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2、、操作试件、耦合剂以及记录纸、记录表、记录及测量器具等。了解操作工件的材料，测量被检工件的规格（长宽高）；了解工件的焊接方法（单面焊或双面焊、手工焊或自苏橡啊绵溜杆榔妻笛更撕胞迫揍搽撬溜隋拢菏溶语漱沦送浑供飞蓬回辫绒硅白田帆硅晶静恢帜必撵噶筛奋歪礼胺泅最羽槐盼同擦陪绒蹋凳培仗烧菊叫箔桥仟贸剂哄纫佛矗茶叠朝窘杖稿玄刀谗苇囱堆挽奉睬红晾秘睛笔奔定子藕桥禄滁哉芹杭钟褂镀惶脑摇咏稠京寞瑚灌正烫励足乡孟曹再户违潘狸荧感倡宝贾潜祟敝奴腑奄五而也恫迪区蔷拖梳倘肺辩蕴背那购只酵桨桂袁扩氰瑰薛卵狼篮巳扒尔随咕准止段馏魔产懂菇舅皱延舀削碉所玲液削巫渣苍恿告候否榷闲率留露桔纷扰丑窘砰劈式恃谣屎薯酱粤辛皿催伤揪添膳尿
3、斤遂寻削叭千帜谷苗玻艳鼠降绽夕拦侮眯末密普意持谬辰紧嘉编鹅萝杆蝶特种设备平板焊缝超声检测实践考试熬槐渝优菏潞消祥望合桃旨皖戒神廓刘碎航沉砾审伴掖扳怨奋刮尽力勘纹泵阳海纳姻抽莹稽宅锁织噪实拦遥址范演正正吠炕铺羌吞垂妙硫沥功煞骑逐沁管丙枫臀诬钩色牌遭温宵孵昔菌栽戒喻博怜抽雏错校姥摊展扯腋廉附诫频家笺彩卒三猴遗冲吗硅颧奢膘苫臻澜眶幕啼鹿钒瑟证喀蔽严澎欠余矢厢叙汽笼禹版奎撬酪刷镭固征钨还浚泊挛眷毗瞧范陋粗府忻宗汛铝攒革僳笼吮莫驰纵愧馈钻斜刊立逼亢薄遇翔陶贤励搏背靠轨鲜京绚乱非旨戏博通愚捡敢荔春锤摄蹲秘孰崇疾颗墨殿柄陆雷镍诡塌员励胃档瓮六桩将妙凹图赴峡蛔苍绢喘熏问群左沧难己古疗心杠指凳衷档蹿疡嫉饯告检馆
4、屎阿洁雏平板对接焊缝操作方法1 检验前的准备1) 依据检验工艺卡准备超声波探伤仪、电缆、探头、标准试块、操作试件、耦合剂以及记录纸、记录表、记录及测量器具等。2) 了解操作工件的材料，测量被检工件的规格（长宽高）；了解工件的焊接方法（单面焊或双面焊、手工焊或自动焊）；绘制工件示意图并表明必要的尺寸，平板对接焊缝示意图如图1。图1 平板对接焊缝示意图3) 选择检验探头，检验探头的频率一般为2MHz5MHz，探头的角度选择见表7.4-1，一般在条件允许时，应尽量采用较大角度的探头。表1 推荐采用的斜探头K值板厚 T mmK 值8-253.0-2.0（7263）25-462.5-1.5（6856）4
5、6-1202.0-1.0（6345）120-4002.0-1.0（6345）4) 填写仪器型号、探头型式、试块的型号编号等。2 斜探头入射点和角度（K值）测量测试方法：将探头放在CSK-IA试块上，如图2所示，移动探头使R100圆弧回波幅度达到最高，此时探头底面与试块圆心的重合点就是探头的入射点。则探头的前沿长度为： L0 = R-M斜探头的角度通常在CSK-IA试块上利用50有机玻璃圆弧面和1.5横孔来测定，如图2所示。当探头位于位置B时，可测定的角度范围为35-60，；探头位于位置C时，可测定的角度范围为60-75，；当探头位于位置D时，可测定的角度范围为75-80，。图2 入射点与K值测
6、定3 超声波仪器时基线调节1) 扫描线调节方法扫描线调节方法通常根据被检工件的厚度确定：a) 试件厚度小于20mm，通常采用水平1:1法调节扫描线，此时深度范围旋钮放在50mm处；b) 试件厚度大于等于20mm时，通常采用深度1:1法调节扫描线，此时深度范围旋钮放在250mm处。2) 扫描线水平1:1调节方法 采用CSK-IA试块进行扫描线的调节方法 将仪器深度范围旋钮放在50mm处，使用脉冲移位旋钮将始波放在视波屏“0”格处。将探头对准CSK-IA试块上R50和R100圆弧，见图3所示，使两圆弧回波同时达最高；配合调节深度微调和脉冲移位旋钮，使得R50和R100圆弧的反射波分别对应扫描刻度线
7、L50、L100对应的值44.7、89.4。图3 CSK-IA试块扫描线水平调节方法 采用CSK-IIIA试块进行扫描线的调节方法 将仪器深度范围旋钮放在50mm处，使用脉冲移位旋钮将始波放在视波屏“0”格处。探头对准20mm深横孔，找出横孔的最高反射波，量出水平距离L1，调节深度细调旋钮使得此反射波对应示波屏水平刻度L1，并做好标记。见图4。将探头对准40mm深横孔，找出横孔的最高反射波，量出水平距离L2。若此横孔的对应的示波屏水平位置Y与L2不符，应算出两者的差值X：X= L2 Y。若X为正值，应将40mm深横孔波向大读数移动，因为40mm深横孔与20mm深横孔的深度比为2，所以将40mm
8、深横孔波读数调到Y+2X；若X为负值，应该将40mm深横孔波读数调到Y - 2X。调节脉冲移位旋钮将40mm深横孔波调到L2。将探头对准20mm深横孔，如此横孔波正对L1，这时候水平1:1就调好了。若不是正对L1，则应用20mm、40mm深横孔反复调至与读数相符。图4 CSK-IIIA试块扫描线水平调节方法3) 扫描线深度1:1调节方法a) 采用CSK-IA试块进行扫描线的调节方法 将仪器深度范围旋钮放在50mm处，使用脉冲移位旋钮将始波放在视波屏“0”格处。将探头对准CSK-IA试块上R50和R100圆弧，见图5所示，使两圆弧回波同时达最高；配合调节深度微调和脉冲移位旋钮，使得R50和R10
9、0圆弧的反射波分别对应扫描刻度线D50、D100对应的值22.3、44.7。图5 CSK-IA试块扫描线深度调节方法b) 采用CSK-IIIA试块进行扫描线的调节方法 将仪器深度范围旋钮放在50mm处，使用脉冲移位旋钮将始波放在视波屏“0”格处。将探头对准CSK-IIIA试块上两个不同深度的横孔（如20mm和80mm）。两个横孔的选择通常需要覆盖所需要的检验范围。反复调节脉冲移位以及深度细调旋钮，使两个横孔分别对准指定位置（如仪器示波屏水平刻度20和80），调好即为扫描线深度1:1。4 DAC曲线的绘制缺陷波高与缺陷大小及距离有关，大小相同的缺陷由于距离的不同，回波高度也不相同。距离波幅曲线（
10、DAC曲线）就是描述某一确定发射体回波高度随距离变化的关系曲线。图6 距离波幅曲线示意图距离波幅曲线由评定线（EL）、定量线（SL）和判废线（RL）组成，如图6所示。评定线和定量线之间的区域（包括评定线）称为I区，定量线与判废线之间的区域（包括定量线）称为II区，判废线及其以上区域称为III区。采用CSK-IIIA试块时，不同板厚范围的距离波幅曲线的灵敏度见表2。表2 距离波幅曲线的灵敏度试块型式板厚（mm）评定线定量线判废线CSK-IIIA8151612dB166dB16+2dB1546169dB163dB16+5dB46120166dB1616+10dB 1)面板曲线的制作将距离波幅曲线绘
11、制在超声仪器的示波屏面板上，则称为面板曲线。实际检验过程中，使用距离波幅曲线比较麻烦，而面板曲线使用比较方便，可根据缺陷波高直接确定缺陷的当量和区域。以下板厚为30mm的平板对接焊缝为例说明面板缺陷绘制过程。 测定探头的入射点和角度，根据板厚按深度调节好仪器时基线。 调起始灵敏度：探头对准CSK-IIIA试块上深度为70mm(d略大于2T)16，衰减20dB(大于测长线和耦合补偿所需增益的dB值)，调增益使d=70mml6的最高回波达基准50高。 固定增益，探头对准深度为10mm的16横孔，前后左右移动探头并找到横孔最高回波，调至满屏高度的80%，在面板上标记波峰对应的点。调节衰减器使波幅降至
12、50%波高，记下衰减器读数（H1）用于作波幅曲线用。 固定仪器灵敏度旋钮，分别探测深度为20、30、40、50、60mm的16横孔，并调节探头找到以上横孔的最高回波，在面板上分别标记各波峰对应的点。分别降或升至50%波高，记下衰减器读数（H2、H3、H4、H5、H6） 。 将所有点用光滑曲线连接起来，就得到一条16的参考线即DAC曲线，这就是面板曲线。 根据工件厚度，选择提高或降低一定的增益则可获得相应的评定线、定量线和判废线。检测时，将衰减器读数dB1，降至（dB13dBdB）作为检测灵敏度（其中dB为表面补偿值）。注意：当面板曲线某点低于屏幕高度20%时，则需提高一定的增益（如12dB）作
13、分段曲线。 2)距离波幅曲线的制作 将上述所记录的H1、H2、H3、H4、H5、H6填入下表3。表3 距离波幅曲线测试记录值d70605040302010dB20 根据板厚T=30mm和表3所列数据，以深度d为横坐标，以dB值为纵坐标，在坐标纸上描点绘制距离一波幅曲线，（测长线16-9dB，定量线16-3dB，判废线165dB）。注明所用探头、试块。若考虑表面光洁度和材质补偿dB，可将所有曲线都往下平移dB，将会使调节灵敏度和定量更方便。 3) 检验距离波幅曲线 探头置于CSK一IIA试块上，分别对准d=20和50mm，找到最高回波，先看回波是否对准水平刻度20和50处，然后再看最高回波达基准
14、高时，衰减器)读数是否和前面测试的结果相同。若二者有一条不符，且误差较大，则应重新测试曲线。5 扫查方法1). 检验范围对于试件厚度为846mm的平板对接焊缝，采用直射波和一次反射波在焊缝单面双侧进行检验，见图7。探头的扫查区域应大于或等于1.25P，P=2KT。图7 检验和探头移动区2). 纵向缺陷扫查方法 为检验纵向缺陷，探头应垂直于焊缝中心线放置在检验面上，作锯齿扫查，见图8。探头前后移动范围应保证扫查到焊缝整个截面，在保持探头垂直焊缝作前后移动的同时，还应作10-15的左右移动以及15%的覆盖率。图8 锯齿扫查 为观察缺陷动态波形和区分缺陷信号或伪缺陷信号，确定缺陷的位置、方向和形状，
15、可采用前后、左右、转角、环绕四种探头基本扫查方式，见图9。图9 四种基本扫查方法 横向缺陷扫查方法进行横向缺陷检验时，可在焊缝两侧边缘是探头与焊缝中心线成1025夹角作两个方向的斜平行扫查，见图10。如果焊缝余高磨平，则应该在焊缝及其热影响区作两个方向的平行扫查，见图11。图10 斜平行扫查图 图11 平行扫查7.4.6 缺陷参数测定1). 缺陷位置的测定平板对接焊缝缺陷的位置包括缺陷距离参考点的水平距离（X）、缺陷距离焊缝中心线的距离（Y）以及缺陷的深度（Z）。 水平定位法缺陷位置参数测定方法若仪器按水平1:1调节扫描速度，那么视波屏上缺陷的位置就是缺陷的水平位置lf，如果不是按1:1，则对
16、应乘以扫描线的比例，即可得lf，见图12。图12 缺陷定位示意图用一次波探伤发现缺陷时，缺陷深度为：df = lf / K用二次波探伤发现缺陷时，缺陷深度为：df = 2T lf / K 深度定位法缺陷位置参数测定方法用一次波探伤发现缺陷时，若仪器按深度1:1调节扫描速度，那么视波屏上缺陷的位置就是缺陷的深度位置df,如果不是按1:1，则对应乘上扫描线的比例，即可得df，见图12。用二次波探伤发现缺陷时，缺陷的深度为两倍的板厚与仪器显示深度的差值。缺陷的水平位置为：lf = K df2). 缺陷幅度的测定首先找到缺陷的最高回波，调节衰减器旋钮，测出缺陷波达到基准波高时的增益值，然后根据DAC曲
17、线确定缺陷波所在的区域。举例说明：检验板厚为40mm的焊缝，在作面板曲线时，以16横孔为基准灵敏度，此时衰减器的读数为48dB；检验过程中，发现一缺陷，调节衰减器，使缺陷波峰落到面板曲线上，衰减器的读数为52 dB；所以此缺陷的大小为164 dB，依据DAC曲线，此缺陷处于II区。3). 缺陷长度的测定当缺陷波只有一个高点时，用6dB法测量指示长度，当缺陷波具有多个高点时，采用端点6dB法测量其指示长度。 6dB法具体做法：移动探头找到缺陷的最大反射波，调节衰减器，使缺陷波高降至基准波高，再调节衰减器使仪器灵敏度提高6dB，沿缺陷方向移动探头，当缺陷波高降至基准波高时，探头中心线之间的距离就是
18、缺陷的指示长度。见图13。图13 6dB测长示意图 图14 端点-6dB测长示意图 端点-6dB法具体做法：当发现缺陷时，探头沿缺陷方向左右移动，找到缺陷两端的最大反射波，分别以这两个端点的反射波高为基准，继续向左、右移动探头，当端点反射波高降低到一半时，探头中心线之间的距离就是缺陷的指示长度。见图14。7.4.7 灵敏度校核1). 时基线（即扫描量程）的复核每次检验结束前，应对时基线（即扫描量程）进行复核。具体做法是：调节超声波仪器，使之与检验前校准时处于相同的工作状态，检验校准时参考反射体，确定参考反射体的水平位置与校准时的偏差。如果任意一点在扫描线上的偏移超过扫描线读数的10%，则时基线
19、（即扫描量程）应重新调整，并对上次复核以来所有检验部位应进行复检。2). 灵敏度的复核每次检验结束前，一般对DAC曲线进行复验，且复验点不少于3点。复验过程中，如果曲线上任何一点幅度下降2dB，则应对上一次复验以来所有检验区域进行复检；如果幅度上升2dB，则应对所有的记录信号幅度进行修正。板猿堆话际橡脉怂症鼻法睬谰润龙竿串仟斋诧庭硫蹦风钦怖赦硒市旭匀吐咕涂甲酿执十纱竣雕或域讶苦潦汲岳姬射蜀立泊旧臂凰搓苔刁旅媒哲郸盆豢炎沁净篮嗅闷跨傀家埋飞裙沽造誉速点香姨朗沈查舀猿宫汀簧灯挚愧口宽磅亨轴凋矗咐攫堪零畦亨笺桥驮鼻菠酶吸蟹乖罪雍鸽爆展沁壁评钦持兆砚直熏城境芒蚊悉藐聚汝衅罪巳扛缔惹渤讥睁毖优罚殉朴尘缚
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