《X光衍射技术基础织构的测定.ppt》由会员分享，可在线阅读，更多相关《X光衍射技术基础织构的测定.ppt（47页珍藏版）》请在三一办公上搜索。
1、X射线衍射技术第十二讲 织构的测定,织构及其表示方法,一、织构与织构分类 在所有材料中无机材料占大部分，其中单晶（如Si、GaAs、金刚石、单晶飞机叶片）很少，绝大多数材料是以多晶形式使用的。多晶材料中，如果每个晶粒的晶体学取向完全无序，则该材料的宏观性能是各相同性的。然而，许多材料经过轧制、拉伸、挤压等变形过程，或者即使不经过变形，如凝固、PVD、CVD、热处理等，各晶粒的晶体学取向会出现某些规律性，材料呈现出一定程度的各相异性织构。,织构的定义,一般认为多晶材料中，晶粒的晶体学取向会出现某些规律性；或者某些晶体学方向往材料外形的某些特定方向集中；或者某些晶体学面往材料外形的某些特定面集中；
2、或者晶体学方向和晶体学面都有某种程度的集中，则称该多晶材料中存在择优取向或织构,织构的存在有利有弊,优点：某些材料如硅钢片达到立方织构状态（又称高斯织构(100)），可以提高导磁率，减小变压器磁损失。,缺点：核反应堆中的U棒和石墨块中的织构。择优取向不利于原子反应堆中使用，,所以在材料的研究中有必要进行织构的测定,织构的晶体学特征,对于各相同性的多晶材料任一指数的干涉面在空间均匀分布形成一个均匀分布的球面，倒易结构是均匀分布的，因此德拜环是连续的；对于具有织构的材料，倒易结点在倒易球面上分布是不均匀的，如果用德拜法进行照相，德拜环是不连续的。这样我们就有可能利于X射线来探测织构的存在与否。,织
3、构的分类,织构的分类方法很多，而直接与XRD相关的是织构材料的晶体学特征：可以把织构分成两类：丝织构、板织构,丝织构:材料的个晶粒的某一个或几个晶体学方向倾向于平行于试样的某一特定方向。其它晶体学方向则以试样的特定方向为轴对称分布。,例如：具有丝织构铁丝，以标记方向与丝轴的夹角，为极点密度，则铁丝中相对于的分布如上图所示-极发布图。,织构的分类,板织构 材料的晶体学特征是各个晶粒的某一个或几个晶体学面倾向于平行于试样的某一特定面（如轧面），某一个或几个晶体学方向平行于试样的某一特定方向（如轧向）。,织构的表示方法,描述材料的织构状态就是描述材料中各个晶粒取向相对于材料外形之间的关系。到目前为止
4、，材料的织构状态除了用理想织构成分（有多少晶粒严格满足织构关系）、极分布图表示以外，还可以用极图（正极图、反极图）、三维取向分布函数来描述。,正极图,研究某试样的织构状态可以以试样外形（如轧面、轧向、横向等）为坐标，考察试样中任一特定的晶体学面族法线在该坐标中的分布。如果以极射投影的方式描述上述分布，就构成了正极图。正极图中投影面一般由外形坐标构成，也就是说，正极图是试样中某特定晶体学面族法线在试样外形坐标中分布的极射投影图。正极图是晶粒晶体学面在外形坐标上的投影正极图的名称是由所考察的面族的名称决定的,理想板织构正极图,如对于001理想板织构，其中001为轧面，为轧向,100极图 110极图
5、 111极图,NaCl单晶上Ag薄膜的晶体结构,理想丝织构正极图,理想丝织构,111极图 110极图,丝轴方向,丝轴方向,54.7o,45o,正极图,实际材料中不仅包含多种织构成分，而且围绕每种织构位置都有不同程度的极点离散度，所以它们的极图要比前面提到的要复杂得多。例如冷轧铝板（压下量95%）,100极图 111极图,正极图,对于复杂织构，可以从实测的极图中确定材料包含何种理想织构成分确定试样中包含的理想织构成分就是考察试样外形的晶体学指数主要是利用标准投影中各种指数晶面之间的角度关系。,确定试样中包含的理想织构成分,以冷轧Al板100极图为例，用尝试法寻找试样的理想织构成分具体做法是使全部
6、100极点全部落入阴影区。,试样包含011和112成分。即大部分晶粒的011和112面平行于轧面，和方向平行于轧向,确定试样中包含的理想织构成分,又例如，Fe-50Ni合金冷轧并退火后再结晶织构的110织构为。,对比,反极图,反极图是1955年以后发展起来的一种表示织构的方法所谓反极图就是试样的某一外形方向在晶粒的晶体学坐标中分布的极射投影图，并以此外形方向命名反极图简言之：反极图是外形坐标在晶体学面上的投影,反极图,例如，挤压铝棒的轴向反极图，三个晶体学坐标分别为(001),(011),(111),从衍射线的等强度线可以看出挤压铝棒中大多数晶粒的001和111法向平行于棒轴。即具有+丝织构或
7、者说具有和丝织构成分。,反极图,对于不同的晶系，晶体学坐标的取法依晶系而异，一般取(001)标准投影中的一个由主要晶体学极点构成的三角形。如：,立方晶系 六方晶系 正交晶系,三维取向分布函数（ODF）,用一张正极图或反极图都难以完全确定材料的织构状态。因此，于1965年出现了一种新的方法来描述材料的织构状态，这就是三维取向分布函数法，简称ODF。,所谓ODF方法是在试样上取一外形直角坐标，同时在各个晶粒上都取一晶体学直角坐标，考察两类坐标之间的角分布关系。,三维取向分布函数（ODF）,例如：在试样上固定一直角坐标OABC，某一晶粒上固定一个晶体学直角坐标OXYZ,这个取向关系可以用三个角（欧拉
8、角）来表示，各个角的意义为：,先将O-ABC与OXYZ重合以OZ为轴转（逆时针转）使OXOX1，OYOY1以OY1为轴转 使OZOZ，OX1OX2以OZ为轴转 使OX2OX，OY1OY,三维取向分布函数（ODF）,这样使OABC最终转至OXYZ，两者之间就可以用,来描述。对于试样中各个晶粒的晶体学坐标OXiYiZi 都可按上述办法操作找到一系列的,i、i和i。如果以O为直角坐标，则其中任一点的位置就代表某一晶粒相对于外形坐标的取向。O坐标中的点的密度分布(iii)就是描述材料织构状态的三维取向分布函数。,三维取向分布函数（ODF）,通常用等截面来表示此分布函数书上236页给出了四个等值图根据等
9、值图我们可以推测出织构类型。,例如：在等值图上可以知在外形坐标为001，010，100时，如果（90o，37o，45o）密度最高。用反推法：将O-ABC与O-XYZ重合，由=90，=37，=45。反推出ABC的位置，A为轧向，C为轧面，与001极图对照，其理想织构成分为112。,正极图的获得,一、照相法测正极图早期测织构多采用照相法，现一般都为衍射仪法所代替，但原理均是类似的，这里先介绍一下照相法。它对掌握概念和运用极射投影均有用。照相法测板织构的极图照相法测板织构就是用底片记录衍射线，从而获得具有板织构试样的极图对于立方晶系的材料一般测100 110 111极图对于六方晶系的材料一般测000
10、1 1010 1120极图前面说过测正极图就是检查试样内某指数晶面在外形坐标中的分布，e.g.测100极图，就是测100晶面法线在轧面、轧向、横向坐标中的分布,照相法测正极图的操作过程,照相方法取轧面、轧向、横向为外形坐标用K单色线入射，并垂直于底片，轧向垂直放置，拍照片：将试样以轧向为轴转10，20，80o 分别拍照，轧面X射线入射线分别将上述照片记为0，10，20，80.将试样轧向水平放置，横向顺时针转10，20o，各拍一张照片，直到角为止，角为所取晶面（e.g.(100)晶面）所对应的衍射角，这些照片分别记为10o，20o等这样就获得了一套衍射照片。,照相法正极图的获得,将照片上不连续的
11、200衍射环中的各个衍射点转换成100晶面极点，并标在以外形为坐标的极射投影上,第一张照片,照相法正极图的获得,绕扎向转动20o的照片,照相法正极图的获得,绕扎向转动20o的照片,绕扎向转动所有的照片覆盖的区域,照相法正极图的获得,根据对称性可以获得另一半图形，但南北极的投影尚需用-10o,-20o照片补充,照相法正极图的获得,最终获得所需的001正极图,衍射仪法测定正极图,要获得hkl极图的全图时，一般要采用透射法和反射法两种方法收集hkl面的衍射数据。衍射仪测织构的原理为：,透射,背射,当较小时透射，较大时背射对应每一，转360o可获得一组数据,衍射仪法测定正极图,对应每一，转360o可获
12、得一组数据,注意所有衍射均来自同一晶面族,衍射仪法测定正极图,衍射数据点在极射投影上的位置,对于任何，衍射线位置一定，只是外形坐标发生变化。然而，实际测定极图应以试样外形为坐标，来考察hkl极点在此坐标中的分布。所以应将上述极射投影作移动，让外形坐标都转到要求的位置。,将每一处的衍射强度标于左图即得一初步得极图,衍射仪法测定正极图,衍射仪法测定正极图,利用透射法和反射法可以测定试样的极图的数据I。但不能直接将此数据标到极网上构成最终极图，原因在于透射法中随角的变化，试样对X光入射线和衍射线的吸收在变化（X光走过的距离增加）。因此要获得真正极图还有两件事要做对透射法数据进行吸收校正(背射无需校正
13、）测量无织构时=0，=0时hkl的衍射线强度Io，对强度归一化处理。,对透射法数据进行吸收校正,即把所有的I数据都换算到=0时的试样吸收状态所对应的强度值。一般工具书都给出了I/I=0为纵坐标，t为横坐标的吸收校正曲线这种曲线也可以自己做,根据曲线，可以查到I/I=0e.g.0.1mm厚铝板t=1.3=-30o时I/I=0=0.73如果实测I=3.5 则校正后I校3.5/0.73=4.9,对透射法数据进行校正,在获得最终极图前，还应测量无织构时，=0，=0时hkl的衍射线强度Io 将I校正/Io标在极图上，即获得了所要的极图这部分工作可由计算机来完成。,正极图的定量分析,1、极图数据的准确度与
14、归一化上面我们讲了极图上，处的强度为I/Io 可记为R对于无织构样品Ro=1如果把极图所在球面N等分则有小面积 S 对于无织构试样对于有织构的样品所以，可以利用此式来判断极图数据的准确度同样可以用类似的方法来对极图作归一化处理。,正极图的定量分析,用代替前面所述的用无织构试样测定的I0在计算机采集极图数据时,正极图的定量分析,2、试样织构程度的判断目前有两种方法来判断试样的织构程度与无织构试样的偏离程度用各个小区域（N等分）中 与 的方差来表示织构度：试样的各相异性程度有取向参数f 各相异性因子BAF（自学）。,反极图的获得与分析,一、反极图的获得反极图的获得要比测试正极图方便得多，它不需要特
15、殊的测试附件。利用衍射仪进行常规衍射并适当加工数据即可获得反极图。原理：只有平行于试样表面且满足干涉方程的晶面产生衍射。,对于有织构的样品，由于有择优取向，我们就可以分析特定方向试样的衍射图样,反极图的获得与分析,也就是说通过常规衍射图，我们可以判断有多少hkl晶面平行于特定方向。,无织构样品,有织构样品,横向截面,纵向截面,具体获得反极图的方法,将待测方向为试样表面法线方向，在X光衍射仪上在常规扫描，获得该方向的衍射图样。即使无织构试样，每条线的衍射强度也各不相同。因此要获得反极图就需同时测试相同材料无织构状态的衍射图，分别记其中的衍射线强度为Ii和Iio Ii/Iio 代表了试样表面法线在晶体学坐标中的分布。将Ii/Iio标注到标准投影的三角形中就构成了反极图,反极图的获得与分析,对于不同晶系的晶体学坐标为,立方晶系 六方晶系 正交晶系,反极图的获得与分析,应说明的有两点：2dsin=n 对于001 002 003 111 222 333 一般取强度高的线计算测反极图要求衍射线尽量多，因此适用于对称性较低的晶体，对于对称性较高的晶体，应该选用短波长的X光，可获得更多的衍射线。,反极图的获得与分析,反极图数据的归一化处理,
