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1、SPC统计制程管制中PPK与CPK的区别与联系SPC統計制程管制中PPK與CPK的區別與聯系 區別: 1.PPK是指初期制程能力指數,即產品在試產階段,尚未大批量生產,制程尚不穩定的情況下(人機料法環等因素變化較大)，反映當前的初期制程能力，在此種情況下，包括產品本身設計還尚不夠成熟，如果計算出的PPK值偏小，除檢討制程外，還可能變化產品規格在制程初期，繪制出管制圖，如果不能連續點都在控制界限內，則只能使用PPK，否則會高估制程能力而成誤判 2.CPK是批穩定制程能力指數，即產品在量產后一段時期，制程十分穩定的情況下(人機料法環等制程因素穩定，變化小)，反映長期制程能力並判定制程是否穩定，要控
2、制圖連續在點都在控制界限內，方可使用CPK. 聯系: PPK與CPK值計算的方式相同，即： PPKCPK=MIN PPKCPK= PPKCPK= 3dSu-X3dSu-X3d . X - S 1 雙邊規格. 3dX-S1 只有下規格. 只有上規格 . 針對不對稱公差的議題,有非常多的研究發表刊出解決方法,但目前並沒有一套標準來規笵,主要原因乃計算CPK的條件,就是要符合常態分配,而常態分本配一定是對稱的. 因此介紹三種業界常用的方式,解決此問題: (1)將不對稱的設計規格,轉成對稱的制程規格: 這是執行SPC流程時,必要且正確的做法,一般我們的制程規格,通常要小於客戶制定的設計規格,以降低產品
3、無法符合客戶需求的風險(一般約取設計規格的0.75倍,取4.5之處,公司可視制程狀況與能力,取不同值). 因此可以在制定制程規格時,轉成對稱的公差,有時實際的產品平均值,不一定是設計規格的中心值,可以先量測產品的平均值落在哪里,再行訂定制程規格. 1.13a. 如公差為20.0+3.0,若產品平均值落在20.5,則可以訂定制程規格為20.5+-1.13-1.0如制程的規格的上下限依照設計規格的上下限時,則可取較短的距離做為上下限.20.5離19之距離較短,訂定的制程規格可為20.5+1.5 -1.50.75b. 如產品特性一定要中心值落在20.0才會有好的performance時,則可以訂定的
4、制程規格為20.0+同樣,-0.751.0若制程規格上下限希望依照設計規格的上下限時,則制程規格可為20.0+以上為規格變動,Cpk之公式不-1.0變. (2)將制程的中心值改為設計規格上下限的平均值. 可將制程規格的中心值,設定-(設計規格上限+設計規格下限)/2,再依照設計規格上下限取約0.75倍之處,做為制程規格. 3.0如公差為20.0+,訂定制程規格為21.0+1.5;若制程規格上下限希望依照設計規格的上下限時,則制程規格可-1.0-1.52.0為21.0+以上為規格變動,Cpk之公式不變. -2.0(3)依照目前的設計規格,計算Cpk(u)與Cpk(1)值,取兩者最小值為Cpk值;
5、 3.0如公差為20.0+,則Cpk(u)=(USL-Xbar)/3S,Cpk(1)=(Xbar-LSL)/3S, -1.0 Cpk=Min(Cpk(u),Cpk(1) 不要使用Cpk-Cp(1-Ca)之公式. 以上三種,以第一種計算結果最接近實際值,工廠可選擇制程狀況與能力,來決定使用何種方式. 還有一種為目前臺灣尚未推行的草案版,但這種草案版所算出的結果僅供參考之用,並無等級標準可以比較(如A級為Cap1.33,B級為1Cpk1.33); 因此並不實用,此方法的Cp稱之為CPM,Cpk稱之為Cpmk,公式如下: Cpm, 6(USL-LSL)d2+(m-T)2, 或 Cpm,6(USL-LSL)S22+(X-T)3.0為公差中心,T為設計規格上下限的平均值,如20.0+,=20,T=21 -1.0如-T時,則Cp-Cpm,Cpk-Cpmk.
