SAMPLEM 软件使用说明v1.docx

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1、SABPLE1 for lacF lie Edit Aljoutf El&m.Mq le Rat? 、Elem.1CuILI2n 0123m o1340F o14J侣s !L16117LI8118L919CharMaximum Number of El&meritsElements: and omppsitions2010Rati口CalculateWeight for pawder ;feampleCU*: RMU1 =37.87. RMU2=288.9CE: RMU1=284.87;31 n RMU1 =149.0785 0: RM U1 =8.015159RMU=10200.88RMft

2、S=90.6S26RMUA=130.0809RMUB=1124899衅* CoiriD leted *Remark fW冬a triplePrint以 Cu01Ce01Ti08O2 为例,1 . 在左侧填入元素及相应摩尔比;并选中吸收原子,见黑色框中的绿色点;2 .在右侧选中进行实验的吸收边;见红色框3, 在右侧选中样品类型(未知密度、需求称重压片选powder,适用于通常的 压片实验,已知密度、需求合适厚度选solution,适用于液体或薄膜样品);以上图powder为例,填入鸦片选用模具的直径(10mm),也可以在在optional 中填入预期或已知的数量(powder为质量,soluti

3、on为mm,设定值反应在 左侧下方results下的最后两行中)见红色框4. 点击calculate得到结果,见左下土色框结果说明:前两行不知道什么意思,欢迎大家补充;第三行:固定跳高(Delta muT前后吸收系数差值)为1的计算结果;XAFS 实验透射模式要求跳高在(0.8-1.2内为最优);以当前样品为例;此时压片需 要的样品量为44.648mg;如何利用SAMPLEM软件协助判定XAFS实验时,样品做透射或是荧光:可以从第三行得到一定的提示,观察High MuT可以看到此时的值为7.395代表 入射X射线经过样品后光强衰减为原有光强的EA(-7.395)约等于6X10A-4;透射模式下

4、,通常前电离室会吸收20%的光,后电离室吸收的光强为入射光强 *80%*High MuT,由于电离室探测得到的光强信号为弱电流信号,通过外部的弱 电流放大器将电流放大后读出;通常入射光强引起的电流在无样品时可以达到 10-6(BSRF),弱电流放大器有最大放大倍数的限制,目前BSRF推荐使用最大为 109,其线性工作区,在1-10之间,即电流信号不能低于10-9;也就意味着样品 对光强的吸收不能大于103以上,转换为e指数即为8 (以衰减3000倍计算), 因此可以看到该样品要达到跳高为1时处在一个比较尴尬的情况,此时可以在右 侧红色框中,weight optional选项中,根据大概的比例设

5、定估算的值,看设定样 品重量下,此时的理论跳高;红色框中,设定值为25mg,40mg;分别对应0.56, 0.9的跳高;透射跳高的要 求为08-12,可以放松到0.6-1.2;因此该样品建议调整至跳高为0.6-0.7之间(通 过改变optional设定值得到);以下几种情况时,建议采用荧光:情况1当将跳高调整至0.5,而此时High MuT仍然大于8,建议采用荧光模式; 情况2 (少见):设定直径10mm时当样品量超过100mg,而跳高无法达到0.5, 且High MuT也远小于8时,建议采用荧光模式;(在此仅以BSRF为例;在其他光源时,请咨询线站人员,确定常规电离室放大 倍数与最大放大倍数

6、;)透射比荧光信号好,因此如果可以做透射优先透射;下载地址:http:/pfwww.kek.jp/nitani/xafsZsoftware.html; 请勿用于商业;还有问题请截图发email给*.cn以下有几个实际计算的例子:例1高浓度样品说明:此种情况通常采用抹胶带,或样品量少时进行压片;例2低浓度样品说明,此类样品为低浓度样品,建议采用荧光法,进行压片即可,(60-100mg)例3高背底样品说明:此类样品从浓度上说在5%以上,但由于其他元素造成的高背底造成实验 困难,根据HighMuT判定是透射还是荧光;例4薄膜样品说明:薄膜样品通常其厚度已知,密度已知;可以利用solution计算模式,来判 定透射或荧光;如例4,可以看到需要33um才可以进行透射,按0.6计算,也 需要20um才能得到较好的EXAFS数据;当薄膜厚度仅有20nm时可以估算跳高 为 0.0006;例5溶液样品说明:1mol/L的cucl2溶液,通过计算我们可以看到,该溶液应该进行透射实验, 样品池厚度,需要控制在0.65mm厚度;

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