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1、第 1 章 半导体器件,教学内容,1.1 半导体的特性1.2 半导体二极管1.3 双极型三极管1.4 场效应三极管,教学要求,本章重点是各器件的特性与模型,特别要注意器件模型的适用范围和条件。对于半导体器件,主要着眼于在电路中的使用,关于器件内部的物理过程只要求有一定的了解。,1.1 半导体的特性,导体:自然界中很容易导电的物质称为导体,金属 一般都是导体。电阻率(10-610-4 cm),绝缘体:有的物质几乎不导电,称为绝缘体,如橡 皮、陶瓷、塑料和石英。电阻率(1010cm以上),半导体:导电能力介于导体和绝缘体之间的一类物质,称为半导体,如锗、硅、砷化镓和一些硫化物、氧化物等。电阻率介于
2、(10-3109 cm),现代电子学中,用的最多的半导体是硅和锗,它们的最外层电子(价电子)都是四个。,通过一定的工艺过程,可以将半导体制成晶体。,共价键,形成共价键后,每个原子的最外层电子是八个,构成稳定结构。共价键有很强的结合力,使原子规则排列,形成晶体。,本征半导体,本征半导体:纯净的、不含杂质的半导体。,1.本征半导体导电特性,在绝对0度(T=0K)和没有外界激发时,价电子完全被共价键束缚着,本征半导体中没有可以运动的带电粒子(即载流子),半导体不能导电。,当温度升高时(如在室温下),由于热激发,使一些价电子获得足够的能量,脱离共价键的束缚成为自由电子。但自由电子数量很少,所以本征半导
3、体导电能力非常微弱。,空穴,自由电子,束缚电子,2.本征半导体的导电机理,本征半导体中存在数量相等的两种载流子,即自由电子和空穴。,空穴吸引附近的电子来填补,这样的结果相当于空穴的迁移,而空穴的迁移相当于正电荷的移动,因此可以认为空穴是载流子。,动画演示,本征半导体中电流由两部分组成:1)自由电子移动产生的电流。2)空穴移动产生的电流。,半导体与金属导体导电机理的区别:,导体:载流子自由电子半导体:载流子自由电子和空穴,温度越高,载流子的浓度越高。因此本征半导体的导电能力越强,温度是影响半导体性能的一个重要的外部因素。,杂质半导体,在本征半导体中掺入某些微量的杂质,就会使半导体的导电性能发生显
4、著变化。,N 型半导体(Negative):自由电子浓度大大增加的 杂质半导体,也称为 电子型半导体。,P型半导体(Positive):空穴浓度大大增加的杂质 半导体,也称为空穴型半导体.,1、N 型半导体,失去一个电子,形成正离子,磷原子,在硅或锗晶体中掺入少量的五价元素磷(或锑),多数载流子(多子)自由电子(主要由掺杂形成)少数载流子(少子)空穴(本征激发形成),2、P 型半导体,在硅或锗晶体中掺入少量的三价元素,如硼(或铟),硼原子,夺取一个电子形成负离子,多数载流子空穴(主要由掺杂形成)少数载流子自由电子(本征激发形成),3、杂质半导体的示意表示法,在杂质半导体中,多数载流子的浓度主要
5、取决于掺入的杂质浓度;而少数载流子的浓度主要取决于温度。无论是型或型半导体,从总体上看,仍然保持着电中性。,半导体的特点,半导体的导电机理不同于其它物质,所以它具有不同于其它物质的特点。导电能力受杂质影响很大。导电能力受温度、光照影响显著。,本节中的有关概念 本征半导体、杂质半导体 自由电子、空穴 N型半导体、P型半导体 多数载流子、少数载流子,1.2 半导体二极管,1.2.1 PN结及其单向导电性,利用一定的掺杂工艺使一块半导体的一侧呈P型,另一侧呈N型,则其交界处就形成了PN结。,1、PN结中载流子的运动,扩散运动:由于两区载流子浓度的差异,引起载流子由浓度高的地方向浓度低的地方的迁移。电
6、子和空穴相遇时,将发生复合而消失,于是形成空间电荷区。,区失去空穴,带负电的离子,区失去电子,带正电的离子,建立起内电场,方向区,区,形成空间电荷区,漂移运动:少数载流子在内电场的作用下的运动。,区电子,区,区空穴,区,内电场方向区,区,扩散运动,扩散的结果使空间电荷区变宽,内电场越强使漂移运动越强,从而使空间电荷区变窄,空间电荷区两边存在电位差D称电位壁垒。硅:0.60.8锗:0.20.3,扩散运动,内电场,动态平衡,扩散电流,(多子),大小相等,方向相反,漂移电流,(少子),(空间电荷区、耗尽层),PN结,PN结的形成,多子的扩散运动使空间电荷区变宽,少子的漂移运动使空间电荷区变窄,最终达
7、到动态平衡,扩漂,空间电荷区的宽度达到稳定,即形成PN结。空间电荷区又称耗尽层或阻挡层。,1、若将一块型半导体和一块型半导体简单放在一起,在它们的交界面上是否可以形成PN结?,2、PN结内部存在内电场,若将P区端和N区端用导线连接,是否有电流流通?,思考题,2、PN结的单向导电性,(1)PN 结正向偏置:正,负,内电场被削弱,多子的扩散加强,能够形成较大的扩散电流。,内电场被被加强,多子的扩散受抑制,少子漂移加强,但少子数量有限,只能形成较小的反向电流。,(2)PN 结反向偏置:P负,N正,PN结的特点:(1)PN结加正向电压时,呈现低电阻,具有较大的正向扩散电流;导通(2)PN结加反向电压时
8、,呈现高电阻,具有很小的反向漂移电流;截止(反向饱和电流IS)得出结论:PN结具有单向导电性。,二极管的伏安特性,PN 结加上管壳和引线,就成为半导体二极管。,二极管的电路符号:,阳极,阴极,点接触型,面接触型,伏安特性,死区电压 硅管0.5V,锗管0.1V。,导通压降:硅管0.60.8V,锗管0.10.3V。,反向击穿电压UBR,正向特性,反向特性,反向饱和电流IS,二极管方程:,1.最大整流电流 IF,二极管长期使用时,允许流过二极管的最大正向平均电流。,2.反向击穿电压UBR,二极管反向击穿时的电压值。击穿时反向电流剧增,二极管的单向导电性被破坏,甚至过热而烧坏。手册上给出的最高反向工作
9、电压UR一般是UBR的一半。,二极管的主要参数,以上均是二极管的直流参数,二极管的应用主要利用它的单向导电性,应用于整流、限幅、保护等等。,3.反向电流 IR,指二极管加反向峰值工作电压时的反向电流。反向电流大,说明管子的单向导电性差,因此反向电流越小越好。反向电流受温度的影响,温度越高反向电流越大。硅管的反向电流较小,锗管的反向电流要比硅管大几十到几百倍。,4.二极管的极间电容,二极管的两极之间有电容,此电容由两部分组成:势垒电容CB和扩散电容CD。,5.最高工作频率fM,fM主要取决于PN结结电容的大小。结电容愈大,二极管允许的最高工作频率愈低。,二极管的应用,(1)二极管电路的模型分析法
10、 理想模型:正向导通时,二极管正向压降为零;反向截止时,二极管电流为零。恒压源模型:正向导通时,二极管正向压降为常数(硅管0.7V,锗管0.2V);反向截止时二极管电流为零。,(2)整流与检波电路 利用二极管的单向导电特性,将交变的双向信号,转变成单向脉动信号。,(3)限幅电路 利用二极管的导通和截止限制信号的幅度。,二极管的应用举例1:二极管半波整流(理想二极管),+,-,+,-,二极管的应用举例2:已知ui=12sint(V),VD为硅管管压降UD=0.7V,试画出输出电压波形。,UD=ui5 UD0.7V,即ui5.7V,VD导通,uo=5.7V;ui5.7V,VD截止,uo=ui.,1
11、.2.4 稳压管,稳压误差,曲线越陡,电压越稳定。,二极管工作在反向击穿区,利用反向击穿特性,电流变化很大,引起很小的电压变化。,+,二极管的击穿:二极管处于反向偏置时,在一定的电压范围内,流过PN结的电流很小,但电压超过某一数值时,反向电流急剧增加,这种现象我们就称为反向击穿。,上述过程属电击穿,是可逆的,当加在稳压管两端的反向电压降低后,管子仍可恢复原来的状态。但它有一个前提条件,即反向电流和反向电压的乘积不超过PN结容许的耗散功率,超过了就会因为热量散不出去而使PN结温度上升,直到过热而烧毁,这属于热击穿。,稳压二极管的参数:,2.稳定电流IZ 一般来说,工作电流较大时稳压性能较好。,4
12、.额定功耗PZ,1.稳定电压 UZ,5.电压温度系数U(%/),稳定电压在4V7V之间的稳压管,U的值比较小,表示其稳定电压值受温度的影响较小,性能比较稳定。,3.动态电阻rZ rz越小,稳压性能越好。,正常稳压时 VO=VZ,#稳压条件是什么?,#不加R可以吗?,稳压二极管的应用举例,当输入电压或负载电阻变化时,利用稳压管所起的电流调节作用,通过限流电阻上电压或电流的变化进行补偿,来达到稳压的目的。,题1-7 解:,RL两端电压UO=UZ=6V,流过稳压管的电流 IZ=IR-IO=20-6=14mA,光电二极管,发光二极管,反向电流随光照强度的增加而上升,可将光信号转换为电信号,国产二极管型
13、号命名及含义,2AP9N型锗材料小信号普通二极管,2CW56N型硅材料稳压二极管,1.3 双极型三极管(BJT),三极管的结构,又称为半导体三极管、晶体管,或简称为三极管。,NPN型,PNP型,基区:较薄,掺杂浓度低,集电区:面积较大,发射区:掺杂浓度较高,集电结,发射结,符号,结构,NPN型三极管,PNP型三极管,1.3.2 三极管中载流子的运动和电流分配关系,外加电源使发射结正偏,集电结反偏。,收集,IC=ICn+ICBO ICn,IE=ICn+IBn IC+IB,动画演示,共基直流电流放大系数:,共射直流电流放大系数:,三极管具有电流放大作用的条件:,内部条件,发射区多数载流子浓度很高;
14、基区很薄,掺杂浓度很小;集电区面积很大,掺杂浓度低于发射区。,外部条件,思考题:三极管发射极和集电极能否互换?,特性曲线,实验线路,1、输入特性,死区电压,硅管0.5V,锗管0.1V。,工作压降:硅管uBE0.60.8V,锗管uBE0.20.3V。,2、输出特性,此区域满足iC=iB称为线性区(放大区)。,当uCE大于一定的数值时,iC只与iB有关。,此区域中uCEuBE,集电结正偏,集电结收集电子的能力降低,iC不再随着iB作线性变化,出现发射极发射有余,而集电极收集不足现象,称为饱和区.此时,硅管UCES0.3V(锗管0.1V)。,此区域中:iB=0,iC=ICEO,uBE 死区电压,称为
15、截止区。,输出特性三个区域的特点:,放大区:发射结正偏,集电结反偏。NPN:UBE0,UBC0,满足iC=iB,(2)饱和区:发射结正偏,集电结正偏。NPN:UBE0,UBC0,PNP:UBEiCS=(Vcc-UCES)/RC UCEUCES=0.3V UCES-三极管临界饱和压降,iC不再受iB的控制,(3)截止区:发射结反偏,集电结反偏。NPN:UBE0,UBC0 iB=0,iC=ICEO 0,例1:=50,VCC=12V,RB=70k,RC=6k 当VBB=2V,2V,5V时,晶体管的静态工作点Q位于哪个区?,VBB=2V时:,IC ICS,Q位于放大区。,VBB=5V时:,IC IcS
16、,Q位于饱和区。,判断三极管的工作状态可有以下方法:,根据发射结和集电结的偏置电压来判别.根据偏置电流IB、IC、ICS来判别。3.根据UCE的值来判别,UCE VCC,管子工作在截止区;UCE0,管子工作在饱和区。,例2:试判断各三极管分别工作在哪个区?,UBE=0.7V(正偏)UBC=4.3V(反偏)放大状态,饱和,根据晶体管的三个电极电位,判别三个电极及管子类型,原理,NPN管:UBE0,UBC0,步骤,三管脚两两相减,其中差值为0.7V(或0.2V)的管脚为B或E,另一管脚为C,并由此可知是硅管(或锗管)。,假设三个管脚中电位居中的管脚为B,求UBE、UBC,若符合UBE0,UBC0,
17、则为PNP。,管子处于放大状态,例3:一个晶体管处于放大状态,已知其三个电极的电位分别为5V、9V和5.2V。试判别三个电极,并确定该管的类型和所用的半导体材料。,解:分别设U1=5V,U2=9V,U3=5.2V U1U3=55.2=0.2V,因此是锗管,2脚为集电极C。由于3脚的电位在三个电位中居中,故设为基极B,则1为发射极E,有:UBE=U3U1=5.25.=0.2V 0 UBC=U3U2=5.29=3.8V0,因此,为NPN型锗管,5V、9V、5.2V所对应的电极分别是发射极、集电极和基极。,共基直流电流放大系数:,共射直流电流放大系数:,共射交流电流放大系数:,共基交流电流放大系数:
18、,一般为几十几百,1、电流放大系数:,三极管的主要参数,在以后的计算中,一般作近似处理:=,例4:已知UCE=6V时:IB=40 A,IC=1.5 mA;IB=60 A,IC=2.3 mA。求:和,解:,2、反向饱和电流,(1)集电极基极反向饱和电流ICBO,ICBO是集电结反偏由少子的漂移形成的反向电流,受温度的变化影响。,(2)集电极发射极反向饱和电流ICEO(穿透电流),ICEO受温度影响很大,当温度上升时,ICEO增加很快,所以IC也相应增加。,反向电流的值越小,表明三极管的质量越高。,3、极限参数,(1)集电极最大允许电流ICM,集电极电流IC上升会导致三极管的值的下降,当值下降到正
19、常值的三分之二时的集电极电流即为ICM。,(2)极间反向击穿电压,U(BR)CEO基极开路时,集电极和发射极之间的反向击穿电压。,U(BR)CBO发射极开路时,集电极和基极之间的反向击穿电压。,(3)集电极最大允许功耗PCM,集电极电流IC 流过三极管,所发出的焦耳 热为:,PC=ICUCE,必定导致结温 上升,所以PC 有限制。,PCPCM,ICUCE=PCM,安全工作区,1.4 场效应晶体管(FET),场效应管的特点:,压控器件:利用输入回路的电场效应来控制输出回路电流。,单极型器件:仅由一种载流子(多子)参与导电,不易受温度和辐射的影响。,场效应管的分类:,场效应管,结型(JFET),绝
20、缘栅型(IGFET)(MOS),N沟道,P沟道,耗尽型,增强型,N沟道,N沟道,P沟道,P沟道,均为耗尽型,1.4.1 结型场效应管:,1、结构,基底:N型半导体,两边是P区,导电沟道,G栅极,D漏极,S源极,N沟道结型场效应管,P沟道结型场效应管,2、工作原理(以N沟道为例),ID,uDS=0V时,uGS=0导电沟道较宽。,uGS0,耗尽区宽度增大,沟道相应变窄。,但当uGS较小时,耗尽区宽度有限,存在导电沟道。DS间相当于线性电阻。,N,uGS=UGS(off)(夹断电压),两侧耗尽层合拢,导电沟道被夹断。,改变uGS的大小,可以有效地控制沟道电阻的大小,但uDS=0,所以iD始终等于零。
21、,N沟道结型场效应管UGS(off)为负值。,uGS保持不变(UGS(off)0,uDS较小时,iD随uDS的增大几乎成正比地增大。,越靠近漏极处,PN结反压越大,耗尽层最宽,源极处耗尽层最窄。,再增大uDS,当uGD=UGS(off)漏极处的耗尽层开始合拢在一起,称为预夹断。,再增大uDS,夹断长度会略有增加,但夹断处场强很大,仍能将电子拉过夹断区,形成漏极电流。在从源极到夹断处的沟道上,沟道内电场基本上不随uDS改变而变化。iD基本不随uDS增加而上升,漏极电流趋于饱和IDSS。,uDS0,uGS0时,当uGS=0时,耗尽层比较窄,导电沟道比较宽,iD比较大。,N,继续增大VGG,则两边耗
22、尽层的接触部分逐渐增大。uGSUGS(off)时,耗尽层全部合拢,导电沟道完全夹断,iD0,称为夹断。,结论:,JFET栅极、沟道(与源极相连)之间的PN结是反偏的,因此,iG=0,输入电阻很高。,JFET是电压控制器件,iD受uGS控制。由于每个管子的UGS(off)为一定值,预夹断点会随uGS改变而改变。,预夹断前,iD与uDS呈近似线性关系;预夹断后,iD趋于饱和。,可变电阻区,夹断区,恒流区,3、特性曲线,输出特性曲线uGS一定下的iD-uDS曲线,击穿区,恒流区:(又称饱和区或放大区),特点:(1)受控性:输入电压uGS控制输出电流iD,(2)恒流性:输出电流iD 基本上不受输出电压
23、uDS的影响。,用途:可做放大器和恒流源。,可变电阻区:,特点:(1)当uGS 为定值时,iD 是 uDS 的线性函数,管子的漏源间呈现为线性电阻,且其阻值受 uGS 控制。,(2)管压降uDS 很小。,用途:做压控线性电阻和无触点的、闭合状态的电子开关。,夹断区(截止区),特点:,用途:做无触点的、接通状态的电子开关。,击穿区,uDS升高到某一限度时,PN结因反向偏置电压过高而被击穿,iD将突然增大,场效应管被击穿。管子不能在击穿区工作,uGS/V,iD/mA,0,IDSS,UGS(off),转移特性曲线uDS一定下的iD-uGS曲线,夹断电压,饱和漏极电流,P沟道结型场效应管的特性曲线,转
24、移特性曲线,iD,uDS,输出特性曲线,0,uGS=0V,1V,2V,3V,4V,结型场效应管的缺点:,1.栅源极间的电阻虽然可达107以上,但在某些场合仍嫌不够高。,2.在高温下,PN结的反向电流增大,栅源极间的电阻会显著下降。,3.栅源极间的PN结加正向电压时,将出现较大的栅极电流。,绝缘栅场效应管可以很好地解决这些问题。,1.4.2 绝缘栅场效应管:,1、N沟道增强型MOS场效应管,金属铝,两个高掺杂N区,SiO2绝缘层,P型衬底,导电沟道,(金属氧化物半导体场效应管)(MOSFET),(1)结构及符号,N沟道增强型,源极,栅极,漏极,uGS=0时,D、S间相当于两个背靠背的PN结,(2
25、)工作原理,不论D、S间有无电压,均无法导通,不能导电。,uGS0时,uGS足够大时(uGSUGS(th)),形成电场GB,把衬底中的电子吸引到上表面,除复合外,剩余的电子在上表面形成了N型层(反型层)为D、S间的导通提供了通道。,UGS(th)称为阈值电压(开启电压),源极与衬底接在一起,N沟道,uGSUGS(th),uDS较小时,漏极电流iD将随uDS上升而增大。,当uDS较大时,栅漏之间的电位差最小,靠近漏端的导电沟道最窄;栅源之间的电位差最大,导电沟道最宽。,uDS增加到一定程度,uGD=uGS-uDS=UGS(th)时,靠近D端的沟道被夹断,称为预夹断。,夹断后,uDS 继续增加,将
26、形成一夹断区,iD趋于饱和,呈恒流特性。,输出特性曲线,uGS0,(3)特性曲线,可变电阻区,截止区,恒流区,对比,转移特性曲线,开启电压,2UGS(th),IDO,2、N沟道耗尽型MOS场效应管,预埋了导电沟道,uGS=0时就有导电沟道,只要uDS0,即有iD;uGS0时,沟道变窄,iD减小;uGSUGS(off)时,导电沟道消失,iD=0。,转移特性曲线,夹断电压,uGS0,uGS=0,uGS0,输出特性曲线,P 沟道增强型,予埋了导电沟道,P 沟道耗尽型,各种场效应管对比,1.4.3 场效应管主要参数,1、直流参数,(1)饱和漏极电流IDSS:耗尽型场效应管的参数。,(2)夹断电压UGS
27、(off):耗尽型场效应管的参数。,(3)开启电压UGS(th):增强型场效应管的参数。,(4)直流输入电阻RGS:由于场效应管的栅极几乎不取电流,因此其输入电阻很高。,2、交流参数,(1)低频跨导gm:表征场效应管放大作用的重要参数,用以描述栅源电压uGS对漏极电流iD的控制作用。,单位:毫西门子(mS),(2)极间电容:极间电容越小,管子的高频性能越好。,3、极限参数,(1)漏极最大允许耗散功率PDM(2)漏源击穿电压U(BR)DS(3)栅源击穿电压U(BR)GS,双极型三极管与场效应三极管的比较,双极型三极管 场效应三极管,结构 与分类,NPN型PNP型,结型:N沟道、P沟道,载流子,多
28、子、少子,多子,输入量,控制,噪声,温度特性,输入电阻,静电影响,集成工艺,电流,电压,电流控制电流源,电压控制电流源,较大,较小,受温度影响较大,受温度影响较小,几十到几千欧姆,几兆欧以上,不受静电影响,易受静电影响,不易大规模集成,适宜大规模、超大规模集成,1.本征半导体中加入微量的5价元素的杂质,构成的是_型半导体,其多数载流子是_,少数载流子是_。,本章复习,N,电子,空穴,2杂质半导体中,多数载流子的浓度主要取决于_,少数载流子的浓度与_密切相关。,杂质浓度,温度,3.当PN结外加正向电压时,扩散电流_ 漂移电流,耗尽层变_;当PN结外加反向电压时,扩散电流_ 漂移电流,耗尽层变_。
29、,大于,窄,小于,宽,4.二极管最主要的特性是_。在常温下,硅二极管的开启电压约_ V,导通后在较大电流下的正向压降约_V;锗二极管的开启电压约_ V,导通后在较大电流下的正向压降约_ V。,单向导电性,0.5,0.7,0.1,0.2,5稳压管稳压是利用它的特性,所以必须给稳压管外加电压。,反向击穿,反向,6.为保证三极管处于放大状态,其发射结必须加_偏置电压,集电结必须加_偏置电压。,正向,反向,7.半导体三极管通常可能处于_、_、_三种工作状态。,截止区,放大区,饱和区,8.下图(a)和(b)是两个放大管的不完整的符号,根据图中所给数据和电流方向,判断它们的导电类型分别为_ 型和_型,用半
30、导体材料_和_制成,电流放大系数分别为_和_。,NPN,PNP,硅,锗,50,20,9.三极管处于放大状态时,是工作在其特性曲线的_区;场效应管工作在放大状态时,是工作在其特性曲线的_区。,放大,恒流,10.三极管的ICEO大,说明其_。,热稳定性差,11场效应管是一种控器件,它利用 控制漏极电流iD。,压,栅源电压uGS,12.某三极管的极限参数PCM150mW,ICM=100mA,U(BR)CEO=30V,若它的工作电压UCE10V,则工作电流IC不得超过_ mA;若工作电压UCE=1V,则工作电流不得超过_ mA;若工作电流IC1mA,则工作电压不得超过_ V。,15,100,30,第一章 结 束,