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1、报告名称 ： 加速寿命试验(ALT)电子产品应用实例简介 实例一 工业用CPU控制器模块(工研院机械所) 实例二 电动机车充电器(工研院机械所) 实例三 8025 无刷直流风扇 实例四 STN液晶显示模块 指导教师 : 张 起 明 博士 学 生 : 丁 嘉 仁 学 号 : 9314828 日 期 : 民国94年6月 20日 加速寿命试验(ALT)电子产品应用实例简介丁嘉仁 9414828交通大学机械所博士班(工研院机械所)摘 要可靠度为确保质量之重要手法及指针，以往传统的质量技术较着重于产品使用初期的质量，虽然可改善制程质量，但对于设计质量、维修质量等有密切关联的寿命质量却无法提供有效的评估与
2、确认。随着现代科技的快速进步与发展，一些高科技电子产品(如3C产品、机电产品、光电产品等.)的使用寿命亦愈来愈长，制造商或生产者为了确保产品质量能于保固期内能符合消费者之需求，生产者为了确实做到产品可靠、容易适用及产品安全，必须针对产品作一系列的可靠度试验，以了解产品真实的可靠度为何，而加速寿命试验（Accelerated Life Test；ALT）为可靠度试验的其中最为普遍及重要的项目。加速寿命试验其作法在于选择适当的环境应力加速其失效，快速了解产品质量的信息，以供产品进行适当的改善，达到质量保证的目的，其做法既省时又经济是目前值得推广的可靠度技术，综观当前世界经济竞争特性，高质量仍是在经
3、济不景气中求胜之不二法门。一般寿命试验是于既定的环境下评估产品使用寿命，但耗时较久，且须投入大量的金钱，而产品可靠度信息又不能实时加以改善，以致于失去许多商机与竞争力。利用加速寿命试验方式则能在较短的时间及较低之成本下得到产品重要之可靠度信息，以助产品改善质量。加速寿命试验的施加环境应力基本上条件是不能破坏产品原有的特性，通常电子、信息产品的加速条件，主要为温度，其次为电压、功率及湿度等。 本报告收集并参考工研院进行之研究及业界经常使用加速衰变测试方法来进行产品寿命的预估之若干实例加以简介，其中包含本人现职之工研院机械所于开发电动机车之充电器及商用工业CPU模块控制器为例，另引用文献针对计算机
4、散热风扇及目前国内当红之LCD 显示器产品之寿命进行加速试验研究进行简介。期待国内未来相关产品发展，除了兼具美观及操作方便外，质量之良窳亦是决胜关键，如能藉由若干之相关研究，以提升产品之质量竞争力，将更有助于建立国内品牌产品在国内外消费者心目中之良好形象。关键词：加速寿命试验Introduction Accelerated Life Test Method in ElectronicParts Life TestingJerry TingMIRL,ITRIKeywords：Accelerated Life Test 1. 前言产品的可靠度信息一般而言是经由寿命试验推估而来的，然而现今在原料科技
5、及制造技术均有长足进步的情况下，许多产品均可维持数年甚至数十年不坏，若以传统的寿命试验，将无法在短时间内获得足够的数据供产品寿命的推估。因此乃有加速试验的研究。对产品寿命长短的评估，一般而言有三种方法，一是将产品投入实际操作，让产品在正常的操作环境中，自然耗损，直到寿命终止，并有计划的记录相关数据，据以推估该产品的寿命，这种做法在产品开发计划中有诸多缺点，如需耗费相当长的时间、数据收集追踪困难、成本无法估计、最重要的是在可靠性未知的情况下将产品交给用户使用是不负责任的做法，可能严重损害设计及生产者的信誉。一是收集类似产品的数据，加以适当的筛选统计归纳整理，据以推估该产品的寿命这种做法的前题是需
6、有相类似的产品，且该产品有进行寿命预估工作，且数据可取得。另一则为加速试验加速试验是在实验室中以一合理的实验计划，将产品置于一较设计正常使用环境更严苛的情况下操作，加快其损耗的速度，使产品在短时间内即达到寿命终止，据以推估产品在正常操作时的寿命，这种方法对新产品的开发而言有，是一较可行的方法。比较上述三种方法的优缺点如下表表1.1 产品寿命预估方法上述加速试验的主要目的是希望在极短的时间内获得产品的可靠度信息包括产品的平均失效间隔时间(Mean Time Between FailureMTBF) 寿命(LIFE)等。加速试验利用故障模式效应分析(Failure Mode Effect Anal
7、ysisFMEA)产品使用环境研究或其他方法找出产品在正常使用时所遭遇可能影响寿命的因素从中选择一个或两个关键的影响因素提高其强度水平使产品在该条件下运作将会加快失效的发生及寿命的终结。进行加速寿命试验时必须确保失效模式不受试验条件而影响。由于电子、信息产品(零件、成品和系统)失效模式一般符合指数分布，故通常执行温度加速试验。2. 加速寿命试验原理2.1加速试验步骤任何产品皆有其寿命探讨产品的寿命即代表确认产品之质量。对存如汽车电视等成熟之产品制造商经常已有丰富的寿命相关资料可提供其寿命预估依据。然而对新产品开发而言此方面的数据必须仰赖研发人员自行建立故要在短时间内预估新产品的寿命，加速寿命试
8、验是非常有效率且普遍的手法。由于现代产品的多样化， 使得产品的生命周期均非常的短暂， 故如何在短时间内求得产品的寿命状况，必须仰赖对于产品施以较严苛之应力值，使产品在短时间内发生失效， 以获知失效分布情形， 再透过回归数理分析， 及加速寿命试验的模式， 求出正常使用之寿命与时间的关系。图1.1加速寿命试验概念示意图加速试验进行之步骤主要包含 (1)加速寿命试验模式选定(2)试验应力(stress)筛选及分析：一般可藉由失效模式分析来筛选重要应力(3)加速因子决定(4)失效定义及加速寿命实验(5)实际寿命转换(6)结果分析针对上述步骤得知，在进行加速寿命试验之前必需对产品的特性有充份的了解包含该
9、产品的性能退化机制及失效模式的定义等，如次方能慎选加速应力及定义产品的失效模式。E / K )E / K )在进行加速寿命试验前， 必先决定严苛应力等级，如何来判断其应力等级是否过大而导致失效模式异常， 所以必须要有下列的假设(2.1)1. 假设环境应力相对增大后，对于产品的物理性质并没有改变。2. 假设可以在不同环境下， 所求得各个失效分布间， 彼此必存在有某相似的统计分布的特性。3. 假设在重复试验下，也就是在相同的环境条件下， 所求得的失效数学模式应该一致。4. 依据能量不灭的物理假设， 若是使用条件太过于恶劣，则会改变其物质本身的物理结构。5. 在一定严苛应力范围中， 其失效分布假定为
10、韦氏分布时， 其形状参数为一定值， 且将寿命值与应力之关系， 绘至对数图纸中， 亦呈一直线的关系。当我们要进行可靠度试验，最重要的是如何取得合适的加速因子，若未经实验而直接代入已知值之加速因子时，须考虑其加速因子之来源是否合理、正确；否则将引导错误之可靠度推算。以一般电子、信息业而言，零件类的可靠度模式及加速模式几乎都可以从美军规范或相关文献查得，甚至可以自行试验分析，得其数学经验公式。2.2加速寿命试验之应力模式一般所使用的加速寿命测试方式，是对于产品施予较严苛应力，再依其失效情况来推估正常使用应力下之寿命分布，在所施予严苛应力的种类分为热应力、非热应力与复合应力，本节将加速寿命试验模式分成
11、单应力模式与复合应力模式两类来探讨。2.2.1单应力模式(1)Arrhenius 模式Arrhenius模式俗称阿氏曲线，广泛的被使用在加速的应力条件为温度，或是失效时间呈现指数分配型态的应力条件，不同温度条件下的寿命，Arrhenius反应率Kr、特征寿命L与加速率AF模式如下 其中E (EA) 活化能eV(电子伏特)K：Boltzmanns 常数8.61710-5 eV/KT 绝对温度(+273.16)A 常数AF :加速因子活化能(E)可由两组实验结果寿命值估算，或查表部份产品(零组件)之活化能可参考10之Table 12.1，一般当试验的温度差度差距范围不大时，则E均可设定为常数。在早
12、期故障约为0.20.6eV 间，而正常有用期接近1.0eV，若衰老期将大于1.0eV。(2)Eyring 模式Eyring 模式主要用在分析机械方面的试验样本衰退情况，Eyring 模式扩充Arrhenius 模式，引进温度以外的应力如湿度、电压、机械应力等于反应式中，其使用之限制条件亦假设产品之失效时间符合指数分布。Eyring 模式是量子力学为基础建立出来的数学式，考虑温度为其加速的变量，或者是其他非热应力的加速变量，例如湿度。Eyring 模式特征寿命L 与加速率AF 模式如下其中 A 及B依产品特性及试验方法决定的常数k浦滋曼常数8.61710-5 eV/KT绝对温度(+273.16)
13、 一般电灯、液晶显示组件、电容器、电气机器的绝缘材料之电压与寿命之关系，树脂封闭式半导体或液晶显示组件之温度与寿命之关系等，也都适用Eyring模式 (3)反乘幂法则模式（Inverse Power Law Model）若应力条件不是温度或当产品之寿命与加速环境应力（V）之关系属反乘幂法则时，例如考虑振动效应等，其寿命试验模式为其中A 及M 依产品之特性或试验方法等决定2.2.2 复合应力模式(1) Combination 模式Combination 模式是由Arrhenius 模式和反乘幂法则模式所组合的新模式，常使用在包含有温度和电压或者是一个非热应力的情形下，特征寿命与加速率AF模式如下
14、 则应力(T0V0)时之寿命0 及应力(T1V1)时之寿命1 间的加速因子为K = 0/ 1 = (V1/V0) 1exp(E/k )(1/T0)- (1/T1) (2.9)(2) Combined-Stress 模式Combined-Stress 模式是组合了两种应力特别是电压和温度，特征寿命L 模式如下A：每一种电容器的调整系数，调整此系数，使此模式达到最恰当的失效率；B：形状参数； S：对于电压的操作比例； Ns：应力常数；NT*：最大比例温度； G、H：加速常数(3) Generalized Eyring 模式Generalized Eyring 模式是一种包含两种应力的函数，例如温度
15、与非温度的应力，特征寿命L 与加速率AF 模式如下(2.2)ABCD：常数依产品特性及试验方法决定(4)温度-湿度（Temperature-Humidity；TH）模式温度-湿度模式是在加速条件为温度和湿度时使用，它是由Arrhenius 和 Eyring 模式所组成，可再分为三种模式分别如下：.第一种模式主要是用来评估塑料封装晶体管和集成电路的失效比率，其反应率Kr 如下：A,B：经验常数； T*+H：温度（ ）和相对湿度百分比的和.第二种模式主要是用在集成电路上，而他主要的退化原因是湿度而不是温度，其反应率Kr 如下：A,B：经验常数； VP：空气中蒸气压力的含水量.第三种模式则是建立在E
16、yring 模式上，主要的加速参数是温度和湿度，其特征寿命L 与加速率AF 模式如下：温度活化能； ：湿度活化能； H：湿度； A：其他因素影响的常数将上述的模式依照使用应力条件种类来进行整理，可以得到下表。表2.1 各寿命与应力条件的使用时机在筛选确定样品试验所需之应力及模式后，即可进行加速试验，在带入特定之活化能值之后，将可计算出加速因子。由加速因子及特征寿命既可预测决定样品之寿命。后续将以四则应用实例，实际解说加速寿命试验之进行方式及结果分析注意事项。3.应用实例一电动机车充电器模块3.1测试样品说明3.1测试样品说明预估未来石油能源之短缺为无法避免之趋势，因此工研院机械所积极投入省能电
17、动机车之发展。其中充电器为技术商品化发展中之重要附属装置。一般小型电动机车之充电装置外观如下图所示： 图 3.1 充电器外型充电器系统规格如下：(1) 尺寸11017481 (LWH)。(2) 重量2.0 。(3) 工作温度055正常工作为35。(4) 输入交流电源110V AC4763Hz。(5) 输出直流电源58.8V DC200W 4.0A Max。充电器功能在于将交流电转换为直流电能加以储存。 图 3.2 充电器功能示意3.2测试流程(加速模式及应力筛选)本样品试验采Arrhenius Model 做为应力-寿命关系模式。根据充电器之失效模式效应分析(FMEA)报告及电动机车实验运行之
18、故障维修记录分析电动机车充电器之故障原因中温度因素占相对大的比重 因此本试验即以温度作为加速应力，并选用Arrhenius Model 寿命-温度关系函式如公式(2.1)依据充电器系统规格(3.1节)所述充电器的正常工作温度为35即T0=35=308.16K而最高工作温度为55为避免引发非正常使用之失效产生故设定本试验之温度应力为45及55两水平。则各温度(354555 )间之加速因子为3.3.充电器失效定义 为便于试验数据的收集及整理分析，本试验以个人计算机利用RS-232接口做数据之撷取及记录，频率为每6小时一次，撷取数据报括充电器之输出电压、电流及环境温度。在一个6小时的正常充电程序内无
19、法达到195 W/h之平均充电功率时判定为失效。其余如无输出、烧毁、风扇不动作等均为瞬间死亡(sudden death)，同样判定为失效。图3.3 充电器试验充电效率下降情况3.4 试验结果及分析根据上述以35之水平进行之试验，于1000小时仍未达到失效；而以55之水平约于800小时平均充电功率小于195 W，达到失效标准。依照3.2节之加速因子预估此充电器之寿命为800Hr X Af=800 exp(2.295X0.55) = 2827 hrs 上式之活化能设为0.55 eV。4. 应用实例二工业用CPU控制器模块全面微电脑化为现今工业控制系统之重要发展趋势，利用微电脑取代以往的控制器装置，
20、且全面应用于各种工业控制领域是工研院机械所近来发展之另一重要研究项目。本篇节将介绍利用加速寿命试验之方法来预估并分析此控制器产品之MTBF(mean time between failure)，以协助进一步改善设计并制造高可靠度的工业控制系统。4.1试验样本与条件试验样本- 工业控制用 CPU模块40片- 测试治具电控箱5组，每组治具可插8片CPU 模块- 电源外接供应测试软件为特别设计，专用MTBF测试软件及QA-Plus总试验时间超过1000小时测试环境采用机械工业研究所恒温恒湿柜试验温度: 80 图 4.1 CPU 控制器外观4.2测试流程(加速模式及应力筛选)采用Arrhenius M
21、odel=A e-HKT- 故障率，反应速率 (一般与寿命为反比，即为倒数关系)A - 常数H - 活化能 K - Boltzman 常数=8.623*10 5eV/KT - 某加速条件下的绝对温度因而正常操作下之加速因子 Af=T/FT - 样本试验温度下故障率，F - 正常使用现场温度故障率所以Af= e(HK)*(1/TF1/TT)TF - 正常使用现场温度TT - 样本试验温度H - 电子模块产品假设为0.55eVK - 8.623*10 5eV/K4.3 失效定义CPU 模块硬件无法执行控制功能为失效4.4试验结果及分析全程总试验时间40组样品总试验时间 49452小时(本次试验时间
22、 t=1344小时)失效次数共3组硬件失效 各试验温度加速因子计算表 表 4.1 加速因子正常使用现场温度(TF )样本试验温度(TT )加速因子常数(A)208040.45258028.07308019.72358014.09408010.07 MTBF值计算可靠度 R(t) = 1- F(t) = e-*tMTBF = 1/n - 样本数 (本次试验 n=40)C - 故障数 (本次故障数 C=3)故以constant failure rate 预估最佳为 3/49452=6.07E-05 per hour 以 60%信心指数预估 2r=2(C+1)=8 由text book Table
23、B.2 MTBF0.6=1/0.6=2T/(X2)0.6,2r= 2*49452/8.4=11774.3 hr所以80MTBF0.6观测值为 11774.3小时 MTBF0.6值转换结论各正常使用现场温度之MTBF值如下表 表4.2 MTBF换算正常使用现场温度(TF )80加速因子常数(A)转换后MTBF0.6 (小时)2040.45476270.432528.07330504.603019.72232189.203514.09165899.894010.07118567.205. 应用实例三8025 无刷直流风扇5.1测试样品说明 在电子机器中，从个人计算机之CPU（例如pentium 等
24、微处理器）所产生之热能皆随频率(clock pulse)频率增加而递增，又因现代个人计算机所要求的运算能力极高，频率频率相对提升，所产生的热能也跟随着增加。高温环境对系统之性能或是可靠度的影响甚大，因此散热风扇将扮演一极重要之角色。本研究将以用于散热装置之8025 无刷直流风扇作为寿命评估之对象，试图根据无刷直流风扇之工作性质以及其机械结构，寻出无刷直流风扇适用加严应力，在适当的加严应力条件下，执行加速寿命测试；藉由试验结果评估并验证，8025 无刷直流风扇于正常操作条件及环境下之产品平均寿命。 无刷直流风扇之结构包含扇业、轴心、框架以及轴承等零组件，如下图所示；无刷直流风扇系透过无刷直流马达
25、将直流电能转换为机械能，并经由轴心及轴承将机械能传至扇叶而产生风量。以下将针对无刷直流马达之作动原理、环境温度对无刷直流风扇的影响做介绍。 无刷直流风扇之尺寸规格，其高度、宽度、厚度分别为80、80、20 ，其余产品规格分述如下。制造厂商：SCE(SHYARO CHI ENTERPRISE)额定电压：12VDC额定电流：0.15A转速：2500R.P.M重量：65g输出风量：28.5CFM（风量单位：每分钟流过立方公呎风量）轴承型式：油封轴承接头型式：大4P马达类型：二相无刷直流马达图5.1 8025 无刷直流风扇5.2测试流程(加速模式及应力筛选) 本试验采用Erying Model，环境应
26、力分别探讨温度及电压应力加速试验后对寿命进行预估。整体实验流程规划如下： 图5.2 试验流程图5.3 风扇失效定义 执行加速寿命测试时，我们利用风量计于一固定时间间隔纪录风扇之风量输出变化，而时间间隔的长短将依加严应力水平的高低有所不同。图 为高温100、高压18.5VDC 风量变化趋势。图 5.3 风扇试验送风量递减情况由趋势线变化可发现，风量的变化包含微量变化以及重大的起伏。微量变化归因于人为量测因素，而当风量趋势有重大的起伏时，观察其结果得知风扇因轴心润滑产生失效或是死锁，导致电流提高烧毁电子组件或马达线圈。经由试验后分析发现，当8025 无刷直流风扇轴心与轴承间发生润滑失效时，所输出的
27、风量大小将降至初始值的80%，而随轴心润滑失效使无刷直流马达阻力增大而造成电流瞬间提高，导致漆包线圈绝缘破坏或是电子组件烧毁等。因此我们定义，当风扇之风量变化趋势降至初始值80以下或是叶片死锁时，即为无刷直流风扇之失效时间。5.4 试验结果及分析 图5.2为无刷马达测试试验时，于高温应力条件下寿命测试之结果之一。依上述试验结果之斜率可进行活化能估算，推估约为0.67 eV。并可推估于40、50及60之加速因子及推估寿命。图 5.4 活化能推估表 5.1 温度应力试验下之加速因子推估及特征寿命后续针对电压应力进行类似温度应力之寿命试验，其结果如下图:图5.5 电压21Volt 之风扇试验结果 图
28、5.6 电压23Volt 之风扇试验结果试验结果其特征寿命如下表： 表5.2 电压应力试验下之特征寿命利用这两组操作电压与特征寿命求知Eyring model 之系数N。将表5.2之各产品特征寿命值以及所对应之操作电压，分别代入式(2.2)，求得N 为1.69。综合上述试验结果建立之寿命预测模式(Eyring Model)可表示如下： 6.应用实例四STN液晶显示器 液晶显示器是平面显示器产业之重要产品，其关键材料已开始为国内所自制，但目前为止，自制率偏低。除了自制率偏低以外另一个隐忧是国内很多液晶显示器厂商直接承接了日商的设备与技术，对于相关可靠度及寿命之数据则尚缺乏完整之研究，使得质量保证
29、制度上产生重大的缺陷，以至于无法保证良好的质量以获取买方的信任。有关液晶显示器产品之质量可靠度的评估技术若未能在国内厂商建立与生根，未来可能限制了国内整体液晶显示器产业之发展，对国内经济有重大之影响。于是在此参考相关论文4，简介此一类型产品于加速寿命试验之应用方式及结果，以作为后续类似产品应用之范例。6.1测试样品说明及规格 本研究以F-STN1.3 吋灰阶液晶显示器模块为研究对象，此产品一般大多用在灰阶画面的手机上。外观如下图： 图6.1 STN-LCD外观规格如下表： 表6.1 STN-LCD规格6.2测试流程(加速模式及应力筛选)本项产品之加速试验采Arrhenius 及 TH应力模式进
30、行探讨，环境应力为温度及湿度。试验流程说明如下图：图 6.2 试验流程图6.3 失效定义经由上述的试验规划，开始进行加速寿命试验，试验时间经过了6800 小时后结束，在试验过程中，液晶显示器模块因试验产生了数种缺陷，分别有，框胶脱离、画面颜色变淡、画面颜色变黑、画面出现白点、偏光片变形、偏光片脱落、偏光片湿气渗入、串信干扰（Crosstalk）、驱动IC 防水胶脱落、驱动电压不稳定、驱动电压偏低和偏高等12 种缺陷，本研究主要针对串信干扰（Crosstalk）的缺陷进行研究。所谓的串信干扰是数据信号完整驱动范围的位置会对周遭产生信号交错干扰的现象，以致于发生明亮度变异的情况，如下图所示，图中红
31、色圈起来部分表示发生串信干扰现象。图6.3串信干扰（Crosstalk）失效情况6.4 试验结果及分析试验结果如下图所示： 图6.4 加速寿命试验结果 失效样品之寿命统计如下表： 表6.2 试验结果统计表将上述试验结果整理并绘于韦氏(Weibull)机率图纸上，由失效率为63.2%可获得各项应力寿命试验之特征寿命，结果如下表： 表 6.3 特征寿命统计表继之利用上述各环境应力之特征寿命采用线性回归加以分析如下图： 图 6.5 对数线性Arrhenius 模式线性回归 并建立加速寿命模式，完成模式如下表： 表6.4 寿命与应力条件关系数学式7.结论综合上述报告，可靠度之加速寿命测试是得以广泛应用
32、于各种产品研发上，其优势是利用较短的测试时间，加速产品的劣化肇因，并根据加严条件下的测试结果推定产品在正常使用状态的产品寿命或失效率。由于其原理为采过应力之环境下操作，是故环境应力之筛选成为相当重要的前提。如果产品的劣化机构单纯，拟订加速寿命测试计划较为容易。但实际产品往往牵涉到很多失效机构，即使欲同时加速，加速程度也因失效机构而异，可能发生迥异于实际操作上的失效模式。是故加速寿命之手法于实际应用之场合仍需注意下列事项:(1)加速试验可利用故障模式效应分析(Failure Mode Effect AnalysisFMEA)辅以QS-9000表格(可参考MIL-HDBK-217或 MIL-STD
33、-1629A)，或利用失效树分析(Fault Tree Analysis)进行产品使用环境应力筛选，找出产品在正常使用时所遭遇可能影响寿命的重要因素从中选择一个或两个关键的影响因素提高其强度水平以进行加速试验。于实际应用时除可参考相关文献及研究数据外，其他例如MIL-STD-202(一般零件参考)、MIL-STD-750(半导体参考)及MIL-STD-883(微电路参考)等文件亦可作为应力筛选之参考数据。 (2)若实验数据过少，相关活化能值可直接参考Reliability & Life Testing Handbook10。由于各种领域之产品特性迥异，但新产品开法其追求之目的不外乎提升产品质量
34、、增加寿命之可靠度，同时期望能降低成本，增加产品之市场竞争力等，本报告希望能达抛砖引玉之效，吸引更多精英投入，以利实时有效且更完整建立各项新兴产品之相关信息。8.参考文献1. 工研院机械所 “工业用CPU模块MTBF 加速 寿命测试报告” 陈益漳 Mar.19992.清华大学硕士论文“加速试验研究-以电动机车 之充电器为例”解谋东/阮约翰博士 Jan.19983. 工研院光电所”LED寿命与温度影响评估报告” 江文章 Dec.20044. 树德科技大学经营管理研究所硕士班论文”加速寿命试验的统计学原理分析与寿命预测-以液晶显示器模块之Crosstalk 现象为例” 李佩熹/陈永璋 Jun.20
35、045. 朝阳科技大学硕士论文”可靠度预估与可靠度试验之研究- 以蓝芽模块产品为例”林坤佑/陈铭芷 博士 Jan.20056. 国立高雄第一科技大学硕士论文 “产品加速寿命测试规划之研究-以8025 无刷直流风扇为例” 张正忠/张清靠 Jun.20047.中华大学硕士论文”高压低温加速运用于风扇产业之寿命测试可行性评估” 许家祯/马 恒 Jan.20048.国立高雄第一科技大学硕士论文 “已知产品寿命之加速寿命测试模式之探讨以2 瓦灯泡为例” 张凯程/张清靠 July.20039.机械工业 1998.01.”加速试验浅谈” 解谋东10. Dimitri Kececioglu, “Reliability & Life Testing Handbook v2”, 1994, PTR Prentice-Hall.11.科技人才可靠度加速寿命试验训练班讲义 王宗华 博士 Dec.2004丁嘉仁:0928969706Office: (03)5916477h
