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1、射频调试方法与常见问题解决办法,好人,1,射频调试方法,1、粗略调试方法：目测法手触摸法铅笔或镊子一个一个拆掉电容、有值物料调试杆。2、细致调试方法：测试各点电源电压、电流、纹波等参数。测试各点spru、低噪等。点测法：测试某点的功率。,2,常见问题解决办法,强信号问题EVM问题SEN问题Spur问题Mask问题OTA问题速率差问题产测问题,3,强信号问题,2.4GHz的强信号标准是-20dBm；5GHz的强信号标准是-30dBm。（应用状态下）软件的解决办法（如AR9880）：art2_cus223_121221_1P0_BcommandrefDesignsCUS223cus223.ref硬
2、件确定：需要确定LNA在不同的功率下都是匹配，没有存在不线性的情况。,4,#strong signal parameters to be supportedset antctrlchain5g=0 x10#Unused set 2GHz.Xatten1Db=set 5GHz.Xatten1Db.Low=0 x18set 5GHz.Xatten1Db.Mid=0 x18set 5GHz.Xatten1Db.High=0 x18#Unused set 2GHz.Xatten1Margin=set 5GHz.Xatten1Margin.Low=0 x8set 5GHz.Xatten1Margin.M
3、id=0 x8set 5GHz.Xatten1Margin.High=0 x80 x=18=26(十进制）=外部LNA的隔离度+增益。Margin是指芯片里面的不同功率放大组合吗？,5,6,EVM问题,内置PA的,7,8,9,10,11,12,13,EVM差,外置PA的,14,EVM问题,15,SEN问题,16,SEN问题,LNA增益越高，SEN越好？噪声系数越小，SEN越好？高速率的接收灵敏满足802.11的要求，是不是可以推出低速率的接收灵敏度也满足要求，如不满足要求，为什么？外接LNA，SEN一般能提高多少？可以选用级联软件进行理论仿真（SCW.EXE）。,17,Spur问题,Spur问
4、题：传导问题与辐射问题。传导问题：1、二次谐波、3.2GHz、1.6GHz、23102390MHz、2483.52500MHz、45005150MHz、53505460MHz等。,18,19,20,21,22,23,24,25,26,27,28,Spur问题,在DB120 DEMO上测出有很多与40MHz倍频的spur（如图 2），该问题可以通过调整Gain Table（Atheros）来减轻。但是TL-WDN4800 1.0就改善不大。,29,30,TX链路上各放大器的分布如图 3。Atheros通过软件调节各放大器的增益使各自处于线性工作区对一些问题可以改善，比如上面提到的spur，还有频
5、谱的不对称等问题。,31,Spur问题,辐射出来的。1、一般是加屏蔽罩来进行抑制（TL-WN360G 1.0）和在Cable线上加磁环等。,32,33,34,2、加磁珠，让Spur被吸收掉或者找到辐射电感，通过更换电感或加滤波电容等。如TL-WN851N 1.0和TD-W89741N 1.0,35,Mask问题,Mask问题主要调试PA的偏置和匹配电路，如能把11b的1Mbps调试OK，其他就OK。在06年之前，TP的产线是通过测试mask来代替EVM的，两者有一定联系。,36,OTA问题,OTA问题：天线本身的性能、级联电路的性能、晶体的PPM（TL-WDR7500 1.0）、两路同时工作时
6、的EVM问题（TL-WDR4300 1.0）、环路稳定性（TL-WDN6300 1.0）,37,速率问题,速率问题：天线本身的问题、级联电路的EVM、环路稳定性、USB接口的共模与差模干扰、低噪、USB 3.0的远距离影响、如mimo产品（两路同时工作的EVM或者SEN的）、软件的driver问题。,38,39,PPM问题,不管芯片是否有PPM校准功能，都需要拿0ppm的晶体进行调试，如有校准功能，使调整值处于中间。,40,产测问题,Auto run的功率设置，功率不准（比最大功率大10dB)。温度补偿是否开启，功率不准的情况。校准的功率范围，现在的产测软件设置的大多数是+/-0.5dB，如目标功率为13，现在测试数据为13.6，就降1dB，那功率又调到12.6.不能连续测试，工程师做产测软件时，没有清除上次的校准信息。,41,低功耗的解决办法,DUT收到信号超过-30dBm时，DUT就把发射端信号减8dB。低功耗一种措施。低功耗的做法。,42,谢谢大家！,
