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PS分析元素的含量的方法XPS数据分析 纵坐标：Intensity(cps) 横坐标：binding energy 除了氢氦元素，其他的元素都可以进行分析；先进行宽扫，确定样品有何种元素，再对该元素进行窄扫。该元素的不同键接方式都对应不同的峰，所以对元素窄扫的峰要进行分峰。如何分峰，不同的键接方式会对应不同的结合能。 第一步：先把元素的窄扫峰用origin画出来； 纵坐标：Intensity(cps) 横坐标：binding energy 第二步：调整基线； 选择Ceate Baseline-next-next-add/modify添加或去除基点，保证基线水平-Finish 最小化图，会出现调整基线后的坐标。插入一列， 单机右键选择set column values 输入col-col：即开始纵坐标减去调整基线后的纵坐标。 再用横坐标与刚开始得到的纵坐标作图-调整基线后的XPS窄扫图。 第三步：对峰求积分面积； 选择integrate peaks-next-狂点-完成 即area为峰的面积。 第四步：分峰较难 第五步：求组分元素比： 元素比等于：窄扫峰面积/XPS灵敏度因子 咱们这边 的XPS设备选择的是铝板。
