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1、宏观应力测定,概述,金属材料及其制品在冷、热加工（如切削、装配、冷拉、冷轧、喷丸、铸造、锻造、热处理、电镀等）过程中，常常产生残余应力。残余应力对制品的疲劳强度、抗应力腐蚀疲劳、尺寸稳定性和使用寿命有着直接的影响。研究和测定材料中的宏观残余应力有重大的实际意义，例如可以通过应力测定检查消除应力的各种工艺的效果；可以通过应力测定间接检查一些表面处理的效果；可以预测零件疲劳强度的贮备等等。因此研究和测定材料中的宏观残余应力是评价材料强度、控制加工工艺、检验产品质量、分析破坏事故等方面的有力手段,材料的内应力指当产生应力的各种因素（如外力，温度、加工处理过程等）不复存在时，由于不均匀的塑性变形或相变
2、而使材料内部依然存在的并自身保持平衡的残余应力。第一类内应力是在物体较大范围内或许多晶粒范围内存在并保持平衡的应力。称之为宏观应力。它能使衍射线产生位移。第二类内应力是在一个或少数晶粒范围内存在并保持平衡的内应力。它一般能使衍射峰宽化。第三类内应力是在若干原子范围存在并保持平衡的内应力。它能使衍射线减弱。,残余应力测定方法,测定残余应力的方法有电阻应变片法、机械引伸仪法、小孔松弛法、超声波、光弹性复膜法和X射线法等。用X射线测定残余应力有以下优点：1.X射线法测定表面残余应力为非破坏性试验方法。2.塑性变形时晶面间距并不变化，也就不会使衍射线位移，因此，X射线法测定的是纯弹性应变。用其他方法测
3、得的应变，实际上是弹性应变和塑性应变之和，两者无法分辨。3.X射线法可以测定1-2mm以内的很小范围内的应变，其它方法测定通常为20-30mm范围内的平均应变。4.X射线法测定的是试样表层大约10m深度内的二维应力。采用剥层的办法，可以测定应力沿层深的分布。5.可以测量材料中的三类应力。,X射线法的不足之处,X射线法也有许多不足之处：测试设备费用昂贵；受穿透深度所限，只能无破坏地测表面应力，若测深层应力，也需破坏试样；当被测工件不能给出明锐的衍射线时，测量精确度不高；试样晶粒尺寸太大或太小时，测量精度不高；大型零件不能测试；运动状态中的瞬时应力测试也有困难。,在诸多测定残余应力的方法中，除超声
4、波法外，其他方法的共同点都是测定应力作用下产生的应变，再按虎克定律计算应力。X射线残余应力测定方法也是一种间接方法，它是根据衍射线条的角变化或衍射条形状或强度的变化来测定材料表层微小区域的应力。,一、X射线宏观应力测定的基本原理,1、单轴应力宏观：最简单的受力状态是单轴拉伸。假如，有一根横截面积为A的试棒，在轴向Z施加拉力F，它的长度将由受力前的L0变为拉伸后的Ln，所产生的应变y为：,微观：试样各晶粒中与轴向垂直的晶面的面间距d也会相应地变大，可以通过测量d的变化来测定应变,dZ方向上晶面间距的变化 d可通过测量衍射线的位移得到的。由布拉格方程微分得：,这是测定单轴应力的基本公式,当试样中存
5、在宏观内应力时，会使衍射线产生位移。通过测量衍射线位移，来测定宏观内应力。,2、平面应力,一般情况下，材料的应力状态通常处于三轴应力状态。在材料的表面只有两轴应力。X射线照射的深度很小。所以只需研究双轴应力，即平面应力。在物体的自由表面上任意切割出一单元体。则该单元体受两个垂直方向1和2的应力作用。1和2随所选单元体方位的不同而变化，但二者之和为常数。,虽然垂直于物体表面的方向上应力值3为零，应变3并不等于零。而是与平面方向的主应力之和有关。,工程中人们更关心的是某个方向上的应力，如。求,除了测定垂直表面的应变3外，还要测3和构成的平面内某个方向（如OA方向）的应变。,1）首先测量与表面平行的
6、晶面(hkl)的应变，即测定与表面平行的晶面的晶面间距的变化。,2）测量与表面呈角上相同晶面（hkl）的应变。,d0为无应力状态下(hkl)晶面的晶面间距。dn为这个晶粒在3方向的晶面间距。,d0为无应力状态下(hkl)晶面的晶面间距。d 为这个晶粒在方向的晶面间距,3）由3、求。对各向同性和弹性体。由弹性力学原理有：,这是宏观应力测定的基础公式。,二、测试方法,（一）衍射仪法 045法:通过测定两个方向上有晶面间距来求应力，sin2法:测定一系列方向的的d来求。它比上一个方法要准确一些。,1、sin2法,由式可见，与平面应力(1+2)的大小有关，还与方向有关。晶粒取向不同，在的作用下，将是不
7、同的。应变可以用衍射晶面间距的相对变化表示，即,0为无应力时试样（HKL）晶面衍射线的布拉格角，为有应力时，且在试样表面法线与晶面法线之间为角时的布拉格角。,在试样的应力状态一定的情况下，3不随而变，故对sin2求导可得：,上式中的2以度为单位。当以弧度为单位时，上式则为如令 则=K1M K1为应力常数，对同一部件，选定了干涉面HKL和波长时，它为常数。M为2对sin2的斜率.只要求出M，就可通过它求得。M可以让X射线从不同角度入射，并测定多个2角，并用2与sin2作图，求直线的斜率，便可获得M。,X射线宏观残余应力测定的基本原理,以低碳钢为例：,1）测=0时的应变用Cr靶测211干涉面的2角
8、。211干涉面的2角为156.4。=78.2。让入射X射线与样品表面呈78.2，并让计数管在2=156.4附近扫描，准确测定它的2角，设测得的角度为154.922）测定=15、30、45角时的2角计数管不动，让样品转动15、30、45，分别准确测定其2角。得到以下数值。,=K1M,3)求斜率M,求得斜率M=1.965。通过有关表格查得 K1=-318.1MPa=K1M=-318.1196.5=-625.1MPa,2、045法,Sin2法的结果较为精确，缺点是测量次数较多。但是，随着测试设备和计算手段的进步，测量和计算时间已不是主要矛盾，所以在科学研究中推荐使用Sin2法。当晶粒较细小，织构少，
9、微观应力不严重时，2-Sin2直线的斜率也可以由首尾两点决定，就是说可以只测定0、45两个方向上的应变来求得斜率M，计算应力。这种方法称为0-45法。,（二）应力仪法,用X射线应力仪可以在现场对工件进行实地残余应力检测。用计算机控制，可自动打印出峰位、积分宽、半高宽、斜率和应力等。应力仪法测定应力可以有sin2法、-45法、固定法、侧倾法等。,X射线应力仪,X射线应力仪的结构如图示，其核心部份为测角仪。应力仪的测角仪为立式，测角仪上装有可绕试件转动的X射线管和计数管。,测定2角。其中应变晶面方向与试样法线方向的夹角由下式求得,每次改变入射线角度就可测得不同时的2。同样它也有sin2法和0-45
10、法。,宏观残余应力的测定方法,1、同倾法2、侧倾法,1、同倾法,同倾法的衍射几何特点是测量方向平面与扫描平面重合,2、侧倾法,侧倾法的衍射几何特点是测量方向平面与扫描平面垂直,X射线宏观应力测定中的一些问题,1、定峰法2、应力常数3、影响宏观应力测量精度的因素,定峰法,测定宏观残余应力是根据衍射线的位移进行的，因此，衍射线峰位的确定直接影响测量精度。由于试样和实验条件的差别，将得到形状各异的衍射线。定峰方法很多，有重心法、切线法、半高宽度法（或2/3、3/4、7/8宽度法）和中心连线法等。常用的半高宽法和三点抛物线法。,半高宽法,半高宽法是以峰高1/2处的宽度的中心作为衍射峰的位置的。其定峰过
11、程如图所示。其作法是自衍射峰底两旁的背底曲线作切线ab，过衍射峰最高点p作x轴的垂线，交直线ab于p点。在pp/2处作平行于ab的直线，该直线交衍射谱线于M、N两点，MN线段的中点O对应的横坐标2就是要定的峰位。,1/8高宽法,抛物线法,衍射谱的峰顶部份可近似看成抛物线，故可将抛物线的对称轴的横坐标作为峰位。图为三点抛物线法定峰示意图。如图所示，在顶峰附近选一点A（22，I2）后，在其左右等角距离2处各选一点B（21，I1）和C（23，I3），最后用A、B、C三点的坐标按下式计算峰位,X射线应力测定的注意事项,在X射线应力测定工作中还存在许多影响分析测试结果的因素。正确的选择和处理这些问题才可
12、以获得精确的测试结果。辐射的选择对测量精度有直接的影响。首先应该使待测衍射面的角接近90（一般在75以上），其次是应兼顾背影强度。对钢铁材料，常被选用的辐射和晶面为：CoKa,(310)晶面；FeKa，（220）晶面；CrKa，（211）晶面。,X射线应力测定的注意事项,试样的表面状态、形状、晶粒大小和织构等对应力测定都有影响。对多晶金属试样X射线照射深度一般在10微米左右。试样表面的污垢、氧化皮或涂层将使X射线的吸收或散射发生变化，从而影响试样本身的真实应力。测量前必须将它们除去。但是，当研究喷丸、渗碳、渗氮等表面处理产生的应力时，不能进行任何表面处理。对粗糙的试样表面，因凸出部份已释放掉一部份应力，从而测得的应力值一般偏小。故对表面粗糙的试样，应用砂纸将欲测部位磨平，再用电解抛光去除加工层，然后才能测定。,X射线应力测定的注意事项,晶粒过大使参与衍射的晶粒数目减少，衍射线峰形出现异常，测定的应力值可靠性下降，重现性差。如果晶粒过小，将使衍射线宽化，测量精度下降。一般晶粒直径在30m时测量结果最好。,总 结,X射线应力测定本质上是测定晶体材料在应力作用下晶体结构发生的变化。宏观应力测定是测应力作用下晶面间距的变化，晶面间距变化的表现是角变化。角变化-晶面间距变化-反映的是应变-换算成应力。具体应力测定方法有sin2法和-45法衍射仪与应力仪结构不同，测定应力时机构运动不同。,
