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1、一些半导体词汇admin：1G#f:y/|m2OhD&C#t2w5c9q9半导体,芯片,集成电路,设计,版图,晶圆,制造,工艺,制程,封装,测试,wafer,chip,ic,design,eda,fabrication,process,layout,package,test,FA,RA,QA,photo,etch,implant,diffustion,lithography,fab,fablessv8*vj4R5m;s半导体,芯片,集成电路,设计,版图,芯片,制造,工艺,制程,封装,测试,wafer,chip,ic,design,eda,process,layout,package,FA,QA
2、,diffusion,etch,photo,implant,metal,cmp,lithography,fab,fabless半导体词汇 半导体,芯片,集成电路,设计,版图,芯片,制造,工艺,制程,封装,测试,wafer,chip,ic,design,eda,process,layout,package,FA,QA,diffusion,etch,photo,implant,metal,cmp,lithography,fab,fabless6r%s-n,1. acceptance testing (WAT: wafer acceptance testing) %L,?7y7;l半导体技术天地2.
3、 acceptor: 受主，如B，掺入Si中需要接受电子 54t&y!s:j5xA3. ACCESS：一个EDA（Engineering Data Analysis）系统 半导体技术天地-&r$S%o:x Z#Sk4. Acid：酸 9l9r/L1Z.C*U+K5. Active device：有源器件，如MOS FET（非线性，可以对信号放大） (a6s#(R01X;Y) P半导体,芯片,集成电路,设计,版图,芯片,制造,工艺,制程,封装,测试,wafer,chip,ic,design,eda,process,layout,package,FA,QA,diffusion,etch,photo
4、,implant,metal,cmp,lithography,fab,fabless6. Align mark(key)：对位标记 (Q7:R;l:Z半导体,芯片,集成电路,设计,版图,芯片,制造,工艺,制程,封装,测试,wafer,chip,ic,design,eda,process,layout,package,FA,QA,diffusion,etch,photo,implant,metal,cmp,lithography,fab,fabless7. Alloy：合金 .J0Q5B/k5E$+Z6M4w8. Aluminum：铝 半导体,芯片,集成电路,设计,版图,芯片,制造,工艺,制程,
5、封装,测试,wafer,chip,ic,design,eda,process,layout,package,FA,QA,diffusion,etch,photo,implant,metal,cmp,lithography,fab,fabless90R+%f9V I r-O9. Ammonia：氨水 半导体技术天地;R9d5b4S*V-c0/10. Ammonium fluoride：NH4F 0p4J%Zu;F)Z5n+H半导体技术天地11. Ammonium hydroxide：NH4OH 半导体,芯片,集成电路,设计,版图,晶圆,制造,工艺,制程,封装,测试,wafer,chip,ic,d
6、esign,eda,fabrication,process,layout,package,test,FA,RA,QA,photo,etch,implant,diffustion,lithography,fab,fabless0h2AY+#?6d-b+XG12. Amorphous silicon：-Si，非晶硅（不是多晶硅） 7t%4U:J*C2U8z8EE1E.y)m.Z13. Analog：模拟的 f4I#z:q3d#s2M14. Angstrom：A（1E-10m）埃 #_1J$r3r0m15. Anisotropic：各向异性（如POLY ETCH） 1y(w&6R+j6j7B8V半导
7、体,芯片,集成电路,设计,版图,芯片,制造,工艺,制程,封装,测试,wafer,chip,ic,design,eda,process,layout,package,FA,QA,diffusion,etch,photo,implant,metal,cmp,lithography,fab,fabless16. AQL(Acceptance Quality Level)：接受质量标准，在一定采样下，可以95%置信度通过质量标准（不同于可靠性，可靠性要求一定时间后的失效率） &X-V%g5T$_17. ARC(Antireflective coating)：抗反射层（用于METAL等层的光刻） 半导体
8、,芯片,集成电路,设计,版图,晶圆,制造,工艺,制程,封装,测试,wafer,chip,ic,design,eda,fabrication,process,layout,package,test,FA,RA,QA,photo,etch,implant,diffustion,lithography,fab,fabless&W2m9w*m3L6O:h!F18. Antimony(Sb)锑 &f s/b2y)V#v7W5Y19. Argon(Ar)氩 &T)l-n$d3 s,d半导体,芯片,集成电路,设计,版图,芯片,制造,工艺,制程,封装,测试,wafer,chip,ic,design,eda,p
9、rocess,layout,package,FA,QA,diffusion,etch,photo,implant,metal,cmp,lithography,fab,fabless20. Arsenic(As)砷 ,R)?.M(74k$M8r,q21. Arsenic trioxide(As2O3)三氧化二砷 $x!z6wu#$G2v2A,_#B22. Arsine(AsH3) u1J%|$v:u D23. Asher：去胶机 半导体,芯片,集成电路,设计,版图,芯片,制造,工艺,制程,封装,测试,wafer,chip,ic,design,eda,process,layout,package,
10、FA,QA,diffusion,etch,photo,implant,metal,cmp,lithography,fab,fabless#Oh:R#/N$nq4J5c7H24. Aspect ration：形貌比（ETCH中的深度、宽度比） -n)U0O&P8J25. Autodoping：自搀杂（外延时SUB的浓度高，导致有杂质蒸发到环境中后，又回掺到外延层） 6(1j4|4U9h-o26. Back end：后段（CONTACT以后、PCM测试前） 9k/*8U1a;b27. Baseline：标准流程 #d1A8W7|,s)_/c半导体,芯片,集成电路,设计,版图,芯片,制造,工艺,制程
11、,封装,测试,wafer,chip,ic,design,eda,process,layout,package,FA,QA,diffusion,etch,photo,implant,metal,cmp,lithography,fab,fabless28. Benchmark：基准 b1A($d+*in6I.?)v-h8Q7B半导体技术天地29. Bipolar：双极 半导体,芯片,集成电路,设计,版图,晶圆,制造,工艺,制程,封装,测试,wafer,chip,ic,design,eda,fabrication,process,layout,package,test,FA,RA,QA,photo,
12、etch,implant,diffustion,lithography,fab,fabless( n4r)r2r57I*-D30. Boat：扩散用（石英）舟 1Y0G3k7Z5N31. CD： （Critical Dimension）临界（关键）尺寸。在工艺上通常指条宽，例如POLY CD 为多晶条宽。 1!b$T0I5x半导体技术天地32. Character window：特征窗口。用文字或数字描述的包含工艺所有特性的一个方形区域。 :d,Z4R&D65R!S!n8d2N E33. Chemical-mechanical polish（CMP）：化学机械抛光法。一种去掉圆片表面某种物质的
13、方法。 :a/ P4Ri0U半导体技术天地34. Chemical vapor deposition（CVD）：化学汽相淀积。一种通过化学反应生成一层薄膜的工艺。 半导体,芯片,集成电路,设计,版图,晶圆,制造,工艺,制程,封装,测试,wafer,chip,ic,design,eda,fabrication,process,layout,package,test,FA,RA,QA,photo,etch,implant,diffustion,lithography,fab,fabless9P4J9W9+u9(G)I0N35. Chip：碎片或芯片。 :R:k/0o)(F8:?l36. CIM：c
14、omputer-integrated manufacturing的缩写。用计算机控制和监控制造工艺的一种综合方式。 :O0F5p8#O O+E8q37. Circuit design ：电路设计。一种将各种元器件连接起来实现一定功能的技术。 半导体,芯片,集成电路,设计,版图,芯片,制造,工艺,制程,封装,测试,wafer,chip,ic,design,eda,process,layout,package,FA,QA,diffusion,etch,photo,implant,metal,cmp,lithography,fab,fabless.Y%l.!t$_38. Cleanroom：一种在温
15、度，湿度和洁净度方面都需要满足某些特殊要求的特定区域。 半导体,芯片,集成电路,设计,版图,芯片,制造,工艺,制程,封装,测试,wafer,chip,ic,design,eda,process,layout,package,FA,QA,diffusion,etch,photo,implant,metal,cmp,lithography,fab,fabless2J.!P2J M:V-m39. Compensation doping：补偿掺杂。向P型半导体掺入施主杂质或向N型掺入受主杂质。 /e(h:O$S-t!S2S-I半导体技术天地40. CMOS：complementary metal ox
16、ide semiconductor的缩写。一种将PMOS和NMOS在同一个硅衬底上混合制造的工艺。 半导体,芯片,集成电路,设计,版图,晶圆,制造,工艺,制程,封装,测试,wafer,chip,ic,design,eda,fabrication,process,layout,package,test,FA,RA,QA,photo,etch,implant,diffustion,lithography,fab,fabless/d te+p,t(H:s#7l:T5_41. Computer-aided design（CAD）：计算机辅助设计。 ,f1aZ)_42. Conductivity typ
17、e：传导类型，由多数载流子决定。在N型材料中多数载流子是电子，在P型材料中多数载流子是空穴。 !)W1/S$43. Contact：孔。在工艺中通常指孔1，即连接铝和硅的孔。 o0m#k6?.E944. Control chart：控制图。一种用统计数据描述的可以代表工艺某种性质的曲线图表。 4z+k f.Q45. Correlation：相关性。 %m M?+R4t5)D46. Cp：工艺能力，详见process capability。 Q8v$a1q.b半导体,芯片,集成电路,设计,版图,芯片,制造,工艺,制程,封装,测试,wafer,chip,ic,design,eda,process,
18、layout,package,FA,QA,diffusion,etch,photo,implant,metal,cmp,lithography,fab,fabless47. Cpk：工艺能力指数，详见process capability index。 (s)p9Z(s5D$y0D$U,E半导体,芯片,集成电路,设计,版图,晶圆,制造,工艺,制程,封装,测试,wafer,chip,ic,design,eda,fabrication,process,layout,package,test,FA,RA,QA,photo,etch,implant,diffustion,lithography,fab,
19、fabless48. Cycle time：圆片做完某段工艺或设定工艺段所需要的时间。通常用来衡量流通速度的快慢。 半导体,芯片,集成电路,设计,版图,晶圆,制造,工艺,制程,封装,测试,wafer,chip,ic,design,eda,fabrication,process,layout,package,test,FA,RA,QA,photo,etch,implant,diffustion,lithography,fab,fabless(I.k8t!k*?49. Damage：损伤。对于单晶体来说，有时晶格缺陷在表面处理后形成无法修复的变形也可以叫做损伤。 2C;q:j9Ht8w6N5J s
20、,n50. Defect density：缺陷密度。单位面积内的缺陷数。 w(L%Z.nz;T51. Depletion implant：耗尽注入。一种在沟道中注入离子形成耗尽晶体管的注入工艺。（耗尽晶体管指在栅压为零的情况下有电流流过的晶体管。） 0E;L7C3d)R:V!u#Q!$A,V52. Depletion layer：耗尽层。可动载流子密度远低于施主和受主的固定电荷密度的区域。 半导体技术天地!z8l/o7l.u5E#Z(? t%r53. Depletion width：耗尽宽度。53中提到的耗尽层这个区域的宽度。 ,Z#D:-c9v3y3e8s4G1R/y#B54. Deposi
21、tion：淀积。一种在圆片上淀积一定厚度的且不和下面层次发生化学反应的薄膜的一种方法。 1k q(I2X:G/m1H;U$?55. Depth of focus（DOF）：焦深。 -8%2S:b:A4,L u)R;f半导体技术天地56. design of experiments (DOE)：为了达到费用最小化、降低试验错误、以及保证数据结果的统计合理性等目的，所设计的初始工程批试验计划。 -B3R)ZY!n%H U4L57. develop：显影（通过化学处理除去曝光区域的光刻胶，形成所需图形的过程） ,l(4g a6y5Z0Y8k半导体,芯片,集成电路,设计,版图,晶圆,制造,工艺,制程,
22、封装,测试,wafer,chip,ic,design,eda,fabrication,process,layout,package,test,FA,RA,QA,photo,etch,implant,diffustion,lithography,fab,fabless58. developer：）显影设备； ）显影液 *w;Y%K:R-a4P1f,bj#A半导体,芯片,集成电路,设计,版图,晶圆,制造,工艺,制程,封装,测试,wafer,chip,ic,design,eda,fabrication,process,layout,package,test,FA,RA,QA,photo,etch,i
23、mplant,diffustion,lithography,fab,fabless59. diborane (B2H6)：乙硼烷，一种无色、易挥发、有毒的可燃气体，常用来作为半导体生产中的硼源 87j4D&c%L9,60. dichloromethane (CH2CL2)：二氯甲，一种无色，不可燃，不可爆的液体。 8n4P,q9N?1WN3Z;t$h61. dichlorosilane (DSC)：二氯甲硅烷，一种可燃，有腐蚀性，无色，在潮湿环境下易水解的物质，常用于硅外延或多晶硅的成长，以及用在沉积二氧化硅、氮化硅时的化学气氛中。 )7I,F(I0N0oj半导体,芯片,集成电路,设计,版图,
24、晶圆,制造,工艺,制程,封装,测试,wafer,chip,ic,design,eda,fabrication,process,layout,package,test,FA,RA,QA,photo,etch,implant,diffustion,lithography,fab,fabless62. die：硅片中一个很小的单位，包括了设计完整的单个芯片以及芯片邻近水平和垂直方向上的部分划片槽区域。 #C%D9q(B)B4g2V7U1E!W&t半导体,芯片,集成电路,设计,版图,芯片,制造,工艺,制程,封装,测试,wafer,chip,ic,design,eda,process,layout,pa
25、ckage,FA,QA,diffusion,etch,photo,implant,metal,cmp,lithography,fab,fabless63. dielectric：）介质，一种绝缘材料； ）用于陶瓷或塑料封装的表面材料，可以提供电绝缘功能。 半导体技术天地/z+,7P-o,q&v64. diffused layer：扩散层，即杂质离子通过固态扩散进入单晶硅中，在临近硅表面的区域形成与衬底材料反型的杂质离子层。 半导体技术天地!c5*&e8m!O65. disilane (Si2H6)：乙硅烷，一种无色、无腐蚀性、极易燃的气体，燃烧时能产生高火焰，暴露在空气中会自燃。在生产光电单元
26、时，乙硅烷常用于沉积多晶硅薄膜。 半导体,芯片,集成电路,设计,版图,芯片,制造,工艺,制程,封装,测试,wafer,chip,ic,design,eda,process,layout,package,FA,QA,diffusion,etch,photo,implant,metal,cmp,lithography,fab,fabless#x%#n:V#P,m-Q66. drive-in：推阱，指运用高温过程使杂质在硅片中分布扩散。 半导体,芯片,集成电路,设计,版图,晶圆,制造,工艺,制程,封装,测试,wafer,chip,ic,design,eda,fabrication,process,l
27、ayout,package,test,FA,RA,QA,photo,etch,implant,diffustion,lithography,fab,fabless*W.i4U r4d-E67. dry etch：干刻，指采用反应气体或电离气体除去硅片某一层次中未受保护区域的混合了物理腐蚀及化学腐蚀的工艺过程。 1y)|M1V29J68. effective layer thickness：有效层厚，指在外延片制造中，载流子密度在规定范围内的硅锭前端的深度。 !U4y:+r(V)v*F%o)O/S&W半导体,芯片,集成电路,设计,版图,晶圆,制造,工艺,制程,封装,测试,wafer,chip,i
28、c,design,eda,fabrication,process,layout,package,test,FA,RA,QA,photo,etch,implant,diffustion,lithography,fab,fabless69. EM：electromigration，电子迁移，指由通过铝条的电流导致电子沿铝条连线进行的自扩散过程。 -M-#bU5y*J%X(70. epitaxial layer：外延层。半导体技术中，在决定晶向的基质衬底上生长一层单晶半导 体材料，这一单晶半导体层即为外延层。 k6P-E&E0X/Q;Q&c.M71. equipment downtime：设备状态异
29、常以及不能完成预定功能的时间。 :U&zp,Q,|%p MP-w$w半导体,芯片,集成电路,设计,版图,芯片,制造,工艺,制程,封装,测试,wafer,chip,ic,design,eda,process,layout,package,FA,QA,diffusion,etch,photo,implant,metal,cmp,lithography,fab,fabless72. etch：腐蚀，运用物理或化学方法有选择的去除不需的区域。 & K,v-|,PT y,O7C73. exposure：曝光，使感光材料感光或受其他辐射材料照射的过程。 z7P!H.I/h/E8_5f/V74. fab：常
30、指半导体生产的制造工厂。 8g0Y8Z,S,&H$75. feature size：特征尺寸，指单个图形的最小物理尺寸。 8N+o.c,P7W#L%z-?5Q3l半导体,芯片,集成电路,设计,版图,芯片,制造,工艺,制程,封装,测试,wafer,chip,ic,design,eda,process,layout,package,FA,QA,diffusion,etch,photo,implant,metal,cmp,lithography,fab,fabless76. field-effect transistor（FET）：场效应管。包含源、漏、栅、衬四端，由源经栅到漏的多子流驱动而工作，多
31、子流由栅下的横向电场控制。 %d4/N#P8w9H;I-g/r77. film：薄膜，圆片上的一层或多层迭加的物质。 4f h)Hu7v)V,n9O;e78. flat：平边 半导体,芯片,集成电路,设计,版图,芯片,制造,工艺,制程,封装,测试,wafer,chip,ic,design,eda,process,layout,package,FA,QA,diffusion,etch,photo,implant,metal,cmp,lithography,fab,fabless*/H2.q,j+Z#Z9v8K;Z%o979. flatband capacitanse：平带电容 !U+Uw$RC2
32、;!j;80. flatband voltage：平带电压 半导体,芯片,集成电路,设计,版图,芯片,制造,工艺,制程,封装,测试,wafer,chip,ic,design,eda,process,layout,package,FA,QA,diffusion,etch,photo,implant,metal,cmp,lithography,fab,fabless- 4f0P)C2D+u1S81. flow coefficicent：流动系数 !b4F%H#GP4E38l*D82. flow velocity：流速计 6J1M2G9pS)半导体,芯片,集成电路,设计,版图,芯片,制造,工艺,制程
33、,封装,测试,wafer,chip,ic,design,eda,process,layout,package,FA,QA,diffusion,etch,photo,implant,metal,cmp,lithography,fab,fabless83. flow volume：流量计 半导体,芯片,集成电路,设计,版图,芯片,制造,工艺,制程,封装,测试,wafer,chip,ic,design,eda,process,layout,package,FA,QA,diffusion,etch,photo,implant,metal,cmp,lithography,fab,fabless:c$g+
34、m6f4/B*/|1o84. flux：单位时间内流过给定面积的颗粒数 3j0%97x4c7W$-L1o85. forbidden energy gap：禁带 )h/k+j:)(w86. four-point probe：四点探针台 /y2(ls,NR4L87. functional area：功能区 )7u)Gc t3h)i76j88. gate oxide：栅氧 +D/E,c!Q6p)a9S,j5M89. glass transition temperature：玻璃态转换温度 !Q-I4Uc0w+P9g,90. gowning：净化服 /J-2q4|/x;K4i91. gray area
35、：灰区 %i(Q/J5_d9半导体,芯片,集成电路,设计,版图,晶圆,制造,工艺,制程,封装,测试,wafer,chip,ic,design,eda,fabrication,process,layout,package,test,FA,RA,QA,photo,etch,implant,diffustion,lithography,fab,fabless92. grazing incidence interferometer：切线入射干涉仪 68J(P9D3x.c93. hard bake：后烘 )J-.z61W半导体,芯片,集成电路,设计,版图,晶圆,制造,工艺,制程,封装,测试,wafer,
36、chip,ic,design,eda,fabrication,process,layout,package,test,FA,RA,QA,photo,etch,implant,diffustion,lithography,fab,fabless94. heteroepitaxy：单晶长在不同材料的衬底上的外延方法 $P#i6i7A6u95. high-current implanter：束电流大于3ma的注入方式，用于批量生产 4V:T$I7-Q)K09au半导体,芯片,集成电路,设计,版图,晶圆,制造,工艺,制程,封装,测试,wafer,chip,ic,design,eda,fabricati
37、on,process,layout,package,test,FA,RA,QA,photo,etch,implant,diffustion,lithography,fab,fabless96. hign-efficiency particulate air(HEPA) filter：高效率空气颗粒过滤器，去掉99.97%的大于0.3um的颗粒 ;D%7G8a8U3T8xn半导体,芯片,集成电路,设计,版图,晶圆,制造,工艺,制程,封装,测试,wafer,chip,ic,design,eda,fabrication,process,layout,package,test,FA,RA,QA,pho
38、to,etch,implant,diffustion,lithography,fab,fabless97. host：主机 4G#O!S(i3T半导体技术天地98. hot carriers：热载流子 半导体,芯片,集成电路,设计,版图,芯片,制造,工艺,制程,封装,测试,wafer,chip,ic,design,eda,process,layout,package,FA,QA,diffusion,etch,photo,implant,metal,cmp,lithography,fab,fabless4 $)G4z*k+m3d2F99. hydrophilic：亲水性 %B*O+p(B5W半导
39、体,芯片,集成电路,设计,版图,芯片,制造,工艺,制程,封装,测试,wafer,chip,ic,design,eda,process,layout,package,FA,QA,diffusion,etch,photo,implant,metal,cmp,lithography,fab,fabless100. hydrophobic：疏水性 半导体,芯片,集成电路,设计,版图,芯片,制造,工艺,制程,封装,测试,wafer,chip,ic,design,eda,process,layout,package,FA,QA,diffusion,etch,photo,implant,metal,cmp,
40、lithography,fab,fabless1p!y7h0m&W*m64X!n)2101. impurity：杂质 半导体,芯片,集成电路,设计,版图,芯片,制造,工艺,制程,封装,测试,wafer,chip,ic,design,eda,process,layout,package,FA,QA,diffusion,etch,photo,implant,metal,cmp,lithography,fab,fabless38j(h8w9R/_*102. inductive coupled plasma(ICP)：感应等离子体 %z9a&A R+N64e6C103. inert gas：惰性气体
41、55h;y5j+i!;a104. initial oxide：一氧 H.t,d/_1Ff4Z5L5v105. insulator：绝缘 半导体技术天地*k;K7G8R6C#E)B*M106. isolated line：隔离线 %d9f,h*j-%S*z U%g2107. implant : 注入 $M8k:Z6T4e-g半导体,芯片,集成电路,设计,版图,晶圆,制造,工艺,制程,封装,测试,wafer,chip,ic,design,eda,fabrication,process,layout,package,test,FA,RA,QA,photo,etch,implant,diffustio
42、n,lithography,fab,fabless108. impurity n : 掺杂 ,e1_ n:j-)Q2T9z E109. junction : 结 $D:W8S5g-B半导体技术天地110. junction spiking n :铝穿刺 (U7jN-E,N.b0X+)111. kerf :划片槽 W+y.w)E?1k半导体,芯片,集成电路,设计,版图,芯片,制造,工艺,制程,封装,测试,wafer,chip,ic,design,eda,process,layout,package,FA,QA,diffusion,etch,photo,implant,metal,cmp,lith
43、ography,fab,fabless112. landing pad n AD &T7m0B7_1*f#I5i113. lithography n 制版 #D+bO#;a 114. maintainability, equipment : 设备产能 !p#K/I+E8半导体技术天地115. maintenance n :保养 半导体,芯片,集成电路,设计,版图,晶圆,制造,工艺,制程,封装,测试,wafer,chip,ic,design,eda,fabrication,process,layout,package,test,FA,RA,QA,photo,etch,implant,diffus
44、tion,lithography,fab,fabless2z)U)m!r%O%H116. majority carrier n :多数载流子 2f8Y+_1,E(l-z-z8I8117. masks, device series of n : 一成套光刻版 7e%l1H;H;g,A uS1M118. material n :原料 -5e7A2%D3P+y:Z1o9g)L半导体,芯片,集成电路,设计,版图,芯片,制造,工艺,制程,封装,测试,wafer,chip,ic,design,eda,process,layout,package,FA,QA,diffusion,etch,photo,imp
45、lant,metal,cmp,lithography,fab,fabless119. matrix n 1 :矩阵 半导体技术天地+D%b3W0S&F:z)J120. mean n : 平均值 ,G7P2y8A:b(U6Z9|121. measured leak rate n :测得漏率 %S8/H7)N-/4M-X122. median n :中间值 &X!X3U+(a G9(F7t半导体,芯片,集成电路,设计,版图,晶圆,制造,工艺,制程,封装,测试,wafer,chip,ic,design,eda,fabrication,process,layout,package,test,FA,RA
46、,QA,photo,etch,implant,diffustion,lithography,fab,fabless123. memory n : 记忆体 半导体,芯片,集成电路,设计,版图,晶圆,制造,工艺,制程,封装,测试,wafer,chip,ic,design,eda,fabrication,process,layout,package,test,FA,RA,QA,photo,etch,implant,diffustion,lithography,fab,fabless.d)/W8%124. metal n :金属 半导体技术天地._(v1w+$E7I5125. nanometer (n
47、m) n ：纳米 半导体,芯片,集成电路,设计,版图,晶圆,制造,工艺,制程,封装,测试,wafer,chip,ic,design,eda,fabrication,process,layout,package,test,FA,RA,QA,photo,etch,implant,diffustion,lithography,fab,fablessF*k3i w4s8V2e126. nanosecond (ns) n ：纳秒 %e(I r #G3O#l;P127. nitride etch n ：氮化物刻蚀 (g3e2A96K6|25X H,128. nitrogen (N2 ) n： 氮气，一种双原子气体 半导体技术天地*L$L;o8l7x&T._%#M129. n-type adj ：n型 4$L4 v/.g5C(H130. ohms per square n：欧姆每平方: 方块电阻 半导体,芯片,集成电路,设计,版图,晶圆,制造,工艺,制程,封装,测试,wafer,chip,ic,design,eda,fabrication,process,layout,package,test,FA,RA,QA,photo,etch,implant,diffustion,lithography,fab,fab
