针对智能电容TP充电乱跳问题分析报告.ppt

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1、智能机电容TP乱跳分析报告,一、市场投诉LC012在充电时会出现TP乱跳和TP触屏不灵 二、近期以来,售后测试发现LC012/C01/LC108/LC108A,都出现同样的问题,现针对电容TP充电时出现乱跳问题组织各部门相关人员对此问题的原因进行 深入分析!,2,2,2,背 景,二、前往敦泰测试,在测试时发现:(1)目前所使用充电器(价格:4元左右)配用BYD的TP(G+F)是不会出现TP乱跳及TP触屏灵失问题,主要原因:G+F的TP所使用的电容为:自电容;(2)目前所使用充电器(价格:4元左右)配用联创的TP(G+G)是会出现TP乱跳及TP触屏灵失问题,主要原因:G+G的TP所使用的电容为:

2、互电容;以上验证初步确认:充电器与TP的适配性问题(自电容与互电容)即充电器纹波与共模信号干扰所致,注:TP IC受充电器纹波与共模信号干扰,不同IC抗干扰的能力不同,3,3,3,原因分析,TP乱跳和TP触屏不灵原因分析(步骤):,一、针对退回来的C01整机做测试确认:1)将原装电池(量电池电压4.0V)、原充电器对整机进行开机充电=没有异常现象,经分析电池电压到达4.0V充电不会出现异常;2)换一块从3.3V-3.7 V之间的电压电池装入整机,用原装充电器进行开机充电=TP触摸不灵,TP乱跳,3)将3.3V-3.7 V之间的电压电池装入整机用到电脑USB端口进行充电=无异常现象;以上分析:原

3、装充电器(寄回电池)在大流流充电过程中会出现异常现象,恒流充电过程中不会出现异常,经验证初步确认=充电器的相关电流、电压参数不符合手机充电要求,自电容和互电容两种屏的工作原理,1)-自电容在玻璃表面用ITO(一种透明的导电材料)制作成横向与纵向电极阵列,这些横向和纵向的电极分别与地构成电容,这个电容就是通常所说的自电容,也就是电极对地的电容。当手指触摸到电容屏时,手指的电容将会叠加到屏体电容上,使屏体电容量增加。在触摸检测时,自电容屏依次分别检测横向与纵向电极阵列,根据触摸前后电容的变化,分别确定横向坐标和纵向坐标,然后组合成平面的触摸坐标。自电容的扫描方式,相当于把触摸屏上的触摸点分别投影到

4、X轴和Y轴方向,然后分别在X轴和Y轴方向计算出坐标,最后组合成触摸点的坐标。如果是单点触摸,则在X轴和Y轴方向的投影都是唯一的,组合出的坐标也是唯一的;如果在触摸屏上有两点触摸并且这两点不在同一X方向或者同一Y方向,则在X和Y方向分别有两个投影,则组合出4个坐标。显然,只有两个坐标是真实的,另外两个就是俗称的”鬼点”。因此,自电容屏无法实现真正的多点触摸。,4,自电容和互电容两种屏的工作原理,2)互电容互电容屏也是在玻璃表面用ITO制作横向电极与纵向电极,它与自电容屏的区别在于,两组电极交叉的地方将会形成电容,也即这两组电极分别构成了电容的两极。当手指触摸到电容屏时,影响了触摸点附近两个电极之

5、间的耦合,从而改变了这两个电极之间的电容量。检测互电容大小时,横向的电极依次发出激励信号,纵向的所有电极同时接收信号,这样可以得到所有横向和纵向电极交汇点的电容值大小,即整个触摸屏的二维平面的电容大小。根据触摸屏二维电容变化量数据,可以计算出每一个触摸点的坐标。因此,屏上即使有多个触摸点,也能计算出每个触摸点的真实坐标。,5,6,6,6,改善对策,一、经硬件确认松鼎充电器在PCB设计上TP IC受充电器纹波与共模信号干扰不存在有问题,,临时改善对策:,二、目前公司所有电容TP全部切换到松鼎的充电器满足出货.,三、中天充电器同步要求进行优化改善.,7,改善对策,长期改善对策:,一、要求所有使用电容TP 的充电器必须达到抗共模干扰要求。,二、中天充电器PCB上增加Y电容-待验证-硬件工程师跟进,8,8,8,预防建议,电容TP项目评审建议:,一、由于电容TP性能充电器有较大的关联,在项目设计过程中,建议方案公司或器件工程师 和供应商 及早检查或测试相关参数,在硬件设计上能够满足公司要求,尽早测试在充电情况下触控体验及充电器匹配的性能测试,如有问题可及早做优化。二、品质在前期应给出相应的测试要求是品质要求。后续好有所依据参考。,END,

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