni。用单色器:Mono;d-s

11、p:测定面间距所用的方法或仪器,如X射线衍射仪、纪尼叶相机等。Dia.:为相机直径;Cut off:仪器所能测得的最大面间距;Int.(II1):衍射相对强度测定仪器或方法(如衍射仪法、黑度计);I/Icor参比强度,最强衍射峰强度与刚玉最强峰强度比。,19,新PDF卡片的形式,4、物质的晶体学数据。,46-394,4、物质的晶体学数据。,20,新PDF卡片的形式,4、物质的晶体学数据:其中Sys晶系;如:Cubic:立方晶系。S.G.空间群符号;a、b、c单胞点阵常数;A=a/b,C=c/a轴比;、:晶胞轴间夹角;Z单胞中的化学式单位数目(元素指其单胞中原子数;化合物是指单胞中的化学式单位数

12、目)。此外,还有物质的熔点mp、用X射线法测得的密度 Dx。,21,新PDF卡片的形式,5、样品来源、制备、或化学分析数据等,46-394,5、样品来源、制备或化学成分数据等备注。,22,新PDF卡片的形式,5、样品来源、制备或化学成分数据等备注栏:包括试样来源、制备方式及化学分析数据。此外,如分解温度(D.F)、转变点(T.P)、摄照温度、热处理、卡片替换更新信息等说明,也列入此栏。,23,6、衍射数据栏,6、物质的一系列衍射晶面间距d、衍射强度Int 及晶面指数hkl,46-394,衍射强度Int:以最强线强度为100时的相对强度(即I/I1),24,新PDF卡片的形式,7、卡片质量标记:

13、,7、卡片质量标记,46-394,25,新PDF卡片的形式,卡片的质量标记:“”数据质量好;“i”数据质量较好,不如“”者可靠;“o”数据质量较差;无符号者为一般;“c”衍射数据来自理论计算;“R”卡片中的d 值经Rietveld 精密化处理。,26,三、PDF卡片索引,卡片索引:欲快速地从几万张卡片中找到所需的一张,须建立一套科学的、简洁的索引工具。利用卡片索引进行检索可打打节省时间。卡片索引:按检索方法可分为:字母索引和数字索引。1、字母索引(化学名索引、矿物名索引)按物质的英文名称的第一字母顺序排列。每一行上列出卡片的质量标记、物质名称、化学式、衍射三强线的 d 值和相对强度、卡片序号。

14、若试样中已知或可能含有的一种或数种物相或化学元素,可利用此索引,找出卡片,将与待定衍射数据对比,以确定物相。,27,1、戴维无机字母索引,戴维(Davey)无机字母索引:索引中每种物质也占一行,依次为物质英文名称、化学式、三强线 d 值及相对强度、卡片序号等。若已知或可能物相英文名称,检索可查出卡号、衍射数据。如:Cu-Mo氧化物,可查Copper打头的索引,结果如下:,戴维(Davey)无机字母索引样式,28,2、哈氏索引,2、Hanawalt索引(哈纳瓦特索引、哈氏索引)以衍射数据 d 值数列(d1,d2,d3)为索引(数字索引)。当不知所测物质为何物时,用该索引较为方便。哈氏索引:按最强

15、线d1值分组(如0.2690.265组),从大到小排列。每组内:按次强线 d2 值减小顺序排列,d2 值相同的又按d3值减小的顺序排列。每条目依次列出:卡片质量标记、8根最强线 d 值和强度、化学式、卡片号等。,29,2、哈氏索引,哈氏索引:将每种物质的数据在索引中占一行,依次为:卡片质量标记、8条强线d 值及相对强度、化学式、卡片号。如下:,哈氏索引样式,8条强线的d值和相对强度,化学式,卡片序号,30,2、哈氏索引,哈氏索引:以三强线 d 值来区分各物质,列出 8 强线 d 值,并以三强线 d 值序列排序。每种物质在索引中出现三次,按三强线的排列组合如:d1 d2 d3 d4 d5;d2

16、d3 dl d4 d5;d3 d2 dl d4 d5,这可增加寻找到所需卡片的机率。,31,用广角测量得到的数据,角度(2),強度,Peak的有无 判断结晶非结晶,样品方位和强度变化(取向)集合组织 纤维组织 极图,32,射线衍射的用途?,33,金刚石?石墨?(定性分析),金刚石,石墨,34,构成物质结晶的大小(晶粒大小),催化剂的评价(结晶大小测量、粒径分析),35,Texture(择优取向/织构),铝由于加工造成的变化(极点图形测量),存在择优取向,不存在择优取向,36,Stress的测量(应力),机械零件的残余应力分析宏观应力的衍射效应:衍射峰的位移。,37,结晶度的评价,材料结晶度的评

17、价(结晶化度的测量),38,对结构更加详细的探究(Rietveld分析),39,四、物相定性分析过程,40,一、物相定性分析的基本过程(1),1、制备待测样品。待测样:须无择优取向或较小,且晶粒要细小。择优取向:使衍射线相对强度明显与正常值不同;2.选择合适辐射,使荧光辐射最低,得到衍射线数目要多。复杂化合物:因衍射线密,难分辨,可用长波长X射线如:Cu(0.15418nm)、Fe、Co和Ni 等辐射。3.用衍射法或照相法获得待测样的衍射图(德拜花样)。,41,一、物相定性分析的基本程序(3),4.从衍射图或德拜花样中,测量衍射峰位(2)、算出d 值及相对强度 II1(I1 为最强线强度)。照

18、相法:衍射线相对强度用目测估计,求相对强度IIl。分为五级(很强、强、中、弱、很弱),很强定为100,很弱定为10或者5,或用100、90、10的十个等级,衍射仪法:可由计算机直接读出,求相对强度IIl。以I2 曲线(衍射图)衍射峰位(2),求得 d 值,以衍射峰高或积分面积求得相对强度IIl,,42,一、物相定性分析的基本程序(4),5.检索PDF卡片:物相均为未知时,用数值(d 值)索引。单相物质定性分析:当已求出 d 和 II1后,则(1)由待测相衍射数据,即三强线晶面间距 d 值,dl、d2、d3(适当估计其误差:d1d1、d2d2、d3d3)。(2)由 d1 值(或 d2、d3),在

19、 d 值索引中检索适当 d 组,找出与 dl、d2、d3 的d-IIl 值吻合较好的一些卡片。(2)再核对八强线的d-IIl值;当八强线基本符合时,则按卡片编号取出PDF 卡片。若按dl、d2、d3顺序查不到现应条目,则可将按其不同顺序排列查找。,43,一、物相定性分析的基本程序(5),6.核对 PDF 卡片与物相判定:将衍射花样全部的d-IIl值与检索到的PDF卡片核对,若吻合,则卡片所示相即为待测物相。检索和核对PDF卡片:以 d 值为主要依据,以 IIl 值为参考依据。复相物质的定性分析:分析原理:与单项物质定性分析相同,只是需要反复尝试,逐个确定其组成相,其分析过程会复杂一些。多相物质

20、衍射花样:互相叠加,故给分析带来困难,需要将各衍射线条轮番搭配、反复尝试。,44,多相物质分析与示例(1),例如:待测样衍射花样 d-IIl值数据如下表。可知:三强线順序:2.09、2.477和1.805;1.设此三强线属同一物相,即d12.09,d22.47,d31.80。2.估计误差:d1=2.112.07,d2=2.492.45,d3=1.821.78。,表5-1待测试样的衍射数据,45,多相物质分析与示例(2),3.查哈氏(d值)数值索引:查得:d1值位于 2.142.10 和 2.09 2.05 两小组中,且其中有好几种物相的 d3 值位于 1.821.78 范围内;但没有一个物相的

21、 d2 值在 2.49 2.45之间;这意味着待测试样为多相物质或复相混合物,且上述三强线条可能不属于同一相。即 d12.09、d31.80 为同一物相,而 d22.47为另一物相。,(d12.112.07,d22.492.45,d31.821.78,46,多相物质分析与示例(3),再按某相 dl 2.09 和 d2 1.80,继续在2.142.10和2.092.05两小组检索,看其中 d3 值是否与数据表中某d 值相符。,三强线:d12.09,d22.47,d31.80。误差范围:d12.112.07,d22.492.45,d31.821.78。,发现:有五种物质 d3 值在1.291.27

22、区间。说明:d 值为:2.09、1.80、1.28 三条衍射线可能是待测试样中某相的三强线。,47,多相物质分析与示例(4),以 d12.09、d21.80、d3 1.28 三强线查得一个条目,其物相为铜(Cu)(4-0836)。而其它四种物质都不能满意地吻合。,48,多相物质分析与示例(5),进一步查看:待测样衍射数据(表5-1)与Cu卡片(4-836)的衍射数据(表5-3)。可见:待测相的某些数据(表5-1以*号标示)与Cu卡片每个衍射数据(表5-3)都满意地吻合。最后可确认:待测试样中含有Cu。,表5-1 待测试样的衍射数据,表5-3 4-836卡片Cu的衍射数据,49,多相物质分析与示

23、例(6),进一步鉴定待测试样衍射花样中其余线条属于哪一相:将属于Cu的各线条数据去除;把剩余线条另列于表;并把各衍射线的相对强度归一化处理,即乘以因子1.43(即余下的最强线为 d=2.47、I/I1=72,则因子100/72=1.43),使得最强线的相对强度为100。,50,多相物质分析与示例(7),按定性分析步骤,再检索和核对PDF卡片,结果表明:这些线条与氧化亚铜(Cu02)PDF卡片所列线条数据相一致。结论:待分析样由铜(Cu)氧化亚铜(Cu02)两相组成。,表5-4 剩余线条与Cu2O的衍射数据比较,4,51,二、定性分析应注意的问题(1),1、d 值比 II1 数据重要,以d值为主

24、要依据,而相对强度为 II1 参考。因 d 值不随实验条件而变,只会产生微小测量误差。故须要求精度高。在检索时,允许小数点后第二位出现偏差。II1 值可随实验条件(靶种、制样方法等)产生较大变化。有时,实验数据与卡片数据数量不同。如:实验数据比卡片少了几条弱峰数据,可确定该物相。因早期照相法的卡片数据,曝光长,弱衍射线可能出现。如:实验数据比卡片多几条弱峰数据,可能混入杂质。若多了几条较强衍射线数据,那可能对比错,或非单质相,可能是多相混合物。,52,二、定性分析应注意的问题(2),2、低角线数据比高角线数据重要。因不同晶体,低角线 d 值较大,衍射线重叠机会少;而高角度线(d值小),重叠机会

25、就增多。3、强线比弱线重要,特别要重视 d 值大的强线。因强线出现情况比较稳定,也较易测得精确;而弱线则可能因强度减低而不再能被察觉。4、混合物中某相含量过少,或该相各晶面反射能力弱时,难于产生完整的衍射线或根本不出现。重元素物相易被发现;结构简单的物相,其线条易出现。如:W在WC中在含0.10.2%及能显现;Fe3C在钢中在含56%才能被发现等。,53,二、定性分析应注意的问题(3),4、多相混合物,各相衍射线互相重叠,导致衍射花样中最强线并非某相的最强线,应提高衍射仪分辨率,人工检索困难,可利用计算机,应耐心细致,力求全部数据能合理解释,还须结合试样成分、热处理条件等信息。出现少数衍射线不

26、能解释情况:可能因混合物中,某物相含量太少,只出现一、二级较强线,以致无法鉴定。5、晶体存在择优取向(织构),会使某衍射线强度异强或弱,物相确定也相当难。,54,二、定性分析应注意的问题(4),6、某些物相具有点阵相同,点阵参数相近,衍射花样极其相似,要区分也有困难。7、实验条件影响衍射花样,核查时,要注意实验条件与PDF卡的异同。如:样品类型(平板与圆柱)、实验方法(衍射仪、照相法)、样品状态和制备方法等。8、固溶体相:因点阵常数随成分(溶质含量)而改变,故其d 值也随之改变。故须预先制作点阵常数或 d 值与其成分变化的校正曲线,才可进行分析和鉴定。,55,高分子材料,一般来说,X射线衍射可

27、很快做出如下判断:1)晶态还是非晶态:非晶态:衍射是漫散的“晕环”,晶态:有确定d 值的锐衍射峰;2)若为晶态,还可初步判断是有机还是无机类。有机材料:晶胞都较大,衍射线多在低角区出现,因晶体对称性较低,衍射线条较少。,56,高聚物材料:一般是晶态和非晶态共存(两相模型)既有非晶漫散射,也有锐衍射峰;强衍射峰总邻近非晶漫散射极大强度处附近出现。也可某种程度的有序,如纤维素:具有一定锐度的漫散射;也可完全非晶态,如聚苯乙烯PS:散射强度分布相当漫散。,57,第二节 物相定量分析,58,一、定量分析基本原理(1),一、物相定量分析依据:各相衍射线的强度 I:随该相在混合物中含量的增加而提高。但衍射

28、强度 I 并不正比于“含量C”,需加以修正。原因:1.各物相对X射线吸收(吸收系数l)不同;2.各物相对X射线吸收还依赖于各相含量C。物相定量分析:须先建立衍射强度 I、吸收系数l 及某相含量C三者间的关系。物相定量分析:均用衍射仪法,因可准确测定衍射线强度。,59,一、定量分析基本原理(2),单相多晶物质衍射仪法测量衍射强度 I 计算公式:,其中:混合物的线吸收系数。,修改后,可用于多相物质。,60,一、定量分析基本原理(2),多相混合物中某 j 相衍射强度公式:设:由 n 个物相组成的混合物样品,其线吸收系数为,则其中某相(j 相)的 HKL 衍射线强度公式:,其中:V晶体被照射体积;V0

29、单胞体积;F、P、e-2M、()及 V0 均与某相有关的参量;,因各相l不同,当 j 相含量改变时,混合物样随之改变。,61,一、定量分析基本原理(3),对多相物质中,某 j 相衍射强度公式:,当混合物中 j 相含量改变时,公式中除 f j 及外,其余均为常数,用 C j 表示。,常数C j,若 j 相体分数为 f j,令V为单位体积,则 j 相被照射体积:,62,一、定量分析基本原理(4),这样,第 j 相某根衍射线的强度 I j:,即得多相混合物(物质)相定量分析的基本公式:,C j 常数;f j j 相体积分数;混合物线吸收系数,63,二、定量分析方法(1),物相定量分析的具体方法有:1

30、、单线条法(外标法)2、内标法3、K值法及参比强度法,64,二、定量分析基本方法(2),1、单线条法:(外标法、直接对比法)要点:只要测量混合物样中待测的 j 相某根衍射线强度,并与纯 j 相的同一线条强度对比,即可定出 j 相在混合物中的相对含量。若混合物含 n 个相,其线吸收系数及密度均相等时,(如同素异构物质),则某相衍射线强度 Ij 正比于其质量分数 Wj,即,C新的比例系数,65,二、定量分析基本方法(2),若纯 j 相(Wj=100=1),某根衍射线强度为(Ij)0,则表明:混合物中 j 相与纯 j 相同一根衍射线强度之比,等于j 相的质量分数 Wj。按照此关系可进行定量分析。,6

31、6,二、定量分析基本方法(4),如:某样品由-Al2O3-Al2O3组成,测定-Al2O3在混合物中的质量分数(含量)。1、先测定纯-Al2O3某根衍射线强度(Ij)0,(用最强线,无重叠;步扫测量,扣背低,求积分强度)。2、在同条件下测定混合物中-Al2O3同一衍射线强度 Ij。3、后者与前者之比,即为混合物中-Al2O3的含量。,67,二、定量分析基本方法(5),单线条法:比较简单,但准确性稍差。欲提高测量可靠性,可事先配置一系列不同比例(如20、40、60、80.)的混合物,制作强度比与含量关系的定标曲线。应用时,由所测强度比,对照曲线即得出含量。定标曲线法:也可适用于吸收系数不同的两相

32、混合物的定量分析。,68,二、定量分析方法(6),2、内标法:(样品含多个相,且吸收系数不同时)在待测样中掺入一定量(Ws)标准纯物质 S 而制成混合样。测量该试样中待测相某衍射线强度 Ij 和掺入试样中含量已知的标准物质某衍射强度 Is;比较上述两衍射线强度,从而获得待测相含量。掺入标准物质目的:消除基体效应。内标法:仅用于粉末试样。标样:如-Al203(刚玉)、Si02、CaF2(荧石)、Ni0等粉末作为内标物质。,69,二、定量分析方法(7),设在试样含 n 相,测 A 相含量,掺入内标物质 S。,复合样线吸收系数AA相密度 WA A相在复合样中质量分数,则复合试样中A 相和内标物质 S

33、 的某衍射线强度分别为:,两式相除:,消除了,即基体效应影响,其中,70,二、定量分析方法(8),原样(未掺 S)和混合样(掺S)中:A 相质量分数WA、W A,S 相的质量分数 WS、WS;利用关系式:,内标法定量分析基本方程,代入上式,得,71,二、定量分析方法(9),内标法定量分析基本方程:可见,IA/IS 与 WA 呈线性关系,直线必过原点,斜率为 K。其中:IA/IS 由试验测定;斜率K也由实验法求得。为求得斜率K:也要制作定标曲线。先配制一系列 A 相的质量分数 WA 已知的标准混合样,并在每样品中加入相同重量的内标物质 S。测定每样中两相某衍射线强度 IA 和 IS。画 IA/I

34、S-WA标准曲线,为一定斜率的直线。,72,二、定量分析基本方法(9),如测定工业粉尘中石英含量:,1、以萤石(CaF2)为标样,配制一系列样品,应包含已知不同质量分数的石英(W石英)和恒定质量分数(如20)的萤石。,2、测定每个样最强衍射线强度,3、作出I石英/I萤石W石英的关系曲线。,73,二、定量分析基本方法(10),4、往待测样中加入同样质量分数(20)的萤石内标物,并测定I石英/I萤石;由 I石英/I萤石。5、查定标曲线(或利用K值)即可确定待测样中石英含量。,74,内标法:传统的定量分析方法,但存在许多缺点:1、绘制定标曲线需配置多个复合样品,工作量大,且有时纯样品难提取。2、要求

35、加入样品中的标准物数量恒定,而绘制定标曲线又随实验条件而变化。目前使用其简化方法,使用普遍是K值法(基体清洗法)。,75,二、定量分析方法(9),3、K值法(基体清洗法)目前常用的简化方法。K值法:内标法延伸,也要加入标准内标物质(清洗剂)。内标法中,为求得 K 值,还须作标准曲线。能否不作标准曲线求得 K 值呢?K值法:将内标法式改写成:,其中,内标法中K 值:随标准相加入量 WS 而变化的。K值法中 值:只与待测相和内标物质有关,而与样品中其它相无关(即“基体清洗”),常通过实验法求得。,76,二、定量分析方法(10),实验方法:1、配置等质量(各占50%)的待测相 A 和内标物质 S 两

36、种纯物质混合样,测定二者某衍射强度比 IA/IS,求 K 值。即,因 WA/Ws=1,所以,2、往待测样A中掺入一定已知量(WS)的内标物 S 相,测定混合样中两者某衍射强度IA/IS。3、因 K 值已知,由上式可求得混合样中A 相含量 WA。,4、再求A 相在原始样品中含量 wA。,77,二、定量分析方法(11),K值法:比内标法简单,尤其是K值测定,而且,此K值对任何样品都适用。因此,目前X射线定量分析多用K值法。K值法困难处:在于要有待测相纯物质,这有时较困难。于是,人们设想:能否统一测定一套各种物相最强峰与某标准物质最强峰的比值,以便在找不到纯物质时提供使用。,78,粉末衍射标准联合委

37、员会(JCPDS)作了这项工作。选用-Al2O3(刚玉,Corundum)作标准物质,测定各物质与刚玉以1:1比例混合后,其最强峰比值 Ii/Icor,称为该物质的参比强度(Reference intensity values),列于PDF卡片中。有了参比强度值,在定量分析中,只要用刚玉作标准物质,就不必测定K值,也不必要待测相的纯物质了。,79,参比强度值(RIR),如:由Al的PDF卡片可知Al的RIR值为4.3,,MgZn2的RIR值为3.4,80,参比强度法,参比强度法:K 值法还可进一步简化,即为参比强度法。采用刚玉为通用参比物质,利用PDF卡片上的参比强度K 值(I/Ic 或RIR

38、),这样,不必通过计算或测试获得 K 值。当待测样为两相时,存在:f1+f2=1,,由K值法公式:,81,如:由锐钛矿(A-TiO2)和金红石(R-TiO2)两相组成的样品,要测定其中金红石的含量。1、通过实验获得待测样衍射曲线,测量衍射强度比 IA/IR;2、查PDF卡片参比强度(RIR)数据,其中,3、利用下式直接计算出金红石的含量:,金红石(R-TiO2):锐钛矿(A-TiO2):,82,由PDF卡片查参比强度(RIR),金红石(R-TiO2)RIR=3.4,锐钛矿(A-TiO2)RIR=3.3,83,直接对比法,直接对比法:上述方法:都是将待测相纯物质与标准物质比较,以获得K值。但有时

39、获得纯物质较困难,如金属材料,为此可用直接比较法。直接对比法:通过将待测相与试样中另一相的衍射峰对比,求其含量。最适于:化学成分相近的两相混合物的分析。如:两相黄铜中相含量测定;淬火钢中残余奥氏体()含量的测定等 是直接对比法成功的典型用例。,84,淬火钢中残余奥氏体()含量的测定,设淬火钢中含奥氏体和马氏体两相,体积含量:f 和 f。若二者某衍射峰强度:I和 I:由定量基本公式:,其中:由强度公式得 K 值,因前二项是常数,相除可约得R,,85,因为试样中只有两相,f+f=1、f=1f,则,式中 I/I通过实验测得,R 可由公式计算得到。,直接对比法好处:不要纯物质作定标曲线,也不要标准物质

40、。适合于金属样品,因其结构简单,可计算出 R 值。非金属材料:因物相结构较复杂,R 值计算十分复杂,应用有一定困难。,86,第三节 点阵参数的精确测定,87,点阵参数的精确测定:在冶金、材料、化工等许多研究领域,牵涉点阵参数测定。如:固溶体类型的确定;固溶体中溶质的固溶度(含量);测定点阵参数随温度变化,可计算晶体的热膨胀系数。过饱和固溶体分解过程研究等;因点阵参数变化很小(约10-5nm数量级),因而有必要对点阵参数进行精确测定。多晶体点阵参数的测定:有德拜照相法和衍射仪法。,88,一、测定误差来源(1),一、测定误差来源点阵参数测定:用 X射线衍射法,由测定某衍射晶面的掠射角计算而得。立方

41、系晶体:由布拉格方程和晶面间距公式可得:,测定精度:取决于sin的精度,而 角测定精度与使用的仪器和测定方法(衍射仪、照相法)有关。,原则上,用衍射图上每条衍射线均可计算点阵参数,但用哪一条衍射线来计算最接近真实值呢?,89,一、测定误差来源(2),-关系曲线:当一定时,sin变化与所在的范围有很大关系。当接近900时,sin变化最缓慢;说明:高角时sin值比低角时更精确。,sin随的变化关系,90,一、测定误差来源(3),当 角的测量误差一定时,在不同的角处测得的面间距 d 精确度不同。当趋近于900(高角衍射线)时,d/d 误差趋近于0。,对布拉格公式分别对d 和微分,可得:,91,一、测

42、定误差来源(4),以立方晶系为例:由晶面间距公式,同样,对上式对d 和a 微分,得当 角的测量误差一定时,在不同的角处测得的点阵常数精确度不同,其相对误差与角余切成正比。,92,一、测定误差来源(5),当角增大而趋近900时,测量的点阵常数相对误差a/a也趋近于0。因此,点阵参数精确测定:应尽可能用高角线条测量,并使衍射晶面与X射线波长有很好的配合。,93,一、测定误差来源(6),精确测定一般要求精确到105 nm,更高要求时则需达到106nm,这对仪器调整和实验误差作极严格控制,否则难以达到要求,一般衍射仪法可达105 或更高。精确测定点阵常数,需从两方面努力:1、尽可能减少实验误差(系统误

43、差和随即误差),提高测定角的精确度。2、尽量获取高角的衍射线条和采用外推法,以消除或部分消除误差,以求出精确的点阵常数。这些与仪器本身精度、仪器调整精度、实验条件、实验参数及其外推方法等有关。,94,二、图解外推法(1),二、图解外推法:点阵参数精确测定:应尽可能用高角线条测量,但实际测量的高角衍射线的角与900总有距离,可用外推法接近理想状态(900)。,常用的外推法:a-曲线外推法;a-cos2直线外推法;,直线外推法;,最小二乘方法。,95,二、图解外推法(2),1)a-曲线外推法:先测出同一物质多根衍射线角值,并算出相应 a 值。以角为横坐标,a 值为纵坐标,将各点连成一光滑曲线;延伸

44、曲线,使之与=900处纵坐标相截,截点对应 a 值即为精确点阵参数。曲线外延有带主观因素,故最好寻求另一量(的函数)作为横坐标,使得各点以直线相连接。,96,二、图解外推法(3),2)a-cos2直线外推法:误差分析表明:以cos2为外推函数作横坐标,a 值作纵坐标,连接各点符合直线关系。,对立方晶系:,K常数,表明:当cos2减少时,a/a 值 也随之减少;当cos2 0(900)时,a/a 趋于0,即 a 趋近于真值 a0。,97,二、图解外推法(4),a-cos2直线外推处理方法:先测出若干高角衍射线,并求出相应 a 值。以cos2为横坐标,a 值为纵坐标,连接各点应为一直线;按各点趋势

45、,定出一条平均直线,其延线与纵坐标交点即为精确的点阵参数。,98,二、图解外推法(5),采用了近似处理。是以背散射线条(高角)为前提的。,对立方晶系a-cos2直线外推:,cos2外推法:要求全部衍射线 600,且至少有一根 800以上。在很多场合下,此条件难以满足。须寻求一种适合包含低角衍射线的直线外推函数。,99,二、图解外推法(6),尼尔逊(Nelson.J.B)等用尝试法找到了此外推函数,它是一种包含低角衍射线的直线外推函数。,3),直线外推法:,它在很大范围有较好直线性。后来泰勒(Taylor.A.)等又从理论上证实了这一函数。,100,二、图解外推法(7),Al 在298下的数据绘

46、制的直线外推图解。左图:李卜逊(LiPson.H.)a-cos2直线外推函数的图解,右图:尼尔逊(Nelson.J.B)直线外推函数的图解。,可见,用cos2外推函数时,只有600才较好符合直线。,101,三、最小二乘法(1),直线最小二乘外推,除偶然误差外,还由系统误差;只有平均直线与纵坐标的截距才表示其精确值。,三、最小二乘法:若某参量 n 次等精度测量值分别为L1、L2、L3Li Ln。常以算术平均值 L 作为“真值”。(其实并非最佳真值),而(L Li)为残差或误差。,按最小二乘法理论:理想的L 值是使各次测量误差的平方和为最小。这可将测量的偶然误差降至最小。,102,三、最小二乘法(

47、2),为求出截距,可用如下方法:纵坐标Y:为点阵参数测量值;横坐标X:为外推函数值。实验点子:用(Xi,Yi)表示;直线方程:Y=abX;其中:a直线截距;b斜率。,直线最小二乘外推,103,三、最小二乘法(3),一般地:因有偶然误差,直线并不通过任一实验点子。如:当XX1时,Y1abX1,而实验点Y值与Y1有误差:,所有实验点误差的平方和为:,按最小二乘法原理:误差平方和为最小的直线是最佳直线。即求上式最小值。,104,三、最小二乘法(4),从联立方程解出 a 值,即为精确的点阵参数值。,由求最小值的条件:即,即,105,三、最小二乘法(5),仍以李卜逊所测在298下的Al的数据为例计算:用

48、CuK线计算,K10.154050nm、K20.154434nm。采用尼尔逊函数,下表列出有关数据:,106,三、最小二乘法(6),以 值为X,a 之值为Y,代入方程组得:解方程得:a0.407808nm。即为准确的点阵参数值。,107,三、最小二乘法(7),须指出:图解法或最小二乘法仅是一种处理方法,须以准确的测量数据作为基础。衍射仪测定衍射线位置方法:(定峰法)1)峰顶法:以衍射峰顶点为衍射线位置,此法已不能满足要求,且衍射数据存在较多的误差因素。2)三点抛物线:比较可靠。3)五点或多点抛物线法:若要求更高,可用此法测量。,108,弦中线定峰法,4)弦中线定峰法:取背底上最大强度的1/2、

49、2/3、3/4处,各绘背底平行线(弦),取各弦中点联线,并外推到与线轮廓相交,以交点P的角位置2P作为峰位。,弦中线定峰法,109,弦中点定峰法,5)弦中点定峰法:当峰形中部以上较对称时,在背底上最大强度的4080段内,每隔10的最大强度取一弦中点,以各弦中点角位置的算术平均值做为峰位。,弦中点定峰法,110,四、标准样校正法,精确测定晶格常数:正确估计和有效消除、减少误差十分重要。但误差来源及函数关系难以确定,需借助数理分析等。目前用简单实验方法来消除误差“标准样校正法”。“标准样校正法”1)选用标准物质 选用较稳定的标准物质,如:Ag、Si、SiO2等;其点阵参数为已知(已经高一级的方法测

50、定)。如:纯度为 99.999%的 Ag粉:a0.408613nm;纯度为 99.9%的 Si粉:a0.543075nm;等数值作为“标准数据”。,111,四、标准样校正法,2)掺入做衍射数据将标准物质粉末掺入待测样粉末中,或在待测样表面撒一薄层,于是衍射图上,也出现标准物质的衍射线。3)算出标准物质理论值因标准物质的点阵参数 a 已知,根据所用,可算出某根衍射线的理论值。4)比较值此理论值与衍射图上对应的值会有微小差别,即为未知诸误差因素的综合影响所致。,112,四、标准样校正法,5)校正待测样 值 将这一值差别对待测样的数据进行校正,就可得到较准确的点阵参数标准校正法:实验与计算较为简单,

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