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1、红外测温原理及其应用,1 红外测温发展过程,1800年 威廉赫谢尔发现红外线1828年 MSweeny第一个辐射温度计19世纪末 消隐光学高温计1901年 全辐射测温仪专利(Fery)1931年 商用全辐射测温仪问世(Leeds&Northrup company)60年代后 迅猛发展近二十年 双色、光纤、扫描等,William Herschel1738-1822,1 红外测温发展过程,可见光,紫外光,红外光,X-射线,Gamma,Rays,无线电波,EHF SHF UHF VHF HF MF LF VLF,0.1A,1A,1UA,100A,0.1,1,10,100,1cm,0.1cm,10cm
2、,1m,100m,1km,10km,100km,波长,10m,30,20,15,10,8,6,4,3,2,1.5,1,0.8,0.6,0.4,波长(um),常用红外光谱范围,2 红外测温的原理,红外测温仪可捕捉从所有物体辐射出的红外能量。红外辐射是电磁频谱的一部分，电磁频谱中包括无线电波、微波、可见光、紫外线、伽玛射线和X光。,2.1 红外测温技术的基础,在自然界中，当物体的温度高于绝对零度(-273C)时，由于它内部热运动的存在，就会不断向四周辐射电磁波，其中就包含了波段位于0.75100m红外线。,不透明的材料制成带小孔的空腔,可近似看作黑体。,2.2 黑体,在给定的温度和波长下，物体发射
3、的辐射能有一个最大值，这种物质称为黑体，设定它的发射系数为1。其它发射系数在0-1之间的物质称为灰体。它是一个理想辐射体，表明它的自身能量可以全部向外界辐射出来，但自然界中并不存在这样的理想黑体。,2.2 黑体,黑体炉即为人工制造的性能接近理想黑体的辐射标准源，用于定期对红外测温仪进行检测标定。,2.3 普朗克定理,虽然自然界中并不存在真正的黑体，但是为了弄清和获得红外辐射分布规律，在理论研究中必须选择合适的模型，这就是普朗克提出的体腔辐射的量子化振子模型，从而导出了普朗克黑体辐射的定理，即以波长表示的黑体光谱辐射度。,Max Planck 1858-1947,2.3 普朗克定理,式中，,(2
4、-1),2.3 普朗克定理,图2.1 黑体辐射的光谱分析,2.3 普朗克定理,2.3 普朗克定理,不同温度的辐射曲线永不会相交随温度增加，辐射能量增大而峰值波长减小，波长与温度成反比,黑体辐射光谱曲线的特性,1,2,3,4,5,6,7,8,9,10,11,12,13,14,1500C,1000C,542C,260C,20C,辐射能量,波长（微米）,0,2.4 斯特潘-玻尔兹曼定理,(2-2),式中，,式(2-2)中黑体的热辐射定律正是红外测温技术的理论基础。,2.5 热辐射测温的数学描述,(2-3),2.5 热辐射测温的数学描述,所测物体的温度为：式(2-4)就是物体的热辐射测温的数学描述。,
5、(2-4),3 红外测温仪工作原理,窗口和光学系统,目标,环境,探测器,显示及输出,453,SP1 470,EMS?85,红外测温仪由光学系统、光电探测器、信号放大器及信号处理、显示输出等部分组成。光学系统汇聚其视场内的目标红外辐射能量，红外能量聚集在光电探测器上并转变为相应的电信号，该信号再经换算转变为被测目标的温度值。,3.1 红外测温仪特点,非接触测量：它不需要接触到被测温度场的内部或表面，因此，不会干扰被测温度场的状态，测温仪本身也不受温度场的损伤。测量范围广：因其是非接触测温，所以测温仪并不处在较高或较低的温度场中，而是工作在正常的温度或测温仪允许的条件下。一般情况下可测量负几十度到
6、三千多度。测温速度快：即响应时间快。只要接收到目标的红外辐射即可在短时间内定温。,3.1 红外测温仪特点,准确度高：红外测温不会与接触式测温一样破坏物体本身温度分布，因此测量精度高。灵敏度高：只要物体温度有微小变化，辐射能量就有较大改变，易于测出，可进行微小温度场的温度测量和温度分布测量，以及运动物体或转动物体的温度测量。使用安全及使用寿命长。,3.1 红外测温仪缺点,易受环境因素影响（环境温度，空气中的灰尘等）。对于光亮或者抛光的金属表面的测温读数影响较大。只限于测量物体外部温度，不方便测量物体内部和存在障碍物时的温度。,4 红外摄像法测量切削温度,本世纪五十年代以来，根据使用的测量仪器的不
7、同，利用红外技术测量温度场的方法可分为两类：红外点温度计法和红外照相法。使用红外点温度计，被测点的温度是一定面积上的平均温度，但当前国内外被测点的面积还不能足够小，而且测量点在切削区的坐标位置不易确定。红外照相法从原理上来说是比较理想的测量方法，可以得出完整的切削区温度场。但是测温系统的响应速度太不理想，在实际应用中有较大局限性。,4 红外摄像法测量切削温度,八十年代后期发展起来的红外摄像法较上述两种方法具有更好的准确性和更快的响应速度。工作原理是：物体发出的红外辐射经过摄像镜头后打在红外摄像机内部的红外光敏元件板上，该板将辐射能转化成电压信号，由于温度场内不同温度的各点向外辐射红外线的强度不
8、同，所以经过红外敏感元件板后得到的电压信号的强弱也不同，当这些不同强度的电压信号在摄像机内部转化成为全电视信号并反映在电视监视器上时，就会由于其灰度值的不同而产生亮度依次变化的温度场图像。,4 红外摄像法测量切削温度,亮度较大的地方，表示该处的温度较高；反之，表示温度较低。这些原始的温度场图像通过录像机记录在磁带上。初期录像结束后，还要对原始图像进行图像处理，主要工作是在带有彩色监视器的个人计算机上完成。原始图像经过图像接口进入计算机，进行滤波、伪着色等处理过程，根据亮度不同，设置16个灰度值，将灰度值相等的区域着上同一种颜色，不同颜色代表不同的温度值，这样就可以得到温度场图。,4 红外摄像法
9、测量切削温度,现场测量时，将红外摄像机对准处于切削状态的刀具，在刀头的下方加一个平行光源，这样可使温度场处于刀具轮廓的背景中，同时也既反映了温度场，又反映了温度场在刀具上的相对位置。如图4.1所示：,4 红外摄像法测量切削温度,图4.1 红外摄像法测温装置,5 红外摄像法测量切削温度,为了准确地测定刀具刃区温度场，避免切屑干扰，在工件的外圆上磨出一个平面，刀具与工件相对运动到这个平面时，切屑断开，刀头全部露出，这时就可以测得刀具刃区温度场了。,5 热像仪法实测陶瓷刀具切削区温度场,采用红外热成像技术接收物体发射的辐射热，并转化为数字信号以红外信号输出，同时可进行数据存储和处理，可测较高的温度、
10、导热系数较小的物体及很微小面积上的温度，并且精度高、响应快，不破坏被测温度场，因此适宜陶瓷刀具切削区的高温动态测试。图5.1是热像仪测定陶瓷刀具前后刀面温度场的示意与装置图。,5 热像仪法实测陶瓷刀具切削区温度场,图5.1 热像仪测定陶瓷刀具后刀面（a）前刀面（b）的示意与装置,5 热像仪法实测陶瓷刀具切削区温度场,图5.1(a)中，测量后刀面温度时，在夹持刀具的刀架(5)上引出一纵向底板(6)，其上固定放置热像仪探头(7)，使得探头与刀具相对位置不变而同时移动。另外，切削过程中，刀具后刀面势必被切削部位挡住(AB段），探头无法探测。为此，将工件预先切除颈部(N),当刀具切削至颈部A点（测试点
11、）的瞬时，刀面露出，探头即可测出其辐射温度。,5 热像仪法实测陶瓷刀具切削区温度场,图5.1(b)中，测量前刀面温度时，在进给机构处引出一横向底板(14)，其上焊有一支架(13)，支架上固定放置热像仪探头。底板可随纵向进给机构一同移动，使得热像仪探头可与刀具同时移动。另外，切削过程中，不断流出的切屑会挡住刀具前刀面，探头无法探测，因此也要预先切出颈部(N)。当刀具切削至颈部A点时，不再产生切屑，刀面露出瞬间，探头从刀具正上方可测出前刀面辐射能。,6 红外照相法,采用红外照相法的车削温度测量装置，如图6.1所示。,图6.1 红外照相法测温装置示意图,6 红外照相法,测温装置安装于车床横溜板的机座
12、板上，使刀具、照相机相对于工件排成一线；照相机配有专门的红外辐射聚焦调节装置；刀夹可使照相机镜头尽可能接近工件表面，为避免切屑溅射的影响，照相机镜头用有机玻璃罩子罩住，镜头与工件表面之间设计了挡屑板，透过板上的小孔可对刀具和工件表面摄影（采用高温红外胶卷）。,6 红外照相法,测量温度前，首先用热电偶进行定标校准，即热电偶由电加热并在不同温度下照相，所需曝光时间通过预试验确定，显影后的胶卷用显微光密度计读数，得到高温红外胶卷在不同曝光时间下光密度与温度的对应关系。根据此对应关系，可以确定切削过程中工件或刀具的温度。用红外照相法测定的切削温度可用于研究切削温度的分布情况。红外照相法近距离但非接触测
13、量，所以可以用来测量薄壁圆筒回转件。,7 红外测温注意事项,发射率,随发射率变化(非灰体),=0.9(灰体),相对能量,波长(微米),=1.0(黑体),发射率为物体的辐射度和与该物体具有相同温度的黑体的辐射度之比,7 红外测温注意事项,发射率,发射率决定了实际物体的红外辐射特性,“理想黑体”,“实际物体”,既是完全吸收体也是完全发射体,部分能量被反射部分能量透过,发射率=1,发射率 1,I,I,I,I,R,A,T,E,E,E,E,7 红外测温注意事项,发射率的分类材料发射率按光谱范围分为全波发射率、光谱发射率和在某光谱范围的积分发射率。根据辐射方向不同分为半球发射率和定向发射率等；定向发射率中
14、应用最多的是法向发射率。这些不同的划分可以组合出多种不同发射率参数。常见的发射率有四种：半球全波发射率为物体的辐射出度与同温度下黑体的辐射出度之比。,7 红外测温注意事项,发射率的分类定向全波发射率为物体在指定方向的辐射亮度与同温度下黑体的辐射亮度之比。半球光谱发射率为物体的光谱辐射出度与同温度下黑体的光谱辐射出度之比。,7 红外测温注意事项,发射率的分类定向光谱发射率为在指定方向的物体的光谱辐射亮度与同温度下黑体的光谱辐射亮度之比。光谱发射率通常多指定向光谱发射率，即在指定方向上物体的光谱辐射亮度与同温度下黑体的光谱辐射亮度之比。,7 红外测温注意事项,发射率的设定按照测量物理量划分，发射率
15、测量方法可分为两大类：直接测量方法和间接测量方法。直接确定物体的发射率的方法统称为发射率的直接测量方法。直接测量法即直接利用定义式，以黑体或已知反射率标准样品为参考标准建立装置，测量物体或材料的辐射量信号与同样条件下的黑体之比为发射率。直接测量法又可以分为量热法和辐射测量法。,7 红外测温注意事项,发射率的设定量热法为通过测量样品表面的辐射能量利用能量平衡得到发射率，一般多用于半球积分发射率的测量。由于其需要精确知道表面的辐射热量，对环境（一般要抽真空）、控温和测温水平要求较高，测量时间长，而且能量平衡状态的不容易确定和保持也为测量带来困难。因此一种同样基于量热法的非稳态方法提出，即温度衰减法
16、。,7 红外测温注意事项,发射率的设定温度衰减法是将一个表面积较大而质量很小的样品悬挂在具有冷却内壁的真空室内，并加热到显著高于室内壁温度后停止加热，测量样品冷却速度。从冷却速度和已知材料样品的表面积、质量、比热计算辐射热损耗速度，从而求出半球积分发射率。,7 红外测温注意事项,发射率的设定辐射计法是直接利用发射率定义，以黑体或标准样品为参考标准建立装置，测物体或材料的发射率。这种方法的好处是直接利用了发射率的定义式，得出物体或材料的发射率，物理意义明确、简单，避免了其他方法在计算推导发射率过程中引入其他参数不确定度的影响。但同时它的难点是待测样品表面的温度很难测准，即很难保证黑体和待测样品处
17、于同一温度。辐射计法多用来测量定向发射率。,7 红外测温注意事项,7 红外测温注意事项,发射率的设定以上这种通过测量反射率得到发射率的方法统称为发射率的间接测量方法，一般应用于对低温样品的发射率测量。根据样品表面特性又可分为对镜面反射样品和漫反射样品的测量。对于漫反射样品，一般应用积分球法，通过先测得材料的反射率，然后根据不透明物体发射率同反射率的关系和已知发射率标准样品的发射率，求得待测材料的发射率。,7 红外测温注意事项,发射率的设定本文介绍采用直接测量方法选择光栅单色仪方案，虽然测量难度大、测量速度较低，但原理经典、数学模型明确，测量光谱带宽窄，属绝对测量方法，对于建立高精度计量标准具有
18、理论优势。装置测量原理如下图所示：,7 红外测温注意事项,发射率的设定,7 红外测温注意事项,发射率的设定光谱发射率测量装置包括辐射源系统、光学系统、探测器、电测系统以及数据采集系统。辐射源系统包括被测样品加热器、黑体辐射源以及被测辐射体位移系统。光学系统包括光学平台、红外成像光路、单色仪。光电探测器将光信号转化成电信号送入电测系统的锁相放大器，通过数据采集系统采集、计算。,7 红外测温注意事项,发射率的设定实验时，首先通过温度控制器3将样品稳定在设定温度，样品加热装置1和黑体炉2通过电动平移台11的移动，黑体和样品先后经过光路，经镀金球面反射镜4、镀金平面反射镜5成像于光栅单色仪8的入射狭缝
19、，单色仪入口前方加滤光片转轮7；斩波器6置于单色仪入射狭缝前，以设定的频率反复遮挡光路，使光路以固定的频率通、断；,7 红外测温注意事项,发射率的设定光路通的时候探测器9探知的是黑体或样品的辐射，断的时候，探测器探知的是斩波器的辐射，由于斩波器以固定的频率遮挡光路，且黑体和样品的温度远高于室温，而斩波器的温度约为室温，所以探测器9上产生频率稳定的交流电信号；锁相放大器10对信号进行放大处理，数据采集系统进行采集、处理。通过转动电动转台12可以与样品表面法向成一定角度，测量其他角度定向光谱发射率。,7 红外测温注意事项,7 红外测温注意事项,7 红外测温注意事项,发射率设定误差造成的测量温度误差
20、,10,8,6,4,2,0,500,1000,1500,2000,2500,3000,8-14 微米,1.0微米,使用尽可能短的测量波长,%误差,目标温度(度)发射率误差假定为 10%,5.0微米,3.9微米,2.2微米,7 红外测温注意事项,影响发射率的主要因素,材料种类表面状况(抛光,粗糙,氧化,喷砂)表面几何形状(平面,凹面,凸面)表面理化结构状态（如沉积物，氧化膜，油膜等）,透过率(例如塑料薄膜)测量温度测量角度,一般条件下测量非金属物体表面温度可以选择固定发射率的红外测温仪。测量金属表面温度时应采用发射率可调节的红外温度计。,7 红外测温注意事项,确定温度范围,测温范围是测温仪最重要
21、的一个性能指标。每种型号的测温仪都有自己特定的测温范围。根据黑体辐射定律，在光谱的短波段由温度引起的辐射能量的变化将超过由发射率误差所引起的辐射能量的变化。因此，测温时应尽量选用短波较好。,7 红外测温注意事项,确定距离系数,探头到目标的距离,测量斑直径大小,2.50.1,7.50.3,140.6,210.8,331.3,mm英寸,00,251,502,763,1305,mm英寸,测斑直径,测量距离,=D:S,7 红外测温注意事项,确定距离系数,如果测温仪由于环境条件限制必须安装在远离目标之处，而又要测量小的目标，就应该选择高光学分辨率的测温仪。对于固定焦距的测温仪，在光学系统焦点处为光斑最小
22、位置，近于和远于焦点位置光斑都会增大。,7 红外测温注意事项,确定波长范围并不是所有红外波长都适宜测量温度，能够顺利通过大气的红外辐射主要有三个波长范围：m、3-5m、8-14m，通常把这三个波长范围称为红外测温仪的大气窗口。,在高温区，测量金属材料的最佳波长是近红外，可选用m。低温区测量一般选择8-14m波长的红外测温仪。其他温区可选用1.6m、2.2m和3.9m。,7 红外测温注意事项,大气窗口,大气中的水蒸气、二氧化碳等对某些红外辐射波段不吸收或极少吸收，有利于能量进行传输从而能被红外测温仪探测到。这样的特殊红外波段即为所谓“大气窗口”。,红外波段的选取要考虑“大气窗口”的影响,7 红外
23、测温注意事项,目标与视场,要确保目标大于仪器所测圆点的大小。目标越小，则应离得越近。如果精度非常重要，则要确保目标至少是测量圆点大小的两倍,最好 一般 差,探头,目标大于测量视场,目标等于测量视场,目标小于测量视场,7 红外测温注意事项,响应时间表示红外线测温仪对被测温度变化的反应速度，定义为到达最后读数的95%能量所需要的时间。对于运动的目标和快速加热的目标响应速度快是必需的。当温度变化缓慢时，响应速度快通常是不必要的。通常响应时间可调为最佳选择。,7 红外测温注意事项,环境条件,当环境温度高，存在灰尘、烟雾和蒸汽的条件下，可选用厂商提供的保护套、水冷却、空气冷却系统、空气吹扫器等附件。,探
24、头附件,7 红外测温注意事项,实际物体的测温示意图,目标,探头,R,T,E,环境温度,I,I=入射能量R=反射能量T=透射能量E=发射能量,7 红外测温注意事项,背景能量的影响,当背景温度高于目标温度时应进行背景温度补偿,背景温度,目标,7 红外测温注意事项,红外辐射测温仪的标定,红外测温仪必须经过标定才能使它正确地显示出被测目标的温度。如果所用的测温仪在使用中出现测温超差，则需退回厂家或维修中心重新标定。,8 双色测温仪,理论公式：T：目标温度A，B：常数：第一波段内发射率：第一波段内发射率：第一波段内目标能量：第一波段内目标能量：坡度（双色测温仪要调的是坡度而不是发射率）,8.1 如何利用
25、双色测温仪？,当测量视场被遮挡时，或物体快速运动，目标比较小，单色测温仪将产生测量误差。双色测温的原理：通过计算探测到的两个波长上的能量的比值，可以消除这种误差。比值随目标温度变化而变化。,波长(m),1.0,2.0,比值(El2/El1)T,0,0.1,0.2,0.3,0.4,0.5,0.6,0.7,0.8,0.9,1,相对辐射能量(E),l,l,1,2,8.2 双色与单色测量比较,读数误差(%)与能量衰减,读数误差(%),目标温度(度),100-10-20-30-40-50,100-10-20-30-40-50,500,1000,1500*,2000,2500,3000,+0.75%,-0
26、.75%,单色:50%能量衰减,单色:80%能量衰减,单色:90%能量衰减,单色:95%能量衰减,双色:0%-95%能量衰减,从右图可见,双色测量的误差很小,几乎不变化。而且双色只需要吸收物体5%的能量就可以测量到。不像单色红外测温仪需要吸收到物体95%的能量才能测量准确。,8.3 双色测温仪的应用场合,测量视场部分被遮挡烟雾，水汽，灰尘 不洁窗口目标比较小，小于测量红外测温仪的视场运动目标，尤其是快速运动的物体目标发射率低或变化,8.4 双色测温仪解决的问题,烟尘,不洁镜头,不洁窗口,部分视场被遮挡,小于视场的目标,9 测温仪的选型参数,测温范围/响应波长距离系数（测量距离与目标大小）发射率
27、设定测量精度/重复性响应时间瞄准方式（激光、透镜、视频、目视、瞄准灯/镜）现场环境要求/输出方式,10 红外测温仪的应用,红外测温仪具有非接触和快速测温的优点，按其使用的途径可分为两大类，首先是测量被测目标的表面温度，其次是利用测量物体的热分布状况判断物体与热分布有关的其他性质的间接测量。举例如下：钢铁工业中使用的红外测温仪占总量的一半以上。,10 红外测温仪的应用,在化学工业中，化工设备都在高温高压下工作，监测设备的热分布状况，判断设备工作情况，检测热管道接口热损耗、热泄漏故障是十分有用的。在动力、电力业方面，在运行及带电条件下检测动力设备、配电设备、电缆、电器接头等温度的异常，为设备的安全
28、运行提供一定的保障。在建筑业中，通过对建筑物墙壁、楼面、房顶热分布的检测确定它的绝热、裂漏隐患及缺陷的位置。确定工厂、建筑物热耗的管理。,10 红外测温仪的应用,在农业方面，土壤、植物表面温度的测量，粮食、种子烘干过程中温度的测量，农副产品如烟叶、茶叶加工过程中温度的监测，中草药烘干、制药温度的监测。在科学研究方面，由于红外测温仪的突出优点，使得在特殊试验条件要求一能提供测温手段，应用范围较广。,其他测温方法及其应用,1 接触式测量方法,接触式测量仪表比较简单、可靠，测量精度高。但是因为测温元件与被测介质需要进行充分的热交换，所以其需要一定的时间才能达到热平衡。接触式测量仪存在测温延迟现象，同
29、时受耐高温和耐低温材料的限制，不能应用于这些极端的温度测量。,1.1 膨胀式温度测量,原理：利用物质的热胀冷缩原理即根据物体体积或几何形变与温度的关系进行温度测量。热胀冷缩式温度计包括玻璃液体温度计、双金属膨胀式温度计和压力式温度计等。优点；结构简单，价格低廉，可直接读数，使用方便，非电量测量方式，适用于防爆场合。缺点：准确度比较低，不易实现自动化，而且容易损坏。,1.2 电量式测温方法,利用材料的电势、电阻或其它电性能与温度的单值关系进行温度测量，包括：热电偶温度测量、热电阻和热敏电阻温度测量、集成芯片温度测量等。热电偶的原理是两种不同材料的金属焊接在一起，当参考端和测量端有温差时，就会产生
30、热电势，根据该热电势与温度的单值关系就可以测量温度。热电偶具有结构简单，响应快，适宜远距离测量和自动控制的特点，应用比较广泛。,1.2 电量式测温方法,热电阻是根据材料的电阻和温度的关系来进行测量的，输出信号大，准确度比较高，稳定性好，但元件结构一般比较大，动态响应较差，不适宜测量体积狭小和温度瞬变区域。热敏电阻是一种电阻值随温度呈指数变化的半导体热敏感元件，具有灵敏度高、价格便宜的特点，但其电阻值和温度的关系线性度差，且稳定性和互换性也不好。,1.2 电量式测温方法,石英温度传感器是以石英晶体的固有频率随温度而变化的特性来测量温度的。石英晶体温度传感器稳定性很好，可用于高精度和高分辨力的测量
31、场合。随着电子技术的发展，可以将感温元件和相关电子线路集成在一个小芯片上，构成一个小型化、一体化及多功能化的专用集成电路芯片，输出信号可以是电压、频率，或者是总线数字信号，使用非常方便，适用于便携式设备。,1.3 接触式光电、热色测温方法,原理：接触式光电测温方法主要是指通过接触被测对象，将温度变化引起的热辐射或其他光电信号引出，通过光电转换器件检测该信号，从而获得测温结果的方法。优点：这种方法不像电量式测量方法容易受到电磁的干扰，可以在电磁环境下进行温度测量；可以避免像非接触式辐射温度计那样容易受到被测对象表面发射率和中间介质的影响。缺点：会干扰被测对象的温度，带来接触式测温方法引起的一些误
32、差。,1.3.1 光纤式温度测量技术,光纤式温度测量技术近年来发展迅速，根据光纤所起的作用，可分为两类：一类是利用光纤本身具有的某种敏感功能测量温度，属于功能型传感器；另一类，光纤仅仅起到传输光信号的作用，必须在光纤端面配合其他敏感元件才能实现测量，称为传输型传感器。基于不同的原理，有很多种光纤温度传感器，适用于不同的测温场合。,1.3.2 热色测温方法,热色测温方法主要通过示温敏感材料的颜色在不同温度下发生变化来指示温度的，示温漆和示温液晶都属于热色测温。示温漆可以测量运动物体或其他复杂条件表面的温度分布，使用简单方便，缺点是影响判别温度结果的因素比较多，如涂层厚度、判读方法、样板和示温颗粒
33、大小等。示温液晶的主要成分是胆甾醇类，这类液晶在一定的温度范围内，其颜色随温度灵敏地变化，改变晶的成分，可以灵活调整其测温量程和测温灵敏度。,2 非接触式测温方法原理及特点,非接触式仪表测温仪是通过热辐射的原理来测量温度的，测温元件不需要与被测介质接触，测温范围广，不受测温上限的限制，也不会破坏被测物体的温度场，反应速度一般也比较快；但受到物体发射率、测量距离、烟尘和水汽等外界因素的影响，其测量误差较大。,2.1 声波、微波测温方法,声学测温是基于声波在介质中的传播速度与介质温度有关的原理实现的，因此只要测得声速，就可以推算出温度。可以通过直接测量声波在被测介质中的传播速度，也可以测量放在被测介质中细线的声波传播速度来得到温度。这种方法可以用于测量高温气体或液体的温度，在高温时会有更高的灵敏度。微波衰减法可以用来测量火焰温度，其原理是当入射微波通过火焰时，与火焰中的等离子体相互作用，使出射的微波强度减弱，通过测量入射微波的衰减程度可以确定火焰气体的温度。,谢谢大家！,
