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1、NB5-AOI,SAKI标准资料库基础 C1005&R1005中NEW_ASC算法的问题点与改善,SAKI标准资料库基础,曾经或现在的问题,1）：目前使用的或曾经的标准料库，都遇到过空板测试，特别是C1005&R1005，发现NEW_ASC空板不过。2）：测试过程中发现竟然有NG现象被Pass！检查参数找不到问题点。3）：ICT后面有一堆Shift和TombStone，返查AOI多数为OK，而做破坏实验都可测出偏移。被人怀疑的感觉很不舒服。,SAKI标准资料库基础,1）：导入标准料库后，空板测试，特别是 C1005&R1005，发现NEW_ASC空板不过。,曾经或现在的问题,SAKI标准资料库
2、基础,2）：测试过程中发现竟然有NG现象被Pass！检查参数找不到问题点。,曾经或现在的问题,SAKI标准资料库基础,3）：ICT后面有一堆Shift和TombStone，返查AOI多数为OK，而做破坏实验都可测出偏移。被人怀疑的感觉很不舒服。,上面的问题很常见吧！，难道就没有办法避免这一情况，苦恼，烦躁。,曾经或现在的问题,SAKI标准资料库基础,目的,1）：完善资料库，减少漏视率，改善品质。2）：发现潜在问题点，寻找可改善的方案。3）：技术深耕，探索未知领域。,SAKI标准资料库基础,改善对策,1）：问题1的产生来源于赋值这一功能（M1，M2）。解决思路：加门槛值，删除一些异常点。2）：检
3、测漏视，必为程式问题，因此应该从资料库着手，改善它。3）：假设性检验，通过实验和数据中发现可能有的问题。,SAKI标准资料库基础,1）：问题1的产生来源于赋值这一功能（M1，M2）。解决思路：加门槛值，可以删除一些异常点（锡膏较亮所带来的影响）。,实例,SAKI标准资料库基础,实例,2）：检测漏视，必为程式问题，因此应该从资料库着手，改善它。,零件正好处理临界状态，这种情况相当郁闷,SAKI标准资料库基础,思考,遇到这种情况那是相当郁闷，当然要解决当前问题很简单，多数人都会，将搜索范围改小，但是这样的效果是，NTF增加，思想相当矛盾；有些人的做法是，调整检测窗口，让其报警；甚至有修改资料库，大
4、动干戈等等，有没有其它办法呢？,法1,法2,SAKI标准资料库基础,答案是在求索中寻找。后面ICT有一堆Shift和TombStone，返查AOI多数为OK，而做破坏实验都可测出偏移。这个问题深深困扰着我，最后无奈之下拿着别人的资料库进行比对，一次一次的检查，总是未能发现根源，一次巧然的举动，改变这一切，下面就是我偶然的发现。,思考,细心人观察虚线搜索框大小竟然有差异，我取得条件是外框长度一样,SAKI标准资料库基础,思考,下面是二者料库的差异：仅仅是微量造成结果却是大的差别；统计过前者140的偏移量等价于后者155的偏移量。,SAKI标准资料库基础,实例,针对这一情况，我做一个实验验证这一结论，通过统计3天数据各500笔某一零件的偏移量，该零件要求刚好处于临界状态，通过测量该料偏移量是否发生大的差异。从下图可以清除，看出该零件符合要求,SAKI标准资料库基础,验证,下图为PC178零件3天来的平均偏移量，很显然第三天的偏移量要大于前两天，而第三天正是修改过端子的长度大小。,SAKI标准资料库基础,结论,1）：端子尺寸，尺寸越小，检测条件越严格2）：零件搜索范围和材料尺寸大小有密切的关系，搜索范围的大小不能由数值直接决定,SAKI标准资料库基础,上面仅仅是简单介绍一些我在工作遇到的问题以及处理的思路，供大家参考，可能有不足之处，敬请见谅！,
