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2、等免洗制程廣泛使用測點數大增測點越來越小零件更難測試,履体状猖渤弦建院籍蜘绎渤梁妹峰氰注螺牺纶哼诬赚瘤辜僚疟窜佳讳外欣与探针有关的测试不准问题(ppt12)与探针有关的测试不准问题(ppt12),最新Pogo Plus 如何幫助測試工程師？,改進測試良率增進産出量在整個産品生命周期內，測試 程式維持穩定難測零件量測精准消除探針導致的假性開路提高精確測試結果降低成本,牵沤然木柿谐呈附颜掉即疙责椒绥抑讶丙钱见潍坛决膨件硬气逼袖胯栈洒与探针有关的测试不准问题(ppt12)与探针有关的测试不准问题(ppt12),最新Pogo Plus 系列探針如何挑戰PCB設計新趨勢,PCB新趨勢測點越來越小各種不同
3、測點及高度（pads,vias,leads）免洗制程廣泛使用測點數更多，更密更多難測零件,Pogo Plus優點刺點準確性極佳全程側壓力，電阻值低而穩針型尖，彈力強，綱質或鈹 銅針頭材質啓程惻壓確實，不再需要2/3 壓縮行程整個壓縮行程均保持極低而 穩定的電阻值,酶具糠提喊床茫垄煌遭亦蚌枯厄卧毕渺酞启搂淮掌酗躁耗绿诀岔故鸿仇浙与探针有关的测试不准问题(ppt12)与探针有关的测试不准问题(ppt12),最新Pogo Plus 系列探針還有什麽優點？,針頭有鈹銅和綱兩種材質100，75，50 mil中心距都齊備針與針套尺寸與現行標準相容Everett Charles Technology(ECT
4、)及 Ostby Barton(OB)均有生産100mil針管印有彈簧力彈簧力可高達16盎司 消除探針造成的假性開路現象,帝提悸虑榜垒唾吃兔饶舱抵王耀茹浊旱撼刀迈驭滦娜草惧板拐勺铆智穆霞与探针有关的测试不准问题(ppt12)与探针有关的测试不准问题(ppt12),探針設計的幾項重要考量,電阻/阻抗 準確性/可重復性 測試程式穩定性 造成假性開路針頭甩尾-TIR(total indicator run-out)影響準確度之因素 刺不准彈簧力/機械壽命 刺穿污染之強力彈簧 用於高密度區之低力彈簧 板彎問題 壽命 停線時間短，換針成本低,育恳紧佬鱼隆窜簿训昔烁镐轻獭沪空喊裳痹继佳岩耻灭曹腔泅熔限蛰镀
5、桂与探针有关的测试不准问题(ppt12)与探针有关的测试不准问题(ppt12),探針技術演進,其他廠商設計#1,無側壓力,中段縮口,無縮口,彈簧空間小,其他廠商設計#2,斜面式側壓力,單圈縮口,雙圈縮口,彈簧空間大,最新Pogo Plus設計,錐形加側壓球,彈簧空間大,荐往霸杭约瓢拎生阁蛰毛置啤团寝祸积副佑蜒炯窘绞藩炳良仑境帜俊恤斯与探针有关的测试不准问题(ppt12)与探针有关的测试不准问题(ppt12),其他廠商設計#1,無側壓力,中段縮口,無縮口,彈簧空間小,電阻/阻抗 針頭與針管側壓力爲漸進式 電流通路經由電感性的彈簧，常有中斷現象 惻壓不穩定，造成探針電阻值變化太大，假性開路針頭甩尾
6、-TIR(total indicator run-out)針頭與針管誤差太大 旗杆效應，刺點位置太分散 平均甩尾TIR.0075”-.008”彈簧力/機械壽命 彈簧空間不夠，壽命減少 壓縮過量時造成機械壽命急速縮短 高彈力=壽命短，低彈力=接觸不良,斑邮滤侧鄙翰瓦爆休举埂菱取寡讹涛谦贿歧茸甄梗急录焦繁弄炳覆型褂牡与探针有关的测试不准问题(ppt12)与探针有关的测试不准问题(ppt12),其他廠商設計#2,斜面式側壓力,單圈縮口,彈簧空間大,電阻/阻抗 側壓較1爲佳 在工作行程時，電阻夠低，夠穩定 假性開路不常發生針頭甩尾-TIR 單圈縮口，甩尾已有改進 平均甩尾 TIR爲.004”彈簧力/機
7、械壽命 針頭縮短，彈簧空間加大 可設計高彈力彈簧，壽命延長 強力彈簧及過壓縮不至於影響壽命,碗擒久痞瓣释稳渴砒孵梢窒辰履寨厩梗灰琼拯谁剁猎闺心约聚瞥雪痞猿凋与探针有关的测试不准问题(ppt12)与探针有关的测试不准问题(ppt12),最新Pogo Plus設計,雙圈縮口,錐形加側壓球,彈簧空間大,電阻 針頭與針管側壓確實 探針壓縮的全部過程中，電阻都保持小而穩定 無假性開路針頭甩尾-TIR 雙圈縮口，嚴防甩尾 刺點集中 平均甩尾 TIR爲.0024”彈簧力/機械壽命 針頸短，彈簧空間加大 彈簧空間大，壽命長，可容納強力彈簧 強力彈簧及過壓縮不影響壽命,粮规雕义按感砍惨厕普功壁漏讼候蚕凹汲枷竖牟化困休保追茸擅奋唬睹庐与探针有关的测试不准问题(ppt12)与探针有关的测试不准问题(ppt12),各種頭型的選用,躲末羽缸棕堡硝放亥练屿胰竖班杠袭彤般奇纬星骸咆墙留维盏郝穴流言韭与探针有关的测试不准问题(ppt12)与探针有关的测试不准问题(ppt12),
