教学课件:第二章晶体结构缺陷-2详解.ppt

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1、第二章 晶体的结构缺陷,本章内容,2.1 晶体的点缺陷2.2 晶体的线缺陷2.3 晶体的面缺陷2.4 固溶体,2.4 固溶体,一、固溶体的概念二、固溶体的分类三、置换型固溶体四、间隙型固溶体五、形成固溶体后对晶体性质的影响六、固溶体的研究方法,固溶体,一种元素原子,溶解,晶格类型不变,元素,化合物,晶格中,浓度在一定范围内变动,一、固溶体的概念,固溶体、机械混合物、化合物三者之间的区别:机械混合物AB 颗粒态 两相或多相(A和B分 别保持原有结构)化合物AmBn A:Bm:n 结构不同于A和BA、B形成固溶体 原子尺度 单相均匀晶态,溶质原子在溶剂晶格中存在的位置 置换固溶体 间隙固溶体溶质原

2、子在溶剂晶格中排列位置的规律性 无序固溶体 有序固溶体溶质原子在溶剂中的溶解度 有限溶解固溶体 无限溶解固溶体(连续固溶体),二、固溶体的分类,根据溶质原子在主晶相中所处位置可分为:1、置换式固溶体,亦称替代固溶体,溶质原子位于点阵结点上,替代(置换)了部分溶剂原子。金属和金属形成的固溶体都是置换式。如,Cu-Zn系中的和固溶体都是置换式固溶体。在金属氧化物中,主要发生在金属离子位置上的置换,如:MgO-CaO,MgO-CoO,PbZrO3-PbTiO3,Al2O3-Cr2O3等。,2、间隙式固溶体,亦称填隙式固溶体,其溶质原子位于点阵的间隙中。金属和非金属元素H、B、C、N等形成的固溶体都是

3、间隙式的。如,在Fe-C系的固溶体中,碳原子就位于铁原子的BCC点阵的八面体间隙中。,根据外来组元在主晶相中的固溶度 1、有限固溶体(不连续固溶体、部分互溶固溶体),其固溶度小于100%。两种晶体结构不同或相互取代的离子半径差别较大,只能生成有限固溶体。如MgO-CaO系统,虽然都是NaCl型结构,但阳离子半径相差较大,rMg2+=0.80埃,rCa2+=1.00埃,取代只能到一定限度。,2、无限固溶体(连续固溶体、完全互溶固溶体),由两个(或多个)晶体机构相同的组元形成的,任一组元的成分范围均为0100%。Cu-Ni 系、Cr-Mo 系、Mo-W系、Ti-Zr系等在室温下都能无限互溶,形成连

4、续固溶体。MgO-CoO系统,MgO、CoO同属NaCl型结构,rCo2+=0.80埃,rMg2+=0.80埃,形成无限固溶体,分子式可写为MgxNi1-xO,x=01;PbTiO3与PbZrO3也可形成无限固溶体,分子式写成:Pb(ZrxTi1-x)O3,x=01。,溶质原子在溶剂晶格中存在的位置 置换固溶体 间隙固溶体溶质原子在溶剂晶格中排列位置的规律性 无序固溶体 有序固溶体溶质原子在溶剂中的溶解度 有限溶解固溶体 无限溶解固溶体(连续固溶体),有限溶解固溶体,固溶体,-Fe,-Fe,2.4 固溶体,一、固溶体的概念二、固溶体的分类三、置换型固溶体四、间隙型固溶体五、形成固溶体后对晶体性

5、质的影响六、固溶体的研究方法,三、置换型固溶体,形成置换固溶体的影响因素 1.原子或离子尺寸的影响 2、晶体结构类型的影响 3、离子类型和键性 4、电价因素,1.原子或离子尺寸的影响 以r1和r2分别代表半径大和半径小的溶剂(主晶相)或溶质(杂质)原子(或离子)的半径,当 时,形成连续固溶体。当 时,形成有限型固溶体,当 时,很难形成固溶体或不能形成 固溶体,易形成中间相或化合物。,形成连续固溶体的必要条件,而不是充分必要条件,2、晶体结构类型的影响 若溶质与溶剂晶体结构类型相同,能形成连续固溶体。NiO-MgO面心立方结构,且r15%,可形成连续固溶体;MgO-CaO结构不同,只能形成有限型

6、固溶体或不形成固溶体。,形成连续固溶体的必要条件,而不是充分必要条件,3、离子类型和键性 化学键性质相近,即取代前后离子周围离子间键性相近,容易形成固溶体。,4、电价因素 形成固溶体时,离子间可以等价置换也可以不等价置换。如,硅酸盐晶体,常发生复合离子等价置换,Na+Si4+=Ca2+Al3+,使钙长石CaAl2Si2O6和钠长石NaAlSi3O8能形成连续固溶体。如,Ca2+=2Na+,Ba2+=2K+常出现在沸石矿物中。,三、置换型固溶体,形成置换固溶体的影响因素 1.原子或离子尺寸的影响 2、晶体结构类型的影响 3、离子类型和键性 4、电价因素,注意事项,并不同时起作用,在某些条件下,有

7、的因素会起主要因素,有的会不起主要作用。如,rSi4+=0.26埃,rAl3+=0.39埃,相差达45%以上,电价又不同,但SiO、AlO键性接近,键长亦接近,仍能形成固溶体,在铝硅酸盐中,常见Al3+置换Si4+形成置换固溶体的现象。,置换型固溶体中的组分缺陷,不等价置换固溶体中可能出现的四种“组分缺陷”:,高价置换低价,低价置换高价,2.4 固溶体,一、固溶体的概念二、固溶体的分类三、置换型固溶体四、间隙型固溶体五、形成固溶体后对晶体性质的影响六、固溶体的研究方法,1 杂质质点大小2 晶体(基质)结构3 电价因素,形成间隙型固溶体的条件,2 晶体(基质)结构 离子尺寸是与晶体结构的关系密切

8、相关的,在一定程度上,结构中间隙的大小起决定性的作用。一般晶体中空隙愈大,结构愈疏松,易形成固溶体。,3 电价因素 外来杂质原子进人间隙时,必然引起晶体结构中电价的不平衡,这时可以通过生成空位,产生部分取代或离子的价态变化来保持电价平衡。如YF3加入到CaF2中:当F-进入间隙时,产生负电荷,由Y3+进入Ca2+位置来保持位置关系和电价的平衡。,填隙型固溶体不可能是连续的固溶体。晶体中间隙是有限的,容纳杂质质点的能力10%。,间隙式固溶体,晶格常数增大,不稳定而离解,实例,MgO中,氧八面体间隙都已被Mg离子占满,只有氧四面体间隙是空的。TiO2中,有1/2的八面体空隙是空的。CaF2中,氟离

9、子作简单立方排列,而正离子Ca2+只占据了有立方体空隙的一半,在晶胞中有一个较大的间隙位置。沸石之类的具有网状结构的硅酸盐结构中,间隙就更大,具有隧道型空隙。预料形成填隙式固溶体的可能性或固溶度大小的顺序:沸石萤石TiO2MgO,2.4 固溶体,一、固溶体的概念二、固溶体的分类三、置换型固溶体四、间隙型固溶体五、形成固溶体后对晶体性质的影响六、固溶体的研究方法,五、固溶体对晶体性质的影响,1、稳定晶格,阻止某些晶型转变的发生2、活化晶格 3、固溶强化4、形成固溶体后对材料物理性质的影响,1、稳定晶格,阻止某些晶型转变的发生,1)PZT陶瓷(Pb(Zr0.54Ti0.46)O3):PbTiO3一

10、种铁电体,纯PbTiO3烧结性能极差,居里点为490,发生相变时,晶格常数剧烈变化,在常温下发生开裂。PbZrO3一种反铁电体,居里点为230。两者结构相同,Zr4+、Ti4+离子尺寸相差不多,能在常温生成连续固溶体Pb(ZrxTi1-x)O3,x=0.10.3。压电性能、介电常数都达到最大值,烧结性能也很好。,(2)ZrO2是一种高温耐火材料,熔点2680,但发生相变时伴随很大的体积收缩,这对高温结构材料是致命的。若加入CaO,则和ZrO2形成固溶体,无晶型转变,体积效应减少,使ZrO2成为一种很好的高温结构材料。,2、活化晶格,形成固溶体后,晶格结构有一定畸变,处于高能量的活化状态,有利于

11、进行化学反应。如,Al2O3熔点高(2050),不利于烧结,若加入TiO2,可使烧结温度下降到1600,这是因为Al2O3 与TiO2形成固溶体,Ti4+置换Al3+后,带正电,为平衡电价,产生了正离子空位,加快扩散,有利于烧结进行。,3、固溶强化,定义:固溶体的强度与硬度往往高于各组元,而塑性则较低,称为固溶强化。固溶强化的特点和规律:固溶强化的程度不仅取决与它的成分,还取决与固溶体的类型、结构特点、固溶度、组元原子半径差等一系列因素。1)间隙式溶质原子的强化效果一般要比置换式溶质原子更显著。2)溶质和溶剂原子尺寸相差越大或固溶度越小,固溶强化越显著。,4、形成固溶体后对材料物理性质的影响,

12、固溶体的电学、热学、磁学等物理性质也随成分而连续变化,但一般都不是线性关系。固溶体的强度与硬度往往高于各组元,而塑性则较低。,实际应用:铂、铑单独做热电偶材料使用,熔点为1450,而将铂铑合金做其中的一根热电偶,铂做另一根热电偶,熔点为1700,若两根热电偶都用铂铑合金而只是铂铑比例不同,熔点达2000以上。,六、固溶体的研究方法,(一)、固溶体组成的确定(二)、固溶体类型的大略估计(三)、固溶体类型的实验判别,(一)、固溶体组成的确定,内容:点阵常数正比于任一组元(任一种盐)的浓度实际应用:当两种同晶型的盐(如KCl-KBr)形成连续固溶体时,固溶体的点阵常数与成分成直线关系,1、点阵常数与

13、成分的关系Vegard定律,雷特格定律:晶胞体积的加和性,2、物理性能和成分的关系 固溶体的电学、热学、磁学等物理性质随成分而连续变化。实际应用:通过测定固溶体的密度、折光率等性质的改变,确定固溶体的形成和各组成间的相对含量。如钠长石与钙长石形成的连续固溶体中,随着钠长石向钙长石的过渡,其密度及折光率均递增。通过测定未知组成固溶体的性质进行对照,反推该固溶体的组成。,(二)、固溶体类型的大略估计,1.在金属氧化物中,具有氯化钠结构的晶体,只有四面体间隙是空的,不大可能生成填隙式固溶体,如NaCl、GaO、SrO、CoO、FeO、KCl等不会生成间隙式固溶体。2.具有空的氧八面体间隙的金红石结构

14、,或具有更大空隙的萤石型结构,金属离子能填入。例如CaF2,ZrO2,UO2等,有可能生成填隙式固溶体。,(三)、固溶体类型的实验判别,1)写出生成不同类型固溶体的缺陷反应方程,2)计算杂质浓度与固溶体密度的关系,画出曲线,3)与实验值相比较,4)哪种类型与实验相符合即是什么类型。,对于金属氧化物系统:,1、理论密度计算,计算方法:1)先写出可能的缺陷反应方程式;2)根据缺陷反应方程式写出固溶体 可能的化学式,1、理论密度计算 计算方法:3)由化学式可知晶胞中有几种质点,计算出晶胞中i质点的质量:据此,计算出晶胞质量W:,由此可见,固溶体化学式的写法至关重要。,2、固溶体化学式的写法 CaO加

15、入到ZrO2中,以1mol为基准,掺入xmolCaO。形成置换式固溶体:空位模型 形成间隙式固溶体:间隙模型,2、固溶体化学式的写法 CaO加入到ZrO2中,以1mol为基准,掺入xmolCaO。形成置换式固溶体:空位模型则化学式为:形成间隙式固溶体:间隙模型 则化学式为:,2、固溶体化学式的写法 CaO加入到ZrO2中,以1mol为基准,掺入xmolCaO。形成置换式固溶体:空位模型 x x x 则化学式为:CaxZrlxO2-x形成间隙式固溶体:间隙模型 2y y y 则化学式为:Ca2yZr1-yO2 x、y为待定参数,可根据实际掺入量确定。,3、例:以添加了0.15molCaO的ZrO

16、2固溶体为例计算固溶体的类型,已知固溶体的实测密度为5.447g/cm3,x射线衍射分析晶胞常数 a=5.131埃。,理论密度计算,理论密度计算,计算方法:1)先写出可能的缺陷反应方程式;2)根据缺陷反应方程式写出固溶体 可能的化学式,3)由化学式可知晶胞中有几种质点,计算出晶胞中i质点的质量:据此,计算出晶胞质量W:,3、例:以添加了0.15molCaO的ZrO2固溶体为例计算固溶体的类型。已知固溶体的实测密度为5.447g/cm3,x射线衍射分析晶胞常数 a=5.131埃。若是置换式固溶体:化学式CaxZrlxO2-x 即Ca0.15Zr0.85O1.85 ZrO2属立方晶系,萤石结构,Z

17、=4,晶胞中有Ca2+、Zr4+、O2-三种质点。,x射线衍射分析晶胞常数 a=5.131埃,晶胞体积V=a3=135.110-24cm3,间隙式固溶体:化学式 Ca2yZr1-yO2Ca0.15Zr0.85O1.852y=0.15/1.852,1-y=0.85/1.852,得 y=0.15/1.85间隙式固溶体化学式为Ca0.3/1.85Zr1.7/1.85O2,间隙式固溶体:化学式为Ca0.3/1.85Zr1.7/1.85O2,置换型间隙型,d实测=5.477g/cm3 可判断生成的是置换型固溶体。,六、固溶体的研究方法,(一)、固溶体组成的确定(二)、固溶体类型的大略估计(三)、固溶体类

18、型的实验判别,七、非化学计量化合物,非化学计量化合物:负离子与正离子的比例并不是一个简单的固定的比例关系。,非化学计量化合物的特点:1)其产生及缺陷浓度与气氛性质、压力有关;2)可以看作是高价化合物与低价化合物的固溶体;3)缺陷浓度与温度有关;4)非化学计量化合物都是半导体。掺杂半导体,如Si、Ge中掺杂B、P,Si中掺P为n型半导体;非化学计量化合物半导体,金属离子过剩(n型)(包括负离子缺位和间隙正离子)和负离子过剩(p型)(正离子缺位和间隙负离子),(一)负离子缺位,使金属离子过剩,TiO2、ZrO2会产生这种缺陷,分子式可写为TiO2-x,ZrO2-x原因:环境中缺氧,晶格中的氧逸出到

19、大气中,使晶体中出现了氧空位。,缺陷反应方程式应如下:,又 TiTi+e=TiTi,等价于,根据质量作用定律,平衡时,e=2:1)TiO2的非化学计量对氧压力敏感,在还原气氛中才能形成TiO2-x。烧结时,氧分压不足会导致 升高,得到灰黑色的TiO2-x,而不是金黄色的TiO2。2)电导率随氧分压升高而降低。3)若PO2不变,则,电导率随温度的升高而呈指数规律增加,反映了缺陷浓度与温度的关系。,TiO2-x结构缺陷示意图(I),为什么TiO2-x是一种n型半导体?,TiO2-x结构缺陷在氧空位上捕获两个电子,成为一种色心。色心上的电子能吸收一定波长的光,使氧化钛从黄色变成蓝色直至灰黑色。,色心

20、、色心的产生及恢复“色心”是由于电子补偿而引起的一种缺陷。某些晶体,如果有x射线,射线,中子或电子辐照,往往会产生颜色。由于辐照破坏晶格,产生了各种类型的点缺陷。为在缺陷区域保持电中性,过剩的电子或过剩正电荷(电子空穴)就处在缺陷的位置上。在点缺陷上的电荷,具有一系列分离的允许能级。这些允许能级相当于在可见光谱区域的光子能级,能吸收一定波长的光,使材料呈现某种颜色。把这种经过辐照而变色的晶体加热,能使缺陷扩散掉,使辐照破坏得到修复,晶体失去颜色。,(二)间隙正离子使金属离子过剩,Zn1+xO和Cdl+xO属于这种类型。过剩的金属离子进入间隙位置,带正电,为了保持电中性,等价的电子被束缚在间隙位

21、置金属离子的周围,这也是一种色心。,由于间隙正离子,使金属离子过剩型结构(II),e,缺陷反应可以表示如下:或 按质量作用定律间隙锌离子的浓度与锌蒸汽压的关系为;,如果Zn离子化程度不足,可以有(此为一种模型)上述反应进行的同时,进行氧化反应:(此为另一种模型)则,实测ZnO电导率与氧分压的关系支持了单电荷间隙的模型,即后一种是正确的。,(三)存在间隙负离子,使负离子过剩,目前只发现UO2+x,可以看作U2O8在UO2中的固溶体,具有这样的缺陷。当在晶格中存在间隙负离子时,为了保持电中牲,结构中引入电子空穴,相应的正离子升价,电子空穴在电场下会运动。因此,这种材料是P型半导体。,对于UO2+x

22、。中的缺焰反应可以表示为:等价于:根据质量作用定律又 h=2Oi 由此可得:OiPO21/6。,随着氧压力的增大,间隙氧的浓度增大,这种类型的缺陷化合物是P型半导体,(四)正离子空位存在引起负离子过剩,Cu2O、FeO属于这种类型的缺陷。以FeO为例缺陷的生成反应:等价于:从中可见,铁离子空位本身带负电,为了保持电中性;两个电子空穴被吸引到这空位的周围,形成一种色心。,根据质量作用定律OO1 h=2VFe由此可得:hPO21/6 随着氧压力的增大,电子空穴浓度增大,电导率也相应增大。,典型的非化学计量的二元化合物,小结:非化学计量缺陷的浓度与气氛的性质及大小有关,这是它和别的缺陷的最大不同之处。缺陷浓度与温度有关。以非化学计量的观点来看问题,世界上所有的化合物,都是非化学计量的,只是非比学计量程度不同而已,,本章内容,2.1 晶体的点缺陷2.2 晶体的线缺陷2.3 晶体的面缺陷2.4 固溶体,

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