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1、ASTM_E1030_-_金属铸件射线照相检验的标准试验方法 标准名E 1030-05金属铸件1射线检验方法标准此标准命名为E 103标准名后面的数字表示原始出版的年限或最新修订版本的年限括号内的数字表示再次批准发行的年限希腊字母e表示前版或再次批准的编辑更换13 此检验方法是用高灵敏度检验体积不连续性代替检验铸件体积对于不能代替材料体积的不连续性诸如裂缝或其它平面型指示可能用射线检验无法测出除非射线束对准不连续性平面方向鉴于此局限性可以考虑用适当的射线检验法结合其它无损检验方法以保持对这种不连续性检验的可靠性附加的无损检验须经过买方和供应商的共同协定14 此标准中规定的射线检验足以保证缺陷的
2、检测须声明的是对于特殊应用须制定更为严格的特殊的检验方法这种情况下须通过买方和供货商协商确定更改使用射线检验方法见5部分15 以英寸-磅为单位的值为标准值16此标准中并未写明任何与其使用相关的安全问题使用此标准前使用者有责任进行相应的安全和健康培训并建立规章制度2 参考文件21 ASTM 3E 94 射线检验指南E 155 铝和镁铸件检验的射线检验对比片E 186 壁厚 2-412- in 51至114-mm 钢铸件的射线检验对比片E 192 航天用精密钢铸件射线检验对比片E 272 高强度铜基和镍铜合金铸件用射线检验对比片 E 280 厚壁 412-12-in 114至305-mm 钢铸件用
3、射线检验对比片E 310 青铜铸件用射线检验对比片E 446 厚度小于2 in51 mm 钢铸件射线对比片E 505 铝锰压铸件检验用射线对比片E 543 无损检验机构资格评定标准E 689 球墨铸铁用射线对比片E 747 射线透照用线形像质计IQI的设计制造和材料分类标准E 802 厚度小于412 in 114 mm灰铸铁用射线对比片E 999 工业用射线底片处理质量控制方法指南 E 1025 射线透照用孔型像质计IQI设计制造和材料分类标准E 1079 黑度计透射校准的标准E 1254 工业用射线底片和未曝光底片的储存指南E 1316 无损检验术语E 1320 钛铸件用射线对比片E 181
4、5 工业射线照相胶片系统分类方法22 ASNT 美国无损检验协会标准推荐操作规程编号SNT-TC-1A 无损检验4人员资质及证明ANSIASNT-CP-189 无损检验人员4资质证明和认证23 其他标准NAS 410 国家航天标准认证和无损检验人员资质5EN 444 无损检验-金属材质X射线和射线检验一般原理-基本规定ISO 5579 无损检验-金属材质X射线和射线检验一般原理-基本规定 1 本标准中的测试方法依据ASTM标准协会E07 无损检验和附属委员会E0701射线X射线和射线检验方法 现行版为2005年10月1日批准2006年2月授权出版首版发行于1984年前一版E 1030-00于2
5、000年发行2 参见ASME锅炉和压力容器规范应用相关ASTM 网站 com 或在serviceastmorg网站上联系ASTM 客户部ASTM标准目录年签卷信息登陆ASTM网站标准标准文件汇总查询4 可向美国无损检验协会购买地址1711 Arlingate Lane PO Box 28518 Columbus OH 43228-05185 可向美国航空航天工业协会购买1250Eye St NW Washington DC 200053 术 语31 定义- 此标准规定的检验方法中使用的术语定义参见E1316无损检验术语总汇4 意义和用途41 本检验方法用于控制射线图片的质量以得到合格产品和结果
6、而并非用于材料或产品验收或质量控制 5 基本应用51 以下项目应由买方和供应商共同协定com 无损检验机构资质评定-如果合同中对此有规定那么应根据E 543标准对NDT机构进行认证和评定同时应在合同中注明E543版本com 人员资质-应根据国家公认的NDT人员资质规范或标准如ANSIASNT-CP-189 SNT-TC-1A NAS 410或等效文件对无损检验NDT人员资质进行评定合同协议中应规定出所用的规范或标准及其版本com 设备 规定出一般要求见61-69com 要求 - 应规定一般要求 见81 82 85和 comcom 应规定出规程要求见91 com 93 com77 com 记录
7、- 指定保留记录 见121 6 设 备61 射线源com X 射线- 选择适当的X射线电压及电流取决于试样相关的变量材质类型和厚度以及经济上允许的曝光时间检验X射线参数是否达到透射计IQI灵敏度以及本标准中规定的其他要求来确定这些参数适合与否E 94 指南中包括了有关使用X射线源时的曝光计和图表 com 射线 - 使用同位素源时应能验证达到了所需的射线检验灵敏度62 胶片夹和暗盒- 胶片夹和暗盒应密封并妥善处理以减少损坏的可能性其材质可能是相纸塑料或其他耐用材料制作或金属材质倘若胶片夹漏光并在胶片上产生影像 但只要不对评定区产生影响就可以保留此胶片如果胶片夹漏光那么应在重新使用前修好或废弃必须
8、对胶片夹和暗盒进行定期检查以减少漏光的可能性63 增感屏com 铅箔增感屏com1 铅箔增感屏是射线技术中常用的增感屏类型 铅箔增感屏与所用胶片的尺寸相似且在曝光过程中与胶片直接接触com2 除非采购-供应合同中特殊规定一般使用表1中给出的铅箔增感屏除此之外还包括表格下面的注释com3 用作增感屏的带背衬或不带背衬的铅箔应无灰尘污垢氧化物裂缝或褶皱异物或其它可能在底片上成像的非相关图象com 荧光 荧光金属或其它金属质屏com1 可以使用荧光荧光金属或其它金属质增感屏但是必须能验证达到IQI灵敏度要求荧光或荧光金属增感屏对图像质量有局限性见 E 94标准检验方法 附件 X1com2 屏幕维护-
9、所有屏幕应该审慎处理以避免凹陷划痕油脂或灰尘com 其它增感屏 欧洲标准 CEN EN 444中规定的增感屏与此标准中描述的类似国际上一般采用标准CEN EN 444 或ISO 5579 标准中规定的增感屏如果有特殊要求应在合同中注明备用条款64 滤光板 - 由于低能反散射或边蚀及边缘烧损导致射线照片的对比度降低过大难以达到工序或合同中要求的质量水平或射线技术覆盖要求时应使用滤光板见E 94指南 65 屏蔽板 屏蔽板可以提高射线质量 见 E 94指南66 像质计透度计- 除非工序或合同中有特殊规定通常情况下像质计必须符合标准E 1025或E 747中的设计和鉴定要求 表 1 铅箔增感屏KeV范
10、围前屏厚度A后屏厚度0-150KeVB150-200KeVIr192Se 75200KeV-2MeVCo602-4MeV4-10 MeV10-25 MeV0000-0001 in0-0025mm0000-0005 in0-0127mm0005-0010 in0126-0254mm0010-0020 in0254-0508mm0010-0030 in0254-0762mm0010-0050 in0254-127mm0005 in0127mmC0005 in0127mm0010 in0254mm0010 in0254mm0010 in0254mm0010 in0254mm表中A- 列出的铅箔增感屏
11、厚度是针对不同电伏推荐使用的厚度而并非要求厚度其他厚度和材质可用于的质量水平对比度和黑度B80KeV到150KeV无铅箔增感屏建议KeV值低于80包装膜可以用于对比度黑度胶片质量水平以及反散光达到要求的高能量水平附加介质铅屏可以用于减少高能量反散射C 为满足85中要求散射需使用无后屏67 垫片 分隔块 或小部件- 可以使用与射线照相性能相同或1025中规定垫片用于像质计定位 68 射线检验位置及标记标识- 零件和位置编号一般使用铅质数字和字母来表示标记的大小和厚度取决于射线技术在胶片上辨别能力作为通用规则116in 158-mm厚度的标记用于最低能量小于1MeV的X射线和依源192的射线检验已
12、经足够对于高能量射线检验应使用较厚的标记18317-mm或更厚的69 黑度计- 不管是透射式黑度计还是阶梯-砌块比较片都应用于胶片黑度评定阶梯-砌块比胶片或黑度校正片都应参照美国国家标准及技术研究所 数字胶片和分析体系可以代替投射黑度计参照美国国家标准及技术研究所7 试剂和材料71 胶片体系- 只有通过审理工程组织CEO或满足E1815检验方法要求的胶片系统才能使用以达到此标准中检验方法的要求 8 要 求81工艺要求- 除非工序或合同中有特殊规定必须按照书面工艺规程进行射线检验买家和供应商关于编制和批准的书面程序的具体要求84 射线- 购买方和供应方共同协商射线质量同时规定在应用的工序和合同中
13、E 1025 或 E 747 质量等级选择指南85 验收等级- 应用的合同工序图纸或者其他协议中应规定出验收和等级 射线黑度范围 胶片处理71 暗室设备- 暗室应保持整洁并以无尘为原则应根据胶片供应商的建议选用照明灯和安装位置暗室内所有的设备和材料应能确保冲片并72 冲片- 根据E999指南进行冲片并检验73 观片室- 观片室设施应配有柔和的背景灯光且灯光强度不能引起反射阴影或强光观片计的灯光必须有足够的检测黑度40的胶片同时可以根据所观察胶片的黑度单片或双片适当的调节74 胶片的储存-如果应用工序或合同中要求胶片进行储存那么应提供一个良好的适合胶片储存的环境防止胶片的或其它损坏胶片储存期限和地方应经过买方和供方的协商 见E 1254 储存指南 工艺规程1 检验时间- 应用工序或合同中特殊规定射线检验须在热处理前 如果应用工序或合同中无特殊规定IQI应根据以下内容进行选择如果检验件的厚度大于精加工后工件的设计厚度IQI尺寸应以不超过精加工后工件厚度的20或14in 635 mm或更厚为基准进行选择任何情况下透射计IQI都不能以厚度尺寸大于检验件的厚度值为依据选定尺寸92 表面制备- 93 射线源到胶片的距离- 无特殊规定的情况下几何不清晰度Ug不能超过规定 材料厚度 最大Ug 低于1 in254 mm 0010 in 0254 mm1 - 2 in254
