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1、孔隙频谱分析,孔隙谱分析程序(Porosity Spectrum Analysis)，简称PoroSect 程序，它可以计算不同孔径的孔隙度，并能区分原生孔隙和次生孔隙。,在统计的孔隙度频率直方图上,交互选择第 1 个峰值位置作为基质孔隙度和次生孔隙度的分界点,从而计算平均总孔隙度 a、次生孔隙度 v、基质孔隙度 m。,利用成像测井资料分析地层孔隙度分布的原理如图 所示，选取 1个图像窗口，常取（3.048cm），用阿尔奇公式计算窗口中每个成像测井像素点的孔隙度大小，统计该单元内不同区间的孔隙度贡献份额（即频数），绘制孔隙度值的统计分布图 孔隙度频率分布曲线，从而了解该窗口对应地层中的孔隙度分
2、布情况。,FM I 测井孔隙度计算主要依据是阿尔奇公式。FM I 的探测深度较浅，因此，计算成像测井孔隙度分布的阿尔奇公式为如下形式：,具体做法1）在FMI图像中，逐个对1.2英寸垂直窗口范围内的数据进行统计。方法是针对每一个成像扫描点，根据其颜色的深浅，也就是电阻率的高低进行统计，颜色深的电阻率低，孔隙度大，对应的孔径也大;反之，颜色浅的，对应的孔径小。2）制作各扫描点对应孔径大小的累计频率图。从频率图可发现，它不是连续状的，而是呈两个或三个分离的峰状，且小孔径对应峰的累计频率高，变化范围大;大孔径对应峰的累计频率低，变化范围小。这种现象正好反映了地下岩石中原生孔和次生孔的状态:原生孔与次生
3、孔的孔径之间不是连续变化的，而是有较明显的跃变;原生孔小而多，孔径变化范围较大且连续，次生孔大而少，孔径变化小，但不连续。因此这种频率图可用来区分原生孔和次生孔，进而划分次生孔的类型。3）对累计频率图包络线所包围的面积积分，则分别求得原生孔和各种次生孔的孔隙度。,A=（a1+a2+a3+a4+ai）,ni=ai/A=ai/（a1+a2+a3+a4+ai）,由Porospeot程序计算出的孔隙度较好地反映了孔隙尺寸大小的变化,不同大小孔径的孔隙可分为不同的百分比(20%，40%，60%，80%),对各统计窗求最小孔隙度PorMin与最大孔隙度PorMax，对各频谱从左（小）至右（大）统计累积频率
4、为0.2、0.4、0.6、0.8的临界点分别得孔隙度分布曲线平、Por02、Por04、Por06和 Por08，在剖面上用不同颜色依次填充可绘制孔隙度分布曲线图，图第四道和第七道。,如图为王府1井孔隙频谱分析图，其中POR.HIST为孔隙度频率分布曲线,波峰位置表示孔径大小,越向左(对应较大数值)孔径越大;WN一40-60%、WN60-80%、WN80-100%分别代表不同孔隙度的百分率,即各自区间孔隙度值随深度的变化;Vug代表次生孔隙度；PHIT.为有效孔隙度。,王府1井火山岩段孔隙频谱发育层段分析,孔隙参数统计,分析井段：2818-2845.5米3044-3645 米,孔隙度频率分布曲
5、线的形态包括单峰、双峰和多峰，与储层的非均质性有关。孔隙度频率谱的形状特征解释可分为以下几种情况：,a)地层孔隙度很低，孔隙频率分布谱上表现为窄的单峰（）;b)次生孔隙分布较均匀，而基质孔隙较少时，孔隙频率谱上表现为后移的单峰（）;c)当层状的连通的次生孔发育段与不发育段交互出现时，孔隙频率分布谱上则分层出现宽峰与前端窄峰；d)当分布多个尺度的溶蚀孔洞时，孔隙频率分布谱上表现为较宽的双峰或多峰;e)当连通的次生孔中发育充填裂缝时，孔隙频率分布谱上表现为较宽的双峰背景上局部峰前移。,f）当次生孔隙不均匀分布,并具有高导峰时,孔隙频率分布谱上表现为宽双峰,但总孔隙度不一定很大,视孔隙度频谱特征,2
6、603m,2631m,2710m,2780m,2860m,2923m,裂缝-孔隙型储层（气孔、溶蚀孔和裂缝孔隙度）,孔隙型储层（粒间孔、溶蚀孔）,孔隙型储层（粒间孔、溶蚀孔）,附录：不同孔隙计算公式,计算储层视平均孔隙度、次生孔隙度、基质孔隙度和孔隙分布曲线。平均总孔隙度(PHITave)、次生孔隙度(PHITvug)、基质孔隙度(PHITmataix)定义如下:,式中:i为统计窗长内所有的孔隙度值，N 为统计窗长内的数据个数;,（2）次生孔隙度(PHITvug):,（1）平均总孔隙度(PHITave):,式中:i为统计窗长内大于基质孔隙与次生孔隙分界点MataixPoa)的孔隙度值，N 为统计窗长内的数据个数;,（3）基质孔隙度(PHITmataix):,PHITmataix=PHITave-PHITvug,同时，计算出井周孔隙度非均质性参数，视孔隙度变异系数(Vk)视孔隙度突进系数(Sk)视孔隙度级差(Nk):,视孔隙度变异系数(Vk),视孔隙度突进系数(Sk),其中:m ax为窗长范围内最大孔隙度值;为总孔隙度(PHITave),视孔隙度级差(Nk),其中:m ax为窗长范围内最大孔隙度值;m in为窗长范围内最小孔隙度值。,缝洞系数(FI),FI=PHITvug/PHITav,其中:PHITvug 为次生孔隙度;PHITave 为总孔隙度;,孔隙度分类方案,
