PCB分析及相关标准(精华)课件.ppt

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1、PCB可靠性缺陷分析及相关标准,整理:孙奕明审核:马学辉,2,前言:,可靠性问题因其潜伏性及隐蔽性比较深,一但出现将造成批量性或致命性问题;公司一直以来都做为重点的品质管理对象;收集、整理可靠性缺陷、造成原因及相关标准以求大家可以共同探讨;感谢各单位在可靠性问题方面所做的努力。,3,内容:,一、棕(黑)化二、层压三、机械钻孔四、激光钻孔五、PTH六 电镀七、蚀刻八、填孔九、感光十、沉金十一、沉锡十二、沉银十三、其他,4,一、棕(黑)化,1)爆板:,原因:棕(黑)化不良 热冲击后大铜面处出现分层标准:不允许,5,2)离子污染超标:,一、棕(黑)化,原因:清洗不干净或环境污染(如裸手接板、脏污隔板

2、纸等)标准:离子污染控制值6.5ugNaCL/inch2,6,二、层压,1)分层:,原因:层压时抽真空效果差或B片受潮标准:具体见空洞标准,7,二、层压,2)空洞:,原因:层压时抽真空效果差;标准:,8,二、层压,3)层间错位:,原因:内层定位孔冲偏,或放大系数不匹配,或层压滑板;标准:一般控制在mil(主要是看内层环宽及内层隔离环宽),9,二、层压,4)固化度不足:现象:1)板件容易变形;2)易爆板;3)钻孔时钻污很多,易造成孔壁粗糙度超标;4)因钻污多,凹蚀时不容易去除,易造成孔壁与内 层连接不良。原因:料温异常或层压曲线与B片不匹配;标准:Tg3,10,三、机械钻孔,1)孔内纤维丝:,原

3、因:钻咀侧刃不锋利;标准:不影响孔径及不影响孔铜厚度及质量,11,三、机械钻孔,2)钻偏:,成因:钻孔时零位漂移、钻机压脚没有压紧或钻孔补偿不匹配等;标准:最小内层焊盘1mil或满足客户要求,12,3)内层环宽:,三、机械钻孔,原因:钻偏或内层涨缩与钻孔补偿不匹配;标准:最小的环宽0.025mm 或满足客户要求,13,)内层隔离环宽,三、机械钻孔,原因:钻偏或内层涨缩与钻孔补偿不匹配;标准:最小的隔离环宽0.mm,14,)内层焊盘脱落,三、机械钻孔,原因:内层焊盘比较小,钻孔时被拉脱;(此问题在公司第一次出现,当时刚开始还以为是孔壁粗糙度超标标准:最小的环宽不小于0.mm,15,)孔壁粗糙度超

4、标:,三、机械钻孔,粗糙度超差,成因:钻孔参数异常或钻嘴不锋利;标准:孔壁粗糙度30um或满足客户要求,16,三、机械钻孔,)孔壁粗糙度超标:,轻微的撞破,成因:钻嘴侧锋崩缺;标准:孔壁粗糙度30um或满足客户要求,17,)钉头:,三、机械钻孔,原因:除与钻针尖部的刃角损耗有密切关系外,也与钻针的偏转(Run Out)或摇摆(Wobble)有关;标准:钉头宽度不可超过铜箔厚度的2倍,18,)披锋:,三、机械钻孔,原因:与钻孔钻给速度及垫板有比较大的关系;标准:不影响外观及孔铜连接,19,)芯吸:,三、机械钻孔,原因:钻孔动作进给速度过大,或钻嘴破损不够锋利以致拉松拉大玻织纱束;或本身B片纤维束

5、有缺口,过于疏松;过度除钻污使玻织纱束的树脂被溶掉而造成;标准:对于芯吸作用(B)没有减少导线间距使之小于采购文件规 定的最小值,芯吸作用(A)没有超过80mm3.150min,20,四、激光钻孔,1)钻不透:,原因:能量异常;标准:不允许,21,2)盲孔上下孔径比超标:,四、激光钻孔,原因:能量异常;标准:1.A=标称孔径20%2.70%B/A90%3.a0.010 mm(undercut)4.90 5.孔壁粗糙度12.5um,22,3)孔壁粗糙度超标:,原因:能量异常或材料与能量不匹配;标准:孔壁粗糙度12.5um,四、激光钻孔,23,4)激光窗开偏或内层错位:,四、激光钻孔,原因:激光窗

6、开偏或内层错位;标准:不允许,24,5)undercut过大:,四、激光钻孔,原因:能量异常标准:undercut 0.010 mm,25,五、PTH,1)背光不足:,原因:沉铜药水异常标准:背光要求8级,26,五、PTH,2)沉铜不良(孔内无铜),原因:沉铜药水异常(特别是活化不足)标准:不允许,27,3)凹蚀过度:,五、PTH,原因:凹蚀药水失控或时间过长标准:1)正凹蚀过蚀深度介于0.005mm与0.08mm之间;2)负凹蚀/欠蚀深度0.013mm,28,五、PTH,4)凹蚀不足:,原因:凹蚀药水失控或时间过短标准:不允许出现空洞或连接不良,29,五、PTH,5)ICD,原因:凹蚀药水失

7、控或时间过短、材料膨胀异常标准:不允许,30,六、电镀,)孔壁铜厚不足,标准,原因:电镀参数不当或接触不良标准:见右表,31,六、电镀,)孔壁铜厚测试方法,镀层厚度和质量的评估可通过微切片进行切片必须至少包含3个孔径最小的镀通孔;放大倍数至少100X,仲裁检验应在 200 倍土 5%的放大倍率下进行;至少测量3个孔的镀层厚度或铜壁厚度,;在镀通孔每侧壁上大约等距离选取三个测试点,计算其平均值作为评估值;测量镀层厚度作为评估值时,不可在节瘤、空洞、裂缝地方测量;孤立的厚或薄截面不应用于平均;由于玻璃纤维突出引起孤立的铜厚度减薄,从突出末端量至孔壁时,应符合最小厚度要求;如在孤立区域发现铜厚度规定

8、的最小厚度要求,应作为一个空洞并从同一 检查批中重新抽样,32,六、电镀,)深镀能力不足:现象:孔口出现狗骨现象;原因:光剂与整平剂不匹配;测试方法:,33,)叠镀,原因:1)孔壁粗糙度太大.2)沉铜效果不好,没有将孔壁覆盖完全.3)电镀缸光剂/整平剂比例失调.4)电镀缸氯离子浓度过高.5)电镀参数设定不当标准:不允许,六、电镀,34,)电镀杂物,六、电镀,原因:槽液中各种浮游固体粒子常会著落而成镀瘤标准:不允许,35,6)镀层烧焦,六、电镀,原因:电流异常或光剂含量不足标准:不允许,36,7)镀层粗糙,六、电镀,原因:电镀电流过大、整平剂添加异常或添加剂搭配不当标准:不允许,37,六、电镀,

9、8)热冲击后孔拐角断裂:,原因:镀层疏松、锡炉含铜量超标蚀铜、或磨板过度标准:不允许,38,六、电镀,9)镀层疏松(热冲击后断裂):,原因:光剂含量严重超标标准:不允许,39,六、电镀,10)镀层剥离:,原因:图形电镀时除油不良,致使图形电镀层与平板层结合力差标准:不允许,40,六、电镀,11)镀层延展性不良,现象:高低温循环后出现镀层断裂原因:电镀添加剂配比异常或材料膨胀系数异常标准:不允许,41,六、电镀,12)电镀填孔不满,原因:电镀药水或电流设计异常标准:不允许,42,六、电镀,13)吹气孔,原因:镀层薄或有点状孔内无铜标准:不允许,43,六、电镀,14)孔内无铜(干膜余胶):,现象:

10、孔无铜集中在孔口原因:干膜余胶标准:不允许,44,六、电镀,15)孔内无铜(镀锡不良),现象:图形电镀层没有包住平板电镀层,有点象刀切原因:镀锡有气泡标准:不允许,45,六、电镀,16)孔内无铜(微蚀过镀),现象:整体孔无铜,特别是在大孔径的PTH孔原因:板件没有经过平板电镀或图形电镀微蚀异常标准:不允许,46,六、电镀,17)盲孔无铜,现象:铜层在盲孔中逐渐减少原因:干膜盖孔破损(公司第一次出现主要是单边曝光能量异常)标准:不允许,47,六、电镀,18)楔形空洞(Wedge Void),现象:孔内无铜发生在内层铜与B片结合处原因:棕(黑)化不良或钻孔异常标准:不允许,48,六、电镀,19)镀

11、层裂纹(现象),49,六、电镀,19)镀层裂纹(接受标准),50,七、蚀刻,)蚀刻因子:,E=蚀刻因子V=蚀刻深度X=侧蚀深度(从阻剂边缘横量到最细铜腰之宽度而言),E=V/X,51,)夹膜短路,七、蚀刻,原因:电镀层数设计有问题或线路很孤立标准:不允许出现短路及缩小线路间距,52,)渗镀短路:,七、蚀刻,原因:贴膜不牢标准:不允许出现短路及缩小线路间距,53,七、蚀刻,)蚀刻过度:,原因:蚀刻参数过度标准:不允许缩小线路最小宽度或出现镍层剥离脱落,54,八、填孔,)填孔不满:,原因:树脂没填满标准:下凹深度mil,55,八、填孔,)分层:,原因:膨胀系数异常或填孔处有气泡标准:不允许,56,

12、八、填孔,)埋孔凸起:,原因:材料膨胀系数异常或填孔处有气泡标准:不允许出现镀层断裂,57,九、感光,)离子污染超标:,原因:清洗不干净或环境污染标准:离子污染控制值6.5ugNaCL/inch2,58,九、感光,)阻焊厚度不足:,原因:喷涂不均匀、线路铜厚过高标准:.mil或满足客户要求,59,九、感光,)侧蚀严重:,原因:显影参数异常标准:不允许出现绿油条掉落现象,60,九、感光,)爆油:,原因:绿油塞孔中有气泡标准:爆油后,焊盘的总高度超过或高度um或按照客户特殊要求(如索爱um),61,九、感光,5)孔未塞满:,原因:塞孔条件异常标准:喷锡后不允许藏锡珠,62,九、感光,)绿油结合力:

13、,标准:见右图,63,十、沉镍金,)金镍厚度:,IPC-4552对化学金镍层的要求如下:,1.金厚不足,容易漏镍,导致可焊性不良;2.金厚过厚,容易使BGA处出现黑盘,同时会使焊点出现金脆现象,使焊点强度降低;3.镍厚不足,会导致沉金前镍层表面粗糙度过大,容易漏镍;4.镍层过厚,信号的传输则主要集中在镍层,信号传输过程中的损失越大。,64,十、沉镍金,)剥离:,原因:铜面不干净(或沉镍前处理异常)标准:不允许,65,十、沉镍金,)镀层开裂:,原因:铜面不干净(如绿油显影不净等)标准:不允许,66,十、沉镍金,)黑盘:,原因:镍层受腐蚀标准:不允许,67,十、沉镍金,)金层发白:,原因:金层厚度

14、不足标准:金层要满足标准或客户要求,68,十、沉镍金,)漏沉金镍层:,原因:铜面受污染(显影不净等)标准:不允许,69,十一、沉锡,)锡须:,原因:沉锡后存放时间过长(或受热)或反应速度太快标准:不允许,70,十二、沉银,)原电池效应,原因:因电位差问题标准:不允许,71,十三、其他,)磨板过度,原因:前处理磨板过度标准:不允许出现断裂,总铜厚需要满足客户要求,72,十三、其他,)可焊性:,原因:表面污染、膜太薄或太厚、金层太厚等标准:不是由于阻焊剂或其他镀涂层隔离所导致的不润湿是 不允许的,73,十三、其他,3)高低温循环测试:,原因:电镀添加剂配比异常或材料膨胀系数异常标准:电阻变化率10%,不允许出现镀层裂纹,74,十三、其他,3)高低温循环测试:,备注:正常情况下是按照D条件进行或按照客户指定条件,75,十三、其他,4)电迁移测试:,备注:目前公司是按照SONY的标准,温度85,相对湿度85%,外加电压50V,处理时间为96小时;标准:处理后绝缘电阻500M。,76,十三、其他,5)耐电压:,标准:不允许有击穿现象。,77,THE END THANK YOU!,

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