《中石化测井资料处理解释系统LOGIK下半年改进功能.ppt》由会员分享，可在线阅读，更多相关《中石化测井资料处理解释系统LOGIK下半年改进功能.ppt（59页珍藏版）》请在三一办公上搜索。
1、2013.7月-2013年12月Logik软件改进及提升功能介绍,Logik项目组2014年元月16日,一、文件管理器功能提升,1、添加阵列曲线数值统计功能,2、添加方位曲线计算数值范围控制功能,3、添加方位曲线重采样、滤波功能,4、曲线单位转换功能,1、添加阵列曲线数值统计功能,可以选择统计深度范围和统计时间范围因为阵列曲线数据量较大，所以首次启动统计时，统计数据不超过1万个数据点，缺省统计所有时间段，统计深度段为：DEP=100000/二维样本点数*深度间隔,深度范围为：SDEP+（EDEP-SDEP)/2-DEP/2 SDEP+（EDEP-SDEP)/2+DEP/2改变统计参数后，点击“
2、刷新显示”，进行更新,应用实例：统计基线数值范围（-20-18）,2、添加方位曲线计算数值范围控制功能,当曲线类型选择“方位曲线”时，自动对计算结果进行处理，将数值控制在0360之间：if(alpha0)alpha+=360.;alpha=fmod(alpha,360);,3、添加方位曲线重采样、滤波功能,修改内容:1、在slfio中添加CSlfIO:SlfTableFwResamples函数;2、在重采样和曲线滤波对话框中添加方位曲线选项及相应处理,应用实例：方位曲线在不同方式下重采样、滤波结果对比,smt工具模块中也作了同样的修改,应用实例：解决了成像资料处理时，方位曲线打转时的插值问题当
3、方位曲线打转时，比如方位从1.38突变到359.6时，如果按常规曲线插值方法，就会出现右边的结果,4、单位转换工具,二、阵列曲线绘制控件提升与完善 DrawVdl,1、修改变密度绘制控件问题：随着滚动条位置改变，波形显示错位,2、提升DrawVdl控件增加回波分析功能,2、提升DrawVdl控件增加回波分析功能,处理线宽为0的特殊情况:当线宽为0时，不画线，只填充,满足核磁谱时间刻度显示(上半年改进内容),优化前：优化后：（1）变密度（2）核磁,3、提升DrawVdl控件优化CDrawVDL图头绘制样式,4、提升DrawVdl控件完善多臂井径绘制功能,威盛软件绘制 Logik绘制,5、提升Dr
4、awVdl控件-完善阵列曲线绘制功能增加偏移量参数,6、提升DrawVdl控件-完善阵列曲线绘制功能,绘制变密度、变密度镜像、多臂井径时，放大倍数或偏移量参数无效，编辑框变灰；,绘制全阵列、奇阵列、偶阵列时，最大、最小、间隔参数无效，编辑框变灰,6、提升DrawVdl控件-完善阵列曲线头绘制功能,三、提升井斜处理及井眼轨迹绘制功能,1、提升井斜处理模块：加入收敛角参数、增加斜直井、水平井靶心参数计算及绘制功能,实测靶心定义：A、斜直井：井眼轨迹上垂深等于设计垂深的测点；B、水平井：井眼轨迹上与设计靶心距离最近的测点。,2、添加“绘制靶心参数表”,在图形对象选择框中选中“靶心参数”，并通过上移或
5、下移，将把心数据表放到合适的位置即可,三、提升井斜处理及井眼轨迹绘制功能,设置靶心绘制属性 设置靶心半径及靶心连线线属性,三、提升井斜处理及井眼轨迹绘制功能,3、添加靶心绘制属性页，用户可以自定义靶心及连线的绘制参数,三、提升井斜处理及井眼轨迹绘制功能,4、程序自动判断井类型，绘制相应的靶心参数 当靶心参数中有有效的靶半高、靶半宽参数时，自动判断为水平井；否则为斜直井斜直井靶心参数,水平井靶心参数,问题咨询：当存在多个靶心，且有的在斜直段，有的在水平段，怎么办？,四、改进DLIS解编模块，能正确扫描斯伦贝谢新数据SonicScanner,WFA3:512*13*4,五、改进XTF解编模块，能正
6、确解编logview导出的动、静态图像数据,问题：logview导出的动、静态图像数据类型为BYTE，类型代码为1，原来的XTF解编模块不支持这种数据类型。经测试Forward2.7、Forward.Net2.0都不支持该类型的数据。解决办法：因为BYTE同unsigned char，所以遇到XtfDataCode=1的情况，按XtfDataCode=3（unsigned char）处理检验：把LogView处理的EMI静态图像数据EMI_S1、EMI_S2、。EMI_S6以及方位曲线输出为Xtf格式，转换到Logik下，通过图像生成，产生静态图像曲线进行对比，如右图。,六、由浮点误差引起的跳
7、点现象,问题：1、当曲线开始深度=474.75，采样间隔=0.02，处理开始深度=2150时，出现跳点2、当rlev=0.1,OutSdep=90.85(90.849998)时出现跳点,修改内容：slfio：memrdwt.cpp,问题3：调用GetSamplePosInt时PMRIL_P标准回波生成曲线有跳点,结论：不能直接调用GetSamplePosInt,七、解决了文件管理器不支持Ctrl+c、v、z快捷键问题,八、声电成像处理模块改进,计划改进内容：声电成像预处理模块改进成像显示控件提升倾角计算构造拾取裂缝参数计算,原声电成像预处理模块,电成像处理流程,加速度校正（可选）,极板数据预处
8、理,输入：原始数据或者加速度校正后的数据处理过程：包括坏电极剔除、几何校正、电压校正、数据规范化输出：极板预处理结果阵列数据C_P1BTN、C_P2BTN。,静态动态图像生成,电阻率标定,微电阻率图像生成,孔隙度谱生成,裂缝参数拾取计算,可以用钻头直径或者半径曲线刻度盲区,引入滑动窗长和步长参数,引入滑动窗长和步长参数,1、声电成像预处理模块改进,（1）数据规范化方法改进安4121star改进前后处理结果对比,（2）动态增强函数改进A、滑动方式有问题：出现平台B、滑动窗口数据迭代有问题：C、增强公式有问题,1、声电成像预处理模块改进,(3)：用钻头直径或测量半径刻度盲区宽度处理结果对比,声电成
9、像预处理模块改进,(3)：用钻头直径或测量半径刻度盲区宽度不同钻头尺寸下处理结果图像对比,声电成像预处理模块改进,声电成像预处理模块改进,（4）处理过程优化：速度大大提升,赵87XRMI图像处理结果对比,安2050Star图像处理结果对比,1、渐变色实现,2、成像显示控件提升,渐变色实现,渐变色实现稀松数据显示,渐变色实现讨论：是否需要？,3、成像绘制控件实现（正在进行.）,把成像绘制做成独立控件绘制阵列宽度自动控制图像显示控件中添加滤波功能指定盲区颜色配色方案制定、预览、选择,讨论：测量半径与盲区宽度之间的关系,讨论：测量半径与盲区宽度之间的关系,1、盲区宽度i=半径i/半径m，m=1,2,
10、极板数2、盲区宽度i=（半径i+半径i+1）/2/半径m，m=1,2,极板数,1、改进绘图比例编辑功能,2、改进了slfio基类函数，提高了文件安全性,为防止文件整理过程中意外中断造成数据损坏，增加“整理前先进行备份，整理完成后删除备份文件”功能.备份文件放在当前井文件目录下，备份文件名为：原井名+_BAK,3、解决了背景图片引起文档和平台拖动、缩放显示滞后问题,存在的问题：背景图片对文档拖拽速度有明显影响，文档拖动、缩放明显延迟滞后，平台缩放刷新显示迟钝，最终造成系统很慢的假象，甚至引起当机。原来的实现方法：MyClient.h，MyClient.cpp，PictureHolderEx.h,
11、PictureHolderEx.cppBOOL CMyClient:OnEraseBkgnd(CDC*pDC)/logik.jpg,1.25M,4724X3543CRect rect;GetClientRect(,Win7环境下直接双击运行,Win7环境右键“管理员权限”运行,优化前的计算机器号的程序（测试环境：windows7专业版）,4、改进32位系统下序列号加密注册模块,4、改进序列号加密注册模块,Win7环境下直接双击运行,Win7环境右键“管理员权限”运行,Win7环境下直接双击/管理员权限运行,优化后的计算机器号的程序,（测试环境：windows7专业版）,5、解决了自定义线型在不同分辨率下显示结果不同的问题,解决办法：改进了sub.cpp:CreateLogPen,6、油气结论统计工具,6、油气结论统计工具,统计：油气结论种类、累计层数、累计厚度、（平均、最大、最小）孔隙度、渗透率、含水饱和度、电阻率。,7、管理器窗口置底层问题,8、单位转换工具,9、优化属性页颜色选择控件,采用新的颜色选择框样式，增加了用户自定义颜色，自动保存。,您的需求就是我们努力的目标欢迎多提宝贵意见，谢谢！,
