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1、MLC项目通信传输系统光缆测试报告 北京建谊建筑工程有限公司 2010年7月21日一、 光缆测试说明1、 通信系统说明MLC项目配套工程包括通信传输系统，由MLC在TCC通信机房、小营/西直门MLC机房分别新设一套2.5G传输设备，三套传输设备通过光缆组成4芯复用段保护环网，通过TCC既有配线架与各线OCC在TCC设置的传输设备业务层互联。MLC新设的传输设备通过TCC既有ODF与MLC机房新设ODF通过光缆连接，实现各线LC业务接入MLC。2、 光纤使用说明1）西直门8层MLC机房（灾备中心）至京投大厦西辅楼一层MLC机房（生产中心），占用南环4芯光纤；2）西直门8层MLC机房（灾备中心）至
2、京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备，占用北环4芯光纤；3）京投大厦西辅楼一层MLC机房（生产中心）至京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备，新敷设1根24芯光纤；4）西直门8层MLC机房（灾备中心）至西直门7层通信机房（南环、北环均在此处上光纤配线架），新敷设1根24芯光纤；5）京投大厦西辅楼一层MLC机房（生产中心）至京投大厦西辅楼B1层通信配线间（南环在此处上光纤配线架），新敷设1根24芯光纤；6）京投大厦西辅楼一层MLC机房（生产中心）至京投大厦西辅楼7层配线间，新敷设2根4芯多模光缆。（此处的2根4芯多模光缆不属于通信传输系统，是连接服务器与工作站交换机之间的多模光缆）；此
3、次测试针对以上6部分进行。3、 测试仪器采用信维牌OTDR（光时域反射仪），具体型号为S20。4、 相关图纸MLC项目通信系统光纤传输路由图二、 光缆测试内容光缆测试包括以下内容： 光缆熔接损耗（MLC项目中的光缆熔接点）； 3处MLC通信设备之间光纤传输链路的光衰减；具体说明如下：光缆熔接损耗：西直门本项目敷设的1根24芯光缆；京投大厦本项目敷设的2根24芯光缆；京投大厦本项目敷设的2根4芯多模光缆；3处MLC通信设备之间光纤传输链路的光衰减：西直门8层MLC通信设备与京投大厦西辅楼一层MLC通信设备之间的链路衰减；西直门8层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链
4、路衰减；京投大厦西辅楼一层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减；三、 测试目的序号测试内容测试目的合格标准备注1光缆熔接损耗检查光纤熔接质量每个熔接点损耗0.08dB光纤熔接规范2西直门8层MLC通信设备与京投大厦西辅楼一层MLC通信设备之间的链路衰减检查光纤链路质量25dB通信设备对光衰减的要求3西直门8层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减检查光纤链路质量25dB通信设备对光衰减的要求4京投大厦西辅楼一层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减检查光纤链路质量15dB通信设备对光衰减的要
5、求四、 光缆测试记录1、 西直门新敷设1根24芯光纤熔接质量测试记录在西直门8层MLC机房，对本项目敷设的24芯光纤进行测试；然后在西直门7层通信配线间，对本项目敷设的24芯光纤进行反向测试；测试结果如下：光纤芯数合格标准（双向测试平均值）测试地点：8层MLC机房测试地点：7层通信配线间双向测试取平均值是否合格8层熔接点损耗7层熔接点损耗8层熔接点损耗7层熔接点损耗8层熔接点损耗7层熔接点损耗1.每个熔接点损耗0.08dB是 否2.每个熔接点损耗0.08dB是 否3.每个熔接点损耗0.08dB是 否4.每个熔接点损耗0.08dB是 否5.每个熔接点损耗0.08dB是 否6.每个熔接点损耗0.0
6、8dB是 否7.每个熔接点损耗0.08dB是 否8.每个熔接点损耗0.08dB是 否9.每个熔接点损耗0.08dB是 否10.每个熔接点损耗0.08dB是 否11.每个熔接点损耗0.08dB是 否12.每个熔接点损耗0.08dB是 否13.每个熔接点损耗0.08dB是 否14.每个熔接点损耗0.08dB是 否15.每个熔接点损耗0.08dB是 否16.每个熔接点损耗0.08dB是 否17.每个熔接点损耗0.08dB是 否18.每个熔接点损耗0.08dB是 否19.每个熔接点损耗0.08dB是 否20.每个熔接点损耗0.08dB是 否21.每个熔接点损耗0.08dB是 否22.每个熔接点损耗0.
7、08dB是 否23.每个熔接点损耗0.08dB是 否24.每个熔接点损耗0.08dB是 否测试结论： 通过 不通过施工单位（签字）： 监理单位（签字）：日 期： 日 期：2、 京投大厦新敷设2根24芯光纤熔接质量测试记录在京投大厦西辅楼一层MLC机房，对本项目敷设的24芯光纤进行测试；然后在京投大厦西辅楼B1层通信配线间，对本项目敷设的24芯光纤进行反向测试；测试结果如下：光纤芯数合格标准（双向测试平均值）测试地点：1层MLC机房测试地点：B1层通信配线间双向测试取平均值是否合格1层熔接点损耗B1层熔接点损耗1层熔接点损耗B1层熔接点损耗1层熔接点损耗B1层熔接点损耗1.每个熔接点损耗0.08
8、dB是 否2.每个熔接点损耗0.08dB是 否3.每个熔接点损耗0.08dB是 否4.每个熔接点损耗0.08dB是 否5.每个熔接点损耗0.08dB是 否6.每个熔接点损耗0.08dB是 否7.每个熔接点损耗0.08dB是 否8.每个熔接点损耗0.08dB是 否9.每个熔接点损耗0.08dB是 否10.每个熔接点损耗0.08dB是 否11.每个熔接点损耗0.08dB是 否12.每个熔接点损耗0.08dB是 否13.每个熔接点损耗0.08dB是 否14.每个熔接点损耗0.08dB是 否15.每个熔接点损耗0.08dB是 否16.每个熔接点损耗0.08dB是 否17.每个熔接点损耗0.08dB是
9、否18.每个熔接点损耗0.08dB是 否19.每个熔接点损耗0.08dB是 否20.每个熔接点损耗0.08dB是 否21.每个熔接点损耗0.08dB是 否22.每个熔接点损耗0.08dB是 否23.每个熔接点损耗0.08dB是 否24.每个熔接点损耗0.08dB是 否测试结论： 通过 不通过施工单位（签字）： 监理单位（签字）：日 期： 日 期：在京投大厦西辅楼一层MLC机房，对本项目敷设的24芯光纤进行测试；然后在京投大厦东辅楼3层通信配线间，对本项目敷设的24芯光纤进行反向测试；测试结果如下：光纤芯数合格标准（双向测试平均值）测试地点：1层MLC机房测试地点：3层通信配线间双向测试取平均值
10、是否合格1层熔接点损耗3层熔接点损耗1层熔接点损耗3层熔接点损耗1层熔接点损耗3层熔接点损耗1.每个熔接点损耗0.08dB是 否2.每个熔接点损耗0.08dB是 否3.每个熔接点损耗0.08dB是 否4.每个熔接点损耗0.08dB是 否5.每个熔接点损耗0.08dB是 否6.每个熔接点损耗0.08dB是 否7.每个熔接点损耗0.08dB是 否8.每个熔接点损耗0.08dB是 否9.每个熔接点损耗0.08dB是 否10.每个熔接点损耗0.08dB是 否11.每个熔接点损耗0.08dB是 否12.每个熔接点损耗0.08dB是 否13.每个熔接点损耗0.08dB是 否14.每个熔接点损耗0.08dB
11、是 否15.每个熔接点损耗0.08dB是 否16.每个熔接点损耗0.08dB是 否17.每个熔接点损耗0.08dB是 否18.每个熔接点损耗0.08dB是 否19.每个熔接点损耗0.08dB是 否20.每个熔接点损耗0.08dB是 否21.每个熔接点损耗0.08dB是 否22.每个熔接点损耗0.08dB是 否23.每个熔接点损耗0.08dB是 否24.每个熔接点损耗0.08dB是 否测试结论： 通过 不通过施工单位（签字）： 监理单位（签字）：日 期： 日 期：3、 京投大厦新敷设2根4芯多模光纤熔接质量测试记录在京投大厦西辅楼一层MLC机房，对本项目敷设的2根4芯多模光纤进行测试；然后在京投
12、大厦西辅楼7层通信配线间，对本项目敷设的4芯多模光纤进行反向测试；多模光缆1测试结果如下：光纤芯数合格标准（双向测试平均值）测试地点：1层MLC机房测试地点：7层通信配线间双向测试取平均值是否合格1层熔接点损耗7层熔接点损耗1层熔接点损耗7层熔接点损耗1层熔接点损耗7层熔接点损耗1.每个熔接点损耗0.3dB是 否2.每个熔接点损耗0.3dB是 否3.每个熔接点损耗0.3dB是 否4.每个熔接点损耗0.3dB是 否测试结论： 通过 不通过施工单位（签字）： 监理单位（签字）：日 期： 日 期：多模光缆2测试结果如下：光纤芯数合格标准（双向测试平均值）测试地点：1层MLC机房测试地点：7层通信配线
13、间双向测试取平均值是否合格1层熔接点损耗7层熔接点损耗1层熔接点损耗7层熔接点损耗1层熔接点损耗7层熔接点损耗1.每个熔接点损耗0.3dB是 否2.每个熔接点损耗0.3dB是 否3.每个熔接点损耗0.3dB是 否4.每个熔接点损耗0.3dB是 否测试结论： 通过 不通过施工单位（签字）： 监理单位（签字）：日 期： 日 期：4、 西直门8层MLC通信设备与京投大厦西辅楼一层MLC通信设备之间的链路衰减在西直门8层MLC机房，对本项目南环的4根光纤进行测试；然后在京投大厦西辅楼一层MLC机房，对本项目的南环光纤进行反向测试；测试结果如下：光纤芯数合格标准（双向测试平均值）测试地点：西直门8层ML
14、C机房测试地点：京投大厦西辅楼1层双向测试取平均值是否合格链路损耗链路损耗链路损耗1.链路损耗25dB是 否2.链路损耗25dB是 否3.链路损耗25dB是 否4.链路损耗25dB是 否测试结论： 通过 不通过施工单位（签字）： 监理单位（签字）：日 期： 日 期：5、 西直门8层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减在西直门8层MLC机房，对本项目北环的4根光纤进行测试；然后在京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备，对本项目的北环光纤进行反向测试；测试结果如下：光纤芯数合格标准（双向测试平均值）测试地点：西直门8层MLC机房测试地点：京投大厦东辅楼3层双
15、向测试取平均值是否合格链路损耗链路损耗链路损耗13.链路损耗25dB是 否14.链路损耗25dB是 否15.链路损耗25dB是 否16.链路损耗25dB是 否测试结论： 通过 不通过施工单位（签字）： 监理单位（签字）：日 期： 日 期：6、 京投大厦西辅楼一层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减在京投大厦西辅楼一层MLC机房，对本项目新增的1根24芯光纤进行测试；然后在京投大厦东辅楼三层TCC机房的MLC通信设备，对本项目的24芯光纤进行反向测试；测试结果如下：光纤芯数合格标准（双向测试平均值）测试地点：京投大厦西辅楼1层MLC机房测试地点：京投大厦东辅楼3层双向测试取平均值是否合格链路损耗链路损耗链路损耗1.链路损耗15dB是 否2.链路损耗15dB是 否3.链路损耗15dB是 否4.链路损耗15dB是 否测试结论： 通过 不通过施工单位（签字）： 监理单位（签字）：日 期： 日 期：
