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1、引言,1.实验室新买进的仪器，对其并不了解2.成像参数是工程师设置的，具体的作用也不是很清楚3.为以后的同学做一个铺垫,内容概要,成像原理采集参数对图像的影响和分析成像瑕疵的说明和避免方法,成像原理,数字灰度图像像素的灰度值和位置像素的灰度值：表征质子密度变化像素的位置：三位正交梯度场实现定位,采集参数对图像的影响和分析,NE1对图像的影响 标准图 NE=32 NE=64 NE=128 NE=256对比得出NE作用：图像畸变 分辨率提高 测量时间增加原因解释：a/b/NE所表征的是相位编码步数，它也代表在K空间中采集次数的多少 c/重复次数的增加导致时间的延长,2.SW对图像的影响和分析SW=
2、25 SW=50 SW=100 SW=150 SW=200对比得出SW的作用：图像x轴方向畸变 分辨率提高 测量时间缩短原因分析：a/b/对于X方向的分辨率（FOV）x=SW/rGx；P=SW/rGx*TD 对于Y方向的分辨率（FOV）y=SW/eGy；P=SW/rGy*NE c/T=TD/SW 图像不畸变条件：（FOV）x=（FOV）y即,3.TD对图像的影响 TD=32 TD=64 TD=128 TD=256 TD=512对比得出TD作用：图像逐渐清晰 图像无畸变 测量时间增加原因分析：TD表征的是采样点数，采样点数越多当然越清晰 从分辨率公式上也可以看出 X：P=SW/rGx*TD Y：
3、P=SW/rGy*NE 采样点数增加T=TD/SW时间增加,4.NS对图像的影响 NS=2 NS=4 NS=8对比得出NS作用：NS表征的是累加次数随着次数的累加信号的差异性就会 逐渐明显，信号的强度也会变大，反映在图像上就是图像灰 度对比度的变化 测量时间变长5.RG对图像的影响(对比NS的影响）RG=1 RG=2 RG=3 RG=4增益加大信号强度变强，同样可以增加对比度，与NS不同的是时间不会变化,6.SLICE和Gi的选择对图像的影响 0-纵截面 1-横截面 2-冠截面 下图slice调节的是1即以Y轴场来作为选层的梯度场，实际上的Gz扮演的是上面理论中Gx的角色，随着Gz的增大，（F
4、OV）x变小，图像横向拉伸，图像的变化证实了这一点。Gz=40 Gz=60Gz=80 Gy=40 Gy=60 在z方向的选层是通过射频的频率差和梯度来决定的 Gy的增大使层厚度减小，实际上后图的厚度是比前图的薄的,成像瑕疵的说明和避免方法,1.卷褶伪影 成因：选择的参数不合适导致FOV太小没有把所有需要的样品都采集进去，那 么在FOV以外的样品也会产生信号并被线圈收集，图像卷曲。下图就是由于采样宽度太小 SW=25导致的卷褶伪影消除卷褶伪影的方法就是增大FOV在X方向 在Y方向增加SW 增加NE减小Gx 减小D1减小Gy,2.截断伪影成因：采集有限的点，对无限的回波信号进 行一个矩形的截取，相当于在原来的回波信号中乘上一个矩形窗函数导致振铃效应，FFT后在图像上就表现为涟漪状的黑白条纹 下图就是由有SW=128过小，图像边缘出现了涟漪状条纹。,要避免截断伪影就是要把采样时间加长，减弱截断效应，T=TD/SW增加TD或者减少SW。值得注意的是卷褶伪影和截断伪影对SW来说是矛盾的，减少SW会减少截断伪影但同时又会出现卷褶伪影，我们要综合考虑SW这些参数，在平衡质量和时间的条件下找到最优化的参数设置。,谢谢大家,
