半导体器件半导体工艺介绍光刻.ppt

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1、半导体工艺简介,物理与光电工程学院张贺秋,参考书:芯片制造半导体工艺制程实用教程,电子工业出版社,赵树武等译,2004-10,图形化工艺,图形化工艺目的,1、了解各个光刻工艺步骤的作用。2、画出各个光刻工艺步骤后晶圆的截面图。3、解释正胶和负胶对光的反应。4、解释在晶圆表面建立空洞和岛区所需要 的正确光刻胶和掩膜板的极性。,图形化工艺光刻,图形化工艺是半导体工艺过程中最重要的工序之一。图形化工艺包括光刻、光掩膜、掩膜、去除氧化膜、去除金属膜和微光刻。这个工艺的目标有两个:1、在晶圆中和表面上形成图形,图形的尺寸在集成电路或器件的设计阶段形成;2、将电路图形精确的定位在晶圆的表面。光刻是一种复印

2、图形与化学腐蚀相结合的综合性技术。它将光刻版上的图形精确地复印在涂有感光胶的基片上。然后利用光刻胶的保护作用,对基片进行选择性腐蚀,从而在基片上得到与光刻版相应的图样。,1、基片前处理2、涂胶3、前烘-软烘焙4、对准-曝光5、显影-清洗6、后烘(坚膜、硬烘焙)7、腐蚀-刻蚀8、去除光刻胶,光刻步骤:,以SiO2 做掩膜为例,1、去油:甲苯、丙酮、乙醇依次超声5-10min,去离子水冲洗10遍以上。脱水烘焙,2、涂胶:旋转式、蒸气式、浸涂,光刻胶又称感光胶,一般由感光剂、增感剂和溶剂所组成;感光剂是一种对光特别敏感的高分子化合物,当它受到适当波长的光照射时,能吸收一定的光能量,使之发生交联、聚合

3、或分解等光化学反应,使光刻胶改变性能。,胶膜均匀,达到预定的厚度,无灰尘等。,正胶,负胶,光刻掩膜板,透光区域,不透光区域,岛,空洞,光刻掩膜版,常用的是旋转法,它又分为旋转板式和自转式,胶膜的厚度由转速和胶的浓度来调解。旋转板式涂胶法的缺点是胶膜厚度不够均匀,多余的胶飞溅易沾污衬底。采用自转式涂胶法能较好地克服上述缺点。,自旋式涂胶方式中根据喷胶的方式不同,又可分为三种模式。1.静态涂胶:将晶圆吸附在针孔吸盘上,在不旋转的状态下,滴胶,光刻胶自然散开满晶圆,再经旋转获得均匀的光刻胶膜。2.动态喷洒:晶圆在500r/min的转速下,光刻胶被喷洒在晶圆表面。低速旋转是帮助光刻胶最初的扩散。之后,

4、高速旋转得到均匀的光刻胶膜。3.移动手臂喷洒:动态喷洒喷胶时,喷洒手臂从晶圆中心向晶圆边缘移动,特别适合大直径晶圆。高速旋转可以使光刻胶在晶圆边缘堆积,称为边缘珠。可以采用溶剂直接喷洒在晶圆边缘和背面的边缘附近直接去除。,3、前烘软烘焙,前烘就是将涂好胶的样品进行加热处理。前烘的目的是促使胶膜体内的溶剂部分挥发,使胶膜干燥,以增加胶膜与衬底的粘附性和胶膜的耐磨性。在曝光对准时,胶膜与掩膜版不易擦伤、磨损和沾污,同时,只有在胶膜干燥后曝光,化学反应才能充分进行。,前烘的方法有两种:一种是在60100恒温干燥箱中烘十至十五分钟,具体条件还要视胶的种类和性质而定;第二种是用红外灯烘焙,即把衬底放在干

5、净的容器中,然后用红外灯从容器底照射几分钟。此法的优点是胶膜的干燥从金属膜与胶的交界面开始,溶剂逐渐从内部向表面挥发,干燥效果较好而且烘焙时间短。,影响前烘效果的主要因素是温度和时间。烘焙不足时(温度太低或时间太短),在胶膜与底片交界面处,胶中的溶剂未充分挥发掉,在曝光时就会阻碍抗蚀剂中分子的铰链,在显影时一部分胶被溶除,形成浮胶或图形变形。烘焙过头时(温度太高或时间太长),会导致胶膜翘曲硬化,形成不易溶于显影液中的薄膜而留下来,显影不干净或胶面发皱、发黑,失去抗蚀能力。,4、曝光,曝光是指用汞灯紫外光对已涂敷光刻胶膜的底片进行选择性曝光。经过光照的胶膜发生光化学反映,改变了这部分胶膜在显影液

6、中的溶解度;显影后,光刻胶膜就呈现出与掩膜板相对应的图形。,可采用的曝光的方法包括:接触曝光法、投影曝光法、电子束曝光法、离子束曝光法和X射线曝光法等;,曝光时间过短,胶感光不足,光刻胶的光化学反映不充分,光刻胶的抗蚀性能就会降低,显影时部分胶会溶解;曝光时间过长,会使光刻胶不感光部分的边缘微弱感光,产生“光晕”现象,腐蚀后边界模糊或出现皱纹,使分辩率降低。,1.图形必须严格套准;2.胶膜表面与光刻版必须贴紧,若存在空隙,不应该照到光的地方也会受到光的照射,使图形产生畸变。,5、显影,将曝光后的底片放入用有机溶剂配制的显影液中,使未感光(或感光)部分的光刻胶溶掉,留下感光(或未感光)部分的胶膜

7、,从而显现出我们所需要的图形称为显影。,若显影时间不足,会使显影不干净,应该去除光刻胶的地方还会留下一薄层底膜,在以后的工序中会造成一定的影响如边缘毛刺、图形模糊等;若显影时间过长,由于显影时光刻胶发生软化、膨胀,显影液将从底片表面向图形边缘渗入,发生钻溶,使图形边缘变坏,有时会出现浮胶现象,严重的甚至大片剥落形成脱胶。,6、坚膜(后烘、硬烘焙),坚膜就是使胶膜进一步坚固;,底片经过显影之后,胶膜会发生软化和膨胀,影响胶膜抗蚀能力,因此在显影后,以适当的温度烘焙底片,去除显影液和水分,使胶膜坚固;同时,使光刻胶进一步聚合而提高胶膜抗蚀能力。坚膜方法与前烘一样有两种即烘箱坚膜及红外灯坚膜。,若坚膜不足,胶膜没有烘透,不够坚固,在腐蚀时会发生浮胶或严重侧蚀等。坚膜过度,则使胶膜因热膨胀产生翘曲和剥落,腐蚀时会发生钻蚀或浮胶。,7、刻蚀 湿法和干法,稀释的HF,8、去胶,

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