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1、TR-518测试原理,德律泰電子(苏州)有限公司,TRI,ICT,開/短路學習凡兩兩之間電阻 25的針號歸入一個SHORT GROUP,反之亦然.OPEN25 SHORT,OPEN/SHORT測試原理 示意图,l 開路測試(在SHORT GROUP內的点与点之间進行)OPEN FAIL55 OPEN PASS,l 短路測試(在不在同一SHORT GROUPS的点与点之間進行)SHORT PASS5 SHORT FAIL,open/short测试原理,基本測試原理:1開路及短路(Open/Short)的量測原理 ICT提供一個直流電流源到兩個量測點，以確認兩個量測點之間的阻抗值。电脑會把兩測試針
2、點之間的阻抗值分為四組:阻抗值X55X2525X55X55機器辨視值0、1、2、3螢幕顯示值1、1、3、4在開路/短路學習時，會將測試針點之間阻抗小於25的點自動聚集成不同的短路群(Short Groups)。需要學習的時間隨著量測點數的增加而增加。自我學習時必須確定電路板是良好的，否則學習到的資料可能是錯誤的。TR-518FE可以在測試參數做開/短路區間設定1.2.3.選擇開/短路區間。開路測試(Open Test)時，在任一短路群(Short Group)中任何兩點之阻抗不得大於55，否則即是開路測試不良(Open Fail)。短路測試(Short Test)時分成三種情況，若有以下其中之
3、一的情況發生，則判定短路測試不良(Short Fail)：1、在短路群中任何一點與非短路群中任一點之阻抗小於5。2、不同短路群中任兩點之阻抗小於5。3、非短路群中任兩點之阻抗小於5,GUARDING原理,GUARDING测试图,电阻测试,一、固定電流源(Constant Current)對於不同的電阻值，ICT本身會自動限制一個適當的固定電流源做為測試的訊號源使用，如此才不會因使用者的選擇不當，因而產生過高的電壓而燒壞被測試元件，故其測試方式為：提供一個適當的固定電流源I，流經被測電阻R，再於被測電阻R兩端，測量出Vr，由於Vr及I已知，利用Vr=IR公式，即可得知被測電阻R,電阻測試 系统依
4、标准值（STD_V）选取相应大小的电流源。被測電阻愈大,測試電流須更小,以確保量回被測電阻兩端的電壓VO在規定的範圍(0.151.5V)之內.,模式(Mode0)见右图,低固定電流源(Low Constant Current)模式(Mode1)該測試方法和上述固定電流源模式一樣，只是在被測電阻於電路上若有並聯(Parallel)著二極體(Diode)或是IC保護二極體(IC Clamping Diode)時，對於該電阻兩端測量電壓值若超過0.5V至0.7V左右時，因為二極體導電的關係，該電阻兩端電壓將被維持在0.5V至0.7V左右，固無法量測出真正的Vr值，為解決此問題，只要將原先的電流源降低
5、一級即可,快速(High-Speed)測試模式(Mode2)假如被測電阻並聯一顆0.3F以上的電容時，若使用上述固定電流源測試時，需要花費很長的時間，讓電容充飽電荷，再去測量出Vr值，而得知R值，如此測試方法將增加ICT測試時間，為解決此問題，可以將固定DC電流源改為0.2V DC固定電壓源，直接接於被測電阻兩端，如此電容將會在短暫時間內使其Ic=0，故電路上所有電流將流經電阻R。其測量方式為：提供一個0.2V DC電壓源，當Ic=0時，再測試流經電阻端的Ir，因為V=IrR，而V及Ir已知，即可得知電阻R值,交流相位(AC phase)測試模式(Mode3、Mode4、Mode5)由於電路設
6、計關係，被測試電阻，將會並聯著電感等元件，對於此電阻值測量，若使用固定電流源方式測試，電阻值將會偏低而無法測量出真正的電阻值，故使用AC電壓源，利用相位角度的領先，及落後方式而得知被測電阻值。故其測試方式為：提供一個適當頻率的AC電壓源V，同時在被測電阻兩端測量出Iz，由於V=Iz*Zr1，因為V及Iz已知，故可得知Zr1，又因為R=Zr1*cos，而Zr1及cos已知，故即可得知被測電阻R值,電容測試原理,1、固定AC電壓源測試模式(Mode0、Mode1、Mode2、Mode3)對於不同阻抗的電容，ICT本身會自動選擇一個適當頻率(frequency)的AC電壓源，作為測試使用，其頻率計有
7、：1KHZ，10KHZ，100KHZ，1MHZ，對於極小阻抗值的電容將需要較高頻率的AC電壓源，再測量被測元件兩端的電壓源，由於V=Ic*Zc，而V及Ic已知，故得知Zc=1/2*f*c，又因f已知，故即可得知電容C,右图固定AC電壓源測試方法),2、向位(AC PHASE)測量模式(Mode5、Mode6、Mode7)對於電容的測試，若並聯電阻時，則利用相位角度的落後方式來測量出阻抗值，故其測量方式為：提供一個適當頻率的AC電壓源並在被測元件兩端測量出Iz，由於V=Iz*Zrc，而V及Iz已知，故可得知Zrc，又因Zc=Zrc*sin，而Zrc及sin已知，故可得知Zc，又因Zc=1/2*f
8、*c，而Zc及f已知，故即可得知電容C值,右图AC相位測試方法,DC固定電流(DC Constant Current)測試模式(Mode4,Mode8)對於3F以上電容值的電容，若使用上述AC電壓源模式測試時，將需要較低頻率來測試，而增加ICT測試時間，故可利用電容充電曲線的斜率方式得知電容值，故其測試方式為：提供一個固定的DC電流源，並在T1時間測量電容兩端的V1值，及T2時間測量電容兩端的V2值，由於Slope=(V2-V1)/(T2-T1)=V/T，而V1、V2及T1、T2已知，故得知Slope，又因Slope*C=Constant，VTV2V1T1 T2VcCISlope=(V2-V1
9、)/(T2-T1)=V/TSlope*C=Constant而Slope及Constant已知，故即可得電容C值,上图DC固定電流測試方法,JUMP測試原理,ICT提供一個0.1mA的直流電流源量測兩測試點之間的阻抗值，測量出Vx，由於Vx及I已知，利用Vx=IR公式，即可得知被測兩端之量測電阻值(簡稱X)，系統把兩測試點間之阻抗值，於不同MODE，分別顯示如下,二極體(Diode)測試原理,測量方式為：提供一個3mA或20mA的固定電流及0V-10V可程式電壓源(Programmable Voltage)直接加在二極體兩端，並輸入該二極體正向導通所需電壓來測試,左图为二極體測試原理,齊納二極體
10、(Zener Diode)測試原理,齊納二極體的測試原理是量測其崩潰電壓，與二極體的差異性是在測試電壓源不同，其電壓源為0V-10V及0V-48V可程式電壓源兩種,齊納二極體測試原理,電晶體(Transistor)測試原理,對於電晶體測試需要三步驟(Step)測試，其中(1)B-E腳(2)B-C腳測試是使用二極體測試方式(3)E-C腳使用Vcc的飽和電壓值及截止電壓值的不同，來測試電晶體是否反插。電晶體反插測試方法為：在電晶體的B-E腳及E-C腳兩端各提供一個可程式電壓源，並測量出電晶體E-C腳正向的飽和電壓值為Vce=0.2V左右，若該電晶體反插時，則Vce電壓將會變成截止電壓，並大於0.2
11、V，如此即可測出電晶體反插的錯誤,LED,此時,將ACT_V及STD_V均設為2V或更高,這樣可看到LED發光.不然,要適當延時,亦可看見發光.,電容極性測試,電容極性測試的另一方法是三端測試,須在上方加一探針觸及殼體.在電容的正負極加載直流電壓,至充飽后測量殼體電壓.由于正負極與殼體間的阻抗差異,故對于插反的電容所測量到的殼體電壓會與正確時不同.據此可判別電容的極性.,測試程式PartNameAct_VStd_VHlim%Llim%ModeTypeHipLopDlyG-P1CE10.20.12V-1208PX1305CE110.20.001V-12018PX1113015Act_V：Sour
12、ce voltage，建議值為 0.2VStd_V：Sense Voltage(Threshold)，依實際Debug後決定Hlim：固定為 1(Don,t care)Llim：建議值為20，可依實際Debug後決定Mode:固定為 8或18(適用於防爆電容)Type：固定為 PXHip：電容負端(source pin)Lop：電容正端Dly：依實際Debug後決定G-P1：Sense Pin,FET,以N型溝道增強型絕緣柵場效應管(MOSFET)為例.7.1 由于柵極(g)處于不導電(絕緣)狀態,通常,源極(s)與襯底連在一起,故在漏極(d),源極(s)存在一PN結,可將其當作D來測.7.2
13、三點測試,類似三極體的三點測試方式.,IC,大部分IC在I/O PIN中,會加上保護DIODE.故可通過測其DIODE來判定插反,空焊,漏件,開/短路以及IC保護DIODE不良等情形,但對IC內部的電性不良則必須仰賴功能測試,TestJet測試原理(Lead Frame的電容效應),如图（3.21）所示，IC之內部主要結構為晶片本身(Die)、細小的金線(Bond Wire)、較粗的連接線(Lead Frame)、以及外接焊腳的接點(Solder Joint)。如圖(3.22)所示，在IC上蓋一Sensor Plate，則IC內Lead Frame與Sensor Plate之間會產生一微小的電容效應，此時若在IC測試腳上輸入一300mV、10KHz信號，則時信號透過此電容效應由Lead Frame Coupling 到Sensor Plate上，Sensor Plate接收此信號經濾波及放大後送給系統作處理；若此測試腳焊接不良(Solder Open)，信號將無法傳到Lead Frame，系統接收到的信號將趨近於零。,
