《相位误差分析.docx》由会员分享，可在线阅读，更多相关《相位误差分析.docx（6页珍藏版）》请在三一办公上搜索。
1、相位误差分析1. 什么是相位误差 相位误差是手机发射信号经过解调后的相位和理想相位之间的差别。一般相位误差和频率误差对我们的测量仪表来说，是同时测量得到的。详细测量方法、条件和测量计算步骤请参考 ETSI ts15101001 13.1 这一章节。 2. 测量的目的和理论 相位误差是一项基本的衡量GSM调制精度的指标，揭示了发射机调制器的性能。相位误差有问题，一般表明I/Q基带产生器，滤波器和发射机电路里面有问题。功率放大器的一些问题也能够导致很高的相位误差。在实际的通信系统中，不好的相位误差能够导致接收机无法正常解调, 信号的相位上面携带着有用信息,如果相位被打乱了,接收机解调出来的信息肯定
2、会出现问题。根据3GPP的规定,相位误差( Phase Error)的峰值不能超过20度,RMS不能超过5度。在网络信号不好的时候，这种表现更加严重，影响到了信号的覆盖范围。这一点大家可以理解：GSM本身是一个调相系统；信号的相位上面携带着有用信息。如果相位被打乱了，接收机解调出来的信息肯定会出现问题的。 下面的图片详细讨论相位误差的理论： 以上图片显示了仪表如何计算相位误差的。 1. 接收机对发射机的输出进行下变频后，然后开始采样。这样做的目的是为了捕捉到实际的相位轨迹。 2. 接着接收机解调和计算出理想的相位轨迹。 3. 将实际的相位轨迹和理想的相位轨迹相减，就得到了误差信号。 4. 误差
3、信号的倾斜度就是频率误差。 5. 误差信号的波动定义为相位错误。一般的说法是均方根(RMS)和峰值。以下图片标注出了手机的测量标准要求。详细的标准请参考ETSI TS15101001 13.1这一章节。 3. 实际的测量 以上是从 CMU200 通信综合测试仪截取下来的图片。分别测试了频率误差，相位误差的均方根和峰值，原点偏置和 IQ 信号幅度不平衡。 射频发射机基础 传统发射机的架构 模拟基带产生的IQ信号经过射频发射机转换到射频信号，然后由天线发射出去。因此，射频发射机扮演着将基带信号转换成射频信号的角色。 射频发射机的设计必须注意下面的几点： 1. 调制精确度。射频发射机的调制精度决定了
4、发射机的信号品质好坏，因此会影响到接收机解调之后的误码率。 2. 线性度。电路的非线性会让发射信号失真，进而导致接收机解调后的误码率升高。 3. 增益的动态范围。射频发射机必须有足够的动态范围，以避免接收机饱和。在3G WCDMA系统中，发射机必须有1dB的增益解析度，而且动态范围必须大于80dB。现在 我们用的GSM手机中，增益解析度为2dB。动态范围是30dB左右。传统的发射机为两次上变频发射机结构。包含变频器，通道选择滤波器，中频可编程放大器，驱动放大器和信道选择滤波器等等。变频器的作用是将模拟基带信号转换成中频信号。如下图所示： 数学表达式如下： I=Gcos(wt+q)+DQ=cos
5、(wt+90)LO=cos(wct)RF=Gcos(wt+q)cos(wct)+Dcos(wct)-cos(wt+90)sin(wct)其中，G 是 IQ 振幅差异，是相位误差，D 是直流误差。 如前面所述，调制器的精度决定了发射机的信号的品质好坏。当输入的基带IQ信号在相位和幅度上面存在误差时，会在调制器的输出端产生邻信道泄漏。比如我们经常碰到的调制谱的问题。这里不展开讨论。 根据上面的公式推导，当输入信号在DC方面存在误差的时候，会产生载波泄漏(Carrier leakage)。这一点我们在后面分析相位误差产生机理的时候，会详细地谈到。 以上两方面都会对调制精度产生影响。所以我们在电路设计
6、的时候，必须要降低IQ信号之间的相位、幅度和直流误差。 回到上面传统的发射机结构来，传统的二次变频结构有下面的缺点： 使用中频通道选择器降低了集成度。 耗电大。 信号输出无法进行更好的杂散抑制。 为了克服上面的缺点，偏置锁相环结构的发射机就应运而生。 偏置锁相环发射机架构 如上图所示，基带信号经过一次上变频，变成中频信号。中频信号经过限幅后，通过锁相环路对一个电压控制振荡器进行相位的调制，从而产生发射信号。 这种结构能够降低发射机的功率消耗，输出射频信号中杂散比较低，同时更适合IC集成设计。 当然，这种结构也有自己的缺点，仅仅能够用于恒定包络系统。另外因为偏置锁相环受到了环路带宽的限制，只能用
7、于窄带通信系统。 偏置锁相环路发射结构广泛用于GSM系统中。 直接上变频发射架构 如下图： 基带信号经过混频器直接调制到射频。非常简洁。这样省去了中频选择滤波器和中频混频器。整个发射机能够被整合到一个芯片上面。发射机的增益可以通过BBPGA 和混频器增益来控制。 采用这种结构的发射机载波带宽要比偏置锁相环结构大，并且适用于非恒定包络系统。当然，这种结构也有自己的缺点。由于本振信号和发射机载波频率相同，本振信号泄漏到混频器输出端后，无法虑除。因此载波泄漏比较严重。 过大载波泄漏造成接收机无法进行解调。下面简单分析一下EDGE 模式下的载波泄漏情况。当系统需要很大的动态增益范围时候，这个问题严重。
8、当发射机功率降低的时候，泄漏的载波功率不会降低。因此当泄漏的载波和发射信号功率的比值到达一定程度的时候，接收机根本无法解调出信号来。为此，直接上变频发射机结构必须搭配载波抑制自动校正回路来使用，这样才能维持载波泄漏和发射功率之比为固定值。 假设I=acos(wt+q)+D，Q=bsin(wt), 其中a为I信号的幅度, b为Q信号的幅度, q为I信号的相位偏移, D为I信号的直流偏移。 则=Isin(wt)+Qcos(wt)=acos(wt+q)+Dsin(wt)+bsin(wt)cos(wt) cccc=acosq+bacosq-bsin(wc+w)t+sin(wc-w)t+ 22asinq
9、cos(wc+w)t-cos(wc-w)t+Dsin(wct)2从以上分析可以看出,若I/Q信号的幅度不相等,且I信号相对Q信号有相位偏移,即ab,q0, 则在输出的信号中会带有(wc-w)的频率分量,使得GSM信号的调制谱指标恶化,导致相位误差变大;若q0,则在输出信号中会增加新的频率分量,会对输出调制谱造成恶化;若D0,则在输出信号中会引入本振频率,也会对输出调制谱造成恶化,导致相位误差变大。以上这些因素, 在实际设计的时候并不容易的调试,但是可以通过走线来避免出现这些情况。比如我们的I/Q信号线, I+和I-,Q+和Q-必须按照差分线来走,并且周围必须要有地线对其进行保护,与一些高频的数
10、字线保持一定的隔离度, 这样就基本可以保证I/Q信号的不会受到干扰。 相位误差故障分析和调试 以上我们讲了很多结论性的东西，往往对一件事情直接描述后，给出结论。这样可能让大家比较困惑。比如说，为什么直接上变频结构就比偏置锁相环路结构在电路设计上面挑战更大？相位误差到底是怎么出现的？由于理论水平有限，只能这样敷衍一下了。下面就一些电路设计的实际问题进行举例分析。希望能够拓宽大家的工作思路。相位误差测试我们在实际工作当中分为传导测试和辐射测试两种。以下叙述中不分开讨论。另外 TC UAA3536 已经很少有人使用了。后面所有的讨论只针对直接上变频系统和相位误差相关的几个因素如下: 信号直流分量不平衡 电路 收发器 TC 和功率放大器 PA 之间的匹配滤波 功率放大器输出匹配 天线开关 ASM 控制线的退耦 发射功率通过接收回路的功率回馈 辐射测试下，天线失配问题等等情况 和屏蔽罩相关的一些问题 的供电问题 稳定性 供电线退耦问题 下面的文字将会对以上列举的情况进行具体的电路分析，一些常用的电路调试方法也会被介绍到。
