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1、X射线荧光分析技术与应用,1.5 X射线荧光光谱基本原理,1.1 X射线荧光产生基本原理 Creation of X-ray Fluorescence(XRF),1.1 X射线荧光产生基本原理 Creation of X-ray Fluorescence(XRF),XRF产生关键点：1.原级X射线能量高于电子结合能2.产生空穴3.电子跃迁4.释放的能量不被吸收,X射线荧光就是二次X射线,荧光光谱能级跃迁示意图(跃迁定则)n=1,2,3，线系,线系,线系,K1 K2,K1 K2,L1 L2,M1 M2,1.2 Moseley 定律,1913年，Moseley依据实验结果确立了荧光X射线的波长()
2、与元素的原子序数(Z)的关系:,K，S常数，随谱系(K，L，M，N)而定。,X射线荧光定性分析技术的数学基础；探测系统测定试样的荧光光谱，确定各峰代表的元素。,根据不同的探测系统，分为：能量色散荧光光谱和波长色散荧光光谱。（第二章重点）,1.3 X射线荧光光谱:（XRFS）,1.4 Auger 效应,XRF产生关键点：1.原级X射线能量高于电子结合能2.产生空穴3.电子跃迁4.能量不被吸收,1.4 Auger 效应,1.4 Auger 效应,关键点：跃迁释放的能量激发出电子Auger电子：次级光电子不同元素的Auger电子能量是固定的；（电子能谱分析法的基础）,以发现此过程的法国科学家P.-V
3、.俄歇命名,Auger电子产额 荧光产额,K能级荧光产额和俄歇电子产额随原子序数Z的变化不同能级有不同的变化趋势,1.5 荧光激发因子E,激发因子（E）是指试样中某待测元素的原子吸收入射X射线光子后，发射出特征X射线荧光的几率。,吸收限跃迁因子JAbsorption Jump Factor,谱线分数 fRelative Emission Rate,荧光产额 wFluorescence Yield,1.5 荧光激发因子E,激发因子E是吸收限跃迁因子J、谱线分数f 和荧光产额w 的乘积。,吸收限跃迁因子J：入射X射线逐出某一轨道电子产生空穴的几率谱线分数f：原子出现空穴时，某高能级电子跃迁填补该空穴的几率荧光产额w：电子跃迁时，能量差以特征荧光辐射出去的几率,思考题：荧光强度的计算主要要考虑哪几个方面？提示：根据荧光产生的过程主要分3步。,
