castep收敛性测试.ppt

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1、3C-SiC结构优化-收敛性测试,一、SiC晶体,SiC是一种优良的半导体,常见的SiC有4种结构,分别是3C-SiC(闪锌矿结构)、2H-SiC(铅锌矿结构)、4H-SiC、6H-SiC,本次计算将采用3C-SiC。通过查询可知3C-SiC空间群为F-43M,晶格常数a=b=c=0.43589nm,禁带宽度为2.417eV,价电子为C:2S2 2P2,SiC:3S23P2。,二、建立模型,SiC的3D模型图,收敛性测试,分别考虑平面波截断能E、收敛精度SCF及K点设置对计算结果的影响,并采用LDA和GGA的方法对结果的影响进行分析。在设置参数时,采用控制变量法,依次判断各参数对计算结果的影响

2、。各参数的初始值设定为:平面波截断能E=310eV 收敛精度SCF取Ultra-fine K-point取4x4x4,计算完成后在3D Atomistic.castep文件夹获得总能量的值,1、对平面波截断能进行测试得到以下总能量的数据,做得下图,图1、截断能与总能量的关系,图2、截断能与时间的关系,表1、截断能与总能量的对应数据,从图1可以看出,截断能增大到从280eV时,总能量开始收敛,而初始设定310eV高于280eV,所以认定截断能设为310eV计算得到的结果是可信的。从图2可以看出,截断能越大,计算所需时间就越长。所以可以将截断能设定为310eV来测试SCF对总能量的影响,以减少计算

3、量,和计算时间。,2、对SCF的收敛性进行测试得到以下总能量的数据和时间图,表2、SCF与总能量的对应数据,由表1可以看出SCF的设置对总能的影响很小,总能差在10-5以下。由图3可知、SCF设置的精度越高,计算耗时就越长,所以在计算量较大的计算中,SCF设置为中等精度即可,这样能节省较多时间。由于SCF对总能的影响小,所以可以认定初始设定是可信的。,图3、SCF与时间的关系图,3、对K点设置进行测试得到以下总能量的数据,做得下图,图4、K点设置与总能量的关系,图5、k点设置与时间的关系,表3、k点设置与总能对应的数据,4、对比在初始参数下LDA方法与GGA方法算得的能带图,LDA,GGA,图

4、6,从图4可以看出,k点设定增大到3x3x3时,总能量开始收敛,而初始设定4x4x4高于3x3x3,所以认定K点设为4x4x4计算得到的结果是可信的。从图5可以看出,k点设置越高,计算所需时间就越长。,五、总结,a、由图1可知,在同样的晶胞体积下,用GGA的方法计算单点能比用LDA方法计算的能量要高6eV左右。随着截断能的增高,总能量最终趋近于一定值,但随之计算时间会变长。,b、由图4可知,K点精度设置的越高,计算得到的总能量就越趋近于一个定值,同样计算时间会变长。,c、由图2、3、5可知,用GGA方法计算所需的时间要比用LDA方法的短。由图6可知,用GGA方法计算的禁带宽度1.394eV要略大于LDA方法计算的1.346eV,更接近于实验值2.417eV。,由a、b可知计算是精度设置得越高,所得的结果就越精确。但是由于计算时要考虑到计算效率,所以在计算时要按实际情况进行相应的设置。对于本次计算,在保证了计算结果精确性的情况下,又较好的控制了计算时间,所以设置是比较合理的。由c可知对于3C-SiC用GGA方法计算能带结构所得的结果会更精确,同时也会更省时。综上所述,本次计算结果是可信的,但是用GGA方法计算会更好。,

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