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1、摘 要随着数字集成电路日益广泛的应用，其相关的测试技术也显得愈发重要。为了保证数字集成电路的功能和性能参数符合技术要求，在集成电路的设计验证、产品检验以及现场维护等方面都需要对集成电路进行测试。而测试设备是必不可少的工具，因此研究它们的测试技术和开发测试设备具有重要的意义。本文所设计的集成电路测试仪采用MCS-51单片机为核心，构建数字集成电路的测试仪器，该仪器能够通过单片机程序对数字集成芯片插座进行控制和测试，可以完成对TTL74/54、CMOS4000/4500系列芯片的测试。测试仪使用了串口通信方式的LCD汉字液晶显示器，以便节省出更多的单片机接口供测试更多管脚的集成电路。针对不同型号的
2、集成电路Vcc和GND位置不同，在电路中使用了P沟道CMOS管来作为Vcc切换开关。测试仪设计了总线标准接口RS-232，能够实现与PC机的联机。通过对大量的TTL、CMOS集成电路的分析，建立了测试数据库。通过编写测试程序，最终以速度快、准确率高的测试结果实现了测试TTL74/54、CMOS4000/4500系列芯片的任务。 论文第一章阐述此次设计的背景及意义、国内外数字电路测试系统现状、本文要解决的主要问题。第二章对系统总体方案进行描述。第三章详细说明整个硬件系统的构成。第四章主要说明软件测试的实现。第五章叙述测试结果。通过对实验电路和程序进行测试和试运行，结果证明达到了设计要求。以MCS
3、-51单片机为核心的数字集成电路测试仪，硬件电路简单可靠，软件测试精确快速。并且具有体积小、重量轻、成本低等优点。关键词：数字集成电路；功能测试；MCS-51单片机；LCDAbstractWith the increasingly widespread application of digital integrated circuits, the related testing technology becomes increasingly important. To ensure the functions of digital integrated circuits and perform
4、ance parameters meet the technical requirements, in integrated circuit design verification, product testing and on-site maintenance and other aspects need to test integrated circuits. The test equipment is essential to tools, test technology research and development of their test equipment is of gre
5、at significance. This integrated circuit tester designed by MCS-51 microcontroller core, build digital integrated circuit testing equipment, the equipment is able to process the digital single chip control IC sockets and test, to be completed on TTL74/54, CMOS4000/4500 series of chip testing. Tester
6、 uses serial communication method character liquid crystal display LCD to save more of the MCU interface pins of the integrated circuit for testing more. Different types of IC GND and VCC different positions, the circuit used in the P-channel CMOS tube as the Vcc switch. Tester designed bus standard
7、 interface RS-232, can be achieved with PC-Online. Through a large number of TTL, CMOS integrated circuits analysis, the test database. By writing test procedures, which will eventually speed, high accuracy test results to achieve the test TTL74/54, CMOS4000/4500 series chip task。 The first chapter
8、described the background and significance of this design, digital circuit test system at home and abroad, this paper to solve the main problem. The second chapter describes the overall programs of the system. The third chapter details the composition of the entire hardware system. Fourth chapter exp
9、lains the implementation of software testing. Chapter V describes the test results.。Through the experimental circuit and procedures for testing and trial operation, the results prove to the design requirements. With MCS-51 microcontroller as the core digital IC tester, the hardware circuit is simple
10、 and reliable, precise and rapid software testing. And small size, light weight and low cost. KEY WORDS: Digital IC； Functional test；MCS-51； single-chip microcomputer；LCD目 录摘 要1Abstract2目 录3第 1 章绪论51.1 课题的研究背景及意义51.2 国内外数字电路测试系统现状61.3 本设计所要解决的主要问题7第 2 章 测试仪的总体方案82.1 测试仪的方案选择82.1.1 电压测量法82.1.2 在线直流电阻
11、普测法82.1.3 电流流向跟踪电压测量法82.1.4 在线直流电阻测量对比法82.1.5 非在线数据与在线数据对比法82.2 硬件组成92.3 软件任务92.4 总体方案构成9第 3 章 硬件系统设计113.1 单片机外围电路设计113.1.1 单片机MCS-51113.1.2 时钟电路的设计123.1.3 复位电路的设计143.1.4 手动按钮复位153.2 键盘电路的设计153.3 PC机与单片机串行通信通道的设计183.3.1 单片机与PC串行通信的实现183.3.2 TTL/RS-232电平转换及其接口电路193.4 20管脚测试芯片插座电路20第 4 章 软件系统设计214.1 方
12、案选择214.2 软件主程序流程图214.3 LCD1602液晶显示电路和键盘电路的软件设计234.4 测试模块的软件设计25第5 章系统调试与结果26结 论27参考文献28附录130附录2实物软件设计34致 谢41第 1 章 绪论1.1 课题的研究背景及意义集成电路是二十世纪发展起来的新型高技术产业之一，也是二十一世纪全面进入信息化社会的必要前提和基础。自1958年德克萨斯仪器公司制造出第一款集成电路以来，集成电路产业一直保持着惊人的发展速度，在数字化，信息化时代的今天，数字集成电路的发展以及应用显得尤为引人注目。从电子管、晶体管、中小规模集成电路、超大规模集成电路，发展到当今市场主流的专用
13、集成电路，乃至现处于飞速发展阶段的系统及芯片，数字集成电路始终沿着速度更快、集成度更高、规模更大的方向不断发展。到目前为止，集成电路仍然基本上遵循着摩尔定律发展，即集成度几乎每18个月增长一倍。随着集成规模的进一步扩大，集成电路的应用领域日益扩大，无论是在军事方面的高科技应用，还是在人们日常生活方面的普通应用，数字集成电路都发挥着举足轻重的作用，因此，数字集成电路的可靠性显得越来越重要。为了保证数字集成电路的功能和性能参数符合技术要求，发挥其在整个电路系统中的重要作用，在集成电路的设计验证、产品检验以及现场维护等方面都需要对集成电路进行测试，测试技术已经成为谋求集成电路生存与发展的一门支撑技术
14、。集成电路是换代节奏快、技术含量高的产品。从当今国际市场格局来看，集成电路企业之间在知识产权主导权上斗争激烈，重要集成电路产品全球产业组织呈现出跨国公司(准)寡头垄断的特征，集成电路跨国公司销售、制造、研发布局朝全球化方向发展。无论是元件还是电路和系统，由于制造工艺的限制、使用寿命以及工作条件等影响，故障的产生是不可避免的，所以数字集成电路的测试便成为亟需解决的问题。尤其是在教学过程中，学生要熟悉并掌握某些型号集成电路芯片的逻辑功能及使用方法，就必须要反复进行实验，在经过大量的实验以后，芯片肯定会由于各种原因而产生故障，若是更换新的芯片，会过于浪费，因此这势必会成为教学过程中的障碍。本论文将设
15、计一种简易测试集成电路芯片的仪器，根据其逻辑功能的真值表，测试其功能，判断其是否能正常工作，据此还可进行对已损坏芯片进行维修。这不仅能解决集成电路芯片教学过程中的有关问题，节约成本，更能在测试过程中使学生更加深刻了解集成电路相关知识。1.2 国内外数字电路测试系统现状目前有两种集成电路测试系统，一种是整板测试，称板级测试系统；另一种是对单个芯片测试称芯片级测试系统。电路板的测试可分为带微处理器的电路板的测试和不带微处理器的电路板的测试，即CPU板和普通电路板的测试。芯片级测试又分在线测试和离线测试。所谓在线测试是指对焊接在电路板上的各种芯片做逻辑测试和故障诊断；而离线测试是对脱离电路板的芯片进
16、行测试和故障判断。在单个芯片测试系统中，有专门用来测试芯片的仪器，此类仪器设计较为复杂，技术含量高，操作也要求比较专业。另一种测试系统是在使用过程中将测试芯片作为辅助功能的。目前国内有一款仪器就属于这种类型，它是南京西尔特公司生产的型号为SUPERPRO/3000U的通用编程器，如图1.1所示。编程器是一个把可编程的集成电路写上数据的工具,编程器主要用于单片机（含嵌入式）/存储器(含BIOS)之类的芯片的编程（或称刷写）。 图1.1 SUPERPRO/3000U的通用编程器基本配置48脚万能驱动电路。所选购的适配器都是通用的（插在DIP48锁紧座上）,即支持同封装所有类型器件,48脚及以下DI
17、P器件无需适配器直接支持。在主机上以PEP3000驱动扩展器替换标准DIP48驱动模块后万能驱动电路路数达到100,则直至100脚的器件均可使用通用适配器（有些器件也可选用专用适配器,直接插在DIP48插座上,则无需换装PEP3000）。通用适配器保证快速新器件支持。I/O电平由DAC控制,直接支持低达1.5V的低压器件。更先进的波形驱动电路极大抑制工作噪声,配合IC厂家认证的算法,无论是低电压器件、二手器件还是低品质器件均能保证极高的编程良品率。编程结果可选择高低双电压校验,保证结果持久稳固。在其编写程序的主要功能的基础上，还可测试SRAM、标准TTL/COMS电路,并能自动判断型号。通过向
18、被测芯片发送信号检验其输出电平，再根据事先存入资源库的芯片逻辑功能真值表来判断其型号。在图形显示器件接触不良的时候，可以形象的看到器件每一个管脚的接触状况。特别是器件有一些管脚处于接触良好与接触不良之间的状态，如果不用连续的图形显示，例如仅仅一次的数字显示，是不能很好地发现问题的，UP-48遇到这种情况，与管脚相应的图形会不断闪烁，并提示“接触不良”字样。同时通用编程器特有的管脚接触不良检测功能，有效防止了因为器件放反、部分管脚短路、接触不良等原因所造成的损失。1.3 本设计所要解决的主要问题本测试仪属于芯片级数字集成电路逻辑功能测试系统，主要采用功能验证测试法产生测试矢量，离线完成20脚以下
19、TTL74/54，COMS4000/4500等系列芯片的测试。为此，在本文中要解决的问题主要有：(1) 测试自动化，20脚测试插座固定，测试范围不受被测器件的输入、输出、电源和地的位置的限制；(2) 能测试TTL74系列的门电路，译码器等器件； (3) 整机电源电压为+5V，供电方式为直流稳压电源；(4) 可脱机工作，携带方便，轻巧美观。集成电路(IC)被生产出来以后要进行测试。IC测试贯穿在IC设计、制造、封装及应用的全过程,被认为是IC产业的4个分支(设计、制造、封装与测试)中一个极为重要的组成部分,它已经成为IC产业发展中的一个瓶颈。有人预计,到2012年,可能会有多达48%的好芯片不能
20、通过测试,IC测试所需的费用将在IC设计、制造、封装和测试的总费用中占80%90%的比例。 工业界常采用电压测试和稳态电流(I_(DDQ)测试来测试数字CMOS IC。综上所述，我们将从测试系统工作原理出发，借鉴一些成熟的经验，查阅了大量的资料，经过分析比较，确立了总体方案和构建硬件系统；通过对TTL、集成电路的统计和分析，利用功能验证测试算法建立了测试数据库，编制了测试程序，最终完成整个仪器的设计。 第 2 章 测试仪的总体方案2.1 测试仪的方案选择目前所用的测试集成电路芯片的方法有很多，常用的简易测试方法有以下几种：2.1.1 电压测量法主要是测出各引脚对地的直流工作电压值；然后与标称值
21、相比较，依此来判断集成电路的好坏。用电压测量法来判断集成电路的好坏是检修中最常采用的方法之一，但要注意区别非故障性的电压误差。2.1.2 在线直流电阻普测法这一方法是在发现引脚电压异常后，通过测试集成电路的外围元器件好坏来判定集成电路是否损坏.。由于是断电情况下测定阻值，所以比较安全，并可以在没有资料和数据而且不必要了解其工作原理的情况下，对集成电路的外围电路进行在线检查，在相关的外围电路中，以快速的方法对外围元器件进行一次测量，以确定是否存在较明显的故障。2.1.3 电流流向跟踪电压测量法此方法是根据集成电路内部的外围元件所构成的电路，并参考供电电压，即主要测试点的已知电压进行各点电位的计算
22、或估算，然后对照所测电压电否符合，来判断集成块的好坏，本方法必须具备完整的集成块内部电路图和外围电路原理图。2.1.4 在线直流电阻测量对比法此方法是利用万用表测量待查集成电路各引脚对地正反向直流电阻值与正常数据进行对照来判断好坏。这一方法需要积累同一机型同型号集成电路的正常可靠数据，以便和待查数据相对比。2.1.5 非在线数据与在线数据对比法所谓非在线数据是指集成电路未与外围电路连接时，所测得的各引脚对应于地脚的正反向电阻值。非有线数据通用性强，可以对不同机型、不同电路、集成电路型号相同的电路作对比。本设计方案要实现对已知型号20脚以内的TTL系列、CMOS系列双列直插封装数字集成电路逻辑功
23、能的自动测试。然而，上述几种方法都不能较好达到要求。因此，本设计采用了以单片机为核心的自动测试方案，能较好地完成测试任务。 随着数字集成电路的应用日益广泛,数字电路产品的种类愈来愈多，其分类方法若按用途来分，可分成通用型的集成电路（中小规模集成电路）产品，微处理（MPU）产品和特定用途的集成电路产品三大类。其中可编程逻辑器件就是特定用途产品的一个重要分支。按逻辑功能来分，可以分成组合逻辑电路（也称组合电路)，如门电路，编译码器等；时序逻辑电路，如触发器、计数器、寄存器等。按电路结构来分，可分成TTL型和CMOS型两大类。 根据数字集成电路的种类、功能、适用范围的不同，我们应该选择相适应的测试方
24、案。2.2 硬件组成系统的硬件组成主要有三部分：第一部分是以单片机为核心的测试平台。该测试平台主要由中心控制单元单片机、键盘控制电路、IC电源自动控制电路、接口电路、LCD显示电路组成。第二部分是PC机与单片机串行通信通道的建立。通道主要由串行总线接口、电平转换电路组成。第三部分是20管脚测试芯片插座。为了使测试范围不受被测器件的输入、输出、电源和地的位置的限制，实现测试自动化。2.3 软件任务该系统软件要完成的任务是：1、测试数据库。根据集成电路器件手册上芯片的真值表建立被测芯片的测试码数据集。2、主要完成对已知型号芯片的测试。当有芯片需要测试时，通过测试电路对被测芯片的施加测试码信号，每施
25、加一组测试码就测回一组芯片的输出状态，一直到该芯片的测试码集施加完为止，然后根据电路响应值进行分析、判断和处理，且把测试结果显示出来。2.4 总体方案构成根据测试系统要完成的任务和技术指标的要求，从测试系统的工作原理出发，构建该系统的总体方案如图2-1所示。该自动测试仪的硬件主要是建立测试平台和通信网络，因此，应选择单片机作为电路核心，通过可编程I/O接口与20管脚集成芯片插座相连。由于不同型号芯片的电源和地端的管脚位置不同，所以对20管脚集成芯片插座要进行电源和地端的自动控制，可将地端固定，只改变电源端位置，为测试各种集成芯片提供硬件基础。因为待测芯片的型号不同，调动的测试集不同，这就需要由
26、键盘选择芯片的型号和启动确定键下达测试命令，同时要比较详细的显示芯片内某个门或管脚的测试结果，为此就必须配置相应的键盘和LCD显示器。电压测试包括逻辑测试和时延测试两方面的测试内容,前者验证IC的功能是否正确,后者验证IC的时间特性是否正确。电压测试方法可以检测出大量的物理缺陷,而且比较简单,速度较快。但是,由于电压测试所使用的故障模型存在局限性,而且测试常常不能全速进行,因此一般来说,电压测试只善于验证电路的功能。与电压测试相比,(I_(DDQ)测试更善于检测由于生产过程中的细微偏差而导致的一些“小”缺陷,它的最大优点是能大幅度地降低测试数字CMOS IC的费用,提高它们的可靠性。但是,(I
27、_(DDQ)测试除不能检测那些不导致(I_(DDQ)增加的缺陷或故障(如串扰故障)之外,还受到深亚微米技术的挑战。 瞬态电流(I_(DDT)测试是一种从供电回路,通过观察被测电路所吸取的瞬间动态电流来检测故障的一种方法,被认为可以检测出一些经电压测试和(I_(DDQ)测试所不能检测的故障。这种方法作为传统的电压测试和(I_(DDQ)测试方法的一个补充,正逐渐受到研究领域和工业界的关注。a)图2.1 系统总体方案框图 第 3 章 硬件系统设计3.1 单片机外围电路设计单片机构成的应用系统有较大的可靠性，容易构成各种规模的应用系统，且应用系统有较高的软、硬件利用系数。还具有可编程性，硬件的功能描述
28、可完全在软件上实现。在电路中采用多支可编程I/O接口与测试插座相连，由于所用插座为双排20管脚，所测试的IC芯片管脚不尽相同，而电路设计时的插座引脚一经接好就不能变动，为了保证每一芯片都能在设计好的20管脚芯片插座上进行测试，并且芯片的地端位置都相同，因此，将地端引脚固定，改变电源引脚的位置来适应不同型号的芯片。为了保证单片机输出的信息能更有效的传送到被测IC芯片的输入端，同时还要保证单片机能因被测IC芯片的型号不同而有效更改输入输出引脚的位置，因此只有使用可编程接口芯片才能完成这一功能。单片机的40个接口除了要与插座相连之外，还要控制键盘电路和显示器，若显示器采用并行通信方式，单片机的接口显
29、然是不够用的，为了解决这一问题，于是就采用了LCD的串行通信方式，只需用单片机的3个接口即可控制。3.1.1 单片机MCS-51MCS-51是指由美国INTEL公司生产的一系列单片机的总称，这一系列单片机包括了好些品种，如8031，8051，8751，8032，8052，8752等。MCS-51含有丰富的硬件资源，提供灵活、高效、多方面的控制应用。内部集成有8位CPU，片内振荡电路，4K字节ROM、128字节RAM、21个特殊功能寄存器，32个I/O通道、可寻址各64K的外部数据、程序存储器空间，两个16位定时器计数器，5个中断源、两个优先级结构以及1个全双工串行接口，有专用位处理机功能，适于
30、布尔处理。现在分别加以说明。中央处理器：中央处理器(CPU)是整个单片机的核心部件，是8位数据宽度的处理器，能处理8位二进制数据或代码，CPU负责控制、指挥和调度整个单元系统协调的工作，完成运算和控制输入输出功能等操作。数据存储器(RAM)：内部有128个8位用户数据存储单元和128个专用寄存器单元，它们是统一编址的，专用寄存器只能用于存放控制指令数据，用户只能访问，而不能用于存放用户数据，所以，用户能使用的RAM只有128个，可存放读写的数据，运算的中间结果或用户定义的字型表。程序存储器(ROM)：共有4096个8位ROM，用于存放用户程序，原始数据或表格。定时/计数器(ROM)：有两个16
31、位的可编程定时/计数器，以实现定时或计数产生中断用于控制程序转向。并行输入输出(I/O)口：共有4组8位I/O口(P0、 P1、P2或P3)，用于对外部数据的传输。全双工串行口：内置一个全双工串行通信口，用于与其它设备间的串行数据传送，该串行口既可以用作异步通信收发器，也可以当同步移位器使用。中断系统：具备较完善的中断功能，有两个外中断、两个定时/计数器中断和一个串口中断，可满足不同的控制要求，并具有2级的优先级别选择。MCS-51共有4个I/O口，在本测试系统中分配如下：1. P0.0P0.3连接键盘，P0.4P0.6连接LCD的控制端。其中，P0.4接CLK，P0.5接SID，P0.6接C
32、S。2. P1.0P1.7和P2.0P2.7这16个接口连接插座，用于测试时的信号传送。3. P3.4和P3.5通过两个P沟道MOS管接到插座其余的两个管脚，而P3.6和P3.7则直接接到这两个管脚。P3.4P3.7这四个接口用于控制测试芯片时电源端的切换。4. RXD和TXD用于连接MAX232，控制串口，与PC机进行通信。XTAL1 和XTAL2连接外部时钟震荡电路。3.1.2 时钟电路的设计单片机虽然有内部振荡电路，但要形成时钟，必须外部附加电路。MCS-51的时钟产生有两种形式：内部电路震荡方式和外部时钟输入方式。在引脚XTAL1和XTAL2外接晶体振荡器(简称晶振)或陶瓷谐振器，就构
33、成了内部振荡方式。由于单片机内部有一个高增益反相放大器，当外接晶振后，就构成了自激振荡器并产生振荡时钟脉冲。图中，电容器C1、C2起稳定振荡频率、快速起振的作用，其电容值一般在5-30pF。晶振频率的典型值为11.0592MHz，采用6MHz的情况也比较多。内部振荡方式所得的时钟情号比较稳定，实用电路中使用较多。内部振荡方式的外部电路如图3.1所示。图3.1 内部振荡方式外部振荡方式是把外部已有的时钟信号引入单片机内。这种方式适宜用来使单片机的时钟与外部信号保持同步。由图可见，外部振荡信号由XTAL2引入，XTAL1接地。为了提高输入电路的驱劝能力，通常使外部信号经过一个带有上拉电阻的TTL反
34、相门后接入XTAL2。外部振荡方式的外部电路如图3.2所示。图3.2 外部振荡方式该系统采用的是内部震荡方式。MCS-51中有一个用于构成内部震荡器的高增益反相放大器，引脚XTAL1和XTAL2分别是该放大器的输入端和输出端。外接石英晶体(或陶瓷谐振器)及电容C1、C2接在放大器的反馈回路中构成并联振荡电路。对外接电容C1、C2虽没有严格的要求，但电容容量的大小会轻微影响振荡频率的高低、振荡器工作的稳定性、起振的难易程度及温度稳定性，如果使用石英晶体，推荐电容30pF+10pF，而使用陶瓷谐振器推荐电容40pF+10pF。本文采用11.0592MHz晶振和30pF电容，在MCS-51引脚XTA
35、Ll和XTAL2外接晶体和电容后，与其内部高增益反相放大器一起构成了自激振荡器，在MCS-51内部产生了时钟。3.1.3 复位电路的设计无论用户使用哪种类型的单片机,总要涉及到单片机复位电路的设计。而单片机复位电路设计的好坏,直接影响到整个系统工作的可靠性。许多用户在设计完单片机系统,并在实验室调试成功后,在现场却出现了“死机”、“程序走飞”等现象,这主要是单片机的复位电路设计不可靠引起的。单片机在启动时都需要复位，以使CPU及系统各部件处于确定的初始状态，并从初态开始工作。89系列单片机的复位信号是从RST引脚输入到芯片内的施密特触发器中的。当系统处于正常工作状态时，且振荡器稳定后，如果RS
36、T引脚上有一个高电平并维持2个机器周期(24个振荡周期)以上，则CPU就可以响应并将系统复位。上电复位一般的MCS-51的上电复位电路如图3-3所示，只要在RST复位输入引脚上接一电容至Vcc端，下接一个电阻到地即可。对于CMOS型单片机，由于在RST端内部有一个下拉电阻，故可将外部电阻去掉，而将外接电容减至1F。上电复位的工作过程是在加电时，复位电路通过电容加给RST端一个短暂的高电平信号，此高电平信号随着Vcc对电容的充电过程而逐渐回落，即RST端的高电平持续时间取决于电容的充电时间。为了保证系统能够可靠地复位，RST端的高电平信号必须维持足够长的时间。上电时，Vcc的上升时间约为10ms
37、，而振荡器的起振时间取决于振荡频率，如晶振频率为10MHz，起振时间为1ms；晶振频率为1MHz，起振时间则为10ms。在图3-3的复位电路中，当Vcc掉电时，必然会使RST端电压迅速下降到0V以下， 图3.3 上电复位3.1.4 手动按钮复位手动按钮复位需要人为在RST端施加大于两个机器周期（24个振荡周期）的高电平，使单片机完成内部的复位工作。一般采用的方法是在RST端和电源Vcc之间接一个按钮。本设计采用的是手动复位，电路如图3-4所示。当不按按键时，电容处于充电状态，当人为地按下按键时，电容开始放电，与200欧姆的电阻组成一个RC回路，整个过程产生一个高电平脉冲，这个脉冲远大于两个机器
38、周期，因此，人的动作再快也会使按键保持接通达数十毫秒，完全能够满足复位的时间要求。R6是为了保证按键按下后RST端为高电平。图3.4 手动按钮复位3.2 键盘电路的设计键盘是计算机不可缺少的输入设备，是实现人机对话的纽带。键盘的结构形式通常有两种，即矩阵式键盘和独立式键盘。矩阵式键盘（编码式）常用于按键个数较多的场合，它的按键位于行、列的交叉点上。案件的作用只是相应接点接通或断开，被按按键在行列中所在的接点配合相应程序可产生键码。矩阵式键盘的硬件电路简单，较为常用。常用44矩阵式键盘电路如图3-7所示。键盘的工作方式一般有编程扫描方式和中断扫描方式两种。编程扫描工作方式是利用CPU在完成其它工
39、作的空余扫描子程序，来响应键输入要求。在执行键功能程序时，CPU不再响应键输入要求。中断工作方式。即只有在键盘有键按下时，发中断申请，CPU相应中断请求后，转中断服务程序，进行键盘扫描，识别键码。图3.5 44矩阵式键盘电路独立式键盘（非编码式）硬件电路如图3-8所示。当按下键盘时产生一个电平变化（通常为低电平），向CPU申请中断，或通过I/O口采用程序查询方式，检测按键是否按下；当CPU确认键盘按下时，程序转向执行按键功能。这种键盘的各个按键相互独立，状态互不影响；该键盘使用方便，编程简单，但在按键较多时硬件电路复杂，占用CPU的资源较多，因此常用于按键个数较少的场合。按键属于电平开关，在按
40、按键时会有抖动。因此，在按键抖动期间CPU扫描键盘必然会得到错误信息，常用的解决办法是：在硬件方面可在按键两端加滤波电容（如图3-7中的0.1uF电容）或选用逻辑开关；在软件方面可设置一定的延时（通常20ms左右），使按键按下延时稳定后CPU再读入键值。数码管不同位显示的时间间隔可以通过调整延时程序的延时长短来完成。数码管显示的时间间隔也能够确定数码管显示时的亮度，若显示的时间间隔长，显示时数码管的亮度将亮些，若显示的时间间隔短，显示时数码管的亮度将暗些。若显示的时间间隔过长的话，数码管显示时将产生闪烁现象。所以，在调整显示的时间间隔时，即要考虑到显示时数码管的亮度，又要数码管显示时不产生闪烁
41、现象。矩阵键盘驱动的主要作用就是实时监测外部按键中断，一旦发现外部有键按下就向内核发送键盘消息实现键盘输入功能。键盘驱动创建了中断服务线程和4个键盘中断事件，每行按键对应一个键盘中断事件。有键被按下时，中断服务例程得到对应的中断标识符并报告给系统任务调度进程，同时产生键盘中断事件，键盘中断服务线程响应键盘中断事件，开始扫描矩阵键盘。根据产生的中断事件类型不同，可以首先确定被按下键的行位置。由于键盘被按下后，该键对应的行和列被连通，因此根据判断各列对应的I/O口的电平，可以得到被按下键的列位置；得到按键的准确位置后，通过向操作系统发送键盘消息KEYBD_EVENT,实现一次键盘输入。循环扫描键盘
42、，直到按键被弹起则发送KEYEVENTF_KEYUP事件。图3.6 独立式键盘电路根据本测试仪的要求，待测或要查阅的芯片的型号需要由键盘选中，测试程序启动命令需要由键盘键入。由于本设计只是简易测试数字集成电路，对键盘个数要求不多，因此采用独立式键盘，共设置4个按键（S1，S2，S3，S4），分别由P0.0，P0.1，P0.2，P0.3控制。每个按键接4.7K的上拉电阻，起限流保护作用。当有键按下时为低电平，无键按下时则为高电平。同时，为了防止按键时产生抖动，在四个按键两端都加了0.1uF的滤波电容。电路如图3-6所示。3.3 PC机与单片机串行通信通道的设计串行通信因信号线少，成本低，有多种可
43、供选择的传送速率，又有调制/解调功能而特别适合距离较远，通信点较多的场合。采用PC机作为上位机是因为PC机软硬件资源丰富，人机交互能力好，通用性强。此外，由于目前PC机使用的WindowsXP操作系统也提供了一个强大的软件开发平台。单片机与PC机通过串行口连接，操作简便，易用性强。此外，通过主机提供的软硬件资源，提供给用户的是测试仪的交互界面，使人机对话方便、直观、智能化，改善了用户的操作环境，加强了测试仪的工作必能。用户可通过菜单控制测试仪的工作状态：完成激励文件、控制文件的装载，响应结果的回传以及对测试结果的最终处理。3.3.1 单片机与PC串行通信的实现单片机和PC机行的串行通信一般采用
44、RS-232、RS-422或RS-485总线标准接口。但由于PC机有现成的RS-232标准串行口，所以本测试系统选择采用RS-232总线标准接口。单片机有一个全双工串行口，但它不是标准的RS-232串行口，RS-232总线标准接口规定的电平和一般微处理器的逻辑电平不一致，必须进行电平转换，因此在本测试系统中采用MAX232进行RS-232C电平与TTL电平的相互转换。为保证通信的可靠，在选择接口时必须注意。1、通信的速率；2、通信距离；3、抗干扰能力；4、组网方式。根据本测试系统的要求，本文采用RS-232C串行总线接口与单片机通信的方法。表3-1 RS-232 9针接口各引脚的信号功能引脚名
45、称功能信号方向1DCD载波信号检测DCE-DTE2RXD接受DCE-DTE3TXD发送DCE-DTE4DTRDTE准备就绪DCE-DTE5GND信号地6DSRDCE准备就绪DCE-DTE7RTSDTE请求发送数据DCE-DTE8CTSDCE清除发送DCE-DTE9RI振铃指示DCE-DTERS-232C是美国电子工业协会EIA在40年前为公共电话网络数据通信而制定的串行通信标准，由于RS-232C的发送和接收是“对地”而言的，采用非平衡模式传输，存在共地噪声，所以其最大传输距离和速率在标准中被限定为15米和192500bit。从电气特性而言，RS-232C总线的逻辑电平与TTL电平完全不兼容，
46、总线中的任何一条信号线的电平均为负逻辑关系，逻辑“0”规定为+5V+15V之间，逻辑“1”规定为5V15V之间，噪声容限为2V。即要求接收器能识别低至-3V的信号作为逻辑“0” ，高到+3V的信号作为逻辑“l”。 3.3.2 TTL/RS-232电平转换及其接口电路RS-232规定的电平和一般微处理器的逻辑电平不一致，必须进行电平转换。MCl488和MCl489芯片为早期的RS-232至TTL逻辑电平的转换芯片，采用该芯片的主要缺点是电路需要+12V电压，不适合用于低功耗的系统。MAX232是MAXIM公司生产的，包含两路驱动器和接收器的RS-232转换芯片，单一电源供电，电压值从+3.0V+
47、5.5V均可正常工作。芯片内部有一个电压转换器，可以把输入的+5V电压转换为RS-232接口所需的+10V电压，尤其适用于没有+12V的单电源系统。本设计采用MAX232单+5V电压驱动的转换芯片，MCS-51的TXD端接芯片的T1IN端，芯片的T1OUT端接PC的接插件的第3脚；RXD端接芯片的R1OUT端，芯片的R1IN接PC的接插件的第2脚；接插件的GND端（第5脚）接芯片的GND端。串行接口电平转换电路如图3.7所示，图中芯片的五个0.1uF电容，属于电磁兼容的辅助设计。其中，C9为0.1uF的去耦电容，可选用一般的瓷片电容，C10、C11、C12、C13可选用耐压值至少大于16V、容量为0.1uF的电解电容，注意电容的极性不能接反。图3.7 串行接口电平转换电路3.4 20管脚测试芯片插座电路由于各IC块的引脚数和宽度不一致，且电源和地的位置因片而异，所以待测芯片插座的引脚必须有选择性地加以控制。根据对TTL74/54系列和CMOS4000/4500常见的200余种芯片的统计，20引脚以内的芯片占90以上。通过对有关文献中的IC资料统计和归类，列出20脚以内规则芯片的引脚数、Vcc和GND的位置情况，见表3-4。本设计只是简易测试数字集成电路，因此其测试数据库主要收录了常用的规则芯片，规
