射线检测培训总复习.ppt

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1、1,射线检测培训总复习,王宝军,2,一、射线检测物理基础,1、元素和同位素：元素：具有相同核电荷数的同一类原子叫做元素。同位素：具有相同质子数和不同中子数的同一种元素的原子互称同位素。2、射线探伤用的射线：X射线、射线电磁波；中子射线粒子辐射(容易被氢等轻物质俘获,而易穿透铅等重金属)。3、X射线、射线的性质：（P5）a、不可见，沿直线传播，传播速度等于光速；b、不带电，不受电磁场的影响；c、能穿透可见光不能穿透的物质；d、穿透物质过程中，会被物质吸收和散射而发生衰减；e、有反射、折射、干涉和衍射现象；f、有光化学作用，能使胶片感光；g、有荧光效应，能使某些物质发荧光；h、有生物效应，能杀伤生

2、物细胞。,3,4、产生X射线的条件：（习题P20372）a、发射电子；b、使电子聚焦；c、加速电子；d、接受电子轰击的靶；e、有高真空度。5、连续X射线和标识X射线的不同之处：（习题P20374）a、连续X射线是由高速电子与原子核的库仑场作用而产生的；标识X射线是由高速电子与原子核外壳层电子作用而产生的。b、连续X射线是连续谱，其波长呈连续分布；标识X射线是线状谱，由一个或几个特定的波长组成。c、连续X射线的能量（波长）取决于管电压；标识X射线的能量（波长）取决于靶材，与管电压无关。,4,6、连续X射线的最短波长：7、X射线的产生效率：（P6）式中：01.11.410-6，V管电压（KV）由上

3、式可知，高速电子撞击靶时，只有很少的能量转变为X射线，绝大部分能量都转变为热量。例题：求管电压250KV的X射线机辐射连续X射线的效率。（已知：钨靶Z=74，比例系数0=1.210-6).解：,5,8、X射线和射线的相同和不同之处：（习题P20371）a、相同之处：X射线和射线都是电磁波，它们具有相同的性质，如不可见、依直线传播、不带电、能穿透物质、能使物质电离、使胶片感光、能发生生物效应等。b、不同之处：、产生机理不同，X射线是高速电子与物质碰撞产生的；而射线是放射性物质原子核衰变时放射出来的。、X射线是连续谱，射线是线状谱；、X射线的能量取决于管电压，射线的能量取决于放射性同位素的种类；、

4、X射线的强度随管电压和管电流而变化，射线的强度取决于源的大小，且随时间而不断减弱。,6,9、射线的衰变律和半衰期：（P8）、衰变律：、半衰期：利用半衰期计算任一时刻的源活度：例题：已知Ir192源的半衰期为75天。求活度为100Ci的Ir192源两个月后活度为多少？解：,7,10、常用射线源的能量和半衰期：11、射线与物质的相互作用产生三种效应及其特征：（P1316）a、光电效应光子与原子的束缚电子作用时,光子把全部能量转移某个束缚电子，使之发射出去,而光子本身则消失掉，这一过程称为光电效应.光电效应产生光电子、俄歇电子和标识X射线。b、康普顿效应光子将部分能量给予外层电子，变为能量较低的方向

5、改变了的散射光子，产生反冲电子。,8,c、电子对效应：当入射光子的能量大于1.02MeV时，受原子核库仑场的作用，光子消失，产生一个正电子和一个负电子。12、“窄束”与“宽束”，“单色”与“多色”：（习题P37380）：窄束射线是指透过物体的射线中只包含一次透射线，不包含散射线。宽束射线是指透过物体的射线中既包含一次透射线，也包含散射线。单色射线由单一波长组成的射线。多色射线由多个波长组成的射线，由连续波长组成的射线称为“白色射线”。,9,13、单色窄束射线的衰减律和半价层：（P19-21）衰减律：半价层：利用半价层计算射线强度：例题：已知某射线源，铅的半价层为3mm。求铅的1/10和1/20

6、价层分别是多少？,10,11,12,例题：若散射线忽略不计，当透照厚度的增厚量相当于1/2半价层时，则胶片接受的照射线量将减小百分之几？,13,14、线衰减系数和半价层：其中 a、能量越高，波长越短，越小，Th越大；b、物质原子序数越大，密度越大，越大，T1/2越小。c、对于连续X射线来说，由于在穿透物质过程中，平均能量越来越高（波长越来越短），所以平均衰减系数越来越小，半价层越来越大。,14,15、射线照相法基本原理：（P24）射线穿透物体过程中会与物质发生相互作用，因吸收和散射而发生强度减弱。强度减弱程度取决于物质的衰减系数和穿透厚度。当试件中存在缺陷时，由于缺陷使试件厚度发生变化，且构成

7、缺陷的物质的衰减系数与试件不同，因此透过缺陷部位和完好部位的射线强度就产生了差异。将射线胶片放于试件下曝光，由于透过缺陷部位和完好部位的射线强度不同，因而使胶片的感光程度不同，胶片经处理后，缺陷部位和完好部位就形成了黑度不同的影象，依据底片上的黑度变化就可以对试件中缺陷进行判断。,15,16、射线照相法的优缺点：（P25）优点：、可检测出材料内部缺陷；、适用适用材料广泛，可用于各种金属和非金属材料，且不受工件形状、表面状态和组织的限制；、缺陷影象直观，定性、定量比较准确；、底片可长期保存。缺点：、可检出的最小缺陷（绝对灵敏度）与工件厚度有关，厚度越大，绝对灵敏度越低；、缺陷检出率与缺陷方向有关

8、，对于面状 缺陷和细微裂纹之类的缺陷容易漏检；、检验速度慢，检测成本高；、对人体有害，需要进行安全防护。,16,二、射线检测设备和器材,1、X射线管的组成和各部分的作用：（P29）、阴极射线管的负电极，由灯丝和阴极头组成。灯丝发射电子；阴极头聚焦电子。、阳极射线管的正电极，由阳极靶、阳极体和阳极罩组成。阳极靶接受电子轰击，产生X射线；阳极体支撑靶和传热；阳极罩吸收二次电子和部分散射线。、玻壳支撑电极和保持射线管的真空度。,17,2、金属陶瓷管的优点：（P39）a、机械强度高，抗震性能好，不易破碎；b、真空度高，电性能好，寿命长；c、体积小，重量轻；d、易于焊接铍窗，透过的软X射线较多。3、X射

9、线管的冷却方式：（P3132）a、辐射散热式（油浸自冷、气体冷却）b、强的制循环冷却（循环油外冷、循环水外冷）c、旋转阳极冷却（医用X射线机）,18,4、X射线管的焦点：（P34）a、实际焦点阳极靶上受电子轰击的部分。b、有效焦点实际焦点在垂直于管轴线方向上的投影。c、焦点大，利于散热，管电流可以较大；焦点小，散热条件差，管电流不能太大。d、焦点形状和尺寸取决于灯丝形状和尺寸，圆形和正方形焦点尺寸为 a(a为直径或边长)；长方形和椭圆形焦点尺寸为（a和b为边长或轴长）。,19,5、X射线管的真空度：（P36）X射线管必须在的10-6mmHg的真空度下才能工作。高真空度的作用一是防止电极材料氧化

10、，二是防止气体电离而响电子发射。6、X射线机训机的目的：（习题P38-390）主要目的是为了提高X射线管的真空度。7、X射线机的高压整流电路：（习题P39391）半波整流电路、全波整流电路、全波倍压恒直流电路。8、软X射线机：X射线管装有铍窗，额定管电压约50KVP左右的X射线机。,20,9、X射线机管电压和管电流：（P4344）、管电压调节是通过调节高压变压器初级线圈并联的自耦变压器的电压来实现的。管电压越高，电子运动速度越快，产生的X射线能量越高，穿透力越大。、管电流是通过调节灯丝变压器电压从而调节灯丝加热电流来实现的。管电流越大，产生的X射线强度就越大。10、底片黑度：（P59）：D=1

11、 L/L0=1/10 D=2 L/L0=1/100 D=3 L/L0=1/1000,21,例题：按照GB3323-87标准规定：AB级射线照相底片黑度范围为D=1.23.5.若要求透过底片评定范围内的亮度应不低于30cd/m2。为满足底片观察要求，观片灯亮度至少应为多少？解：,22,11、射线胶片的衬度（梯度、对比度、反差）（P61）：胶片特性曲线上某一点切线的斜率称为胶片的梯度（衬度或反差）。12、铅增感屏的作用：（P67）a、增感效应增加对胶片的感光作用，缩短曝光时间；b、吸收效应吸收波长较长的散射线，提高射线照相对比度。13、铅增屏的增感原理：（P67）铅箔屏受射线激发产生二次电子和二次

12、射线，二次电子和二次射线能量很低，极易被胶片吸收，从而增加了对胶片的感光作用。,23,14、增感屏上的划伤引起的伪缺陷：（P70）铅屏表面有划伤时，由于发射二次电子的表面积增大，会使底片上出现细黑线。荧光屏上有划伤时，由于增感面积减小，底片上相应部位出现亮线。15、R10系列丝型象质计的公比为1.25或0.8，即相邻两根金属丝，粗的（编号小的）直径为细（编号大的）的1.25倍，细的丝径为粗的0.8倍。R10系列丝型象质计丝径和线号之间的关系是：Z=6-10Lgd（P71）,24,16、象质计是用来评价底片影像质量的，并不代表射线照相可检出的最小缺陷尺寸。例如2%灵敏度并不意味着工件中尺寸为工件

13、厚度2%的缺陷一定能检测出来。特别是对裂纹之类方向性很强的缺陷,由于其取向和密闭程度的不同，即使底片上显示的象质计灵敏度很高，有时也有难于检出甚至完全不能检出的情况,25,三、射线检测工艺,1、射线照相对比度，它取决于：、主因对比度-由于不同区域射线强度差异所产生的对比度叫主因对比度。公式为：，影响因素有：a、由缺陷引起的透照厚度差T；b、射线衰减系数（取决于射线能量、工件材料密度和原子序数）；c、散射比n。、胶片对比度，影响因素有：a、胶片类型（）；b、显影条件（配方、时间、温度、活度和搅动）；c、底片黑度D。,26,2、射线照相不清晰度，它取决于：、几何不清晰度由于射线源都有一定的尺寸，所

14、以照相时工件轮廓和缺陷边缘会在底片上产生半影，这个半影宽度叫做几何不清晰度。公式为，影响因素有：a、焦点尺寸df；b、焦点至工件表面距离L1；c、工件表面至胶片距离L2。固有不清晰度，影响因素有：a、射线能量；b、增感屏类型；c、屏-片贴紧程度；d、胶片银胶比。,27,3、射线照相颗粒度取决于：a、胶片类型；b、射线能量；c、显影条件（配方、时间、温度）。4、几何不清晰度计算：例题：用焦点3mm的X射线机透照厚度为30 mm的平板对接焊缝，焦距600mm,求几何不清晰度。解：已知 d=3mm,b=30mm,F=600mm 代入公式：Ug.15(mm),28,5、射线曝光条件包括的内容：X射线机

15、（型号、规格）；射线胶片（型号）；增感屏（类型、厚度）；焦距（或源到工件表面距离）；管电压；管电流；曝光时间。6、曝光曲线是表示工件厚度、管电压和曝光量（管电流曝光时间）之间的关系的曲线。7、散射线及其控制（P142）：、散射线成因散射线是射线与物质相互作用时发生康普顿效应而产生的能量较低方向改变了的射线。,29,、散射源-射线透照相时，一切受到射线照相射的物体都是散射源，如工件、暗盒、墙壁、地板及空气等都是散射源，其中工件自身是最大的散射源。、散射线的分类-按散射线的方向可分为：a、前散射来自暗盒前方的散射；b、背散射来自暗盒背面的散射；c、侧散射（边蚀散射）-来自工件周围的散射。、散射线的

16、危害散射线会使底片灰雾度增大，影象对比度降低，使影象模糊，底片质量变差。,30,、控制散射线的措施：散射线无法消除，只能采取适当措施减小其影响，主要措施有：a、选择较高的射线能量（小管透照）；b、使用铅增感屏，在暗盒背面垫铅板（吸收背散射）；c、在射线管窗口加铅罩或光阑，减小受照射面积；d、在射线管窗口加滤板，吸收波长较长的射线；e、在工件周围的暗盒上加挡板（减少边蚀影响）；f、采用厚度补偿物（厚度差大的工件）。,31,8、曝光量的修正和计算：（P120-122）、毫安时间修正（互易律）：互易律 例题：管电流毫安，曝光时间分钟可得到满意的射线照片，如果其它条件不变，管电流增加到1毫安，曝光时间

17、应变为多少？解：已知 代入公式：,32,、距离曝光量（时间、管电流）修正（平方反比律）：例题：透照某工件焊缝，用铅增感，当管电压为200KVP、管电流5 mA、焦距600mm、曝光时间5分钟，底片黑度为2.0。现将管电流改为10mA、焦距改为800mm、其它条件不变，要得到黑度相同的射线照片，曝光时间应变为多少？,33,解：,34,、利用胶片特性曲线修正曝光量：公式：例题：透照某工件，曝光量度10mAm时得到的底片黑度为 1.0，为使底片黑度达到2.5,问曝光量应变为多少？（已知胶片特性曲线上Lg1.0=2.23,Lg2.5=2.62）解：,35,、综合计算：例题1：焦距离500mm、管电压力

18、200KV、管电流通渠道5mA、曝光4分钟得到的底片黑度为 1.0。现改用焦距离750 mm、管电流通渠道15mA、管电压不变，欲使底片黑度提高到 1.5，则曝光时间应变为多少？（已知胶片特性曲线上LgE1.0=1.8,LgE1.5=2.1）解：设黑度不变，焦距和管电流变化时：由 黑度由1.0 变为1.5时，曝光时间应变为：,36,例题2、用型胶片透照某工件，曝光量10mAmin时得到的底片黑度为1.0。为使底片黑度达到2.5,曝光量应变为多少？（已知胶片特性曲线上Lg1.0=2.23,Lg2.5=2.62）。解：,37,9、射线照相等效系数：（P140）所谓射线照相等效系数，是指在一定的管电

19、压下，达到相同的射线吸收效果的钢的厚度（T0）与被检材料厚度（Tm）之比，即：例题：已知铝的射线照相等效系数为0.08，则50mm厚的铝相当于多厚的钢？解：,38,四、暗室处理,1、显影剂的作用和成份：显影的作用是将已曝光的溴化银还原为金属银，常用的显影剂是米吐尔和对苯二酚。2、定影的作用和成份：定影的作用是将未显影的溴化银溶解掉，而对已还原的金属银不发生作用，常用的定影剂是海波。3、停显液的作用和成份：停显液的作用是中和胶片上的显影剂，停止显影作用，常用的停显液是冰醋酸溶液。,39,五、辐射防护,1、放射防护三大要素：（1）、时间防护照射量与时间成正比，控制受照射的时间。（2）、距离防护射线

20、强度与距离的平方成反比，平大人与射源之间的距离。（3）、屏蔽防护利用物质对射线的吸收作用，在人和源之间放置吸收材料。2、防护计算：（1）.时间防护计算：例1：已知工作地点的剂量率为50Sv，问工作人员可在此处工作多少时间？,40,解：每年按50周计算，每周剂量限值为：50mSv/50=1mSv=103Sv 时间=剂量/剂量率=1000/50=20小时（2）.距离防护计算：例2：距离一源2米处的漏泄空气比释动能率为0.4mGy/h,散射线空气比释动能率为漏泄比释动能率的9倍.问距源多远处的空气比释动能率可降低到25Gy/h？解：距源2米处空气比释动能率I1=0.4（1+9）=4mGy/h=400

21、0Gy/h;,41,（3）.屏蔽防护计算：例3：为将Co60产生的剂量减弱2000倍，所需铅厚度为多少？（已知Co60在铅中的半价层Th=1.06cm）。解：,42,六、JB/T4730-2005标准,、通用要求1、适用范围：、方法：射线检测、超声检测、磁粉检测、渗透检测和涡流检测等五种无损检测方法、对象：在制和在用金属材料制承压设备2、术语和定义：、透照厚度W 射线照射方向上材料的公称厚度。多层透照时，透照厚度为通过的各层材料公称厚度之和。、圆形缺陷 长宽比不大于3的气孔、夹渣和夹钨等缺陷。,43,、条形缺陷 长宽比大于3的气孔、夹渣和夹钨等缺陷。、小径管 外直径Do小于或等于100mm的管

22、子。3、使用原则、射线和超声检测主要用于承压设备的内部缺陷的检测；磁粉检测主要用于铁磁性材料制承压设备的表面和近表面缺陷的检测；渗透检测主要用于金属材料制承压设备的表面开口缺陷的检测；涡流检测主要适用于金属材料制承压设备表面和近表面缺陷的检测。,44,、铁磁性材料表面检测时，宜采用磁粉检测。、当采用两种或两种以上的检测方法对承压设备的同一部位进行检测时，应按各自的方法评定级别。、采用同种检测方法按不同检测工艺进行检测时，如果检测结果不一致，应以危险度大的评定级别为准。、射线检测1、适用范围 适用于承压设备制造、安装、在用检测中对接焊接接头的射线检测。,45,用于制作焊接接头的金属材料包括碳素钢

23、、低合金钢、不锈钢、铜及铜合金、铝及铝合金和钛及钛合金、镍及镍合金。有关支承件和结构件的对接焊接接头的射线检测，也可参照使用。2、射线检测技术 分为三级：A级低灵敏度技术；AB级中灵敏度技术；B级高灵敏度技术。3、胶片系统、分为四类，即T1、T2、T3和T4类。T1为最高类别，T4为最低类别。,46,、A级和AB级技术应采用T3类或更高类别的胶片，B级技术应采用T2类或更高类别的胶片。、采用射线对裂纹敏感性大的材料进行射线检测,应采用T2类或更高类别的胶片。4、黑度计、黑度计可测的最大黑度应不小于4.5，测量值的误差应不超过0.05。、黑度计至少每6个月校验一次。黑度片每2年检定一次。,47,

24、5、增感屏 射线检测一般应使用金属增感屏或不用增感屏。6、像质计 底片影像质量采用线型像质计测定。线型像质计的型号和规格应符合JB/T 7902的规定，JB/T 7902中未包含的丝径、线号及构成等内容，应符合HB 7684的有关规定。7、表面要求和射线检测时机、射线检测前，焊接接头的表面应经外观检测并合格。表面的不规则状态在底片上的影像不得掩盖或干扰缺陷影像，否则应对表面作适当修整。,48,、射线检测应在焊接完工后进行。对有延迟裂纹倾向的材料，至少应在焊接完成24h后进行射线检测。8、射线检测技术等级选择、射线检测技术等级选择应符合制造、安装、在用等有关标准及设计图样规定。承压设备对接焊接接

25、头的制造、安装、在用时的射线检测，一般应采用AB级技术进行检测。对重要设备、结构、特殊材料和特殊焊接工艺制作的焊接接头，可采用B级技术进行检测。,49,、由于结构、环境条件、射线设备等方面限制，检测的某些条件不能满足AB级（或B级）技术的要求时,经合同各方商定，在采取有效补偿措施（例如选用更高类别的胶片）的前提下，受限制条件可按A级（或AB级）要求实施，若底片的像质计灵敏度达到了AB级（或B级）的规定,则可认为按AB级（或B级）进行了检测。、承压设备在用检测中，由于结构、环境、射线设备等方面限制,检测的某些条件不能满足AB级技术的要求时,经合同各方商定,在采取有效补偿措施（例如选用更高类别的胶

26、片）后可采用A级技术进行射线检测，但还应同时采用其他无损检测方法进行补充检测。,50,9、辐射防护、现场进行射线检测时，应划定控制区和管理区、设置警告标志。检测工作人员应佩带个人剂量计，并携带剂量报警仪、现场进行射线检测时，划定控制区和监督区、设置警告标志，检测作业时，应围绕控制区边界测定辐射水平。检测工作人员应佩带个人剂量计，并携带剂量报警仪。10、透照方式选择原则 在可以实施的情况下应选用单壁透照方式,在单壁透照不能实施时才允许采用双壁透照方式。典型的透照方式有八种。,51,11、一次透照长度、一次透照长度以透照厚度比K控制。、纵向焊接接头：A级、AB级：K 1.03 B级：K 1.01

27、环向焊接接头：A级、AB级：K 1.1 B级：K 1.06、对100mmDo400mm的环向焊接接头（包括曲率相同的曲面焊接接头）,A级、AB级允许采用K1.2。,52,12、小径管对接接头的透照布置、小径管采用双壁双影透照布置。当同时满足下列两条件时采用倾斜透照椭圆成像：T（壁厚）8mm；g/4（焊缝宽度）Do 椭圆成像时，应控制影像的开口宽度（上下焊缝投影最大间距）在1倍焊缝宽度左右。、不满足上述条件或椭圆成像困难时可采用垂直透照方式重叠成像。13、小径管对接接头的透照次数,53,、倾斜透照椭圆成像：当T/Do0.12,相隔90透照2次。当T/Do0.12,相隔120或60透照3次。、垂直

28、透照重叠成像时，一般应相隔120或60透照3次。、由于结构原因不能进行多次透照时，经合同各方同意，可不按100%检测的透照次数要求，允许采用椭圆成像或重叠成像方式透照一次，此时应采取有效措施扩大缺陷可检出范围，并保证底片评定范围内黑度和灵敏度满足要求。,54,:平移距离计算:例题：用2005X射线机透照513.5的管子环焊缝，已知焦距F=600mm,焊缝宽度b=10mm。求椭圆间距g=5mm时的透照偏移距离S(不考虑焊缝余高)。,55,14、射线能量选择、X射线照相应尽量选用较低的管电压。在采用较高管电压时，应保证适当的曝光量。、对截面厚度变化大的工件，在保证灵敏度要求的前提下，允许采用超过规

29、定的射线管电压。钢、铜及铜合金管电压增量不应超过50kV；钛及钛合金管电压增量不应超过40kV；铝及铝合金管电压增量不应超过30kV。,56,15、射线允许的透照厚度范围、采用源在内中心透照方式，在保证像质计灵敏度达到要求的前提下，允许射线最小透照厚度取规定下限值的二分之一。、采用其他透照方式，在采取有效补偿措施并保证像质计灵敏度达到要求的前提下，经合同各方同意，Ir-192源的最小透照厚度可降至10mm（小径管壁厚为5mm），Se-75源的最小透照厚度可降至5mm（小径管壁厚为2.5mm）。16、射线源至工件表面的最小距离,57,、所选用的射线源至工件表面的距离f应满足下式的要求：A 级：f

30、 7.5db 2/3 AB级：f 10db 2/3 B 级：f 15db 2/3、采用源在内中心透照方式周向曝光时，只要得到的底片质量符合和的要求，f值可以减小，但减小值最多不应超过规定值的50%。、采用源在内单壁透照方式时，只要得到的底片质量符合和的要求，f值可以减小，但减小值最多不应超过规定值的20%。,58,17、曝光量、射线照相，当焦距为700mm时，曝光量的推荐值为：A级和AB级不小于15mAmin；B级不小于20mAmin。当焦距改变时可按平方反比定律对曝光量进行换算。、采用射线源透照时,总的曝光时间至少应不小于输送源往返所需时间的10倍。18、曝光曲线,59,、对每台在用的射线设

31、备均应做出经常检测材料的曝光曲线，依据曝光曲线确定曝光参数。、对使用中的曝光曲线，每年至少应校验一次。射线设备更换重要部件或经较大修理后应及时对曝光曲线进行校验或重新制作。19、无用射线和散射线屏蔽、对初次制定的检测工艺或检测工艺的条件、环境发生改变时,该检测工艺在应用于正式检测时应进行背散射防护检查。,60,、检查背散射防护的方法是：在暗盒背面贴附“B”铅字标记，按检测工艺的规定进行透照和暗室处理。若在底片上出现黑度低于周围背景黑度的“B”字影像，则说明背散射防护不够,应增大背散射防护铅板的厚度。若底片上不出现“B”字影像或出现黑度高于周围背景黑度的“B”字影像，则说明背散射防护符合要求。2

32、0、像质计的使用,61,、放置原则 像质计一般应放置在工件源侧表面焊缝的一端（在被检区长度的1/4左右位置）,金属丝横跨焊缝，细丝置于外侧。当一张胶片上同时透照多条焊接接头时,像质计应放置在透照区最边缘的焊缝处。单壁透照规定像质计放置在源侧。双壁单影透照规定像质计放置在胶片侧。双壁双影透照像质计可放置在源侧，也可放置在胶片侧。单壁透照中，如果像质计无法放置在源侧，允许放置在胶片侧，但应进行对比试验。当像质计放置在胶片侧时，应在像质计上适当位置放置铅字“F”作为标记，F标记的影像应与像质计的标记同时出现在底片上，且应在检测报告中注明。,62,、象质计数量 原则上每张底片上都应有像质计的影像。当一

33、次曝光完成多张胶片照相时，允许减少使用的像质计数量。环形焊接接头源置于中心周向曝光，至少在圆周上等间隔地放置3个像质计;球罐焊接接头采用源置于球心全景曝光时，至少在北极区、赤道区、南极区附近的焊缝上沿纬度等间隔地各放置3个像质计，在南、北极的极板拼缝上各放置1个像质计;一次曝光连续排列的多张胶片时，至少在第一张、中间一张和最后一张胶片处各放置一个像质计。,63,、小径管象质计的使用 小径管可选用通用线型像质计或专用（等径金属丝）像质计，金属丝应横跨焊缝放置。像质计应置于源侧，当无法放置在源侧时，可将像质计置于胶片侧。、象质计的识别 底片上，在黑度均匀区（一般是邻近焊缝的母材金属区）能清晰地看到

34、长度不小于10mm的连续的金属丝影像时，则该丝认为是可识别的。专用像质计应能识别不少于二根金属丝。,64,21、透照部位标记、透照部位的标记由识别标记和定位标记组成。识别标记一般包括：产品编号、焊接接头编号、部位编号和透照日期。返修后的透照还应有返修标记,扩大检测比例的透照还应有扩大检测标记。定位标记一般包括中心标记和搭接标记。中心标记指示透照部位区段的中心位置和分段编号的方向,一般用十字箭头“”表示。搭接标记是连续检测时的透照分段标记，可用符号“”或其他能显示搭接情况的方法表示。,65,、标记一般应放置在距焊缝边缘至少5mm以外的部位，标记的影像不应重叠，且不应干扰有效评定范围内的影像。22

35、、评片要求、评片人员在评片前应经历一定的暗适应时间。从阳光下进入评片的暗适应时间一般为5 min10min；从一般的室内进入评片的暗适应时间应不少于30s。、评片时，底片评定范围内的亮度应符合下列规定：当底片评定范围内的黑度 D2.5时，透过底片评定范围内的亮度应不低于30cd/m2；,66,当底片评定范围内的黑度 D2.5时,透过底片评定范围内的亮度应不低于10cd/m2。、底片评定范围的宽度一般为焊缝本身及焊缝两侧5mm宽的区域。23、底片质量、底片上标记影像显示完整、位置正确。、底片评定范围内的黑度D符合下列规定:A 级：1.5D4.0；AB级：2.0D4.0 B 级：2.3D4.0。X

36、射线透照小径管或其他截面厚度变化大的工件时，AB级最低黑度允许降至1.5；B级最低黑度可降至2.0。,67,采用多胶片方法时，单片观察的黑度应符合以上要求。双片叠加观察仅限于A级，叠加观察时，单片的黑度应不低于1.3。对评定范围内的黑度D4.0的底片，如有计量检定报告证明所使用观片灯的亮度能够满足要求，且经合同各方同意，允许进行评定。、底片的像质计灵敏度符合规定、底片评定范围内不应存在干扰缺陷影像识别的水迹、划痕、斑纹等伪缺陷影像。,68,24、钢、镍、铜制熔化焊对接接头射线检测质量分级、适用范围 碳素钢、低合金钢、奥氏体不锈钢、镍及镍基合金T=2400mm；铜及铜合金，以及厚度为280mm。

37、缺陷类型 焊接接头中的缺陷按性质区分为裂纹、未熔合、未焊透、条形缺陷和圆形缺陷五类。、根据焊接接头中存在的缺陷性质、数量和密集程度，焊接接头的质量等级划分为、III、级。,69,、质量分级一般规定 级焊接接头内不允许存在裂纹、未熔合、未焊透和条形缺陷。级和III级焊接接头内不允许存在裂纹、未熔合和未焊透。焊接接头中缺陷超过III级者为级。当各类缺陷评定的质量级别不同时，以质量最差的级别作为焊接接头的质量级别。、圆形缺陷的分级评定 圆形缺陷用圆形缺陷评定区进行质量分级评定，圆形缺陷评定区为一个与焊缝平行的矩形。圆形缺陷评定区应选在缺陷最严重的区域。,70,在圆形缺陷评定区内或与圆形缺陷评定区边界

38、线相割的缺陷均划入评定区内。将评定区内的缺陷按规定换算为点数，按分级表的规定评判焊接接头的质量级别。由于材质或结构等原因,进行返修可能会产生不利后果的焊接接头，经合同各方同意，各级别的圆形缺陷点数可放宽1点2点。对致密性要求高的焊接接头，将黑度大的圆形缺陷定义为深孔缺陷,存在深孔缺陷时，焊接接头质量评为级。缺陷长径大于T/2焊接接头质量评为级。,71,质量等级为级的焊接接头和母材公称厚度T 5mm的级焊接接头，不计点数的缺陷在圆形缺陷评定区内不得多于10个，超过时焊接接头质量等级应降低一级。、条形缺陷的分级评定 条形缺陷按单个条形缺陷最大长度和条形缺陷累计最大长度进行评定。条形缺陷评定区是指与

39、焊缝方向平行的、具有一定宽度的矩形区。T25mm，宽度4mm；25mmT100mm，宽度为6mm；T100mm，宽度为8mm。,72,当两个或两个以上条形缺陷处于同一直线上、且相邻缺陷的间距小于或等于较短缺陷长度时，应作为1个缺陷处理，且间距也应计入缺陷的长度之中。、综合评级 在圆形缺陷评定区内同时存在圆形缺陷和条形缺陷时，应进行综合评级。对圆形缺陷和条形缺陷分别评定级别，将两者级别之和减一作为综合评级的质量级别。,73,25、铝制熔化焊对接接头射线检测质量分级、范围 厚度为280mm，材质为铝及铝合金、缺陷类型 裂纹、未熔合、未焊透、夹铜、条形缺陷和圆形缺陷六类。、质量分级一般规定 级焊接接

40、头内不允许存在裂纹、未熔合、未焊透、夹铜缺陷和条形缺陷。级和级焊接接头内不允许存在裂纹、未熔合、未焊透和夹铜缺陷。焊接接头中缺陷超过级者为级。当各类缺陷评定的质量级别不同时,以质量最差的级别作为焊接接头的质量级别。,74,、圆形缺陷的分级评定 当级接头允许的缺陷点数连续存在、并超过评定区尺寸的3倍时，接头质量应评定为级。缺陷长径大于2T/3或缺陷长径大于10mm，接头质量应评定为级。26、钛及钛合金对接接头质量分级、范围：厚度为250mm，材质为钛及钛合金、圆形缺陷的分级评定 级接头和母材公称厚度T 5mm的级接头，不计点数的缺陷在圆形缺陷评定区内不得多于10个。,75,母材公称厚度T5mm的

41、级接头，不计点数的缺陷在圆形缺陷评定区内不得多于20个。母材公称厚度T5mm的级接头，不计点数的缺陷在圆形缺陷评定区内不得多于30个。超过上述规定时接头质量应降低一级。27、钢、镍、铜制承压设备管子及压力管道熔化焊环形对接接头质量分级、范围 壁厚T 2mm，材质为碳素钢、低合金钢、奥氏体不锈钢、镍及镍基合金、铜及铜合金、缺陷类型 分为裂纹、未熔合、未焊透、条形缺陷、圆形缺陷、根部内凹、根部咬边等七类。,76,、质量分级的一般规定 级焊接接头内不允许存在裂纹、未熔合、未焊透、条形缺陷、根部内凹、根部咬边。级和级焊接接头内不允许存在裂纹、未熔合，双面焊以及加垫板单面焊中的未焊透。焊接接头中缺陷超过

42、级者为级。当各类缺陷评定的质量级别不同时,以质量最差的级别作为焊接接头的质量级别。、圆形缺陷的分级评定 对小径管缺陷评定区取10mm10mm。,77,、不加垫板单面焊的未焊透缺陷的测定 管外径Do100mm的小径管的未焊透深度可采用小径管专用对比试块(A或B型)进行测定,管外径Do100mm的管子和容器未焊透深度可采用一般对比试块（型）进行测定。测定时，对比试块应置于管的源侧表面、靠近被测未焊透缺陷附近部位。对断续未焊透,以未焊透本身的长度累计计算总长度。,78,、根部内凹和根部咬边的测定 管外径Do100mm的小径管的根部内凹和根部咬边深度可采用小径管专用对比试块(A或B型)进行测定；管外径

43、Do100mm的管子和容器根部内凹和根部咬边深度可采用一般对比试块（型）进行测定。测定时，对比试块应置于管的源侧表面、靠近被测根部内凹和根部咬边缺陷附近部位。对断续根部内凹和根部咬边,以根部内凹和根部咬边本身的长度累加计算总长度。,79,、综合评级 在条形缺陷评定区内同时存在多种缺陷时，应进行综合评级。对各类缺陷分别评定级别，取质量级别最低的级别作为综合评级的级别；当各类缺陷的级别相同时，则降低一级作为综合评级的级别。28、铝及铝合金制承压设备管子及压力管道熔化焊环形对接接头质量分级、范围 壁厚T 2mm，材质为铝及铝合金、缺陷类型 分为裂纹、未熔合、未焊透、夹铜、条形缺陷、圆形缺陷、根部内凹

44、、根部咬边八类,80,、质量分级的一般规定 级焊接接头内不允许存在裂纹、未熔合、未焊透、夹铜、条形缺陷、根部内凹、根部咬边。级和级焊接接头内不允许存在裂纹、未熔合、双面焊以及加垫板单面焊中的未焊透、夹铜。焊接接头中缺陷超过级者为级。当各类缺陷评定的质量级别不同时,以质量最差的级别作为焊接接头的质量级别。、综合评级 与铝相同。,81,29、钛及钛合金制承压设备管子及压力管道熔化焊环形对接接头质量分级、范围 壁厚T 2mm，材质为钛及钛合金、其它与钢、镍、铜相同。30、附录、典型透照方式,82,83,、焦点尺寸计算方法 正方形焦点：d=a 长方形、椭圆形焦点：d=（a+b）/2 圆形焦点：d=d,

45、84,、专用像质计的型式和规格 专用像质计的样式专用像质计的样式如图F.1所示,丝的数目一般为5根,有特殊要求时也可为3根.,85,小径管专用对比试块,86,、搭接标记的摆放位置,87,、环形对接焊接接头透照次数确定方法 透照次数曲线图 对外径Do100mm的对接环形焊接接头进行100%检测，所需的最少透照次数与透照方式和透照厚度比有关，这一数值可从图直接查出。从图中确定透照次数的步骤是:计算出T/Do、Do/f，在横坐标上找到T/Do值对应的点,过此点画一垂直于横坐标的直线;在纵坐标上找到Do/f对应的点,过此点画一垂直于纵坐标的直线；从两直线交点所在的区域确定所需的透照次数;当交点在两区域的分界线上时,应取较大数值作为所需的最少透照次数。,88,计算法 如：环焊缝外透法计算,89,例题（27第456题）：用XY3010X射线机外透法透照外径1592mm，板厚46mm的锅筒环焊缝，若焦点至工件表面的距离L1为700mm,则100%检查时满足T/T=10%的最少透照次数N和一次透照长度L3各为多少？,